硬盘在位检测装置及方法与流程

技术特征：
1.一种硬盘在位检测装置，其特征在于，包括：连接器，电连接于所述硬盘，当第一类型的所述硬盘连接到所述连接器时，所述连接器输出低电平的第一信号、第二信号和第三信号，当第二类型的所述硬盘连接到所述连接器时，所述连接器输出低电平的第一信号、高电平的第二信号和低电平的第三信号，当没有所述硬盘连接到所述连接器时，所述连接器输出高电平的第一信号、第二信号和第三信号，所述第一信号、第二信号、第三信号用于表示所述硬盘的在位状态和类型；控制电路，包括延时电路和锁存电路，所述延时电路用于将所述第三信号的下降沿延时并输出为延时信号，所述锁存电路用于对所述第一信号和所述第二信号进行锁存逻辑运算并输出运算结果为锁存信号，所述控制电路用于根据所述第一信号、所述第二信号、所述延时信号和所述锁存信号的电平状态确定所述硬盘的在位状态和类型，所述延时信号和所述锁存信号用于修正由于所述第一信号和所述第二信号变化不同步而使所述控制电路确定所述硬盘的在位状态和类型发生错误。2.如权利要求1所述的硬盘在位检测装置，其特征在于，所述锁存逻辑运算包括：若所述第一信号和所述第二信号均为相同电平状态，所述锁存信号的电平状态与所述第一信号的电平状态相同；若所述第一信号和所述第二信号的电平状态不同，所述锁存信号的电平状态不变。3.如权利要求1所述的硬盘在位检测装置，其特征在于：所述控制电路根据所述第一信号、所述第二信号的低电平信号确定所述第一类型的所述硬盘在位，并根据所述第一信号的低电平信号、所述第二信号的高电平信号、所述延时信号的低电平信号和所述锁存信号的高电平信号确定所述第二类型的所述硬盘在位。4.如权利要求3所述的硬盘在位检测装置，其特征在于：若所述控制电路确定所述第一类型的所述硬盘在位，则所述控制电路输出第一在位信号的高电平信号；若所述控制电路确定第二类型的硬盘在位，则所述控制电路输出第二在位信号的高电平信号。5.如权利要求3所述的硬盘在位检测装置，其特征在于：所述连接器还用于输出第四信号，当所述第三类型的硬盘连接到所述连接器时，所述连接器输出低电平的第四信号，当所述第四类型的连接到所述连接器时，所述连接器输出高电平的第四信号；所述控制电路还用于根据所述第一信号、第二信号、第四信号的电平状态确定所述第三类型或第四类型的硬盘的在位状态和类型。6.一种硬盘在位检测方法，其特征在于，包括：当第一类型的所述硬盘连接时，输出低电平的第一信号、第二信号和第三信号，当第二类型的所述硬盘连接时，输出低电平的第一信号、高电平的第二信号和低电平的第三信号，当没有所述硬盘连接时，输出高电平的第一信号、第二信号和第三信号，所述第一信号、第二信号、第三信号用于表示所述硬盘的在位状态和类型；将所述第三信号的下降沿延时并输出为延时信号；对所述第一信号和所述第二信号进行锁存逻辑运算并输出运算结果为锁存信号；根据所述第一信号、所述第二信号、所述延时信号和所述锁存信号的电平状态确定所
述硬盘的在位状态和类型，所述延时信号和所述锁存信号用于修正由于所述第一信号和所述第二信号变化不同步而使确定所述硬盘的在位状态和类型发生错误。7.如权利要求6所述的硬盘在位检测方法，其特征在于，所述锁存逻辑运算包括：若所述第一信号和所述第二信号均为相同电平状态，所述锁存信号的电平状态与所述第一信号的电平状态相同；若所述第一信号和所述第二信号的电平状态不同，所述锁存信号的电平状态不变。8.如权利要求6所述的硬盘在位检测方法，其特征在于：根据所述第一信号、所述第二信号的低电平信号确定所述第一类型的所述硬盘在位，并根据所述第一信号的低电平信号、所述第二信号的高电平信号、所述延时信号的低电平信号和所述锁存信号的高电平信号确定所述第二类型的所述硬盘在位。9.如权利要求6所述的硬盘在位检测方法，其特征在于：若确定所述第一类型的所述硬盘在位，则输出第一在位信号的高电平信号；若确定所述第二类型的所述硬盘在位，则输出第二在位信号的高电平信号。10.如权利要求6所述的硬盘在位检测方法，其特征在于，所述硬盘在位检测方法还包括：当所述第三类型的硬盘连接时，输出低电平的第四信号，当所述第四类型的连接时，输出高电平的第四信号；根据所述第一信号、第二信号、第四信号的电平状态确定所述第三类型或第四类型的硬盘的在位状态和类型。

技术总结
本申请实施方式提供一种硬盘在位检测装置，包括：连接器，电连接于所述硬盘，当第一类型的硬盘连接到所述连接器时，输出低电平的第一信号、第二信号和第三信号，当第二类型的硬盘连接到所述连接器时，输出低电平的第一信号、高电平的第二信号和低电平的第三信号，当没有硬盘连接到所述连接器时，输出高电平的第一信号、第二信号和第三信号；控制电路，输出延时信号和锁存信号，所述控制电路用于根据所述第一信号、所述第二信号、所述延时信号和所述锁存信号的电平状态确定所述硬盘的在位状态和类型。本申请实施方式还提供一种硬盘在位检测方法。如此，本申请实施例提供的硬盘在位检测装置及方法可以准确地检测并判定硬盘在位状态和硬盘类型。状态和硬盘类型。状态和硬盘类型。


技术研发人员：武红双
受保护的技术使用者：富联精密电子（天津）有限公司
技术研发日：2021.08.06
技术公布日：2023/2/17