基于熔丝阵列的装置识别的设备、系统和方法与流程

基于熔丝阵列的装置识别的设备、系统和方法


背景技术：

1.本技术主张2020年6月3日申请的第16/892,201号美国专利申请的优先权，所述美国专利申请出于任何目的以全文引用的方式并入本文中。
2.背景技术
3.在许多情况下，电子装置具有与所述装置绑定的唯一识别可能是有用的。举例来说，联网装置可包含mac地址，所述mac地址对于所述装置可为唯一的。当被网络请求这么做时，其可广播此识别，这可允许网络例如识别装置的类型、将数据路由到所述装置/从所述装置路由数据、确定装置是否可连接到网络等。
4.常规装置识别可存储于装置的寄存器中，且可在制造装置时经分配。然而，恶意行为者有可能重写装置识别，或将其复制到新装置(例如，以获取对安全网络的非法接入)。可能需要装置固有的装置识别(例如，基于装置的唯一物理状态)。


技术实现要素：

5.在至少一个方面中，本公开涉及一种设备，其包含熔丝电路和散列产生器。熔丝电路响应于熔丝状态请求基于多个熔丝的状态提供熔丝信息。散列产生器基于熔丝信息产生与所述设备相关联的识别号。
6.所述设备还可包含命令/地址电路，所述命令/地址电路响应于外部识别请求而提供熔丝状态请求。所述设备还可包含存储器阵列，所述存储器阵列包含多个字线，所述多个字线中的每一者与行地址相关联，且包含多个冗余字线。多个熔丝的至少一部分可用于将行地址中的一或多者重新映射到多个冗余字线中的一或多者。
7.散列产生器可为安全散列算法(sha)电路。熔丝状态请求可为熔丝电路的点名请求，且熔丝信息可包含关于多个熔丝中的哪一者被熔断的识别信息。识别号可被提供到所述设备的外部数据端子。
8.在至少一个方面中，本公开可涉及一种系统，其包含提供识别请求的第一装置和第二装置。第二装置包含多个熔丝。响应于所述识别请求，第二装置基于多个熔丝中的至少一些产生识别号，且将所述识别号提供到第一装置。
9.第二装置可包含存储器装置，其包含熔丝电路，所述熔丝电路包含多个熔丝。存储器装置可包含字线和冗余字线，且多个熔丝的修复部分可将来自字线的行地址重新映射到冗余字线。识别号可至少部分地基于修复部分。
10.第一装置可为网络接入点，且第二装置可为无线装置。第一装置可为计算装置，且第二装置可包含存储阵列。第二装置可包含散列产生电路，其可基于多个熔丝中的至少一些产生散列值，且识别号可包含散列值。
11.在至少一个方面中，本公开涉及一种方法，其包含：在装置处接收识别请求；基于装置的熔丝阵列的至少一部分的状态而提供熔丝信息；及基于熔丝信息产生识别号。
12.所述方法还可包含将识别号提供到第二装置。第二装置可提供识别请求。产生识别号可包含基于熔丝信息产生散列值。所述方法还可包含响应于识别请求而产生熔丝点名
请求。
13.所述装置可包含存储器装置，且所述熔丝点名请求可涉及用于修复操作的熔丝阵列的一部分。所述方法还可包含基于修复操作的记录而验证识别号。所述方法还可包含将识别号与数据库进行比较且执行以下各者中的至少一者：准予对所述装置的接入、取消对所述装置的接入、操作第二装置或识别所述装置。
附图说明
14.图1为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝状态的识别的系统的框图。
15.图2为根据本公开的一些实施例的散列产生器的框图。
16.图3为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝的识别系统的存储器的框图。
17.图4为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝的识别号连接到安全网络的装置的框图。
18.图5为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝的识别号识别自身的系统组件的框图。
19.图6为根据本公开的一些实施例的描绘使用基于熔丝的识别号识别装置的方法的流程图。
具体实施方式
20.某些实施例的以下描述在本质上仅为示例性的，并且绝不意图限制本公开的范围或其应用或用途。在对本发明的系统和方法的实施例的以下详细描述中，参考形成本文的一部分的附图，且借助于说明方式展示其中可实践所描述的系统和方法的特定实施例。足够详细地描述这些实施例，以使所属领域的技术人员能够实践本发明所公开的系统和方法，且应理解，可利用其它实施例，且在不脱离本公开的精神和范围的情况下可进行结构和逻辑改变。此外，为清晰起见，某些特征的详细描述在其对于所属领域的技术人员来说将显而易见时将不予以论述，以免混淆本公开的实施例的描述。因此，以下详细描述不应以限制性的意义来理解，且本公开的范围仅由所附权利要求书来限定。
21.装置可具有唯一识别，例如识别号。识别号与装置绑定，且可由装置广播作为各种操作的一部分(例如，以将其识别到网络上的其它装置)。为了防止恶意攻击，将识别号绑定到装置以防止篡改唯一识别号可为有用的。将识别号绑定到装置的一或多个物理特性可为有用的，因为在制造之后可能相对难以改变装置的物理状态。
22.本公开涉及基于熔丝阵列的装置识别的设备、系统和方法。集成电路装置可包含熔丝阵列，其可包含大量熔丝。作为制造/质量控制过程的一部分，熔丝可使其状态永久地改变，以修改装置的一或多个方面。举例来说，如果装置为存储器装置，那么熔丝可作为修复操作的一部分而被
‘
熔断’，以指示特定存储器地址应改为从缺陷存储器单元重新映射到冗余存储器单元。给定装置可具有相对大量的熔丝，其中的每一者可基于例如修复操作、调整装置或指定装置的设置而被熔断或不熔断。其中一些可基于制造所述特定装置时的微小差异。因此，任何两个装置的熔丝阵列具有完全匹配的状态可为极不可能的。因此，熔丝阵列中的熔丝的状态可用于产生与装置的物理状态绑定的唯一识别。
23.图1为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝状态的识别的系统的框图。系统
100包含与装置102通信的外部装置104。外部装置104可将请求发送到装置102，所述装置可基于作为装置102的熔丝电路110的一部分的熔丝阵列的状态而以唯一识别号(例如，散列值)作出响应。
24.装置102可为集成电路(ic)装置。在一些实施例中，装置102可为存储器装置。将在图2中更详细地论述装置102为存储器装置的实例实施例。外部装置104可为耦合到装置102的装置。在一些实施例中，外部装置104可为与装置102通信的单独装置。举例来说，外部装置104可与装置102有线和/或无线通信。在一些实施例中，外部装置104可与装置102一起封装。举例来说，装置102可封装为封装内系统(sip)或芯片上系统(soc)的一部分，且外部装置104可表示装置102的控制器。在一些实施例中，外部装置104可与其它外部装置通信，且可从装置102接收对识别的请求，将那些请求传递到装置102，且接着将识别信息传递回到其它外部装置。
25.装置102具有从外部装置104接收对识别信息的请求的命令解码器112。对识别信息的请求可为指纹请求。响应于指纹请求，命令解码器112可激活装置102的各种组件以产生识别号。
26.命令解码器112可将点名请求提供到熔丝电路110。点名请求可使得熔丝电路110产生基于熔丝电路110的熔丝阵列中的所有或一些熔丝的状态的熔丝信息信号。熔丝电路110可包含熔丝阵列111。熔丝阵列可包含数个熔丝和/或反熔丝，其可作为制造、质量控制和/或制备装置102的其它步骤的一部分而被永久地
‘
熔断’。
27.每一熔丝/反熔丝可具有初始状态和熔断状态。举例来说，在初始状态中，熔丝可为导电元件，而在熔断状态中，熔丝可为不导电的。反熔丝可初始地为不导电的，且可在熔断后为导电的。熔丝/反熔丝可能会被不可逆的过程
‘
熔断’。举例来说，可对形成熔丝/反熔丝的电路元件的结构作出永久改变，例如在熔丝/反熔丝两端施加较大电压(例如，大于阈值电压)，或用激光蚀刻熔丝/反熔丝。因此，每一熔丝/反熔丝可表示具有永久状态的二进制位，且熔丝阵列111中的熔丝/反熔丝的状态可用于对装置102上的信息进行永久编码。
28.诸如熔丝阵列111之类的熔丝阵列通常可被称为包含熔丝，但应理解，如本文中所论述的熔丝阵列可包含熔丝、反熔丝或其混合物。
29.熔丝阵列111中的熔丝可作为制造、质量控制和/或装置102的生产中涉及的其它过程的一部分而被熔断。举例来说，一些熔丝可与存储器的特定设置绑定，且可熔断所述熔丝以对与那些设置相关的信息进行编码。一些熔丝可与装置的可调整参数绑定，且可熔断所述熔丝以调整装置的操作。熔丝可与特定操作(例如，存储器存取操作)绑定，且可熔断所述熔丝以修复装置102(例如，通过在装置102的损坏区段周围重新路由信息)。
30.熔丝电路110可用于接入熔丝阵列111，以便读出熔丝阵列111的全部或部分的信息。举例来说，熔丝电路110可接收信息请求，例如点名请求，其使得所述熔丝电路检查熔丝阵列111的指定熔丝的状态，且接着提供信号，例如熔丝信息信号，所述信号具有对应于被检查的每一熔丝的位。在未熔断相关联的熔丝的情况下，熔丝信息的位可处于第一状态，且在熔断相关联的熔丝的情况下，可处于第二状态。对读取信息的请求可包含熔丝阵列地址，其可指定读取熔丝中的哪一者。在一些实施例中，请求可使得读出所有熔丝的状态。在一些实施例中，点名请求可瞄准熔丝阵列111中的可能在装置与装置之间具有较大变化的熔丝的特定群组。举例来说，点名请求可涉及用于修复装置102的熔丝阵列111的区，这是由于所
需的特定修复可在装置与装置之间随机变化。
31.在一些实施例中，点名请求可使得熔丝电路110返回关于熔丝阵列111的全部或部分中的熔丝中的哪一者已被熔断的信息。举例来说，点名请求可使得熔丝电路110提供已熔断的熔丝的全部(或指定部分)的地址，而不是指定地址并读出关于熔丝是否熔断的熔丝信息。
32.熔丝阵列111可包含大量熔丝。举例来说，熔丝阵列111可包含数万个个别熔丝。因此，如果存在例如50,000个熔丝，那么熔丝阵列可具有2^50,000个可能状态。由于熔丝的一些状态可基于对于特定装置是唯一的特性，因此熔丝阵列111的状态可通常被视为对于给定装置是唯一的。
33.装置102可包含散列产生器114。散列产生器114可为执行一或多个操作以基于所接收的熔丝信息产生id号的电路。举例来说，散列产生器114可对所接收的熔丝信息执行二进制算术算法以产生id号。在一些实施例中，id号可具有与熔丝信息不同的位数。id号可为表示二进制数的二进制位串。在一些实施例中，散列产生器114可为加密散列产生器。在一些实施例中，散列产生器114可为加密散列函数(例如，sha-256)的实施方案。
34.以此方式，装置102可接收指纹请求且提供基于装置的熔丝阵列111中的熔丝的全部或部分的状态的id号。由于熔丝阵列111可具有大量的潜在状态，且由于熔丝阵列111可在装置与装置之间变化，因此id号与任何其它装置的id号匹配的机率在统计上可能较低。id号可被视为唯一的，并且固有地与装置102绑定，因为在装置102经封装之后可能相对难以改变熔丝阵列111的状态。
35.在一些实施例中，基于熔丝阵列的id号可充当装置102的mac地址或公钥。使用基于熔丝阵列的id号的潜在优点可为id号可由装置102的制造商验证。举例来说，如果id号是基于用于修复操作的熔丝阵列111的一部分，那么可提取在哪些装置上执行了哪些修复操作的记录以确定给定装置的熔丝信息。基于已知的熔丝信息，如果散列产生器114的工作也是已知的，那么可确定id号。以此方式，装置制造商可能够基于装置的修复日志而验证所述装置的id号。
36.图1为根据本公开的一些实施例的散列产生器的框图。在一些实施例中，散列产生器200可包含于图1的散列产生器114中。散列产生器200可表示用作特定加密散列算法的一部分的电路和数据结构，所述特定加密散列算法用于根据一组熔丝数据产生识别号(例如，散列)。应理解，不同电路和数据结构可用于其它实例实施例，所述电路和数据结构在所使用的散列算法、所接收的熔丝信息的位数、所接收的熔丝信息中的位数或所提供的id号等方面具有变化。
37.散列产生器200可表示安全散列算法(sha)的实施方案，如图2中所展示，所述安全散列算法可为256位算法(例如，sha-256)。散列产生器200可在两个阶段中操作。在第一阶段中，散列产生器可接收一组熔丝信息，执行计算，将所计算的数据存储在一或多个寄存器202中，且接着接收另一组熔丝信息，所述另一组熔丝信息可与所计算的数据一起用于计算，以产生要存储在寄存器中的新数据。此循环可重复，直到所有熔丝信息已经加载到散列产生器200中为止，散列产生器可进入第二阶段，其中从寄存器202输出的数据经过计算，且接着再次存储在寄存器中。在一些实施例中，在第一阶段和第二阶段中可能存在不同数目个
‘
循环’。举例来说，在第一阶段中可能存在16个循环(例如，loop0-loop15)且在第二阶段
中可能存在48个循环(例如，loop16-loop63)。一旦循环完成，散列产生器就可将寄存器202中的数据提供为id号。
38.散列产生器200可包含一组寄存器202，其用于存储散列产生器200正在执行计算的信息。为了易于说明，同一组寄存器202已经在散列产生器200中展示了两次。寄存器202可含有初始数据，将所述初始数据提供到散列产生器200的运算电路210到260，接着所述运算电路产生计算数据，将所述计算数据作为输入提供到寄存器202。
39.寄存器202的初始值(例如，在loop0的开始处)可为经定义初始值。举例来说，寄存器202在loop0的开始处的初始值可由与sha-256相关的联邦规范给出。在一些实施例中，可将初始值存储在装置上(例如，存储在非易失性存储区域中)，且接着散列产生器200可将所述值加载到寄存器中以初始化所述寄存器。在一些实施例中，可通过使熔丝熔断将初始值存储在具有为初始值的地址的装置上，接着可将此地址加载到寄存器202中。寄存器此处以标签a-h展示。在一些实施例中，个别寄存器a-h中的每一者可存储32位数据(例如，寄存器中总共256位)。
40.一般来说，在给定循环中，寄存器202中的起始值可被移位。因此，寄存器a的值可加载到寄存器b中，寄存器b的值可加载到寄存器c中，等等。寄存器h的起始值可通过各种运算电路210到260馈送，且接着加载到寄存器a中。所述操作可部分地基于值wt，所述值可基于在初始循环(例如，loop0-loop15)期间来自熔丝阵列的数据或基于稍后循环(例如，loop16-loop63)中散列产生器200的计算。额外寄存器(未展示)可在初始循环期间存储权重的初始值，且接着可检索这些值以用于稍后循环期间的计算。在一些实施例中，值wt可为512位值。操作还可基于权重kt，其可为装置的常数。举例来说，权重kt可存储在装置上(例如，存储在非易失性存储器中)。在一些实施例中，可在熔丝阵列中对权重kt进行编码。
41.除运算块210到260之外，散列产生器200还包含模算术块206和208。其中的每一者可表示基于除数(例如，用于块206和208两者的块5 250的输出)对输入值(例如，块206的寄存器d和用于块208的运算6 260的输出)执行模算术。此可将所述除法的剩余部分输出(例如，到块206的寄存器e且到块208的寄存器a)。
42.运算块1 210基于存储于寄存器e、f和g中的值而执行运算。在以下等式中，粗体和斜体字母指示存储在与所述字母对应的寄存器中的值。通过以下等式1给出块1 210的运算：
43.ch(e,f,g)＝(e and f)xor(/e and g)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
等式1
44.其中and表示逻辑“与”函数，且xor表示逻辑“异或”函数。值/e表示存储在寄存器e中的值的倒数。
45.运算块2 220基于存储在寄存器e中的值而执行运算。通过以下等式2给出块2的运算：
46.σ{512}_1(e)＝rotr_6(e)xor rotr_11(e)xor rotr_25(e)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
等式2
47.其中rotr_n(x)表示值x的n位循环右移。
48.运算块3 230基于存储在寄存器a、b和c中的值执行运算，如由以下等式3给出：
49.maj(a,b,c)＝(a and b)xor(a and c)xor(b and c)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
等式3
50.运算块4 240基于存储在寄存器a中的值执行运算，如由以下等式4给出：
51.σ{512}_1(a)＝rotr_2(a)xor rotr_13(a)xor rotr_22(a)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
等式4
52.运算块5 250基于寄存器h、e、f、g中的值以及值kt和wt执行运算，如由以下等式5给出：
53.t1＝h σ{512}_1(e) ch(e,f,g) kt wt
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
等式5
54.其中符号
‘
’表示模算术，值kt为常数，且wt的值由多路复用器204给出，且另两个项表示块220和210的输出。wt的值取决于散列产生器200当前处于哪一循环而变化。可由以下等式6给出wt的值：
[0055][0056]
在等式6中，索引t表示循环计数器，且值m表示来自熔丝阵列的原始数据(例如，基于对图1的熔丝阵列111的点名请求)。因此，对于前十六个循环(例如，循环0到15)，可初始地直接从熔丝阵列加载wt的值。后续循环(例如，循环16到63)可使用一或多个先前的wt值来计算新的wt值。因此，可将先前的wt值存储(例如，在散列产生器200的额外寄存器中，未展示)。可能存在16个额外寄存器(例如，对于权重w0到w
15
)，其中的每一者可存储wt的512位值(例如，对于额外存储装置的总计8192个位)。值σ0和σ1由以下等式7和8给出：
[0057]
σ0(wt-2)＝rotr_17(wt-15)xor rotr_19(wt-15)xor rotr_10(wt-15)等式7
[0058]
σ1(wt-15)＝rotr_17(wt-2)xor r0tr_19(wt-1)xor rotr_10(wt-2)等式8
[0059]
运算块6 260执行为块240和230的输出的模加法运算，如由以下等式9给出：
[0060]
t2＝σ{512}_1(a) maj(a,b,c)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
等式9
[0061]
以此方式，熔丝信息可充当散列产生器200的
‘
种子’。散列产生器可执行循环序列，其中的每一者涉及进行多种计算，以便最终基于所述种子产生识别号。应理解，虽然已将散列产生器200描述为使用具有特定数目的循环和特定大小的不同值(例如，64个循环、256位输出等)的特定算法，但其它实例实施例中可使用其它值和其它数目的循环。
[0062]
图3为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝的识别系统的存储器的框图。在一些实施例中，存储器装置300可为图1的装置102的实施方案。
[0063]
存储器装置300包含可用于存储信息的存储器阵列320。存储器阵列320包含数个存储器单元。每一存储器单元可存储信息。举例来说，每一存储器单元可存储单个位的信息。存储器单元可在字线wl(行)和位线bl(列)的相交点处组织。每一存储器单元可因此由行地址(其指定特定字线)和列地址(其指定特定位线)指定。存储器阵列320可组织成一或多个组，其中的每一者可由组地址指定。在图3的实例中，存储器阵列320包含8个存储器组(例如，bank0-bank7)，然而其它实施例可包含更多或更少的组(例如，4个组或16个组)。在一些实施例中，存储器阵列320可不组织成组，且可省略组地址。
[0064]
存储器装置300包含命令/地址输入电路302，其可沿着存储器300的命令/地址(c/a)端子接收信息。c/a端子可从装置外部接收指令，且可路由这些指令(和/或基于这些指令产生内部信号)以执行指令中所指定的操作。举例来说，存储器装置300可包含沿着c/a端子的指定读取或写入操作的指令和指定要执行所述操作的存储器单元的地址信息。
[0065]
c/a输入电路302可将所接收的地址信息传递到地址解码器304，其可提供一或多个地址add，例如行地址、列地址和/或组地址。c/a输入电路302可将所接收的命令指令传递到命令解码器306上。命令解码器306可路由命令指令和/或产生内部信号以激活受指示操
作中涉及的组件，和/或指示那些组件进行何种操作。举例来说，命令解码器306可将行激活信号act提供到行解码器310，其可使行解码器310激活由地址解码器304中的地址add指定的字线wl。命令解码器306还可将读取或写入read/write提供到列解码器312，其可基于地址解码器304中的列地址add激活一或多个指定位线bl，且在经激活位线与经激活字线的相交点处将数据读取或写入到存储器单元或从存储器单元读取或写入数据。
[0066]
存储器阵列320的位线bl可耦合到感测放大器322，其可用于沿着所述位线从经激活存储器单元读取逻辑值或沿着所述位线将逻辑值写入到经激活存储器单元。感测放大器322可经由本地输入/输出线liot/b耦合到转移栅极，其可将多个liot/b线耦合到主输入/输出线miot/b。miot/b线可在存储器阵列320外部耦合到读取/写入放大器326，其可将沿着miot/b线的信号耦合到输入/输出电路328。读取/写入放大器可用于将存储器阵列320内使用的电压转换为存储器阵列外部使用的电压。
[0067]
io电路328可经由例如dq、dqs和dm等数据端子在存储器之间耦合数据。io电路328还耦合到外部电压vddq和vdds，其可充当io电路328中使用的各种放大器和其它电路的电源。存储器300还可具有额外电压，所述额外电压可由额外电压端子提供和/或由存储器300的内部电压产生器(未展示)产生。在一些实施例中，外部电压vddq和vdds可以是为io电路328供电的io电压，而其它电路由其它电压供电以降低噪声。io电路328还可耦合到时钟信号，例如lclk，其可用于控制输入和输出操作的定时。
[0068]
存储器300包含(例如，从存储器300耦合到的系统)接收外部时钟信号的时钟端子ck和/ck。存储器300包含时钟输入电路318，其可接收外部时钟信号并将所述外部时钟信号重新格式化以提供内部时钟信号iclk。内部时钟产生器319接着可基于内部时钟信号提供一或多个本地时钟信号lclk。
[0069]
在一些实施例中，存储器300的某些元件(例如，行解码器310、列解码器312和/或读取/写入放大器326)可为组特定的。举例来说，可能存在用于第一组的第一行解码器310、用于第二组的第二行解码器310等。在一些实施例中，此类组件可位于接近含有存储器装置300的裸片上的存储器阵列320的所述组的物理位置的组逻辑区。
[0070]
存储器300还可包含熔丝电路314，其可包含(或耦合到)熔丝阵列。在一些实施例中，熔丝电路314可包含于图1的熔丝电路110中。熔丝电路314可读出各种熔丝的状态且使用所述状态来修改存储器装置300的操作。举例来说，熔丝阵列可具有对应于存储器300的设置的各种熔丝，所述熔丝可由熔丝电路314读取，所述熔丝电路接着可产生基于那些设置的状态修改存储器300的操作的信号。
[0071]
熔丝阵列和熔丝电路314可用于存储器300的修复操作。存储器阵列320可具有沿着位线bl和字线wl布置的大量存储器单元。这些存储器单元中的一些可能由于例如存储器阵列320的制造缺陷、损坏或其他问题而不可存取。在存储器装置300的制造或质量控制期间，可测试存储器阵列320以定位不可存取的存储器单元。存储器300接着可经历修复操作，其中熔丝阵列中的熔丝被熔断以重新映射地址，使得代替与不可存取的存储器单元相关联，所述地址改为与可用存储器单元相关联。
[0072]
在实例修复操作中，存储器阵列320可包含沿着正常字线组织的一组存储器单元，以及沿着冗余字线组织的一组冗余存储器单元。如果缺陷存储器单元经定位，那么可熔断熔丝阵列中的熔丝以指示先前与包含缺陷存储器单元的字线相关联的行地址现与存储器
的冗余行中的一者相关联。因此，当接收到参考所述字所处的行地址时，熔丝电路314可向行解码器310传达应激活存储器的冗余行而不是原始行。还可以类似方式逐位线地执行修复操作。
[0073]
在一些实施例中，存储器300包含散列产生器电路316，其可包含于图1的散列产生器电路114和/或图2的散列产生器电路200中。当存储器装置300包含对熔丝信息的请求(例如，在c/a端子处)时，c/a输入电路302可将所述请求(和/或基于所述请求的信号)提供到命令解码器306，其可使熔丝电路314将熔丝信息提供到散列产生器316。散列产生器316接着可基于熔丝信息产生识别号，且接着将所述id号提供到io电路328。io电路328接着可沿着数据端子(例如，dq)提供id号，其中所述id号可由外部装置接收。
[0074]
用于修复操作的熔丝阵列的区段可尤其适用于产生识别号，因为所执行的修复操作可具有相对较高水平的装置与装置之间的变化性。在一些实施例中，对熔丝信息的请求可指定用于修复操作的熔丝阵列的区段，且id号可基于熔丝阵列的修复区段中的熔丝的状态。
[0075]
图4为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝的识别号连接到安全网络的装置的框图。图4的环境400表示使用基于熔丝的id号的系统(例如，图1的系统100)的实例应用。具体地说，环境400表示仅某些装置(例如，移动装置410)经授权以连接到网络的安全环境。网络(例如，接入点402)可基于由移动装置410广播的基于熔丝的id号而确定是否允许装置410接入网络(和/或可接入网络的哪些部分)。
[0076]
环境400可为接入完全或部分地受限于网络的一或多个组件的环境。举例来说，环境400可表示工厂，例如生产存储器装置的工厂。工厂可包含可经由网络远程接入的装置，例如芯片测试器406和服务器408。用户(例如工厂的雇员)可配备有移动装置410，例如蜂窝电话、平板计算机或膝上型计算机，其可用于接入此类装置。举例来说，可从服务器408检索数据或将数据存储于所述服务器中，且可从测试器406检索结果或将指令加载到测试器406上。然而，可远程地执行的这些组件和/或操作的某些特征可受到限制。
[0077]
移动装置410包含存储器414，例如dram存储器和控制器412。控制器412可与存储器414一起封装为芯片上系统(soc)的一部分。当移动装置410尝试通过本地接入点402接入网络时(或当移动装置410尝试接入网络的安全部分时)，接入点402可将识别请求提供到装置410。控制器412可接收id请求，且接着产生将其提供到存储器414的内部熔丝信息请求。存储器可通过基于存储器的熔丝阵列中的熔丝的全部或部分的状态产生识别号而作出响应。此识别号接着可由移动装置410提供回到本地接入点402。本地接入点402接着可基于识别号决定是否(或到什么程度)接入对移动装置410的准予。基于所述决定，本地接入点402可与网络交换机404协调，以准予对例如测试器406和/或服务器408等网络资源中的一些或全部的接入。
[0078]
图5为根据本公开的一些实施例的使用基于熔丝的识别号识别自身的系统组件的框图。在一些实施例中，系统500可为图1的系统100的实例实施。在系统500中，诸如固态硬盘(ssd)之类的存储器装置510可与诸如计算装置之类的主机装置502通信，以向主机装置502识别存储器装置510。
[0079]
可能存在以下情形：确保相同物理存储器装置附接到计算系统502是重要的。举例来说，这可帮助确保存储装置510未被替换为试图从计算系统502窃取数据的一部分。存储
器装置510包含控制器512和存储阵列514(例如，如nand阵列)以及存储器516。
[0080]
计算系统502可将id请求提供到存储器装置510。控制器512可将熔丝信息请求提供到存储器516，其可基于存储器516的熔丝阵列产生id号。存储器装置510可将id号提供到计算装置502，其可将所述id号与数据库504中的可容许id号的列表进行比较。如果存在匹配，那么计算装置502可存取存储器装置510的存储阵列514。如果不存在匹配，那么计算装置502可锁定存储器装置510且可发送一或多个警告或错误。
[0081]
可能存在其中基于熔丝的识别系统可适用的其它实例环境。举例来说，携带在用户身上的移动装置，例如手机或遥控钥匙，可包含熔丝阵列，且可在请求时基于熔丝阵列产生唯一识别号。这可允许用户接入安全区域，例如打开门锁或允许接入
‘
智能家庭’的环境控制。
[0082]
图6为根据本公开的一些实施例的描绘使用基于熔丝的识别号识别装置的方法的流程图。在一些实施例中，方法600可由图1到5的设备和/或系统中的一或多者实施。
[0083]
方法600通常可以描述在装置处接收识别请求的框610开始。识别请求可由另一装置(例如，计算装置、无线接入点)提供和/或可由装置的另一组件(例如，装置的控制器或处理器)提供。在一些实施例中，装置可为存储器装置，例如dram芯片。装置可具有接收识别请求的命令和地址(c/a)端子。
[0084]
框610后面通常可为框620，其描述基于装置的熔丝阵列的至少一部分的状态提供熔丝信息。所述装置可包含熔丝电路，其可耦合到熔丝阵列。熔丝阵列可具有用于对装置中的信息进行永久编码的多种熔丝。举例来说，熔丝阵列可包含用于包含装置的设置的熔丝。熔丝电路可提供基于熔丝中的哪一者已被熔断的熔丝信息。在一些实施例中，装置可包含c/a输入电路，其可产生内部熔丝状态请求，且熔丝电路可响应于熔丝状态请求而提供熔丝信息。
[0085]
在一些实施例中，装置可为存储器装置，且熔丝的至少一部分可用于修复操作。举例来说，在修复操作期间，可熔断熔丝阵列的修复部分的一或多个熔丝以将地址从正常字线重新映射到冗余字线。熔丝状态请求可指定关于包含熔丝的修复部分的一组熔丝的信息。
[0086]
框620后面通常可为框630，其描述基于熔丝信息产生识别号。识别号可由散列产生器产生，所述散列产生器可使用熔丝信息作为种子。识别号可提供于装置的数据端子处。
[0087]
在一些实施例中，方法600可包含将识别号与数据库进行比较，并且例如执行以下各者中的至少一者：准予对所述装置的接入、取消对所述装置的接入、操作第二装置或识别所述装置。在一些实施例中，识别号可基于装置的修复熔丝，且方法600可包含基于修复操作的日志或记录而验证识别号。
[0088]
当然，应了解，本文中所描述的实例、实施例或过程中的任一者可与一或多个其它实例、实施例和/或过程组合或分离和/或在根据本发明系统、装置和方法的单独装置或装置部分当中执行。
[0089]
最后，上文的论述意图仅说明本发明系统且不应被理解为将所附权利要求书限制于任何特定实施例或实施例群组。因此，虽然已参考示例性实施例详细地描述了本发明系统，但还应了解，在不脱离如所附权利要求书中阐述的本发明系统的更广和既定精神和范围的情况下，所属领域的技术人员可设计许多修改和替代实施例。因此，说明书和附图应以
说明性方式看待，且不意图限制所附权利要求书的范围。