一种光纤光栅的刻写方法、装置、计算机设备和介质与流程

技术特征：
1.一种光纤光栅的刻写方法，其特征在于，包括：在光纤上刻写已知参数的参考光纤光栅；获取所述参考光纤光栅的第一反射光谱，根据所述第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱；监测所述光纤的反射光谱，在所述光纤上刻写所述目标光纤光栅，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之差达到预设值；去除所述参考光纤光栅，获取所述目标光纤光栅。2.根据权利要求1所述的刻写方法，其特征在于，所述已知参数包括：所述参考光纤光栅的中心波长为第一波长，所述参考光纤光栅的反射率为第一反射率；所述预设参数包括：所述目标光纤光栅的中心波长为第二波长，所述目标光纤光栅的反射率为第二反射率；其中，所述第一波长为λ1，所述第二波长为λ2，|λ1-λ2|≤2nm；所述第一反射率为p1，所述第二反射率为p2，p2＜p1。3.根据权利要求1所述的刻写方法，其特征在于，在光纤上刻写已知参数的参考光纤光栅，包括：将待刻写的所述光纤放在光栅刻写平台上；将所述光纤的一端接光谱仪，另一端接宽带光源；执行光栅刻写，利用所述光谱仪监测光栅的透射谱，得到所述参考光纤光栅。4.根据权利要求1所述的刻写方法，其特征在于，获取所述参考光纤光栅的第一反射光谱，根据所述第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱，包括：将环形器的第一端接宽带光源，所述环形器的第二端接所述光纤，所述环形器的第三端接光谱仪；控制所述光谱仪获取所述参考光纤光栅的第一反射光谱；根据所述第一反射光谱和所述目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱。5.根据权利要求4所述的刻写方法，其特征在于，所述参考光纤光栅的反射率为第一反射率，所述目标光纤光栅的反射率为第二反射率；根据所述第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱，包括：根据计算公式计算并获取所述第二反射光谱：其中，所述计算公式：h1-h2＝10lg(p1/p2)其中，h1为所述第一反射光谱的峰值，h2为所述第二反射光谱的峰值，p1为所述第一反射率和p2为所述第二反射率；根据所述峰差值确定所述第二反射光谱。6.根据权利要求1所述的刻写方法，其特征在于，监测所述光纤的反射光谱，在所述光纤上刻写所述目标光纤光栅，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之
差达到预设值，包括：将待刻写的所述光纤放在光栅刻写平台上；将环形器的第一端接宽带光源，所述环形器的第二端接所述光纤，所述环形器的第三端接光谱仪；执行光栅刻写，利用所述光谱仪监测光栅的反射谱，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之差达到预设值。7.根据权利要求1所述的刻写方法，其特征在于，监测所述光纤的反射光谱，在所述光纤上刻写所述目标光纤光栅，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之差达到预设值，包括：监测所述光纤的反射光谱，在所述光纤上刻写所述目标光纤光栅，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之差达到第一预设值，其中，所述第一预设值大于所述预设值。8.一种光纤光栅的刻写装置，其特征在于，包括：参考光纤光栅刻写模块，用于在光纤上刻写已知参数的参考光纤光栅；第二反射光谱确定模块，用于根据所述参考光纤光栅的第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定所述目标光纤光栅的第二反射光谱；反射光谱监测模块，用于监测所述光纤的反射光谱，在所述光纤上刻写所述目标光纤光栅，直至所述第一反射光谱的峰值和所述第二反射光谱的峰值之差达到预设值；目标光纤光栅获取模块，用于去除所述参考光纤光栅，获取所述目标光纤光栅。9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的光纤光栅的刻写方法。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的光纤光栅的刻写方法。

技术总结
本发明公开了一种光纤光栅的刻写方法、装置、计算机设备和介质，光纤光栅的刻写方法，包括：在光纤上刻写已知参数的参考光纤光栅；获取参考光纤光栅的第一反射光谱，根据第一反射光谱和目标光纤光栅的预设参数确定目标光纤光栅的第二反射光谱；监测光纤的反射光谱，在光纤上刻写目标光纤光栅，直至第一反射光谱的峰值和第二反射光谱的峰值之差达到预设值；去除参考光纤光栅，获取目标光纤光栅。本发明首先在光纤上刻写参考光纤光栅，再基于参考光纤光栅的第一参考光谱确定目标光纤光栅的第二反射光谱，在刻写目标光纤光栅同时，基于光谱之间峰值之差达到预设值进行监测。保证对目标光纤光栅监测的同时，确保刻写准确预设参数下的目标光纤光栅。的目标光纤光栅。的目标光纤光栅。


技术研发人员：王长峰
受保护的技术使用者：上海瀚宇光纤通信技术有限公司
技术研发日：2022.08.18
技术公布日：2022/11/11