一种用于高压变电站内的半导体测试结构的制作方法

1.本实用新型涉及半导体检测的领域，尤其是涉及一种用于高压变电站内的半导体测试结构。


背景技术：

2.半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，现有的半导体在生产过后，需要对半导体进行检测，来确保半导体的质量，由于测试过程中不能有效的对半导体进行固定，导致放置不稳定，降低了测试效率，无法保证检测后半导体的质量，不利于使用，因此通常需要通过夹具对半导体进行固定后才能进行检测，而夹具在对半导体进行固定时，由于是刚性连接，因此容易造成对半导体的损坏。
3.针对上述中的相关技术，发明人认为有必要设计一款新型的半导体测试结构。


技术实现要素：

4.为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种用于高压变电站内的半导体测试结构。
5.本实用新型提供的一种用于高压变电站内的半导体测试结构采用如下的技术方案：
6.一种用于高压变电站内的半导体测试结构，包括工作台、检测组件、夹紧机构和缓震组件，所述检测组件设置在所述工作台上，所述夹紧机构设置在所述工作内，所述缓震组件设置在所述夹紧机构上，所述工作台上还设置有测试台。
7.可选的，所述夹紧机构包括驱动电机一、螺杆、螺套、滑杆和固定板，所述驱动电机一设置在所述工作台的侧壁，所述螺杆的一端与所述驱动电机一的转子连接，所述螺杆的另一端与所述工作台另一侧的内壁转动连接，所述螺套设置有两组，两组所述螺套均设置在所述螺杆上，所述螺杆在转动时，两组所述螺套向相反的方向移动，所述滑杆设置在所述螺套顶部，所述工作台上开设有滑槽，所述滑杆穿过所述滑槽，所述滑杆穿过所述滑槽的一端设置有固定板，所述缓震组件设置在所述固定板上。
8.可选的，所述缓震组件包括夹板、圆销和弹簧，所述固定板上开设两个通孔，所述圆销在所述通孔内滑动，所述夹板设置在圆销的端部，所述夹板设置在圆销靠近所述测试台的一侧，所述夹板与所述固定板之间设置所述弹簧，所述弹簧套设在所述圆销外部。
9.可选的，所述缓震组件还包括限位片，所述限位片设置在所述圆销的端部，所述限位片与所述夹板位于所述固定板的两侧。
10.可选的，所述检测组件包括驱动电机二、丝杆、滑轨、滑套、螺母套、检测部件和检测头，所述工作台上固定设置有背板，所述背板的顶部设置有连接板，所述驱动电机二设置在所述连接板上，所述丝杆的一端与所述驱动电机二的转子连接，所述丝杆的另一端与所述工作台转动连接，所述滑轨设置有两组，两组所述滑轨分别设置在所述丝杆的两侧，所述
螺母套设置在所述丝杆上，所述检测部件与所述螺母套固定连接，所述滑套设置在所述滑轨上是，所述检测部件与所述滑套固定连接，所述检测部件底部设置所述检测头，所述检测头对准所述测试台。
11.综上所述，本实用新型包括以下至少一种有益技术效果：
12.1.将半导体放置在测试台上，然后启动驱动电机一，带动螺杆转动，螺杆在转动时，螺杆上的两组螺套互相相对移动，从而使固定板上的缓震组件也相对移动，直到两组夹板抵接半导体时，夹板在弹簧的作下起到缓冲的效果，实现对半导体的保护，防止对半导体造成损伤；
13.2.通过控制驱动电机二，带动丝杆转动，丝杆上的螺母套随之向下移动，而螺母套、滑块均与检测部件连接，因此检测部件向下移动，直到检测头抵接测试台上的半导体，从而实现对半导体的测试。
附图说明
14.图1是一种用于高压变电站内的半导体测试结构的示意图。
15.图2是用于体现缓震组件结构的示意图。
16.附图标记说明：1、工作台；2、测试台；3、夹紧机构；31、驱动电机一；32、螺杆；33、螺套；34、滑杆；35、固定板；4、缓震组件；41、夹板；42、圆销；43、弹簧；44、限位片；5、检测组件；51、驱动电机二；52、丝杆；53、滑轨；54、滑套；55、螺母套；56、检测部件；57、检测头；6、背板；7、连接板。
具体实施方式
17.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
18.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
19.此外，“若干”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
20.本实用新型实施例公开一种用于高压变电站内的半导体测试结构。参照图1-2，一种用于高压变电站内的半导体测试结构包括工作台1、检测组件5、夹紧机构3和缓震组件4，检测组件5设置在工作台1上，夹紧机构3设置在工作内，缓震组件4设置在夹紧机构3上，工作台1上还设置有测试台2，夹紧机构3包括驱动电机一31、螺杆32、螺套33、滑杆34和固定板35，驱动电机一31设置在工作台1的侧壁，螺杆32的一端与驱动电机一31的转子连接，螺杆32的另一端与工作台1另一侧的内壁转动连接，螺套33设置有两组，两组螺套33均设置在螺杆32上，螺杆32在转动时，两组螺套33向相反的方向移动，滑杆34设置在螺套33顶部，工作台1上开设有滑槽，滑杆34穿过滑槽，滑杆34穿过滑槽的一端设置有固定板35，缓震组件4设
置在固定板35上，缓震组件4包括夹板41、圆销42和弹簧43，固定板35上开设两个通孔，圆销42在通孔内滑动，夹板41设置在圆销42的端部，夹板41设置在圆销42靠近测试台2的一侧，夹板41与固定板35之间设置弹簧43，弹簧43套设在圆销42外部，缓震组件4还包括限位片44，限位片44设置在圆销42的端部，限位片44与夹板41位于固定板35的两侧，通过这种设计，将半导体放置在测试台2上，然后启动驱动电机一31，带动螺杆32转动，螺杆32在转动时，螺杆32上的两组螺套33互相相对移动，从而使固定板35上的缓震组件4也相对移动，直到两组夹板41抵接半导体时，夹板41在弹簧43的作下起到缓冲的效果，实现对半导体的保护，防止对半导体造成损伤。
21.参照图1-2，检测组件5包括驱动电机二51、丝杆52、滑轨53、滑套54、螺母套55、检测部件56和检测头57，工作台1上固定设置有背板6，背板6的顶部设置有连接板7，驱动电机二51设置在连接板7上，丝杆52的一端与驱动电机二51的转子连接，丝杆52的另一端与工作台1转动连接，滑轨53设置有两组，两组滑轨53分别设置在丝杆52的两侧，螺母套55设置在丝杆52上，检测部件56与螺母套55固定连接，滑套54设置在滑轨53上是，检测部件56与滑套54固定连接，检测部件56底部设置检测头57，检测头57对准测试台2，通过控制驱动电机二51，带动丝杆52转动，丝杆52上的螺母套55随之向下移动，而螺母套55、滑块均与检测部件56连接，因此检测部件56向下移动，直到检测头57抵接测试台2上的半导体，从而实现对半导体的测试。
22.本实用新型实施例一种用于高压变电站内的半导体测试结构的实施原理为：将半导体放置在测试台2上，然后启动驱动电机一31，带动螺杆32转动，螺杆32在转动时，螺杆32上的两组螺套33互相相对移动，从而使固定板35上的缓震组件4也相对移动，直到两组夹板41抵接半导体时，夹板41在弹簧43的作下起到缓冲的效果，实现对半导体的保护，防止对半导体造成损伤。
23.以上均为本实用新型的较佳实施例，并非依此限制本实用新型的保护范围，故：凡依本实用新型的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本实用新型的保护范围之内。