测试装置和方法与流程

技术特征：
1.一种测试装置，其中，包括：具有多个安装位的连接电路，每个所述安装位用于连接一个样品；检测单元，其用于检测所述样品；控制单元，其用于控制所述检测单元检测样品。2.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述测试装置还包括：电源单元，其用于为所述连接电路供电；所述控制单元还用于控制电源单元为连接电路供电。3.根据权利要求2所述的测试装置，其中，所述电源单元包括恒流电源。4.根据权利要求3所述的测试装置，其中，所述控制单元还用于控制恒流电源的输出电流。5.根据权利要求4所述的测试装置，其中，所述控制单元用于根据样品的数量控制恒流电源的输出电流。6.根据权利要求2所述的测试装置，其中，所述控制单元用于在电源单元供电时，控制所述检测单元与连接电路断开。7.根据权利要求2所述的测试装置，其中，所述控制单元用于在检测单元检测时，控制所述电源单元与连接电路断开。8.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述检测单元用于检测样品的电阻。9.一种测试方法，其中，包括：将样品连接到所述测试装置的安装位上；所述测试装置为权利要求1至8中任意一项所述的测试装置；用所述测试装置对样品进行测试。

技术总结
本公开提供了一种测试装置，其包括：具有多个安装位的连接电路，每个所述安装位用于连接一个样品；检测单元，其用于检测所述样品；控制单元，其用于控制所述检测单元检测样品。本公开还提供了一种测试方法。公开还提供了一种测试方法。公开还提供了一种测试方法。


技术研发人员：孙钮一 杨丹 梅娜 孙拓北
受保护的技术使用者：深圳市中兴微电子技术有限公司
技术研发日：2021.06.03
技术公布日：2022/12/5