基于T-CON板的多模块烧录方法及系统与流程

基于t-con板的多模块烧录方法及系统
技术领域
1.本发明涉及t-con板领域，特别是涉及一种基于t-con板的多模块烧录 方法及系统。


背景技术：

2.大多数产品，都需要对各个模块ic进行软件烧录，才可以达到正常硬件效 果。目前，在生产过程中只能对各个模块实现各种不同功能的ic进行逐一烧录， 过程比较繁琐，而且因为每个ic都会对应不同的烧录工具，等到产品量产时就 会经过诸多道烧录工序。生产工序增多，必定会增加生产成本：烧录工具消耗、 需要耗费更多的人力等等，并且会增加烧写失败的概率。
3.对于模块化的产品，往往需要对各个模块进行单独烧录，以实现整体硬件 功能。模块越多，过程就越长，便需要投入更多精力来实现。整个t-con板， 包含了pwm、gamma、level shifter以及tcon四个主要模块，我们需要对四个 模块都写入程序，共同实现tcon板的显示驱动功能。在以前我们进行烧录时会 有四个程序文件，对应四个不同的烧录工具，对四个ic分别进行烧录，这是相 当繁琐的，因为它们之间都是一一对应的关系，无法保证在这样的过程中不会 出现错误。


技术实现要素：

4.本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种基于t-con板的多 模块烧录方法及系统，可以有效地降低了烧录难度，降低成本，增强产品在市 场上争取优势。还可以同时烧录整个产品所有模块ic的方法，避免了繁杂的烧 录过程，让机器来完成这部分工作，效率更高，并且保证了正确率。
5.本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
6.本发明提供一种基于t-con板的多模块烧录方法，包括如下步骤：
7.将合并程序烧录入tcon主模块的存储器中；
8.读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分别与各 对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对应模块 中；
9.当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。
10.优选的，所述读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序 并且分别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程序 写入对应模块中的具体步骤包括：
11.s210、读取模块a中的第一程序，获取合并程序中的第一预设程序并与第 一程序进行crc校验，若校验失败，则将所述第一预设程序写入模块a中；
12.s220、读取模块b中的第二程序，获取合并程序中的第二预设程序并与第 二程序进行crc校验，若校验失败，则将所述第二预设程序写入模块b中；
13.s230、读取模块b中的第三程序，获取合并程序中的第三预设程序并与第 三程序
进行crc校验，若校验失败，则将所述第三预设程序写入模块c中。
14.优选的，所述模块a、所述模块b和所述模块c分别是电源模块、灰度调 节模块和电平转换模块三者的任意组合。
15.优选的，所述tcon主模块分别与所述模块a、所述模块b和所述模块c连 接。
16.优选的，所述tcon主模块通过i2c控制线分别与所述模块a、所述模块b 和所述模块c连接。
17.优选的，所述读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序 并且分别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程序 写入对应模块中，包括：
18.读取各模块的程序，进行crc校验，若校验失败，则重复校验有效次数， 若同样都是校验失败，则将所述预设程序写入对应模块中；
19.若其中一次校验成功，则执行另一模块的烧写步骤。
20.优选的，所述重复校验有效次数为n次，其中n为正整数。
21.优选的，所述将所述预设程序写入对应模块中，包括：
22.获取模块的地址信息，根据所述地址信息读取预设程序，将所述预设程序 写入对应模块中。
23.优选的，所述地址信息包括存储地址和通讯地址。
24.本发明还提供一种基于t-con板的多模块烧录系统，包括以上所述的多模 块烧录方法，所述系统还包括：
25.预烧录模块，用于将合并程序烧录入tcon主模块的存储器中；
26.写入模块，用于读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程 序并且分别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程 序写入对应模块中；
27.检测模块，用于检测当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。
28.本发明相比于现有技术的优点及有益效果如下：
29.本发明为一种基于t-con板的多模块烧录方法及系统，通过将合并程序烧 录入tcon主模块的存储器中，再读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对 应的预设程序并且分别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，从而 可以将所述预设程序写入对应模块中，进而可以有效地降低了烧录难度，降低 成本，增强产品在市场上争取优势。本发明的方法可以同时烧录整个产品所有 模块ic的方法，避免了繁杂的烧录过程，让机器来完成这部分工作，效率更高， 并且保证了正确率。
附图说明
30.图1为本发明一实施方式的基于t-con板的多模块烧录方法的流程图；
31.图2为本发明另一实施方式的基于t-con板的多模块烧录方法的流程图；
32.图3为本发明一实施方式的基于t-con板的多模块烧录系统的模块图；
33.图4为多模块的code合并成一个code的模块示意图。
具体实施方式
34.为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。 附图中
给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来 实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是 使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。
35.请参阅图1～图3，本发明提供一种基于t-con板的多模块烧录方法，包括 如下步骤：
36.s100、将合并程序烧录入tcon主模块的存储器中；需要说明的是，我们要 将需要的相关程序合并烧写进tcon flash中，tcon在上电后，将对应的ic数据 从tcon falsh搬运到ic各自的寄存器或nvm中。
37.s200、读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分 别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对 应模块中；需要说明的是，tcon不会直接对pmic进行烧写，会先进行一次比 对，把pwm_ic原有的code读取出来与tcon中属于pwm_ic的那部分code 进行crc校验(循环冗余校验)，若校验失败，tcon会将code写进pmic nvm 中，然后再将其读出并校验，校验通过即可进入下一个烧录环节。如果还是校 验失败，会重复烧写的环节。但是我们设定了失败次数，若是失败次数大于设 定值，系统会直接跳过烧录此ic，烧录下一个ic，这是为了避免烧写进入死循 环，也是为了在失败后检查时，可以回查到具体哪一个ic烧写出了问题。
38.接着开始烧写gamma ic，其过程与烧写pmic类似。tcon会把gamma中 原有的程序读出，根据寄存器地址对应的code与其进行比对，校验失败次数小 于等于三次时，tcon会把code写给gamma ic，然后读出来再次校验比对，比 对成功或者失败次数已经达到了四次就会进入下一个烧录环节；到了levelshifter也是同样进行读取、校验、烧写三个环节，最后整个烧录过程结束。
39.s300、当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。
40.需要说明的是，因此对tcon ic的设置非常重要，要结合各个模块ic的code 存储地址、通讯地址以及code的crc校验值来判断是否进行烧录，不断进行读 写及判定，针对不同类型、规格、品牌的ic需要更新设定。校验方法也是十分 重要的一部分，tcon内置的crc模型纠错正确率很高，可以用以支持此烧录方 法的校验环节。
41.可以理解，在实际烧录过程中，如何根据存储地址、通讯地址以及crc校 验值来烧录程序，一实施方式中，获取各模块ic的器件地址和寄存器地址，以 及对应的模块ic的校验方法，将获取的器件地址、寄存器地址及校验方法发送 至主模块ic中，主模块ic通过i2c或者其他通讯方式与对应的模块ic进行通 讯，将所述模块ic的寄存器的器件地址、寄存器地址及校验方法进行校验和判 断，当然我们已经将该模块ic的code写进了asic中，若校验失败，则将对应 的code烧录至对应的模块ic中，然后再重复校验。需要说明的是，各个模块 ic的器件地址、寄存器地址，有的是ic厂商设定好的了，无法进行更改；有的 是确定了几位，剩下的由硬件决定(用户设定)。因此，进行此方法烧录时需根 据ic规格书，来设定asic，即上述的告诉asic相关内容。校验方法也会根据 不同家ic，使用不同的校验方法，最常用的是crc校验法，即循环冗余校验， 是一种根据网络数据包或计算机文件等数据产生简短固定位数校验码的一种信 道编码技术，主要用来检测或校验数据传输或者保存后可能出现的错误，利用 除法及余数的原理来作错误侦测。
42.得到了正确的code，各模块之间通过i2c实现数据控制，pmic接收、输出 正常工作
电压，gamma ic调节灰阶、level shifter进行电平转换等，最终实现 正常的、符合要求的显示驱动板。
43.可以理解，在当今的行业大环境之中，在新冠疫情的肆虐和严峻的国际形 势下，生产制造成本开始上涨，使用原有的方法去实现某个目的，已经渐渐变 得繁杂和冗余，旧的模式和技术需要被迭代。去繁从简是科技产物的最终目的， 是时代发展的需求，都应该去思考怎么用“一”的方式去实现“二”的效果。 这样精简、高效的烧录方式，极大地提升了生产效率，也使一些调试的过程变 得更加简单。相比于旧的烧录方式较为繁琐，调试时使用起来较复杂；其次生 产效率较低，成本较高，使得整个产品成本也升高，会降低产品竞争力。使用 新发明的烧录方式，降低了烧录难度，也可以让成本降低，为产品在市场上争 取优势，促进利润增长。另外，本发明可以应对需要多个程序文件烧录，共同 实现硬件功能的系统。将诸多个程序合并好之后写进主控存储器中主控通过各 个模块的寄存器地址将code分配出去。
44.可以理解，本技术是如何将多个程序合并为一个主程序，即提供程序合并 的具体流程图或方法，不同asic的合code方法不一，在其中一个实施方式中， 对于可由asic控制的，比如识别各个模块ic的器件地址、寄存器地址、校验 方法，可以通过asic厂家开发的工具进行在线写入，再另存为一份新的code， 非asic控制的，比如其他模块ic的code，则需要对各个模块ic分别进行调 试，调试出各个模块ic符合功能需求的code，再将这些code都放进asic的 存储模块中，如图4所示，再另存为一份新的code，这样就得到了一份具有多 个ic相关内容的code。
45.本发明可以应对需要多个程序文件烧录，共同实现硬件功能的系统。将诸 多个程序合并好之后写进主控存储器中，主控通过各个模块的寄存器地址将 code分配出去。
46.具体地，一种可以一次烧录这四个ic的方法，把四份程序文件合到了一起， 写进tcon flash ic里，根据pwm ic、gamma ic、level shifter各自的寄存器 地址，把程序“搬运”给它们，实现烧写的目的。一实施方式中，所述读取各 模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分别与各对应模块的 程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对应模块中的具体步 骤包括：
47.s210、读取模块a中的第一程序，获取合并程序中的第一预设程序并与第 一程序进行crc校验，若校验失败，则将所述第一预设程序写入模块a中；
48.s220、读取模块b中的第二程序，获取合并程序中的第二预设程序并与第 二程序进行crc校验，若校验失败，则将所述第二预设程序写入模块b中；
49.s230、读取模块b中的第三程序，获取合并程序中的第三预设程序并与第 三程序进行crc校验，若校验失败，则将所述第三预设程序写入模块c中。
50.在本实施例中，所述模块a、所述模块b和所述模块c分别是电源模块、 灰度调节模块和电平转换模块三者的任意组合。即电源模块、灰度调节模块和 电平转换模块三者任意搭配可以有六种组合，也就是说在实际烧录过程中，可 以根据实际的需要和烧录顺序进行设置，不限定某一具体的顺序进行烧录。
51.还需要说明的是，所述tcon主模块分别与所述模块a、所述模块b和所述 模块c连接。具体地，所述tcon主模块通过i2c控制线分别与所述模块a、所 述模块b和所述模块c连接。
52.请参阅图2，所述读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程 序并且分别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程 序写入对应模块中，包括：读取各模块的程序，进行crc校验，若校验失败， 则重复校验有效次数，若同样都是校验失败，则将所述预设程序写入对应模块 中；若其中一次校验成功，则执行另一模块的烧写步骤。
53.在本实施例中，所述重复校验有效次数为n次，其中n为正整数。具体地， 所述重复校验有效次数n为3～5次。优选的，所述重复校验有效次数为3次。
54.在本实施例中，所述将所述预设程序写入对应模块中，包括：获取模块的 地址信息，根据所述地址信息读取预设程序，将所述预设程序写入对应模块中。 具体地，所述地址信息包括存储地址和通讯地址。
55.请参阅图3，本发明还提供一种基于t-con板的多模块烧录系统，包括以 上所述的多模块烧录方法，所述系统还包括：
56.预烧录模块，用于将合并程序烧录入tcon主模块的存储器中；
57.写入模块，用于读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程 序并且分别与各对应模块的程序进行crc校验，若校验失败，则将所述预设程 序写入对应模块中；
58.检测模块，用于检测当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。
59.以上所述实施方式仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详 细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本 领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变 形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以 所附权利要求为准。