1.本发明涉及一种量测技术，尤其是，还涉及一种宽带量测系统及宽带特性量测方法。
背景技术：
：：2.随着无线通信渐渐发展至毫米波的频段，高频量测的需求也越来越多。然而，许多学术或业界研究单位仍只持有低频或中频网络分析仪，且无法支持高频段量测。而高频/宽带的网络分析仪由于需要许多适于宽带操作的电子器件(例如超宽带锁相回路、超宽带切换开关)，制作不易因此难以普及。技术实现要素：3.本发明是针对一种宽带量测系统及宽带特性量测方法，让低频网络分析仪实现高频段的量测。4.根据本发明的实施例，宽带量测系统包括(但不仅限于)信号量测装置及信号转换器。信号量测装置具有第一量测埠及第二量测埠。信号量测装置用以从第一量测埠或第二量测端口送出量测信号，且量测信号的频率属于第一频域。信号转换器包括第一埠、第二埠、第三埠、第四埠、第一被动混波器(passivemixer)及第二被动混波器。第一端口用以连接信号量测装置的第一量测埠，且第三端口用以连接信号量测装置的第二量测埠。第一被动混波器耦接在第一埠及第二埠之间并经组态为双向(bidirectional)。第二被动混波器耦接在第三埠及第四埠之间并经组态为双向。5.根据本发明的实施例，宽带特性量测方法包括(但不仅限于)下列步骤：提供如上所述的信号转换器。将信号量测装置电性连接至信号转换器的一侧。使用校正器电性连接至信号转换器的另一侧以通过执行校正程序取得关于校正器的至少一组校正器量测值。根据那至少一组校正器量测值建立误差模型。将信号量测装置通过所述信号转换器电性连接至待测装置以取得关于待测装置的至少一组待测装置量测值。根据误差模型将那至少一组待测装置量测值校正为至少一组待测装置特征值。6.基于上述，根据本发明实施例的宽带量测系统及宽带特性量测方法，将信号转换器结合信号量测装置，以实现较不同频域的量测。附图说明7.包含附图以便进一步理解本发明，且附图并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图说明本发明的实施例，并与描述一起用于解释本发明的原理。8.图1是根据本发明一实施例的宽带量测系统的组件方块图；9.图2a是根据本发明一实施例的被动混波器的电路图；10.图2b是根据本发明另一实施例的被动混波器的电路图。图3是根据本发明一实施例的宽带量测系统的示意图；11.图4是根据本发明一实施例的正向(forward)误差模型及反向(reverse)误差模型的示意图；12.图5a是根据本发明一实施例的正向误差模型的信号流分析的示意图；13.图5b是根据本发明一实施例的反向误差模型的信号分析的示意图；14.图6a是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化正向模型的示意图；15.图6b是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化反向模型的示意图；16.图7a是根据本发明一实施例的用于双端口校正的正向信号分析的示意图；17.图7b是根据本发明一实施例的用于双端口校正的反向信号分析的示意图；18.图8是根据本发明一实施例的短路-开路-负载-直通(short-open-load-thru，solt)校正流程的流程图；19.图9是根据本发明一实施例的校正参考平面的示意图；20.图10是根据本发明一实施例的校正参考平面的示意图；21.图11是图9的验证结果；22.图12是图9与图3量测待测装置的量测结果；23.图13是图11的局部放大图；24.图14是图10的量测结果；25.图15是图10的验证结果；26.图16是图10与图3量测待测装置的量测结果；27.图17是图15的局部放大图；28.图18是根据本发明一实施例的宽带特性量测方法的流程图。29.附图标号说明30.1:宽带量测系统；31.10:信号量测装置；32.30:信号转换器；33.50:待测装置；34.p11、p13:量测埠；35.p31、p32、p33、p34:埠；36.p52、p54:待测埠；37.cg:信号产生器；38.mix1、mix2:被动混波器；39.d1～d4、t1～t4:开关；40.lo、if、rf:端点；41.cp1～cp6:校正参考平面；42.mp1、mp2:量测平面；43.fw:正向误差模型；44.rv:反向误差模型；45.rfin:输入；46.s11m、s21m、s12m、s22m、s11a、s21a、s12a、s22a、s11at、s21at、s12at、s22at:参数；47.edf、esf、erf、exf、etf、elf、edr、esr、err、exr、etr、elr:误差项；48.s810～s870、s1810～s1860:步骤。具体实施方式49.现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同组件符号在图式和描述中用来表示相同或相似部分。50.图1是根据本发明一实施例的宽带量测系统1的组件方块图。请参照图1，宽带量测系统1包括(但不仅限于)信号量测装置10及信号转换器30。在一实施例中，量测时，宽带量测系统1会电性连接至待测装置(deviceundertest,dut)50。51.信号量测装置10可以是向量网络分析仪(vectornetworkanalyzer，vna)或其他用于验证诸如阻抗参数(z参数)、导纳参数(y参数)、混合参数(h参数/g参数)、传输参数(abcd参数)、散射参数(s参数)或散射传输参数(t参数)的仪器。在一实施例中，信号量测装置10包括量测端口p11、p13，并用以从量测埠p11或量测埠p13送出量测信号。也就是说，信号量测装置10提供单端口或双埠量测。在一实施例中，量测信号属于第一频域。例如，第一频域为0～8ghz或2～6ghz，然不以此为限。52.信号转换器30可以是升降频器或其他用于调整信号频率/频域的转换器。信号转换器30包括信号产生器cg及被动混波器mix1、mix2。53.信号产生器cg耦接被动混波器mix1、mix2，并用以产生参考信号。在一实施例中，信号产生器cg提供参考信号(或称频率信号、本地震荡(localoscillator，lo)信号)至被动混波器mix1或mix2。在一实施例中，参考信号的频率相关于被动混波器mix1、mix2的输入及输出之间的频率差异。在一些实施例中，参考信号的频率可根据需求而变更或为固定值。54.在一实施例中，信号转换器30包括端口p31、p32、p33、p34。被动混波器mix1耦接在埠p31及埠p32之间。被动混波器mix2耦接在埠p33及埠p34之间。此外，埠p31、p33分别用以连接信号量测装置10的量测端口p11、p13。埠p32、p34分别用以连接待测装置50的待测端口p52、p54。55.被动混波器mix1、mix2可由电路实现。举例而言，图2a是根据本发明一实施例的被动混波器的电路图。请参照图2a，被动混波器包括开关d1、d2、d3、d4。开关d1、d2、d3、d4在图中以二极管为例。端点lo用以连接信号产生器cg。端点rf用以连接待测装置50。此外，端点if用以连接信号量测装置10。56.图2b是根据本发明另一实施例的被动混波器的电路图。请参照图2b，与图2a不同处在于，被动混波器包括开关t1、t2、t3、t4。开关t1、t2、t3、t4在图中以晶体管为例。此外，开关t1的控制端(例如，闸极)连接开关t3的控制端，且开关t2的控制端连接开关t4的控制端。57.图2a及图2b所示以开关式混波电路为例。然而，在其他实施例中，被动混波器mix1、mix也可能是其他切换式被动混波器或其他类型混波器。58.被动混波器mix1、mix2皆经组态为双向(bidirectional)。例如，被动混波器mix1对来自端口p31的信号混波并经由埠p32输出经混波的信号，且被动混波器mix2对来自端口p33的信号混波并经由埠p34输出经混波的信号。又例如，被动混波器mix1对来自端口p32的信号混波并经由埠p31输出经混波的信号，且被动混波器mix2对来自端口p34的信号混波并经由埠p33输出经混波的信号。59.在一实施例中，被动混波器mix1将自端口p31的信号转换至第二频域并自埠p32输出。若端口p31连接信号量测装置10的量测端口p11且信号量测装置10所输出的量测信号属于第一频域，则被动混波器mix1即是将信号由第一频域转换成第二频域。第二频域可以是20～30ghz或10～30ghz，然不以此为限。60.在一实施例中，被动混波器mix1将自端口p32的信号转换至第一频域并自埠p31输出。若端口p32连接待测装置50的待测端口p52且待测装置50所输出的信号属于第二频域，则被动混波器mix1即是将信号由第二频域转换成第一频域。61.在一实施例中，被动混波器mix2将自端口p33的信号转换至第二频域并自埠p34输出。若端口p33连接信号量测装置10的量测端口p13且信号量测装置10所输出的量测信号属于第一频域，则被动混波器mix2即是将信号由第一频域转换成第二频域。62.在一实施例中，被动混波器mix2将自端口p34的信号转换至第一频域并自埠p33输出。若端口p34连接待测装置50的待测端口p54且待测装置50所输出的信号属于第二频域，则被动混波器mix2即是将信号由第二频域转换成第一频域。63.举例而言，埠p31、p33为中频(intermediatefrequency，if)埠，且埠p32、p34为射频(radiofrequency，rf)埠。即，来自埠p31、p33的信号为中频信号(属于第一频域)，且被动混波器mix1、mix2对中频信号升频，并经由埠p32、p34输出射频信号(属于第二频域)(即，将中频信号转换成高频信号)。或者，来自埠p32、p34的信号为射频信号，且被动混波器mix1、mix2对射频信号降频，并经由埠p31、p33输出中频信号(即，将高频信号转换成中频信号)。64.须说明的是，根据不同设计需求，第一频域及第二频域的范围仍可变更，且本发明实施例不加以限制。65.待测装置50可以是任何类型的射频信号产生装置、微波信号产生装置或天线装置。在一实施例中，待测装置50包括待测端口p52、p54。66.图3是根据本发明一实施例的宽带量测系统1的示意图。请参照图3，信号转换器30的端口p31、p33分别连接信号量测装置10的量测端口p11、p13，且信号转换器30的端口p32、p34分别连接待测装置50的待测端口p52、p54。67.值得注意的是，在对待测装置50量测之前，须先进行校正程序。举例而言，在宽带量测系统1中，信号量测装置10的量测端口p11、p13分别连接待测装置50的待测端口p52、p54。量测平面分别位于量测埠p11、p13。一般而言，造成非预期影响的因素为系统误差是由信号量测装置10和测试设置(例如，电缆、连接器、或夹具)的缺陷引起的。而校正程序是将量测平面由信号量测装置10的端口端平移到待测装置50的端口端。即，校正参考平面分别位于待测埠p52、p54。藉此，可排除系统造成的非预期影响，且可还精确地量测到待测装置50的特性(例如，待测装置特征值)。68.图4是根据本发明一实施例的正向(forward)误差模型fw及反向(reverse)误差模型rv的示意图。请参照图4，若将信号量测装置10的端口端到待测装置50的端口端视为一个双端口网络，则可形成正向传播和反向传播的双端口误差模型fw、rv。藉由校正将量测平面mp1、mp2由信号量测装置10的端口端平移到待测装置50的端口端，即可以测量到待测装置50的真实特性(下文称待测装置特征值)。即，校正参考平面cp1、cp2位于待测装置50的端口端。系统1中的信号泄漏所引起的误差可归纳成指向性误差(directivityerror)和隔离误差(crosstalkerror)。而各种误差又分为正向传播和反向传播，因此可得到4个误差项(即，误差项edf、edr、exf、exr)。其中，误差项的下标前缀d表示指向性(directivity)误差、x表示隔离(crosstalk)误差。误差项的下标后缀f表示正向传播(forward)、r表示反向(reverse)传播。69.系统1中信号不匹配引起的误差可归纳成信号源匹配误差(sourcematcherror)和负载端匹配误差(loadmatcherror)。而各种误差也分为正向传播和反向传播，因此可得到4个误差项(即，误差项esf、esr、elf、elr)。其中，误差项的下标前缀s表示信号源(source)匹配误差、l表示负载(load)匹配误差。70.此外，信号量测装置10内的接收机频率响应引起的误差可归纳成反射追踪误差(reflectiontrackingerror)和传输追踪误差(transmissiontrackingerror)。而各种误差也分为正向传播和反向传播，因此可得到4个误差项(即，误差项erf、err、etf、etr)。其中，误差项的下标前缀r表示反射(reflection)追踪误差、t表示传输(transmission)追踪误差。71.上述泄漏、不匹配及频率响应所引起的十二个误差项可用于分析双端口误差模型。72.具体而言，图5a是根据本发明一实施例的正向误差模型fw的信号流分析的示意图。请参照图5a，梅森增益公式(mason’srule/mason’sgainformula)是用于描述节点与节点之间关系的规则，并可用于分析双端口误差模型的信号流。根据正向传播的正向误差模型fw可得出未校正时测量待测装置50所得到的反射系数s11m和穿透系数s21m(即，校正器量测值)的公式：[0073][0074][0075]图5b是根据本发明一实施例的反向误差模型rv的信号分析的示意图。请参照图5b，根据反向传播的反向误差模型rv可得出未校正时测量待测装置50所得到的反射系数s22m和穿透系数s12m(即，校正器量测值)的公式：[0076][0077][0078]以这四条公式(1)～(4)为基础，进行solt校正，可得出各误差项。若将这些误差项再代回这四条公式(1)～(4)，即可得出待测装置50的真实s参数(即，待测装置特征值)，也就是(已校正)参数s11a、s22a、s21a、s21a。[0079]接着，针对solt的校正程序，首先进行单端口校正(包括短路、开路及负载)。此时，量测埠没有连接，因此于此实施例中假设参数s21a、s12a为零。图6a是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化正向模型的示意图，且图6b是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化反向模型的示意图。请参照图6a及图6b，经简化的模型可得出如下公式：[0080][0081][0082]未连接的量测埠可电性连接校正器(calibrationkit)(例如，短路、开路及负载校正器)，以通过执行校正程序(其校正顺序可根据需求而变动)取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值。[0083]针对负载校正，若连接负载校正器可完全匹配，则反射系数趋近于0(例如，将反射系数为零的条件代入公式(5)、(6)，可得出误差项edf等于连接负载校正器但未校正时测得的反射系数s11ml(即，edf＝s11ml)、以及误差项edr等于连接负载校正器但未校正时测得的反射系数s22ml(即，erf＝s22ml)(即，校正器量测值)。[0084]此外，连接负载校正器还可得出相关于隔离的误差项exf、exr。其中，误差项exf等于连接负载校正器但未校正时测得的穿透系数s21ml(即，exf＝s21ml)、以及误差项exr等于连接负载校正器但未校正时测得的穿透系数s12ml(即，exf＝s12ml)(即，校正器量测值)。由于实际上无法测量穿透系数s21ml、s12ml，因此后续可不列入公式当中。[0085]在一实施例中，在建立误差模型的过程中，可根据校正器的参数设定一组或更多组量测值中的部分数值以建立误差模型。换句而言，特定类型的校正器的校正器量测值中的一者或更多者(例如，反射系数或穿透系数)(作为量测边界条件)可带入误差项中以推估误差模型。[0086]在另一实施例中，在建立误差模型的过程中，可根据理论模型设定一组或更多校正器量测值中的部分数值以建立误差模型。这理论模型是特定校正器在理想状态下的反射系数及/或穿透系数。换句而言，特定类型的校正器的理想量测值中的一者或更多者(例如，反射系数或穿透系数)(作为量测边界条件)可带入误差项中以推估误差模型。[0087]举例而言，针对开路和短路校正，可先考虑正向传播。对公式(5)、(6)解联立，可得出误差项erf、esf(假设理想模型的理想边界条件为，开路：短路：[0088][0089][0090]理想开路的反射系数为1，且理想短路的反射系数为-1。然而，真实的反射系数通常不会这么理想。若是将理想的值代入公式(7)、(8)计算，则计算出来的结果会和实际有误差。为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得开路及短路校正器的反射系数(即，校正器量测值)代入公式(7)、(8)的参数s11ao、s11as，以求得误差项erf、esf的值。[0091]接着，考虑反向传播。对公式(5)、(6)解联立，可得出误差项err、esr(假设理想边界条件为，开路：短路：[0092][0093][0094]相似地，为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得开路及短路校正器的反射系数(即，校正器量测值)(作为量测边界条件)代入公式(9)、(10)的参数s22ao、s22as，以求得误差项err、esr的值。[0095]接着，针对直通的双埠校正。图7a是根据本发明一实施例的用于双端口校正的正向信号分析的示意图，且图7b是根据本发明一实施例的用于双端口校正的反向信号分析的示意图。请参照图7a及图7b，这是假设直通校正器作为待测物(或待测装置50)的双端口误差模型。由公式(1)、(3)(假设理想边界条件为，直通：)可得出误差项elf、elr：[0096][0097][0098]理想直通的反射系数为0，且反射系数为1。然而，真实的校正器通常难以实现理想直通。为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得直通校正器的反射系数及穿透系数(即，校正器量测值)(作为量测边界条件)代入公式(11)、(12)的参数s11at、s22at、s21at、s12at，以求得误差项elf、elr的值。[0099]此外，由公式(2)、(4)(假设理想边界条件为，直通：此外，由公式(2)、(4)(假设理想边界条件为，直通：可得出误差项elf、etr：[0100][0101][0102]相似地，为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得直通校正器的反射系数及穿透系数(即，校正器量测值)(作为量测边界条件)代入公式(13)、(114)的参数s11at、s22at、s21at、s12at，以求得误差项etf、etr的值。藉此，可得出十二个误差项。[0103]接着，将信号量测器10连接至待测装置50以取得关于待测装置的一组或还多待测装置量测值，并将公式(1)～(4)解联立，可得出待测装置50的真实s参数(即，待测装置特征值)：[0104][0105][0106][0107][0108]，其中且若分别将前述误差项代入公式(15)～(18)，则可得出待测装置特征值，以作为待测装置的真实特性。[0109]图8是根据本发明一实施例的短路-开路-负载-直通(short-open-load-thru，solt)校正流程的流程图。请参照图8，切换短路、负载、开路及直通校正器(步骤s810)(即，量测埠分别连接不同校正器)，并分别取得各校正器的一组或更多组校正器量测值(例如，参数s11ms、s22ms、s11ml、s22ml、s11mo、s22mo、s11mt、s22mt、s21mt、s12mt)(步骤s820)。根据校正器量测值及/或理论模型设定理想边界条件(步骤s830)，即可确定出误差项(步骤s840)。这些误差项可用于建立误差模型。另一方面，连接待测装置50(步骤s850)，信号量测装置10可取得一组或更多组待测装置量测值(例如，参数s11md、s22md、s21md、s12md)(步骤s860)。信号量测装置10可根据基于误差项的误差模型对待测装置量测值校正，以取得一组或更多组待测装置特征值(例如，s参数s11ad、s22ad、s21ad、s12ad)(即，将待测装置量测值校正为待测装置特征值)(步骤s870)。[0110]在一实施例中，宽带量测系统1、2可还包括控制器(图未示)。控制器可耦接信号量测装置10及/或信号转换器30。在一实施例中，控制器可经配置用以控制第二频域的范围并自信号量测装置10读取量测数据(例如，校正器量测值及/或待测装置量测值)。[0111]在一实施例中，控制器可还经配置用以根据校正器量测值取得所述一个或更多误差模型。误差模型的建立可参酌前述公式(1)～(14)的推导，于此不再赘述。[0112]在一实施例中，控制器可通过下达指令或是信号量测装置10直接输出数据，以控制信号量测装置10取得关于校正器的校正器量测值及/或关于待测装置50所得的待测装置量测值。[0113]在一实施例中，控制器可根据基于误差项的误差模型将待测装置量测值校正为待测装置特征值。例如，根据公式(15)～(18)得出真实s参数。[0114]在一实施例中，控制器可根据校正程序切换连接信号量测装置10及/或信号转换器30的校正器。例如，控制器提供分别连接各校正器的开关，根据校正的项目导通对应校正器连接信号量测装置10及/或信号转换器30并中断其他校正器与信号量测装置10及/或信号转换器30之间的连接，但不以此为限。[0115]须说明的是，前述校正程序是以solt为例。在其他实施例中，校正程序也可以是solr(shortopenloadreciprocal)、lrm(linereflectmatch)、lrm(linereflectmatch)、lrrm(linereflectreflectmatch)、trl(thrureflectline)或其他校正程序。[0116]在一实施例中，系统1还包括耦接控制器的存储媒介。存储媒介可以是硬盘、内存、随身碟、数据库或服务器。在一实施例中，存储媒介用以存储误差模型及/或一组或更多组的待测装置量测值，并供控制器或其他装置读取或写入。例如，控制器存储误差模型至存储媒介，或控制器自存储媒介读取待测装置量测值。[0117]基于前述误差模型的分析，可应用在其他参考平面的校正。[0118]图9是根据本发明一实施例的校正参考平面cp3、cp4的示意图。请参照图9，校正参考平面cp3位于信号转换器30的端口p31，且校正参考平面cp4位于信号转换器30的端口p33。而信号量测装置10可根据校正参考平面cp3、cp4进行校正程序，以取得误差模型。[0119]在本实施例的校正程序中，信号量测装置10通过量测端口p11、p13分别电性连接至信号转换器的一侧(例如，埠p31、p33)，且一个或更多个校正器电性连接至信号转换器30的一侧(例如，埠p32、p34)以通过执行校正程序取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值。接着，将信号量测装置30通过信号转换器10电性连接至待测装置50(如图9所示)以取得关于待测装置50的一组或更多组待测装置量测值。最后，根据误差模型将待测装置量测值校正为一组或更多组待测装置特征值。[0120]图10是根据本发明一实施例的校正参考平面cp5、cp6的示意图。请参照图10，校正参考平面cp5位于待测装置50端口p32的待测埠p52，且校正参考平面cp6位于待测装置50端口p34的另一埠p54。而信号量测装置10可根据校正参考平面cp3、cp4进行校正程序，以取得误差模型。[0121]在本实施例的校正程序中，信号量测装置10通过量测端口p11、p13分别电性连接至信号转换器的一侧(例如，埠p31、p33)，且一个或更多个校正器电性连接至信号转换器30的一侧(例如，用于连接待测埠p52、p54的连接线的一端)以通过执行校正程序取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值。接着，将信号量测装置10通过信号转换器30电性连接至待测装置50(如图10所示)以取得关于待测装置50的一组或更多组待测装置量测值。最后，根据误差模型将待测装置量测值校正为一组或更多组待测装置特征值。[0122]以下将针对图9及图10的架构，设定量测边界条件，代入公式，并据以比较数据结果。[0123]图11是图9的验证结果，图12是图9与图3量测待测装置50的量测结果，图13是图11的局部放大图。请参照图11～图13，其中图中的粗线(即，原校正)为使用一般适于超宽带向量网络分析仪(vna)量测后平移其频谱的曲线，而细线(即，所提出的校正)为本揭露实施例所提出的系统与方法求得的曲线。由图可以看到本发明实施例所提出的校正与使用超宽带向量网络分析仪所取得的结果几乎重迭。[0124]图14是图10的量测结果，图15是图10的验证结果，图16是图10与图3量测待测装置50的量测结果，且图17是图15的局部放大图。请参照图14～图17，其中图中的粗线(即，原校正)为使用一般适于超宽带向量网络分析仪(vna)量测后平移其频谱的曲线，而细线(即，所提出的校正)为本揭露实施例所提出的系统与方法求得的曲线。由图可以看到本发明实施例所提出的校正与使用超宽带向量网络分析仪所取得的结果几乎重迭。[0125]图18是根据本发明一实施例的宽带特性量测方法的流程图。请参照图18，提供如图1及图3所示的信号转换器30(步骤s1810)。将信号量测装10置电性连接至信号转换器30的一侧(例如，图1的埠p11、p13)(步骤1820)。使用校正器电性连接至信号转换器30的另一侧(例如，图1的埠p32、p34)以通过执行校正程序取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值(步骤s1830)。根据校正器量测值建立误差模型(步骤s1840)。将信号量测装置10通过信号转换器30电性连接至待测装置50以取得关于待测装置50的一组或更多组待测装置量测值(步骤s1850)。根据误差模型将待测装置量测值校正为一组或更多组待测装置特征值(步骤s1860)。[0126]在一实施例中，将校正参考平面cp3设于埠p31，将校正参考平面cp4设于埠p33，且根据校正参考平面cp3、cp4进行校正程序。[0127]在一实施例中，将校正参考平面cp5设于待测装置50端口p32的待测埠p52，将校正参考平面cp6设于待测装置50端口p34的另一待测埠p54，且根据校正参考平面cp5、cp6进行校正程序。[0128]在一实施例中，于步骤s1840中，系根据理论模型设定校正器量测值的部分数值以建立误差模型。即如同前述在校正程序中sol三个步骤中系将s21a、s12a设定为零，并设定开路：短路：[0129]在另一实施例中，于步骤s1840中，系根据校正器的参数设定校正器量测值中的部分数值以建立误差模型。换句话说，校正器由于其中信号的泄漏或耦合效应，或是组件的寄生效应，并无法达成实质的开路、短路，因此某些校正器会提供其实际的solt量测值或是其非理想效应对应频率的一个参考表(look-uptable,lut)。而此实施例中系将此参考表取代先前实施例中理想的假设来进行校正。[0130]前述步骤的详细说明可参酌图1～图10的说明，于此不再赘述。[0131]在一实施例中，当信号转换器30给予的频率基准不同时，经校正所得出的待测装置50的特性可能会偏移。因此，可通过控制器或信号转换器30所提供的输入接口控制信号转换器30的频率转换值。例如，由第一频域转换至第二频域的频率转换值，或由第一频域转换至第二频域的频率转换值。这频率转换值相关于信号产生器cg所输出的参考信号的频率。接着，可控制信号量测装置10扫频以取得关于校正器与频率转换值的多组校正器量测值。例如，对参考信号依序设定不同频率(可以是几个主要稳定频率，也可能根据其他需求而变更)，并分别取得一个或更多个校正器对应的校正器量测值。前述步骤可能执行多次，但不加以限制。[0132]综上所述，在本发明实施例的宽带量测系统及宽带特性量测方法中，在系统中引入用于升频或降频转换的信号转换器。信号转换器提供双端口连接信号量测装置，并提供另双端口连接待测装置。被动混波器经组态为双向。藉此，可让低频网络分析仪实现高频量测。并且，根据上述实施例，所属领域具有通常知识者当能理解由本发明所揭示的信号转换器(双信道双向被动式升降频器)可以推广为多通道双向被动式升降频器。[0133]最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。当前第1页12当前第1页12
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：：2.随着无线通信渐渐发展至毫米波的频段，高频量测的需求也越来越多。然而，许多学术或业界研究单位仍只持有低频或中频网络分析仪，且无法支持高频段量测。而高频/宽带的网络分析仪由于需要许多适于宽带操作的电子器件(例如超宽带锁相回路、超宽带切换开关)，制作不易因此难以普及。技术实现要素：3.本发明是针对一种宽带量测系统及宽带特性量测方法，让低频网络分析仪实现高频段的量测。4.根据本发明的实施例，宽带量测系统包括(但不仅限于)信号量测装置及信号转换器。信号量测装置具有第一量测埠及第二量测埠。信号量测装置用以从第一量测埠或第二量测端口送出量测信号，且量测信号的频率属于第一频域。信号转换器包括第一埠、第二埠、第三埠、第四埠、第一被动混波器(passivemixer)及第二被动混波器。第一端口用以连接信号量测装置的第一量测埠，且第三端口用以连接信号量测装置的第二量测埠。第一被动混波器耦接在第一埠及第二埠之间并经组态为双向(bidirectional)。第二被动混波器耦接在第三埠及第四埠之间并经组态为双向。5.根据本发明的实施例，宽带特性量测方法包括(但不仅限于)下列步骤：提供如上所述的信号转换器。将信号量测装置电性连接至信号转换器的一侧。使用校正器电性连接至信号转换器的另一侧以通过执行校正程序取得关于校正器的至少一组校正器量测值。根据那至少一组校正器量测值建立误差模型。将信号量测装置通过所述信号转换器电性连接至待测装置以取得关于待测装置的至少一组待测装置量测值。根据误差模型将那至少一组待测装置量测值校正为至少一组待测装置特征值。6.基于上述，根据本发明实施例的宽带量测系统及宽带特性量测方法，将信号转换器结合信号量测装置，以实现较不同频域的量测。附图说明7.包含附图以便进一步理解本发明，且附图并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图说明本发明的实施例，并与描述一起用于解释本发明的原理。8.图1是根据本发明一实施例的宽带量测系统的组件方块图；9.图2a是根据本发明一实施例的被动混波器的电路图；10.图2b是根据本发明另一实施例的被动混波器的电路图。图3是根据本发明一实施例的宽带量测系统的示意图；11.图4是根据本发明一实施例的正向(forward)误差模型及反向(reverse)误差模型的示意图；12.图5a是根据本发明一实施例的正向误差模型的信号流分析的示意图；13.图5b是根据本发明一实施例的反向误差模型的信号分析的示意图；14.图6a是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化正向模型的示意图；15.图6b是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化反向模型的示意图；16.图7a是根据本发明一实施例的用于双端口校正的正向信号分析的示意图；17.图7b是根据本发明一实施例的用于双端口校正的反向信号分析的示意图；18.图8是根据本发明一实施例的短路-开路-负载-直通(short-open-load-thru，solt)校正流程的流程图；19.图9是根据本发明一实施例的校正参考平面的示意图；20.图10是根据本发明一实施例的校正参考平面的示意图；21.图11是图9的验证结果；22.图12是图9与图3量测待测装置的量测结果；23.图13是图11的局部放大图；24.图14是图10的量测结果；25.图15是图10的验证结果；26.图16是图10与图3量测待测装置的量测结果；27.图17是图15的局部放大图；28.图18是根据本发明一实施例的宽带特性量测方法的流程图。29.附图标号说明30.1:宽带量测系统；31.10:信号量测装置；32.30:信号转换器；33.50:待测装置；34.p11、p13:量测埠；35.p31、p32、p33、p34:埠；36.p52、p54:待测埠；37.cg:信号产生器；38.mix1、mix2:被动混波器；39.d1～d4、t1～t4:开关；40.lo、if、rf:端点；41.cp1～cp6:校正参考平面；42.mp1、mp2:量测平面；43.fw:正向误差模型；44.rv:反向误差模型；45.rfin:输入；46.s11m、s21m、s12m、s22m、s11a、s21a、s12a、s22a、s11at、s21at、s12at、s22at:参数；47.edf、esf、erf、exf、etf、elf、edr、esr、err、exr、etr、elr:误差项；48.s810～s870、s1810～s1860:步骤。具体实施方式49.现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同组件符号在图式和描述中用来表示相同或相似部分。50.图1是根据本发明一实施例的宽带量测系统1的组件方块图。请参照图1，宽带量测系统1包括(但不仅限于)信号量测装置10及信号转换器30。在一实施例中，量测时，宽带量测系统1会电性连接至待测装置(deviceundertest,dut)50。51.信号量测装置10可以是向量网络分析仪(vectornetworkanalyzer，vna)或其他用于验证诸如阻抗参数(z参数)、导纳参数(y参数)、混合参数(h参数/g参数)、传输参数(abcd参数)、散射参数(s参数)或散射传输参数(t参数)的仪器。在一实施例中，信号量测装置10包括量测端口p11、p13，并用以从量测埠p11或量测埠p13送出量测信号。也就是说，信号量测装置10提供单端口或双埠量测。在一实施例中，量测信号属于第一频域。例如，第一频域为0～8ghz或2～6ghz，然不以此为限。52.信号转换器30可以是升降频器或其他用于调整信号频率/频域的转换器。信号转换器30包括信号产生器cg及被动混波器mix1、mix2。53.信号产生器cg耦接被动混波器mix1、mix2，并用以产生参考信号。在一实施例中，信号产生器cg提供参考信号(或称频率信号、本地震荡(localoscillator，lo)信号)至被动混波器mix1或mix2。在一实施例中，参考信号的频率相关于被动混波器mix1、mix2的输入及输出之间的频率差异。在一些实施例中，参考信号的频率可根据需求而变更或为固定值。54.在一实施例中，信号转换器30包括端口p31、p32、p33、p34。被动混波器mix1耦接在埠p31及埠p32之间。被动混波器mix2耦接在埠p33及埠p34之间。此外，埠p31、p33分别用以连接信号量测装置10的量测端口p11、p13。埠p32、p34分别用以连接待测装置50的待测端口p52、p54。55.被动混波器mix1、mix2可由电路实现。举例而言，图2a是根据本发明一实施例的被动混波器的电路图。请参照图2a，被动混波器包括开关d1、d2、d3、d4。开关d1、d2、d3、d4在图中以二极管为例。端点lo用以连接信号产生器cg。端点rf用以连接待测装置50。此外，端点if用以连接信号量测装置10。56.图2b是根据本发明另一实施例的被动混波器的电路图。请参照图2b，与图2a不同处在于，被动混波器包括开关t1、t2、t3、t4。开关t1、t2、t3、t4在图中以晶体管为例。此外，开关t1的控制端(例如，闸极)连接开关t3的控制端，且开关t2的控制端连接开关t4的控制端。57.图2a及图2b所示以开关式混波电路为例。然而，在其他实施例中，被动混波器mix1、mix也可能是其他切换式被动混波器或其他类型混波器。58.被动混波器mix1、mix2皆经组态为双向(bidirectional)。例如，被动混波器mix1对来自端口p31的信号混波并经由埠p32输出经混波的信号，且被动混波器mix2对来自端口p33的信号混波并经由埠p34输出经混波的信号。又例如，被动混波器mix1对来自端口p32的信号混波并经由埠p31输出经混波的信号，且被动混波器mix2对来自端口p34的信号混波并经由埠p33输出经混波的信号。59.在一实施例中，被动混波器mix1将自端口p31的信号转换至第二频域并自埠p32输出。若端口p31连接信号量测装置10的量测端口p11且信号量测装置10所输出的量测信号属于第一频域，则被动混波器mix1即是将信号由第一频域转换成第二频域。第二频域可以是20～30ghz或10～30ghz，然不以此为限。60.在一实施例中，被动混波器mix1将自端口p32的信号转换至第一频域并自埠p31输出。若端口p32连接待测装置50的待测端口p52且待测装置50所输出的信号属于第二频域，则被动混波器mix1即是将信号由第二频域转换成第一频域。61.在一实施例中，被动混波器mix2将自端口p33的信号转换至第二频域并自埠p34输出。若端口p33连接信号量测装置10的量测端口p13且信号量测装置10所输出的量测信号属于第一频域，则被动混波器mix2即是将信号由第一频域转换成第二频域。62.在一实施例中，被动混波器mix2将自端口p34的信号转换至第一频域并自埠p33输出。若端口p34连接待测装置50的待测端口p54且待测装置50所输出的信号属于第二频域，则被动混波器mix2即是将信号由第二频域转换成第一频域。63.举例而言，埠p31、p33为中频(intermediatefrequency，if)埠，且埠p32、p34为射频(radiofrequency，rf)埠。即，来自埠p31、p33的信号为中频信号(属于第一频域)，且被动混波器mix1、mix2对中频信号升频，并经由埠p32、p34输出射频信号(属于第二频域)(即，将中频信号转换成高频信号)。或者，来自埠p32、p34的信号为射频信号，且被动混波器mix1、mix2对射频信号降频，并经由埠p31、p33输出中频信号(即，将高频信号转换成中频信号)。64.须说明的是，根据不同设计需求，第一频域及第二频域的范围仍可变更，且本发明实施例不加以限制。65.待测装置50可以是任何类型的射频信号产生装置、微波信号产生装置或天线装置。在一实施例中，待测装置50包括待测端口p52、p54。66.图3是根据本发明一实施例的宽带量测系统1的示意图。请参照图3，信号转换器30的端口p31、p33分别连接信号量测装置10的量测端口p11、p13，且信号转换器30的端口p32、p34分别连接待测装置50的待测端口p52、p54。67.值得注意的是，在对待测装置50量测之前，须先进行校正程序。举例而言，在宽带量测系统1中，信号量测装置10的量测端口p11、p13分别连接待测装置50的待测端口p52、p54。量测平面分别位于量测埠p11、p13。一般而言，造成非预期影响的因素为系统误差是由信号量测装置10和测试设置(例如，电缆、连接器、或夹具)的缺陷引起的。而校正程序是将量测平面由信号量测装置10的端口端平移到待测装置50的端口端。即，校正参考平面分别位于待测埠p52、p54。藉此，可排除系统造成的非预期影响，且可还精确地量测到待测装置50的特性(例如，待测装置特征值)。68.图4是根据本发明一实施例的正向(forward)误差模型fw及反向(reverse)误差模型rv的示意图。请参照图4，若将信号量测装置10的端口端到待测装置50的端口端视为一个双端口网络，则可形成正向传播和反向传播的双端口误差模型fw、rv。藉由校正将量测平面mp1、mp2由信号量测装置10的端口端平移到待测装置50的端口端，即可以测量到待测装置50的真实特性(下文称待测装置特征值)。即，校正参考平面cp1、cp2位于待测装置50的端口端。系统1中的信号泄漏所引起的误差可归纳成指向性误差(directivityerror)和隔离误差(crosstalkerror)。而各种误差又分为正向传播和反向传播，因此可得到4个误差项(即，误差项edf、edr、exf、exr)。其中，误差项的下标前缀d表示指向性(directivity)误差、x表示隔离(crosstalk)误差。误差项的下标后缀f表示正向传播(forward)、r表示反向(reverse)传播。69.系统1中信号不匹配引起的误差可归纳成信号源匹配误差(sourcematcherror)和负载端匹配误差(loadmatcherror)。而各种误差也分为正向传播和反向传播，因此可得到4个误差项(即，误差项esf、esr、elf、elr)。其中，误差项的下标前缀s表示信号源(source)匹配误差、l表示负载(load)匹配误差。70.此外，信号量测装置10内的接收机频率响应引起的误差可归纳成反射追踪误差(reflectiontrackingerror)和传输追踪误差(transmissiontrackingerror)。而各种误差也分为正向传播和反向传播，因此可得到4个误差项(即，误差项erf、err、etf、etr)。其中，误差项的下标前缀r表示反射(reflection)追踪误差、t表示传输(transmission)追踪误差。71.上述泄漏、不匹配及频率响应所引起的十二个误差项可用于分析双端口误差模型。72.具体而言，图5a是根据本发明一实施例的正向误差模型fw的信号流分析的示意图。请参照图5a，梅森增益公式(mason’srule/mason’sgainformula)是用于描述节点与节点之间关系的规则，并可用于分析双端口误差模型的信号流。根据正向传播的正向误差模型fw可得出未校正时测量待测装置50所得到的反射系数s11m和穿透系数s21m(即，校正器量测值)的公式：[0073][0074][0075]图5b是根据本发明一实施例的反向误差模型rv的信号分析的示意图。请参照图5b，根据反向传播的反向误差模型rv可得出未校正时测量待测装置50所得到的反射系数s22m和穿透系数s12m(即，校正器量测值)的公式：[0076][0077][0078]以这四条公式(1)～(4)为基础，进行solt校正，可得出各误差项。若将这些误差项再代回这四条公式(1)～(4)，即可得出待测装置50的真实s参数(即，待测装置特征值)，也就是(已校正)参数s11a、s22a、s21a、s21a。[0079]接着，针对solt的校正程序，首先进行单端口校正(包括短路、开路及负载)。此时，量测埠没有连接，因此于此实施例中假设参数s21a、s12a为零。图6a是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化正向模型的示意图，且图6b是根据本发明一实施例的用于单埠校正的简化反向模型的示意图。请参照图6a及图6b，经简化的模型可得出如下公式：[0080][0081][0082]未连接的量测埠可电性连接校正器(calibrationkit)(例如，短路、开路及负载校正器)，以通过执行校正程序(其校正顺序可根据需求而变动)取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值。[0083]针对负载校正，若连接负载校正器可完全匹配，则反射系数趋近于0(例如，将反射系数为零的条件代入公式(5)、(6)，可得出误差项edf等于连接负载校正器但未校正时测得的反射系数s11ml(即，edf＝s11ml)、以及误差项edr等于连接负载校正器但未校正时测得的反射系数s22ml(即，erf＝s22ml)(即，校正器量测值)。[0084]此外，连接负载校正器还可得出相关于隔离的误差项exf、exr。其中，误差项exf等于连接负载校正器但未校正时测得的穿透系数s21ml(即，exf＝s21ml)、以及误差项exr等于连接负载校正器但未校正时测得的穿透系数s12ml(即，exf＝s12ml)(即，校正器量测值)。由于实际上无法测量穿透系数s21ml、s12ml，因此后续可不列入公式当中。[0085]在一实施例中，在建立误差模型的过程中，可根据校正器的参数设定一组或更多组量测值中的部分数值以建立误差模型。换句而言，特定类型的校正器的校正器量测值中的一者或更多者(例如，反射系数或穿透系数)(作为量测边界条件)可带入误差项中以推估误差模型。[0086]在另一实施例中，在建立误差模型的过程中，可根据理论模型设定一组或更多校正器量测值中的部分数值以建立误差模型。这理论模型是特定校正器在理想状态下的反射系数及/或穿透系数。换句而言，特定类型的校正器的理想量测值中的一者或更多者(例如，反射系数或穿透系数)(作为量测边界条件)可带入误差项中以推估误差模型。[0087]举例而言，针对开路和短路校正，可先考虑正向传播。对公式(5)、(6)解联立，可得出误差项erf、esf(假设理想模型的理想边界条件为，开路：短路：[0088][0089][0090]理想开路的反射系数为1，且理想短路的反射系数为-1。然而，真实的反射系数通常不会这么理想。若是将理想的值代入公式(7)、(8)计算，则计算出来的结果会和实际有误差。为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得开路及短路校正器的反射系数(即，校正器量测值)代入公式(7)、(8)的参数s11ao、s11as，以求得误差项erf、esf的值。[0091]接着，考虑反向传播。对公式(5)、(6)解联立，可得出误差项err、esr(假设理想边界条件为，开路：短路：[0092][0093][0094]相似地，为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得开路及短路校正器的反射系数(即，校正器量测值)(作为量测边界条件)代入公式(9)、(10)的参数s22ao、s22as，以求得误差项err、esr的值。[0095]接着，针对直通的双埠校正。图7a是根据本发明一实施例的用于双端口校正的正向信号分析的示意图，且图7b是根据本发明一实施例的用于双端口校正的反向信号分析的示意图。请参照图7a及图7b，这是假设直通校正器作为待测物(或待测装置50)的双端口误差模型。由公式(1)、(3)(假设理想边界条件为，直通：)可得出误差项elf、elr：[0096][0097][0098]理想直通的反射系数为0，且反射系数为1。然而，真实的校正器通常难以实现理想直通。为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得直通校正器的反射系数及穿透系数(即，校正器量测值)(作为量测边界条件)代入公式(11)、(12)的参数s11at、s22at、s21at、s12at，以求得误差项elf、elr的值。[0099]此外，由公式(2)、(4)(假设理想边界条件为，直通：此外，由公式(2)、(4)(假设理想边界条件为，直通：可得出误差项elf、etr：[0100][0101][0102]相似地，为了让计算结果还接近实际量测结果，可直接将自信号量测装置10所取得校正后实际测得直通校正器的反射系数及穿透系数(即，校正器量测值)(作为量测边界条件)代入公式(13)、(114)的参数s11at、s22at、s21at、s12at，以求得误差项etf、etr的值。藉此，可得出十二个误差项。[0103]接着，将信号量测器10连接至待测装置50以取得关于待测装置的一组或还多待测装置量测值，并将公式(1)～(4)解联立，可得出待测装置50的真实s参数(即，待测装置特征值)：[0104][0105][0106][0107][0108]，其中且若分别将前述误差项代入公式(15)～(18)，则可得出待测装置特征值，以作为待测装置的真实特性。[0109]图8是根据本发明一实施例的短路-开路-负载-直通(short-open-load-thru，solt)校正流程的流程图。请参照图8，切换短路、负载、开路及直通校正器(步骤s810)(即，量测埠分别连接不同校正器)，并分别取得各校正器的一组或更多组校正器量测值(例如，参数s11ms、s22ms、s11ml、s22ml、s11mo、s22mo、s11mt、s22mt、s21mt、s12mt)(步骤s820)。根据校正器量测值及/或理论模型设定理想边界条件(步骤s830)，即可确定出误差项(步骤s840)。这些误差项可用于建立误差模型。另一方面，连接待测装置50(步骤s850)，信号量测装置10可取得一组或更多组待测装置量测值(例如，参数s11md、s22md、s21md、s12md)(步骤s860)。信号量测装置10可根据基于误差项的误差模型对待测装置量测值校正，以取得一组或更多组待测装置特征值(例如，s参数s11ad、s22ad、s21ad、s12ad)(即，将待测装置量测值校正为待测装置特征值)(步骤s870)。[0110]在一实施例中，宽带量测系统1、2可还包括控制器(图未示)。控制器可耦接信号量测装置10及/或信号转换器30。在一实施例中，控制器可经配置用以控制第二频域的范围并自信号量测装置10读取量测数据(例如，校正器量测值及/或待测装置量测值)。[0111]在一实施例中，控制器可还经配置用以根据校正器量测值取得所述一个或更多误差模型。误差模型的建立可参酌前述公式(1)～(14)的推导，于此不再赘述。[0112]在一实施例中，控制器可通过下达指令或是信号量测装置10直接输出数据，以控制信号量测装置10取得关于校正器的校正器量测值及/或关于待测装置50所得的待测装置量测值。[0113]在一实施例中，控制器可根据基于误差项的误差模型将待测装置量测值校正为待测装置特征值。例如，根据公式(15)～(18)得出真实s参数。[0114]在一实施例中，控制器可根据校正程序切换连接信号量测装置10及/或信号转换器30的校正器。例如，控制器提供分别连接各校正器的开关，根据校正的项目导通对应校正器连接信号量测装置10及/或信号转换器30并中断其他校正器与信号量测装置10及/或信号转换器30之间的连接，但不以此为限。[0115]须说明的是，前述校正程序是以solt为例。在其他实施例中，校正程序也可以是solr(shortopenloadreciprocal)、lrm(linereflectmatch)、lrm(linereflectmatch)、lrrm(linereflectreflectmatch)、trl(thrureflectline)或其他校正程序。[0116]在一实施例中，系统1还包括耦接控制器的存储媒介。存储媒介可以是硬盘、内存、随身碟、数据库或服务器。在一实施例中，存储媒介用以存储误差模型及/或一组或更多组的待测装置量测值，并供控制器或其他装置读取或写入。例如，控制器存储误差模型至存储媒介，或控制器自存储媒介读取待测装置量测值。[0117]基于前述误差模型的分析，可应用在其他参考平面的校正。[0118]图9是根据本发明一实施例的校正参考平面cp3、cp4的示意图。请参照图9，校正参考平面cp3位于信号转换器30的端口p31，且校正参考平面cp4位于信号转换器30的端口p33。而信号量测装置10可根据校正参考平面cp3、cp4进行校正程序，以取得误差模型。[0119]在本实施例的校正程序中，信号量测装置10通过量测端口p11、p13分别电性连接至信号转换器的一侧(例如，埠p31、p33)，且一个或更多个校正器电性连接至信号转换器30的一侧(例如，埠p32、p34)以通过执行校正程序取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值。接着，将信号量测装置30通过信号转换器10电性连接至待测装置50(如图9所示)以取得关于待测装置50的一组或更多组待测装置量测值。最后，根据误差模型将待测装置量测值校正为一组或更多组待测装置特征值。[0120]图10是根据本发明一实施例的校正参考平面cp5、cp6的示意图。请参照图10，校正参考平面cp5位于待测装置50端口p32的待测埠p52，且校正参考平面cp6位于待测装置50端口p34的另一埠p54。而信号量测装置10可根据校正参考平面cp3、cp4进行校正程序，以取得误差模型。[0121]在本实施例的校正程序中，信号量测装置10通过量测端口p11、p13分别电性连接至信号转换器的一侧(例如，埠p31、p33)，且一个或更多个校正器电性连接至信号转换器30的一侧(例如，用于连接待测埠p52、p54的连接线的一端)以通过执行校正程序取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值。接着，将信号量测装置10通过信号转换器30电性连接至待测装置50(如图10所示)以取得关于待测装置50的一组或更多组待测装置量测值。最后，根据误差模型将待测装置量测值校正为一组或更多组待测装置特征值。[0122]以下将针对图9及图10的架构，设定量测边界条件，代入公式，并据以比较数据结果。[0123]图11是图9的验证结果，图12是图9与图3量测待测装置50的量测结果，图13是图11的局部放大图。请参照图11～图13，其中图中的粗线(即，原校正)为使用一般适于超宽带向量网络分析仪(vna)量测后平移其频谱的曲线，而细线(即，所提出的校正)为本揭露实施例所提出的系统与方法求得的曲线。由图可以看到本发明实施例所提出的校正与使用超宽带向量网络分析仪所取得的结果几乎重迭。[0124]图14是图10的量测结果，图15是图10的验证结果，图16是图10与图3量测待测装置50的量测结果，且图17是图15的局部放大图。请参照图14～图17，其中图中的粗线(即，原校正)为使用一般适于超宽带向量网络分析仪(vna)量测后平移其频谱的曲线，而细线(即，所提出的校正)为本揭露实施例所提出的系统与方法求得的曲线。由图可以看到本发明实施例所提出的校正与使用超宽带向量网络分析仪所取得的结果几乎重迭。[0125]图18是根据本发明一实施例的宽带特性量测方法的流程图。请参照图18，提供如图1及图3所示的信号转换器30(步骤s1810)。将信号量测装10置电性连接至信号转换器30的一侧(例如，图1的埠p11、p13)(步骤1820)。使用校正器电性连接至信号转换器30的另一侧(例如，图1的埠p32、p34)以通过执行校正程序取得关于校正器的一组或更多组校正器量测值(步骤s1830)。根据校正器量测值建立误差模型(步骤s1840)。将信号量测装置10通过信号转换器30电性连接至待测装置50以取得关于待测装置50的一组或更多组待测装置量测值(步骤s1850)。根据误差模型将待测装置量测值校正为一组或更多组待测装置特征值(步骤s1860)。[0126]在一实施例中，将校正参考平面cp3设于埠p31，将校正参考平面cp4设于埠p33，且根据校正参考平面cp3、cp4进行校正程序。[0127]在一实施例中，将校正参考平面cp5设于待测装置50端口p32的待测埠p52，将校正参考平面cp6设于待测装置50端口p34的另一待测埠p54，且根据校正参考平面cp5、cp6进行校正程序。[0128]在一实施例中，于步骤s1840中，系根据理论模型设定校正器量测值的部分数值以建立误差模型。即如同前述在校正程序中sol三个步骤中系将s21a、s12a设定为零，并设定开路：短路：[0129]在另一实施例中，于步骤s1840中，系根据校正器的参数设定校正器量测值中的部分数值以建立误差模型。换句话说，校正器由于其中信号的泄漏或耦合效应，或是组件的寄生效应，并无法达成实质的开路、短路，因此某些校正器会提供其实际的solt量测值或是其非理想效应对应频率的一个参考表(look-uptable,lut)。而此实施例中系将此参考表取代先前实施例中理想的假设来进行校正。[0130]前述步骤的详细说明可参酌图1～图10的说明，于此不再赘述。[0131]在一实施例中，当信号转换器30给予的频率基准不同时，经校正所得出的待测装置50的特性可能会偏移。因此，可通过控制器或信号转换器30所提供的输入接口控制信号转换器30的频率转换值。例如，由第一频域转换至第二频域的频率转换值，或由第一频域转换至第二频域的频率转换值。这频率转换值相关于信号产生器cg所输出的参考信号的频率。接着，可控制信号量测装置10扫频以取得关于校正器与频率转换值的多组校正器量测值。例如，对参考信号依序设定不同频率(可以是几个主要稳定频率，也可能根据其他需求而变更)，并分别取得一个或更多个校正器对应的校正器量测值。前述步骤可能执行多次，但不加以限制。[0132]综上所述，在本发明实施例的宽带量测系统及宽带特性量测方法中，在系统中引入用于升频或降频转换的信号转换器。信号转换器提供双端口连接信号量测装置，并提供另双端口连接待测装置。被动混波器经组态为双向。藉此，可让低频网络分析仪实现高频量测。并且，根据上述实施例，所属领域具有通常知识者当能理解由本发明所揭示的信号转换器(双信道双向被动式升降频器)可以推广为多通道双向被动式升降频器。[0133]最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。当前第1页12当前第1页12
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