一种基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统与流程

技术特征：
1.一种基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，包括：当完成电磁兼容测试，被测芯片失效时，进行初始化配置；其中，所述初始化配置包括：对复位信号i/o接口进行初始化、对连接上位机的通信接口的初始化；在完成初始化配置后，检测是否接收到上位机的复位控制指令；当接收到上位机的复位控制指令时，根据所述复位控制指令，获取被测芯片复位所需的复位通道、复位持续时间和复位电压值；根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值，向被测芯片输出复位控制信号。2.如权利要求1所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，在所述在完成初始化配置后，检测是否接收到上位机的复位控制指令之后，还包括：当检测没有接收到上位机的复位控制指令时，检测是否接收到上位机的重启指令；当接收到上位机的重启指令时，重启并进行初始化配置。3.如权利要求1所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，所述复位控制指令为上位机根据被测芯片的类型，对需要复位的通道、复位的持续时间和复位所需的电压值进行预设置的控制指令。4.如权利要求1所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，在所述当完成电磁兼容测试，被测芯片失效时，进行初始化配置之后，还包括：其中，所述始化配置还包括：对复位按键i/o接口进行初始化；检测复位按键的按压状态；当检测到复位按键被按下时，根据所述复位按键对应的复位通道和复位电压，向被测芯片输出复位控制信号；当检测到复位按键没有被按下时，停止向被测芯片输出复位控制信号。5.如权利要求1-4中任意一项所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，在所述根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值，向被测芯片输出复位控制信号，或者，所述根据所述复位按键对应的复位通道和复位电压，向被测芯片输出复位控制信号的同时，包括：其中，所述初始化配置包括：led指示灯i/o接口的初始化；点亮与所述复位控制信号对应的led指示灯。6.如权利要求5所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，所述led指示灯在经过复位持续时间后，或者，在检测到复位按键没有被按下时熄灭。7.如权利要求1-4中任意一项所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，在所述根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值，向被测芯片输出复位控制信号之后，或者，没有接收到上位机的重启指令时，包括：等待接收上位机的控制指令；其中，所述控制指令包括：复位控制指令或重启指令。8.如权利要求1-4中任意一项所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法，其特征在于，在所述根据所述复位按键对应的复位通道和复位电压，向被测芯片输出复位控制信号，或者，所述停止向被测芯片输出复位控制信号之后，包括：继续检测复位按键的按压状态。9.一种基于芯片电磁兼容测试的复位装置，其特征在于，包括：初始化模块、第一指令
接收模块、信息获取模块和复位控制模块；其中，所述初始化模块用于当完成电磁兼容测试，被测芯片失效时，进行初始化配置；所述第一指令接收模块用于在完成初始化配置后，检测是否接收到上位机的复位控制指令；所述信息获取模块用于当接收到上位机的复位控制指令时，根据所述复位控制指令，获取被测芯片复位所需的复位通道、复位持续时间和复位电压值；所述复位控制模块用于根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值，向被测芯片输出复位控制信号。10.一种基于芯片电磁兼容测试的复位系统，其特征在于，包括：复位控制设备、emc测试板和上位机；其中，所述复位控制设备与所述emc测试板的复位信号接口连接，所述复位控制设备还通过串口转usb接口与上位机的usb接口连接；所述复位控制设备用于执行如权利要求1-8中任意一项所述的基于芯片电磁兼容测试的复位方法；所述emc测试板用于对被测芯片进行电磁兼容测试，并接收所述复位控制设备的复位控制信号；所述上位机用于根据被测芯片的类型，生成对需要复位的通道、复位的持续时间和复位所需的电压值进行预设置的复位控制指令，并将所述复位控制指令传输至所述复位控制设备。

技术总结
本发明公开了一种基于芯片电磁兼容测试的复位方法、装置及系统，该方法包括：当完成电磁兼容测试，被测芯片失效时，进行初始化配置；在完成初始化配置后，检测是否接收到上位机的复位控制指令；当接收到上位机的复位控制指令时，根据所述复位控制指令，获取被测芯片复位所需的复位通道、复位持续时间和复位电压值；根据所述复位通道、所述复位持续时间和所述复位电压值，向被测芯片输出复位控制信号。采用本发明实施例，通过判断并接收上位机的复位控制指令，实现对被测芯片对应的复位通道，按复位持续时间和复位电压值输出复位控制信号，以使被测芯片满足复位条件，实现针对需要通过控制引脚恢复的失效芯片的自动复位。制引脚恢复的失效芯片的自动复位。制引脚恢复的失效芯片的自动复位。


技术研发人员：朱伟 李建忠 赵星 李彬鸿 王云 薛静 叶甜春
受保护的技术使用者：广东省大湾区集成电路与系统应用研究院
技术研发日：2022.08.26
技术公布日：2022/11/18