一种分光机专用高压测试系统的制作方法

技术特征：
1.一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，包括：变压模块、微处理器模块、电压超导感应模块、自动变压控制模块以及输出模块；所述变压模块，用于提供led所需的电压；所述电压超导感应模块，用于对所述变压模块提供的电压的感应和引导；所述自动变压控制模块，用于根据所述电压超导感应模块输出的信号进行输出电压的调控，以得到调控信号；所述微处理器模块，用于根据所述调控信号控制所述变压模块所输出的电压；所述输出模块，用于将所述变压模块提供的电压输出至led；所述变压模块内设有放大型超级磁环。2.根据权利要求1所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述放大型超级磁环包括拉曼磁头和自转环体，所述自转环体与所述拉曼磁头连接。3.根据权利要求2所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，还包括电源模块；所述电源模块，用于对所述变压模块以及所述微处理器模块提供电源。4.根据权利要求3所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，还包括通讯模块，所述微处理器模块通过所述通讯模块与测试设备连接。5.根据权利要求4所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述变压模块包括光耦继电器ak2、运算放大器au3以及变压器ak1，其中，所述光耦继电器ak2以及所述光耦继电器ak2分别与所述微处理器模块连接；所述变压器ak1与所述电源模块连接。6.根据权利要求5所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述变压模块还包括运算放大器au1。7.根据权利要求6所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述微处理器模块包括控制芯片ic3，所述控制芯片ic3的型号为stm32f407zet6。8.根据权利要求7所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述输出模块包括光耦继电器ak1以及运算放大器vu2，所述光耦继电器ak1与所述微处理器模块连接，所述光耦继电器ak1与所述运算放大器vu2连接，所述运算放大器vu2与所述led连接。9.根据权利要求8所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述通讯模块包括通讯芯片u4，所述通讯芯片u4的型号为max3232。10.根据权利要求9所述的一种分光机专用高压测试系统，其特征在于，所述通讯芯片u4的输出端连接有接口j4。

技术总结
本实用新型实施例公开了一种分光机专用高压测试系统，包括：变压模块、微处理器模块、电压超导感应模块、自动变压控制模块以及输出模块；所述变压模块，用于提供LED所需的电压；所述电压超导感应模块，用于对所述变压模块提供的电压的感应和引导；所述自动变压控制模块，用于根据所述电压超导感应模块输出的信号进行输出电压的调控，以得到调控信号；所述微处理器模块，用于根据所述调控信号控制变压模块所输出的电压；所述输出模块，用于将所述变压模块提供的电压输出至LED；所述变压模块内设有放大型超级磁环。本实用新型实施例实现可满足大功率高压测试，稳定性和抗干扰性强，供压稳定，不会出现分光机筛选LED性能参数错误的现象。的现象。的现象。


技术研发人员：项国平 项国斐
受保护的技术使用者：杭州晶飞科技有限公司
技术研发日：2021.12.28
技术公布日：2022/11/10