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一种助熔剂中碳空白值的确定方法与流程

2023-01-17 11:32:59 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种助熔剂中碳空白值的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:s1,称取特定质量的助熔剂,放入坩埚内,将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置,运行碳硫分析仪,得到碳测得值;s2,重复s1若干次,测量获取不同质量的助熔剂所对应的碳测得值;s3,以助熔剂质量为横坐标x,碳测得值为纵坐标y,拟合得到直线方程y=ax b;s4,取助熔剂质量x=0,对应的y值即为助熔剂的碳空白值。2.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述不同质量的助熔剂的质量间隔为0.50克。3.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述不同质量的助熔剂的质量间隔<0.50克。4.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:s1,称取多组特定质量的同种助熔剂,分别放入对应的坩埚内,将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置,运行碳硫分析仪,得到碳测得值;s2,重复s1若干次,测量获取多组不同质量的助熔剂所对应的碳测得值;s3,以助熔剂质量为横坐标x,碳测得值为纵坐标y,拟合得到不同组助熔剂所对应的直线方程y=ax b;s4,取助熔剂质量x=0,对应的y值即为不同组助熔剂的碳空白值;s5,将不同组助熔剂的碳空白值相加后除以组数,得到助熔剂的平均碳空白值。5.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:s1,称取多组特定质量的同种助熔剂,分别放入对应的坩埚内,不同组助熔剂所用的坩埚种类不同;将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置,运行碳硫分析仪,得到碳测得值;s2,重复s1若干次,测量获取多组不同质量的助熔剂所对应的碳测得值;s3,以助熔剂质量为横坐标x,碳测得值为纵坐标y,拟合得到不同组助熔剂所对应的直线方程y=ax b;s4,从不同组助熔剂所对应的直线方程中选取出斜率a最小的直线方程,在该直线方程中取助熔剂质量x=0,对应的y值即为助熔剂的碳空白值。6.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述碳硫分析仪运行时所使用的氧气纯度≥99.999%。

技术总结
本发明属于化学分析领域,尤其涉及一种助熔剂中碳空白值的确定方法,该方法包括以下步骤:S1,称取特定质量的助熔剂,放入坩埚内,将坩埚放置在碳硫分析仪的待分析位置,运行碳硫分析仪,得到碳测得值;S2,重复S1若干次,测量获取不同质量的助熔剂所对应的碳测得值;S3,以助熔剂质量为横坐标X,碳测得值为纵坐标Y,拟合得到直线方程Y=aX b;S4,取助熔剂质量X=0,对应的Y值即为助熔剂的碳空白值。该方法能够排除测量过程中坩埚浸熔出碳对空白值确定的干扰,得到更为准确的助熔剂碳空白值。得到更为准确的助熔剂碳空白值。得到更为准确的助熔剂碳空白值。


技术研发人员:韦建环 李燕昌 高帅 孙涛 李刚 高晋峰
受保护的技术使用者:中国航发北京航空材料研究院
技术研发日:2022.11.08
技术公布日:2022/12/30
再多了解一些

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