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一种触头磨损监测装置和接触器的制作方法

2023-02-26 07:19:33 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种触头磨损监测装置,其特征在于,包括基座(100),在所述基座(100)上设置有静触头(120)以及受驱与所述静触头(120)接触或分离的动触头组件,在所述基座(100)上还设置有与所述动触头组件驱动配合的位移组件(130),在所述基座(100)上还设置有与所述位移组件(130)相配合的光学检测组件(160),在所述动触头组件与所述静触头(120)的接触位置偏移时,所述动触头组件驱动所述位移组件(130)位移,所述光学检测组件(160)用于检测所述位移组件(130)的位移量。2.如权利要求1所述的触头磨损监测装置,其特征在于,所述光学检测组件(160)包括位于所述位移组件(130)相对两侧的光束发射器(140)和光束接收器(150),所述光束接收器(150)用于接收所述光束发射器(140)的出射光束(142),在所述位移组件(130)上设置有用于通过所述出射光束(142)的通光部(131)。3.如权利要求2所述的触头磨损监测装置,其特征在于,所述光束接收器(150)包括接收电路板以及分布于所述接收电路板上的多个接收探头(151),多个所述接收探头(151)沿所述位移组件(130)的位移方向依次设置。4.如权利要求2或3所述的触头磨损监测装置,其特征在于,在所述光束发射器(140)的出光侧还设置有匀光片。5.如权利要求2或3所述的触头磨损监测装置,其特征在于,在所述通光部(131)靠近所述动触头(110)组件的一侧还设置有挡板。6.如权利要求2或3所述的触头磨损监测装置,其特征在于,所述光束发射器(140)为红外发射器,所述光束接收器(150)为红外接收器。7.如权利要求1所述的触头磨损监测装置,其特征在于,所述触头磨损监测装置还包括转动设置于所述基座(100)的杠杆(170),所述杠杆(170)的一端与所述位移组件(130)连接,所述杠杆(170)的另一端与所述光学检测组件(160)对应,所述杠杆(170)的动力臂小于所述杠杆(170)的阻力臂。8.如权利要求1所述的触头磨损监测装置,其特征在于,所述动触头组件包括第一弹性件(190)以及分别与所述第一弹性件(190)相对两端连接的动触头支架(180)和动触头(110),所述动触头(110)滑动设置于所述动触头支架(180),所述动触头支架(180)受驱带动所述动触头(110)与所述静触头(120)接触,且所述动触头支架(180)继续运动以使所述第一弹性件(190)储能;所述位移组件(130)与所述动触头(110)驱动配合。9.如权利要求8所述的触头磨损监测装置,其特征在于,所述位移组件(130)包括第二弹性件(133)和滑动设置于所述动触头支架(180)的传递组件(132),所述第二弹性件(133)与所述传递组件(132)连接,所述第二弹性件(133)用于向所述传递组件(132)提供与所述动触头(110)抵接的作用力。10.一种接触器,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的触头磨损监测装置。

技术总结
本申请提供一种触头磨损监测装置和接触器,涉及低压电器技术领域,包括基座,在基座上设置有静触头以及受驱与静触头接触或分离的动触头组件,在基座上还设置有与动触头组件驱动配合的位移组件,在基座上还设置有与位移组件相配合的光学检测组件,在动触头组件与静触头的接触位置偏移时,动触头组件驱动位移组件位移,光学检测组件用于检测位移组件的位移量。从而对磨损情况进行监测,方便用户及时掌握触头的磨损情况,实现提前预警。采用光学检测组件检测的方式能够实现非接触式测量,从而有效提高检测的寿命,同时,利用光学检测组件的方式还能够有效简化结构,提高检测的准确度。度。度。


技术研发人员:陈建 王龙江 申磊
受保护的技术使用者:上海良信电器股份有限公司
技术研发日:2022.09.30
技术公布日:2023/2/10
再多了解一些

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