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试验回路机构和漏电断路器的制作方法

2023-01-05 08:57:34 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种试验回路机构,其特征在于:试验电阻(1)、第一弹簧(2)和第二弹簧(3),所述第一弹簧(2)和第二弹簧(3)分别包括第一连接部(21)和第二连接部(31),第一连接部(21)和第二连接部(31)分别与试验电阻(1)的两个引脚(11)连接,所述第一连接部(21)和/或第二连接部(31)上设有卡接结构(4),卡接结构(4)与试验电阻(1)的引脚(11)卡接配合,所述第二弹簧(3)还设有与断路器主回路连接的接触部(32),所述第一弹簧(2)还设有与试验按钮(5)配合的动作部(22),按压试验按钮(5)能够带动动作部(22)与断路器主回路电连接,使所述试验电阻(1)接入断路器主回路。2.根据权利要求1所述的试验回路机构,其特征在于:所述卡接结构(4)包括相对设置的两个卡接段(41),以及连接在两个卡接段(41)之间的包裹段(42),所述试验电阻(1)的引脚(11)能够插到卡接结构(4)的两个卡接段(41)之间并与所述包裹段(42)接触。3.根据权利要求1所述的试验回路机构,其特征在于:所述第一弹簧(2)包括转动安装在壳体上的螺旋部(23),所述动作部(22)和第一连接部(21)分别与螺旋部(23)连接。4.根据权利要求1所述的试验回路机构,其特征在于:所述试验电阻(1)、第一弹簧(2)和第二弹簧(3)分别设置在壳体内,所述壳体内设有接线端子,所述接触部(32)与接线端子接触配合。5.根据权利要求4所述的试验回路机构,其特征在于:所述壳体包括相对设置的两个半壳,所述接线端子安装在其中一个半壳上,所述接触部(32)设有与其中另一半壳配合的折弯段(33),以及与折弯段(33)连接的接触段(34),所述两个半壳组合为壳体时,其中一个半壳能够推动所述折弯段(33),使所述折弯段(33)带动接触段(34)与接线端子接触。6.根据权利要求5所述的试验回路机构,其特征在于:所述第二弹簧(3)的接触部(32)向远离接线端子的一侧折弯形成所述折弯段(33),折弯段(33)的一端与第二弹簧的第二连接部(31)连接,折弯段(33)远离第二连接部(31)的一端向远离接线端子的一侧折弯形成所述接触段(34)。7.根据权利要求4所述的试验回路机构,其特征在于:所述接线端子包括接线片(61),所述接线片(61)包括相对设置的上接线部(64)和下接线部(65),以及连接在上接线部(64)和下接线部(65)一侧之间的右接线部(66),在下接线部(65)远离所述右接线部(66)的一侧与左接线部(67)连接,所述接触部(32)与所述右接线部(66)的侧边接触。8.根据权利要求5所述的试验回路机构,其特征在于:其中一个半壳设有与第一连接部(21)和第二连接部(31)分别对应的限位槽(91、92),限位槽(91、92)上设有与卡接结构(4)对应的避让槽(93、94),另一半壳设有与限位槽(91、92)对应的压板(81、82),以及与避让槽(93、94)对应的插板(83、84),所述两个半壳组合为壳体时,所述压板(81、82)能够插到限位槽(91、92)中将对应的第一连接部(21)和第二连接部(31)压紧在限位槽(91、92)内,所述插板(83、84)能够插到避让槽(93、94)中并将试验电阻(1)的引脚(11)与卡接结构(4)压紧。9.根据权利要求3所述的试验回路机构,其特征在于:所述动作部(22)延伸到试验按钮(5)下方,动作部(22)与螺旋部(23)设有成v型的第一折弯段,所述第一折弯段的弯折处与试验按钮(5)接触且限位配合,所述动作部(22)的端部弯折形成用于从主回路取电的第一接触段。10.一种漏电断路器,其特征在于:包括如权利要求1-9任一项所述的试验回路机构。

技术总结
一种试验回路机构,试验电阻、第一弹簧和第二弹簧,所述第一弹簧和第二弹簧分别包括第一连接部和第二连接部,第一连接部和第二连接部分别与试验电阻的两个引脚连接,所述第一连接部和/或第二连接部上设有卡接结构,卡接结构与试验电阻的引脚卡接配合,所述第二弹簧还设有与断路器主回路连接的接触部,所述第一弹簧还设有与试验按钮配合的动作部,按压试验按钮能够带动动作部与断路器主回路电连接,使所述试验电阻接入断路器主回路,不需要试验电阻与第一弹簧和/或第二弹簧之间通过焊接和铆接等传动的方式连接,并且无需通过导线连接试验电阻,具有结构简单、装配方便和连接可靠的特点,有利于实现自动化装配,提高生产效率。提高生产效率。提高生产效率。


技术研发人员:康旭 朱俊 张晓东
受保护的技术使用者:浙江正泰电器股份有限公司
技术研发日:2022.06.30
技术公布日:2023/1/3
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