一种集成电路测试用集成电路板除尘装置的制作方法

1.本实用新型涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种集成电路测试用集成电路板除尘装置。


背景技术：

2.集成电路板是采用半导体制作工艺，在一块较小的单晶硅片上制作上许多晶体管及电阻器、电容器等元器件，并按照多层布线或遂道布线的方法将元器件组合成完整的电子电路。
3.集成电路板加工好后或是集成电路板维修后再利用前，为了测试其是否可正常工作，工作人员会使用集成电路测试仪对集成电路板进行检测。
4.而在进行集成电路板检测的过程中，各部分器件表面会形成正电荷或负电荷，为表面静电吸附周围空气中的灰尘，还需使用除尘装置将集成电路板上的灰尘除去，但现有的除尘装置多是直接从上方对灰尘进行吸附，影响测试探头对集成电路板进行测试。
5.因此，有必要提供一种集成电路测试用集成电路板除尘装置解决上述技术问题。


技术实现要素：

6.本实用新型提供一种集成电路测试用集成电路板除尘装置，解决了现有的除尘装置从上方对集成电路板进行除尘，影响测试的问题。
7.为解决上述技术问题，本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置，包括：集成电路测试仪；
8.矩形框，所述矩形框固定连接于所述集成电路测试仪的底部，所述矩形框的中间固定连接有支撑架；
9.处理组件，所述处理组件设置于所述矩形框的内部，所述处理组件位于所述支撑架的顶部，所述处理组件包括连接板，所述连接板顶部的前方开设有连通槽，所述连通槽内表面的下方固定连接有吸气件，所述连接板的一侧开设有连接槽；
10.收集件，所述收集件位于所述连接槽的内部，所述收集件的一端延伸至所述吸气件的内部。
11.通过在集成电路测试仪下方设置矩形框等来放置处理组件，集成电路板位于处理组件上，在吸气件从集成电路板周围对空气中的灰尘进行吸附时，也可通过吸力将集成电路板限制在固定位置处，避免在测试时位置偏移。
12.优选的，所述支撑架顶部的左右两侧均开设有滑槽，所述支撑架正面的中间开设有凹槽。
13.优选的，所述连接板底部的一侧固定连接有连接块，所述连接块一侧的顶部固定连接有磁板。
14.优选的，所述连接板底部的左右两侧均固定连接有滑块，所述滑块的底端延伸至所述滑槽的内部。
15.优选的，所述集成电路测试仪的一侧固定安装有除尘件，所述除尘件的一侧固定安装有吸尘管，所述吸尘管的一端固定安装有吸头，所述吸头的表面固定安装有绑扎圈。
16.优选的，所述除尘件的另一侧固定安装有排气管，所述排气管外表面的一端螺纹连接有过滤套。
17.优选的，所述除尘件的一侧固定安装有收集盒，所述吸尘管的一端贯穿所述收集盒且延伸至所述收集盒的外部。
18.通过在集成电路测试仪一侧设置除尘件、吸尘管等，吸头一端直接通过绑扎圈固定在手上，在对集成电路板进行测试的过程中，直接手腕歪斜等，便可控制吸头对集成电路板上沾染的灰尘进行吸走，使用方便，除尘效果也更强。
19.与相关技术相比较，本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置具有如下有益效果：
20.本实用新型提供一种集成电路测试用集成电路板除尘装置，通过在集成电路测试仪下方设置矩形框等来放置处理组件，集成电路板位于处理组件上，在吸气件从集成电路板周围对空气中的灰尘进行吸附时，也可通过吸力将集成电路板限制在固定位置处，避免在测试时位置偏移，且处理组件移出矩形框后，也方便集成电路测试仪进行散热，后期又可对散热孔进行遮挡，避免灰尘进入，保证集成电路测试仪内部洁净。
附图说明
21.图1为本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置的第一实施例的结构示意图；
22.图2为图1所示的矩形框的结构示意图；
23.图3为图1所示的处理组件的结构示意图；
24.图4为本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置的第二实施例的结构示意图。
25.图中标号：1、集成电路测试仪，2、矩形框，3、支撑架，
26.4、处理组件，41、连接板，42、连通槽，43、吸气件，44、连接槽，45、连接块，46、磁板，47、滑块，
27.5、收集件，6、滑槽，7、凹槽，
28.8、除尘件，9、吸尘管，10、吸头，11、绑扎圈，12、排气管，13、过滤套，14、收集盒。
具体实施方式
29.下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
30.第一实施例
31.请结合参阅图1、图2和图3，其中，图1为本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置的第一实施例的结构示意图；图2为图1所示的矩形框的结构示意图；图3为图1所示的处理组件的结构示意图。集成电路测试用集成电路板除尘装置包括：集成电路测试仪1；
32.矩形框2，所述矩形框2固定连接于所述集成电路测试仪1的底部，所述矩形框2的中间固定连接有支撑架3；
33.处理组件4，所述处理组件4设置于所述矩形框2的内部，所述处理组件4位于所述支撑架3的顶部，所述处理组件4包括连接板41，所述连接板41顶部的前方开设有连通槽42，所述连通槽42内表面的下方固定连接有吸气件43，所述连接板41的一侧开设有连接槽44；
34.收集件5，所述收集件5位于所述连接槽44的内部，所述收集件5的一端延伸至所述吸气件43的内部。
35.矩形框2固定在集成电路测试仪1下方，方便对处理组件4进行收纳，同时也可将集成电路测试仪1支撑起来，在下方留用足够的空间，方便使用时的集成电路测试仪1进行散热，而后期在将处理组件4收纳回矩形框2中后，处理组件4便可将集成电路测试仪1下方的散热孔堵上，保证集成电路测试仪1内的洁净。
36.所述支撑架3顶部的左右两侧均开设有滑槽6，所述支撑架3正面的中间开设有凹槽7。
37.两个滑槽6开设在支撑架3顶部的两侧，支撑架3的中间部分是上下连通的，方便散热。
38.所述连接板41底部的一侧固定连接有连接块45，所述连接块45一侧的顶部固定连接有磁板46。
39.所述连接板41底部的左右两侧均固定连接有滑块47，所述滑块47的底端延伸至所述滑槽6的内部。
40.连接块45固定在连接板41底部，在将处理组件4从矩形框2内抽出后，连接块45对处理组件4进行支撑，连接块45可收缩进凹槽7内，并通过磁板46与金属的支撑架3一端吸附在一起，从而确定限位其位置。
41.本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置的工作原理如下：
42.在对集成电路板进行测试时，首先将处理组件4从矩形框2和支撑架3上拉动出来。
43.随后便可将集成电路板放置在吸气件43上，然后开启吸气件43，吸气件43直接将周围空气向下抽，将周围空气中的灰尘清理掉，避免在测试时，灰尘沾染在集成电路板上。
44.同时吸气件43的吸力较大，还可将集成电路板向下吸，使集成电路板稳定位于吸气件43上，避免测试时其位置偏移。
45.集成电路板测试结束后，可从连接槽44内将收集件5取出，根据其过滤下来的灰尘量选择是否对其进行更换。
46.与相关技术相比较，本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置具有如下有益效果：
47.通过在集成电路测试仪1下方设置矩形框2等来放置处理组件4，集成电路板位于处理组件4上，在吸气件43从集成电路板周围对空气中的灰尘进行吸附时，也可通过吸力将集成电路板限制在固定位置处，避免在测试时位置偏移，且处理组件4移出矩形框2后，也方便集成电路测试仪1进行散热，后期又可对散热孔进行遮挡，避免灰尘进入，保证集成电路测试仪1内部洁净。
48.第二实施例
49.请结合参阅图4，基于本技术的第一实施例提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置，本技术的第二实施例提出另一种集成电路测试用集成电路板除尘装置。第二实施例仅仅是第一实施例优选的方式，第二实施例的实施对第一实施例的单独实施不会造成影
响。
50.具体的，本技术的第二实施例提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置的不同之处在于，所述集成电路测试仪1的一侧固定安装有除尘件8，所述除尘件8的一侧固定安装有吸尘管9，所述吸尘管9的一端固定安装有吸头10，所述吸头10的表面固定安装有绑扎圈11。
51.除尘件8为风机，可将外界灰尘吸入内部，吸尘管9是一根长度较长的软管，吸头10安装在吸尘管9一端，绑扎圈11固定在吸头10外，方便与手部绑扎在一起。
52.所述除尘件8的另一侧固定安装有排气管12，所述排气管12外表面的一端螺纹连接有过滤套13。
53.所述除尘件8的一侧固定安装有收集盒14，所述吸尘管9的一端贯穿所述收集盒14且延伸至所述收集盒14的外部。
54.排气管12外表面的一端开设有螺纹，过滤套13与排气管12一端螺纹连接在一起，可进行拆卸，气体从过滤套13经过时，灰尘被过滤下来，收集盒14用来存放吸尘管9。
55.本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置的工作原理如下：
56.在将集成电路板放置在吸气件43上后，吸气件43从下方对集成电路板表面的灰尘进行吸附，而工作人员则首先将绑扎圈11固定在手上。
57.随后在对集成电路板进行测试的过程中，由于静电将外界灰尘吸附在集成电路板上后，工作人员便可歪斜手腕，使吸头10将集成电路板上对应位置处的灰尘吸走，之后在进行测试。
58.使用结束后，便可关闭除尘件8，然后将吸尘管9收卷放置在收集盒14内。
59.与相关技术相比较，本实用新型提供的集成电路测试用集成电路板除尘装置具有如下有益效果：
60.通过在集成电路测试仪1一侧设置除尘件8、吸尘管9等，吸头10一端直接通过绑扎圈11固定在手上，在对集成电路板进行测试的过程中，直接手腕歪斜等，便可控制吸头10对集成电路板上沾染的灰尘进行吸走，使用方便，除尘效果也更强。
61.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。