一种信号检测方法、装置及存储器与流程

1.本技术涉及但不限于一种信号检测方法、装置及存储器。


背景技术：

2.在存储器中，而在存储器的运行过程中，数据选取脉冲和数据信号之间会产生漂移，使得相对时延可能超出范围，使得读/写过程可能出现错误。因此，需要对数据选取脉冲和数据信号之间的相对时延进行测量和调整。
3.相关技术中，数据选取脉冲和数据信号之间的相对时延不能被精确地反映，也难以被有效地控制。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术实施例提供了一种信号检测方法、装置及存储器，能够扩展检测结果，提高检测的准确度。
5.本技术实施例的技术方案是这样实现的：
6.本技术实施例提供了一种信号检测方法，包括：
7.获取数据信号和数据选取脉冲；所述数据信号受控于所述数据选取脉冲；
8.基于预设检测模式，确定采样时刻集合；所述采样时刻集合包括多个采样时刻，其中，相邻的采样时刻之间相差预设间隔时段；
9.按照所述采样时刻集合，对所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应的采样值。
10.上述方案中，所述得到对应的采样值之后，所述方法还包括：基于所述采样值，确定并存储边界位置；所述边界位置表征所述数据信号和所述数据选取脉冲的第一相对时延。
11.上述方案中，所述基于所述采样值，确定并存储边界位置，包括：若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则基于该采样时刻集合对应的多个采样值确定所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个的边界位置。
12.上述方案中，所述若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则基于该采样时刻集合对应的多个采样值确定所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个的边界位置，包括：
13.若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则在所述多个采样值中确定两个差异采样值；所述两个差异采样值为相邻且互异的两个采样值；
14.若所述两个差异采样值属于所述数据信号，则确定所述数据信号的边界位置位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间；和/或，若所述两个差异采样值属于所述数据选取脉冲，则确定所述数据选取脉冲的边界位置位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
15.上述方案中，所述边界位置包括：左边界或右边界；所述若所述两个差异采样值属
于所述数据信号，则确定所述数据信号的边界位置位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间，包括：
16.若所述两个差异采样值属于所述数据信号，且所述两个差异采样值依次表征：低电平-高电平，则确定所述数据信号的左边界位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间；或者，若所述两个差异采样值属于所述数据信号，且所述两个差异采样值依次表征：高电平-低电平，则确定所述数据信号的右边界位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间；
17.所述若所述两个差异采样值属于所述数据选取脉冲，则确定所述数据选取脉冲的边界位置位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间，包括：
18.若所述两个差异采样值属于所述数据选取脉冲，且所述两个差异采样值依次表征：低电平-高电平，则确定所述数据选取脉冲的左边界位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间；或者，若所述两个差异采样值属于所述数据选取脉冲，且所述两个差异采样值依次表征：高电平-低电平，则确定所述数据选取脉冲的右边界位于所述两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
19.上述方案中，得到所述采样值的步骤包括：
20.基于预设检测模式，确定采样范围；
21.在所述采样范围内，确定第i个采样时刻集合；所述第i个采样时刻集合包括多个采样时刻；i为正整数；
22.基于所述第i个采样时刻集合，对所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应于所述第i个采样时刻集合的多个采样值；
23.继续进行下一个采样时刻集合的采样，直至到第n个采样时刻集合超出所述采样范围时为止，得到n-1个采样时刻集合各自对应的多个采样值。
24.上述方案中，所述在所述采样范围内，确定第i个采样时刻集合，包括：
25.将所述数据信号或所述数据选取脉冲延时采样延迟时段，生成多个第一采样信号；所述采样延迟时段基于所述数据信号的脉冲宽度而确定；所述多个第一采样信号的相位依次相差所述预设间隔时段；
26.所述多个第一采样信号的多个目标边界位置组成第1个采样时刻集合；每个目标边界位置为对应的每个第一采样信号在所述采样范围内的第一个边界位置；
27.将所述多个第一采样信号均延时i-1倍的采样周期，则延时后的目标边界位置组成所述第i个采样时刻集合。
28.上述方案中，所述在所述采样范围内，确定第i个采样时刻集合，包括：
29.将所述数据信号或所述数据选取脉冲倍频，生成倍频数据信号；所述倍频数据信号的周期为采样周期；
30.将所述倍频数据信号延时，生成多个第二采样信号；所述多个第二采样信号的相位依次相差所述预设间隔时段；
31.所述多个第二采样信号的多个第i边界位置组成所述第i个采样时刻集合；每个第i边界位置为对应的每个第二采样信号在所述采样范围内的第i个边界位置。
32.上述方案中，所述预设检测模式包括：追踪模式；所述基于预设检测模式，确定采样范围，包括：基于所述追踪模式，确定采样范围为以默认边界位置为基准的追踪采样范
围；所述默认边界位置为上一次信号检测所存储的边界位置。
33.上述方案中，所述预设检测模式包括：扫描模式；所述基于预设检测模式，确定采样范围，包括：基于所述扫描模式，确定采样范围为扫描采样范围；所述扫描采样范围的宽度为所述数据信号的脉冲宽度或所述数据选取脉冲的脉冲宽度。
34.上述方案中，所述基于所述采样值，确定并存储边界位置之后，所述方法还包括：基于所述边界位置，调整所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个，直至补偿参数满足预设补偿参数范围；所述补偿参数用于补偿所述第一相对时延至标准相对时延。
35.本技术实施例还提供了一种信号检测装置，包括：
36.处理器，被配置为获取数据信号和数据选取脉冲；所述数据信号受控于所述数据选取脉冲；基于预设检测模式，确定采样时刻集合；所述采样时刻集合包括多个采样时刻，其中，相邻的采样时刻之间相差预设间隔时段；按照所述采样时刻集合，对所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应的采样值。
37.上述方案中，所述信号检测装置还包括：存储单元；所述处理器，还被配置为基于所述采样值，确定并存储边界位置；所述边界位置表征所述数据信号和所述数据选取脉冲的第一相对时延；以及，基于所述边界位置，调整所述数据信号和所述数据选取脉冲中的至少一个，直至补偿参数满足预设补偿参数范围；所述补偿参数用于补偿所述第一相对时延至标准相对时延；所述存储单元，被配置为存储所述边界位置。
38.上述方案中，所述存储单元包括：第一存储模块、第二存储模块和第三存储模块；所述第一存储模块，被配置为存储模式标识，以及，存储采样延迟时段；所述模式标识表征所述预设检测模式；所述采样延迟时段基于所述数据信号的脉冲宽度而确定；所述第二存储模块和所述第三存储模块，被配置为存储所述边界位置；其中，所述第二存储模块被配置为存储当前第一相对时延相对于上一次信号检测所获得第一相对时延的减小量，以及，存储所述数据信号的左边界；所述第三存储模块被配置为存储当前第一相对时延相对于上一次信号检测所获得第一相对时延的增大量，以及，存储所述数据信号的右边界。
39.上述方案中，所述信号检测装置还包括：控制寄存器，被配置为控制信号检测的开始和结束。
40.上述方案中，所述处理器为系统级芯片soc。
41.本技术实施例还提供了一种存储器，所述存储器包括上述方案中所述的信号检测装置。
42.由此可见，本技术实施例提供了一种信号检测方法、装置及存储器，能够获取数据信号和数据选取脉冲，其中，数据信号受控于数据选取脉冲；而后，基于预设检测模式，确定采样时刻集合；采样时刻集合包括多个采样时刻，其中，相邻的采样时刻之间相差预设间隔时段；而后，按照采样时刻集合，对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应的采样值。由于每次进行的采样均是根据相差预设间隔时段的多个采样时刻进行的，因此，每次获取的采样值不仅可以反映信号的电平，也可以反映信号电平的变化趋势，即反映信号的相位关系。这样，通过对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，可以对数据信号和数据选取脉冲当前相位关系进行实时检测，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
附图说明
43.图1a和图1b为相关技术中信号检测方法的示意图；
44.图2为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图一；
45.图3为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图二；
46.图4为本技术实施例提供的一种信号检测方法的效果图一；
47.图5为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图三；
48.图6为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图四；
49.图7为本技术实施例提供的一种信号检测方法的效果图二；
50.图8为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图五；
51.图9为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图六；
52.图10为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图七；
53.图11为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图八；
54.图12为本技术实施例提供的一种信号检测方法的流程图九；
55.图13为本技术实施例提供的一种信号检测装置的结构示意图一；
56.图14为本技术实施例提供的一种信号检测装置的结构示意图二；
57.图15为本技术实施例提供的一种存储器的结构示意图。
具体实施方式
58.为了使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和实施例对本技术的技术方案进一步详细阐述，所描述的实施例不应视为对本技术的限制，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
59.在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。
60.如果发明文件中出现“第一/第二”的类似描述则增加以下的说明，在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本技术实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。
61.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本技术实施例的目的，不是旨在限制本技术。
62.在存储器中，如dram(动态随机存储器)中，数据选取脉冲dqs用于在一个时钟周期内准确地区分每个传输周期，使得数据信号dq得以准确接收，即数据选取脉冲dqs用于控制数据信号dq的接收。数据信号dq和数据控制信号dqs之间的相对时延t
dqsdq
需要被控制在一定的范围内，否则，可能会导致数据信号dq在错误的时间节点被接收，进而使得dram中的读/写过程出现错误。而在dram的运行过程中，由于颗粒温度和电压的改变，数据选取脉冲dqs和数据信号dq之间会产生漂移，使得相对时延t
dqsdq
可能超出范围，因此，需要对相对时延t
dqsdq
进行测量和调整。
63.相关技术中，会根据dqsosc的设定曲线来调整数据选取脉冲dqs的延时，其中，dqsosc的设定曲线是对应于特定供应商的，因此，实际情况与dqsosc的设定曲线可能并不匹配。以图1a和图1b为例，图1a和图1b均表征了数据选取脉冲dqs的延时随温度的变化曲线，其中，横轴表示温度，纵轴表示延时。在图1a中，实际曲线a和b的变化趋势与设定曲线的变化趋势基本拟合，因此，可以按照设定曲线来调整数据选取脉冲dqs的延时。然而，在图1b中，实际曲线c和d的变化趋势与设定曲线的变化趋势具有很大差异，如果按照设定曲线来调整数据选取脉冲dqs的延时，则会带来错误，进而使得存储颗粒的读/写过程出现错误。同时，由于数据信号dq也会出现延时，因此，仅仅调整数据选取脉冲dqs的延时难以对相对时延t
dqsdq
进行有效控制。
64.另外，相关技术中还存在不能精确反映存储颗粒内部的数据信号dq和数据控制信号dqs之间关系等问题。
65.图2是本技术实施例提供的信号检测方法的一个可选的流程示意图，将结合图2示出的步骤进行说明。
66.s101、获取数据信号和数据选取脉冲；数据信号受控于数据选取脉冲。
67.本技术实施例中，信号检测方法可以由信号检测装置来执行，信号检测装置可以集成于dram之上，用于对该dram中的数据信号dq和数据选取脉冲dqs进行检测。信号检测装置包括了处理器和存储单元，其中，存储单元用于存储信号检测相关的数据，处理器用于执行信号检测方法中的逻辑功能，处理器可以是系统级芯片soc。
68.处理器可以由dram中获取数据信号dq和数据选取脉冲dqs，其中，数据选取脉冲dqs用于在一个时钟周期内准确地区分每个传输周期，使得数据信号dq得以准确接收，即数据选取脉冲dqs用于控制数据信号dq的接收。
69.s102、基于预设检测模式，确定采样时刻集合；采样时刻集合包括多个采样时刻，其中，相邻的采样时刻之间相差预设间隔时段。
70.本技术实施例中，预设检测模式可以包括：追踪模式和扫描模式。信号检测装置的存储单元中存储了模式标识，模式标识用于表征预设检测模式。信号检测装置的处理器可以从存储单元中读取模式标识，从而确定预设检测模式。例如，当需要进行追踪模式时，模式标识被设置为1，处理器从存储单元中读取到为1的模式标识后，确定预设检测模式为追踪模式；当需要进行扫描模式时，模式标识被设置为0，处理器从存储单元中读取到为0的模式标识后，确定预设检测模式为扫描模式。
71.需要说明的是，在预设检测模式仅包括两种模式的情况下，存储单元中可以仅用一个bit(比特位)来存储模式标识。在预设检测模式包括了超过两种模式的情况下，存储单元中则需要多个bit来存储模式标识。
72.本技术实施例中，处理器可以基于所确定的预设检测模式，确定出采样时刻集合。采样时刻集合中包括了多个采样时刻，采样时刻即信号时序图上离散的时刻点。相邻的采样时刻之间相差预设间隔时段，预设间隔时段可以设置为最小间隔时段2pi的整数倍，最小间隔时段2pi可以根据dram中的时钟频率来确定得到。
73.本技术实施例中，处理器可以首先基于预设检测模式，确定采样范围。若预设检测模式为扫描模式，则处理器可以确定采样范围为扫描采样范围，其中，扫描采样范围的宽度为数据信号dq的脉冲宽度或数据选取脉冲dqs的脉冲宽度。若预设检测模式为追踪模式，则
处理器可以确定采样范围为以默认边界位置为基准的追踪采样范围，其中，默认边界位置为上一次信号检测所存储的边界位置。这里，边界位置即信号发生变化的位置，包括了左边界和右边界，其中，左边界表征信号由低电平变化为高电平的位置，右边界表征信号由高电平变化为低电平的位置。
74.而后，处理器可以将数据信号dq或数据选取脉冲dqs延时采样延迟时段，生成多个第一采样信号，其中，多个第一采样信号的相位依次相差预设间隔时段。这里，采样延迟时段是基于数据信号的脉冲宽度而确定得到的，其可以存储在存储单元中。处理器可以从存储单元中获取采样延迟时段，将数据信号dq或数据选取脉冲dqs延时采样延迟时段，再依次延时预设间隔时段，从而得到多个第一采样信号。
75.多个第一采样信号的多个目标边界位置组成第1个采样时刻集合，其中，每个目标边界位置为对应的每个第一采样信号在采样范围内的第一个边界位置。例如，dqs_a和dqs_b为处理器生成的第一采样信号，则第一采样信号dqs_a在在采样范围内的第一个边界位置作为一个目标边界位置，第一采样信号dqs_b在在采样范围内的第一个边界位置作为另一个目标边界位置。
76.进而，处理器可以将多个第一采样信号均延时i-1倍的采样周期，延时后的目标边界位置则可以组成第i个采样时刻集合，也就是说，第i个采样时刻集合是第1个采样时刻集合延时i-1倍的采样周期后得到的，其中，i为正整数。
77.s103、按照采样时刻集合，对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应的采样值。
78.本技术实施例中，处理器可以按照采样时刻集合，获取采样时刻集合中的采样时刻在数据信号dq和数据选取脉冲dqs的至少一个对应的信号值，即对数据信号dq和数据选取脉冲dqs中的至少一个进行采样，得到了对应的采样值。这里，对数据信号dqs和数据选取脉冲dqs中的至少一个进行采样，包括了对数据信号dq或数据选取脉冲dqs中的一个进行采样，也包括了对数据信号dq和数据选取脉冲dqs都进行采样。例如，在dram芯片开启后的第一次信号检测中，数据选取脉冲dqs为预设的标准值，其边界位置是已知的，因此，仅需要对数据信号dq进行采样；而在第一次以后的信号检测中，需要对数据信号dq和数据选取脉冲dqs都进行采样。
79.采样值表征了信号在采样时刻的电平，可以包括1或0，其中，1表征高电平，0表征低电平。一个采样时刻对应一个采样值，因此，处理器按照采样时刻集合进行的采样，可以获得多个采样值。
80.本技术实施例中，处理器可以基于第i个采样时刻集合进行采样，得到对应于第i个采样时刻集合的多个采样值，而后，继续进行下一个采样时刻集合的采样，直至到第n个采样时刻集合超出采样范围时为止，从而得到采样范围内的n-1个采样时刻集合各自对应的多个采样值。这样，处理器便完成了对采样范围的扫描。
81.可以理解的是，由于每次进行的采样均是根据相差预设间隔时段的多个采样时刻进行的，因此，每次获取的采样值不仅可以反映信号的电平，也可以反映信号电平的变化趋势，即反映信号的相位关系。这样，通过对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，可以对数据信号和数据选取脉冲当前相位关系进行实时检测，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
82.在本技术的一些实施例中，图2示出的s103之后还包括图3示出的s104，将结合各步骤进行说明。
83.s104、基于采样值，确定并存储边界位置；边界位置表征数据信号和数据选取脉冲的第一相对时延。
84.本技术实施例中，处理器可以基于采样值，确定出边界位置，并将边界位置存储在存储单元中。其中，边界位置可以表征数据信号和数据选取脉冲的第一相对时延。边界位置包括了数据信号dq的边界位置和数据选取脉冲dqs的边界位置，处理器在得到了这两个信号的边界位置后，可以根据这两个信号的边界位置的差值，确定出第一相对时延，即相对时延t
dqsdq
。
85.本技术实施例中，处理器在得到边界位置后，可以得到补偿参数offset，并将补偿参数offset存储在存储单元中；其中，补偿参数offset表征当前得到的边界位置相对于上一次信号检测所调整的默认边界位置的变化量，可以反映出当前边界位置的偏移程度。
86.本技术实施例中，若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则该多个采样值中包括了两个差异采样值，两个差异采样值为相邻且互异的两个采样值。例如，多个采样值“0011”中包括了差异采样值“01”，多个采样值“1000”中包括了差异采样值“10”，而多个采样值“0000”和“1111”则完全相同，其中不包括差异采样值。
87.处理器在确定了多个采样值中包括两个差异采样值之后，可以确定边界位置在这两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。如图4所示例，由第一采样信号dqs_a和dqs_b(图中未示出)可以得到多个采样时刻集合，其中，第一采样时刻集合包括采样时刻a1和b1，第二采样时刻集合包括采样时刻a2和b2，第三采样时刻集合包括采样时刻a3和b3，第四采样时刻集合包括采样时刻a4和b4。由于第一采样信号dqs_a和dqs_b之间相差的预设间隔时段为2pi，则采样时刻a1和b1之间相差2pi，采样时刻a2和b2之间相差2pi，采样时刻a3和b3之间相差2pi，采样时刻a4和b4之间相差2pi。
88.处理器根据第一采样时刻集合对数据信号dq进行采样，得到采样值为“01”；根据第二采样时刻集合对数据信号dq进行采样，得到采样值为“11”；根据第三采样时刻集合对数据信号dq进行采样，得到采样值为“10”；根据第四采样时刻集合对数据信号dq进行采样，得到采样值为“00”。从而，处理器可以确定数据信号dq的左边界位于采样时刻a1和b1之间，因为其对应的采样值表征数据信号dq由低电平变化为高电平；可以确定数据信号dq的右边界位于采样时刻a3和b3之间，因为其对应的采样值表征数据信号dq由高电平变化为低电平。
89.可以理解的是，通过对采样值进行处理，从采样值中确定数据信号和数据选取脉冲的边界位置，即可以确定出数据信号和数据选取脉冲当前相位关系，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
90.在本技术的一些实施例中，可以通过s1041来实现图3示出的s104，将结合各步骤进行说明。
91.s1041、若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则基于该采样时刻集合对应的多个采样值确定数据信号和数据选取脉冲中的至少一个的边界位置。
92.本技术实施例中，若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则该多个采样值中包括了两个差异采样值，两个差异采样值为相邻且互异的两个采样值。处理器在
确定了多个采样值中包括两个差异采样值之后，可以确定边界位置在这两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。若两个差异采样值表征信号由低电平变化为高电平，则处理器可以确定信号的左边界位于这两个差异采样值对应的两个采样时刻之间；若两个差异采样值表征信号由高电平变化为低电平，则处理器可以确定信号的右边界位于这两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
93.在本技术的一些实施例中，可以通过图5示出的s201～s203来实现前述的s1041，将结合各步骤进行说明。
94.s201、若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则在多个采样值中确定两个差异采样值；两个差异采样值为相邻且互异的两个采样值。
95.本技术实施例中，若任一采样时刻集合对应的多个采样值不完全相同，则该多个采样值中包括了两个差异采样值，两个差异采样值为相邻且互异的两个采样值。例如，多个采样值“0011”中包括了差异采样值“01”，多个采样值“1000”中包括了差异采样值“10”，而多个采样值“0000”和“1111”则完全相同，其中不包括差异采样值。处理器可以在采样时刻集合对应的多个采样值中，确定出两个差异采样值。
96.s202、若两个差异采样值属于数据信号，则确定数据信号的边界位置位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
97.本技术实施例中，处理器可以根据两个差异采样值确定出其对应信号的边界位置。若两个差异采样值属于数据信号dq，则处理器可以确定数据信号dq的边界位置位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
98.s203、若两个差异采样值属于数据选取脉冲，则确定数据选取脉冲的边界位置位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
99.本技术实施例中，处理器可以根据两个差异采样值确定出其对应信号的边界位置。若两个差异采样值属于数据选取脉冲dqs，则处理器可以确定数据选取脉冲dqs的边界位置位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
100.可以理解的是，根据差异采样值，确定出其对应的信号的边界位置，这样，可以从采样值中确定数据信号和数据选取脉冲的边界位置，即可以确定出数据信号和数据选取脉冲当前相位关系，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
101.在本技术的一些实施例中，可以通过s2021和s2022来实现图5示出的s202，将结合各步骤进行说明。
102.s2021、若两个差异采样值属于数据信号，且两个差异采样值依次表征：低电平-高电平，则确定数据信号的左边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
103.本技术实施例中，若两个差异采样值属于数据信号，且两个差异采样值为“01”，即这两个差异采样值依次表征：低电平-高电平；则处理器可以确定数据信号的左边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
104.s2022、若两个差异采样值属于数据信号，且两个差异采样值依次表征：高电平-低电平，则确定数据信号的右边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
105.本技术实施例中，若两个差异采样值属于数据信号，且两个差异采样值为“10”，即这两个差异采样值依次表征：高电平-低电平，则处理器可以确定数据信号的右边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
106.在本技术的一些实施例中，可以通过s2031和s2032来实现图5示出的s203，将结合各步骤进行说明。
107.s2031、若两个差异采样值属于数据选取脉冲，且两个差异采样值依次表征：低电平-高电平，则确定数据选取脉冲的左边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
108.本技术实施例中，若两个差异采样值属于数据选取脉冲，且两个差异采样值为“01”，即这两个差异采样值依次表征：低电平-高电平，则处理器可以确定数据选取脉冲的左边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
109.s2032、若两个差异采样值属于数据选取脉冲，且两个差异采样值依次表征：高电平-低电平，则确定数据选取脉冲的右边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
110.本技术实施例中，若两个差异采样值属于数据选取脉冲，且两个差异采样值为“10”，即这两个差异采样值依次表征：高电平-低电平，则处理器可以确定数据选取脉冲的右边界位于两个差异采样值对应的两个采样时刻之间。
111.可以理解的是，根据差异采样值，分别确定出数据信号和数据选取脉冲的边界位置，即可以确定出数据信号和数据选取脉冲当前相位关系，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
112.在本技术的一些实施例中，信号检测方法还包括图6示出的s301～s304，将结合各步骤进行说明。
113.s301、基于预设检测模式，确定采样范围。
114.本技术实施例中，预设检测模式可以包括：追踪模式和扫描模式。若预设检测模式为扫描模式，则处理器可以基于扫描模式，确定采样范围为扫描采样范围，其中，扫描采样范围的宽度为数据信号dq的脉冲宽度或数据选取脉冲dqs的脉冲宽度。若预设检测模式为追踪模式，则处理器可以确定采样范围为以默认边界位置为基准的追踪采样范围，其中，默认边界位置为上一次信号检测所存储的边界位置。
115.如图7所示例，数据信号dq的脉冲宽度为ui，即数据信号dq的左边界到右边界的时间间隔长度，则扫描采样范围的宽度可以被设置为-ui到ui。同时，数据信号dq的脉冲宽度ui也可以作为计量单位，用于计量信号时序图上的时刻。例如，上一次信号检测所存储的数据选取脉冲dqs的默认边界位置可以表示为1/2ui，表征其与数据信号dq的左边界的时间间隔长度有1/2ui，相应的，追踪采样范围可以被设置为1/2ui
±
1/4ui的范围，即1/4ui到3/4ui的范围。
116.s302、在采样范围内，确定第i个采样时刻集合；第i个采样时刻集合包括多个采样时刻；i为正整数。
117.本技术实施例中，处理器在确定了采样范围后，可以在采样范围内，确定第1个采样时刻集合。进而，处理器也可以确定出第i个采样时刻集合，相邻的采样时刻集合之间的时间间隔为采样周期，i为正整数。每个采样时刻集合中均包括了多个采样时刻，其中，相邻的采样时刻之间的时间间隔为预设间隔时段。
118.s303、基于第i个采样时刻集合，对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应于第i个采样时刻集合的多个采样值。
119.本技术实施例中，处理器在确定了第i个采样时刻集合后，可以基于第i个采样时刻集合，对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应于第i个采样时刻集
合的多个采样值。
120.s304、继续进行下一个采样时刻集合的采样，直至到第n个采样时刻集合超出采样范围时为止，得到n-1个采样时刻集合各自对应的多个采样值。
121.本技术实施例中，处理器在完成了第i个采样时刻集合的采样后，可以继续进行下一个采样时刻集合的采样，直至到第n个采样时刻集合超出采样范围时为止，得到n-1个采样时刻集合各自对应的多个采样值。这样，处理器便完成了对采样范围的扫描。
122.可以理解的是，根据检测需要，采用不同的预设检测模式，对应地确定出不同的采样范围，提高了检测方法的灵活性。同时，通过对采样范围的扫描来得到采样结果，提高了在采样范围内的采样率，从而可以提高检测结果的准确度。
123.在本技术的一些实施例中，可以通过图8示出的s401～s404来实现图6示出的s302，将结合各步骤进行说明。
124.s401、将数据信号或数据选取脉冲延时采样延迟时段，生成多个第一采样信号；采样延迟时段基于数据信号的脉冲宽度而确定；多个第一采样信号的相位依次相差预设间隔时段。
125.本技术实施例中，处理器可以将数据信号或数据选取脉冲延时采样延迟时段，生成多个第一采样信号，其中，采样延迟时段基于数据信号的脉冲宽度而确定。这里，采样延迟时段是基于数据信号的脉冲宽度而确定得到的，其可以存储在存储单元中。处理器可以从存储单元中获取采样延迟时段，将数据信号dq或数据选取脉冲dqs延时采样延迟时段，再依次延时预设间隔时段，从而得到多个第一采样信号。
126.s402、多个第一采样信号的多个目标边界位置组成第1个采样时刻集合；每个目标边界位置为对应的每个第一采样信号在采样范围内的第一个边界位置。
127.本技术实施例中，多个第一采样信号的多个目标边界位置组成第1个采样时刻集合，其中，每个目标边界位置为对应的每个第一采样信号在采样范围内的第一个边界位置。例如，dqs_a和dqs_b为处理器生成的第一采样信号，则第一采样信号dqs_a在在采样范围内的第一个边界位置作为一个目标边界位置，第一采样信号dqs_b在在采样范围内的第一个边界位置作为另一个目标边界位置。
128.s403、将多个第一采样信号均延时i-1倍的采样周期，则延时后的目标边界位置组成第i个采样时刻集合。
129.本技术实施例中，处理器可以将多个第一采样信号均延时i-1倍的采样周期，延时后的目标边界位置则可以组成第i个采样时刻集合，也就是说，第i个采样时刻集合是第1个采样时刻集合延时i-1倍的采样周期后得到的，其中，i为正整数。
130.可以理解的是，通过对数据信号或数据选取脉冲进行延时，获得相差预设间隔时段的多个第一采样信号，进而获得了相差预设间隔时段的多个采样时刻。采用相差预设间隔时段的多个采样时刻进行采样，能够得到反映了信号的相位关系的采样值，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
131.在本技术的一些实施例中，可以通过图9示出的s501～s504来实现图6示出的s302，将结合各步骤进行说明。
132.s501、将数据信号或数据选取脉冲倍频，生成倍频数据信号；倍频数据信号的周期为采样周期。
133.本技术实施例中，处理器可以将数据信号dq或数据选取脉冲dqs倍频，生成倍频数据信号。其中，倍频数据信号的周期为采样周期，采样周期远小于数据信号dq或数据选取脉冲dqs的周期，因此，在采样范围内，会对应包括倍频数据信号的多个边界位置。
134.s502、将倍频数据信号延时，生成多个第二采样信号；多个第二采样信号的相位依次相差预设间隔时段。
135.本技术实施例中，处理器可以将倍频数据信号依次延时预设间隔时段，生成多个第二采样信号。由于每个第二采样信号与倍频数据信号具有相同的频率，因此，在采样范围内，也会对应包括每个第二采样信号的多个边界位置。
136.s503、多个第二采样信号的多个第i边界位置组成第i个采样时刻集合；每个第i边界位置为对应的每个第二采样信号在采样范围内的第i个边界位置。
137.本技术实施例中，多个第二采样信号的多个第i边界位置组成第i个采样时刻集合，其中，每个第i边界位置为对应的每个第二采样信号在采样范围内的第i个边界位置。例如，信号dqs_c和dqs_d为处理器生成的第二采样信号，则第二采样信号dqs_c和dqs_d在采样范围内均有多个边界位置，进而，第二采样信号dqs_c在采样范围内的第1个边界位置和第二采样信号dqs_d在采样范围内的第1个边界位置组成第1个采样时刻集合，依次类推，第二采样信号dqs_c在采样范围内的第i个边界位置和第二采样信号dqs_d在采样范围内的第i个边界位置组成第i个采样时刻集合。
138.由于多个第二采样信号的相位依次相差预设间隔时段，因此，第i个采样时刻集合中的相邻的第i边界位置也相差了预设间隔时段。
139.可以理解的是，通过对数据信号或数据选取脉冲进行倍频和延时，获得相差预设间隔时段的多个第一采样信号，进而获得了相差预设间隔时段的多个采样时刻。采用相差预设间隔时段的多个采样时刻进行采样，能够得到反映了信号的相位关系的采样值，从而，扩展了检测结果，提高了检测的准确度。
140.在本技术的一些实施例中，可以通过s601来实现图6示出的s301，将结合各步骤进行说明。
141.s601、基于追踪模式，确定采样范围为以默认边界位置为基准的追踪采样范围；默认边界位置为上一次信号检测所存储的边界位置。
142.本技术实施例中，预设检测模式包括追踪模式，追踪模式可以称为tracking模式。处理器可以基于追踪模式，确定采样范围为以默认边界位置为基准的追踪采样范围，其中，默认边界位置为上一次信号检测所存储的边界位置。如图7所示例，上一次信号检测所存储的数据选取脉冲dqs的默认边界位置可以表示为1/2ui，表征其与数据信号dq的左边界的时间间隔长度有1/2ui，相应的，追踪采样范围可以被设置为1/2ui
±
1/4ui的范围，即1/4ui到3/4ui的范围。
143.本技术实施例中，当数据信号dq和数据选取脉冲dqs都不是已知的标准值时，处理器需要采用追踪模式，此时，处理器需要对数据信号dq和数据选取脉冲dqs都进行采样。
144.在本技术的一些实施例中，可以通过s602来实现图6示出的s301，将结合各步骤进行说明。
145.s602、基于扫描模式，确定采样范围为扫描采样范围；扫描采样范围的宽度为数据信号的脉冲宽度或数据选取脉冲的脉冲宽度。
146.本技术实施例中，预设检测模式包括扫描模式，追踪模式可以称为shmoo模式。处理器可以基于扫描模式，确定采样范围为扫描采样范围，其中，扫描采样范围的宽度为数据信号dq的脉冲宽度或数据选取脉冲dqs的脉冲宽度。如图7所示例，数据信号dq的脉冲宽度为ui，即数据信号dq的左边界到右边界的时间间隔长度，则扫描采样范围的宽度可以被设置为-ui到ui。
147.本技术实施例中，在dram芯片开启后的第一次信号检测中，处理器可以采用扫描模式。此时，由于数据选取脉冲dqs为预设的标准值，其边界位置是已知的，因此，处理器需要根据数据信号dq的脉冲宽度确定扫描采样范围的宽度，仅对数据信号dq进行采样。
148.可以理解的是，根据检测需要，采用不同的预设检测模式，对应地确定出不同的采样范围，提高了检测方法的灵活性。
149.在本技术的一些实施例中，图3示出的s104之后还包括图10示出的s105，将结合各步骤进行说明。
150.s105、基于边界位置，调整数据信号和数据选取脉冲中的至少一个，直至补偿参数满足预设补偿参数范围；补偿参数用于补偿第一相对时延至标准相对时延。
151.本技术实施例中，处理器在确定了数据信号dq的边界位置和数据选取脉冲dqs的边界位置之后，可以基于边界位置，调整数据信号和数据选取脉冲中的至少一个，使得调整数据信号和数据选取脉冲之间的第一相对时延t
dqsdq
接近标准相对时延，从而使得补偿参数offset满足预设补偿参数范围，例如，使得补偿参数offset＝0，即第一相对时延t
dqsdq
等于标准相对时延。
152.本技术实施例中，调整后的数据选取脉冲dqs的边界位置，可以作为默认边界位置存储在存储单元中，为下一次追踪模式下确定追踪采样范围提供基准。
153.可以理解的是，通过对调整数据信号和数据选取脉冲中的至少一个，为下一次追踪模式下确定追踪采样范围提供基准，这样，可以优化下一次信号检测过程中追踪采样范围的确定过程，避免了追踪采样范围过大而造成的浪费。
154.在本技术的一些实施例中，当处理器采用追踪模式时，可以按照图11示出的s611～s616来实现信号检测的方法，将结合各步骤进行说明。
155.s611、样本刷新(sample refresh)。处理器可以获取当前的数据信号dq和数据选取脉冲dqs，作为待检测的信号样本，即刷新所要检测的信号样本。
156.s612、设置模式寄存器(set mode register)。处理器在获取了当前的数据信号dq和数据选取脉冲dqs后，可以基于当前的数据信号dq和数据选取脉冲dqs，对模式寄存器(即存储单元)内的数据进行设置，以进行当前的信号检测。
157.s613、进行追踪模式(tracking模式)的信号检测和调整。处理器可以在控制寄存器mpc的控制下，开始进行追踪模式的信号检测和调整。处理器可以基于已完成设置的模式寄存器内的数据，对待检测的信号样本进行追踪模式的检测，并按照检测结果对当前的数据信号dq和数据选取脉冲dqs进行调整。
158.s614、确认补偿参数offset。处理器在完成一次信号检测和调整后，可以读取模式寄存器中的补偿参数offset，确认补偿参数offset的值。
159.s615、上传调整后的信号。若offset！＝0，即补偿参数offset的值不为0，则处理器可以将调整后的数据信号dq和数据选取脉冲dqs上传，以再进行一次追踪模式的信号检测
和调整。
160.s616、结束并退出检测。处理器在进行了至少一次追踪模式的信号检测和调整，直到确认offset＝0后，可以在控制寄存器mpc的控制下，结束并退出检测。
161.在本技术的一些实施例中，当处理器采用扫描模式时，可以按照图12示出的s621～s625来实现信号检测的方法，将结合各步骤进行说明。
162.s621、样本刷新(sample refresh)。处理器可以获取当前的数据信号dq，作为待检测的信号样本，即刷新所要检测的信号样本。
163.s622、设置模式寄存器(set mode register)。处理器在获取了当前的数据信号dq后，可以基于当前的数据信号dq，对模式寄存器(即存储单元)内的数据进行设置，以进行当前的信号检测。
164.s623、进行扫描模式(shmoo模式)的信号检测和调整。处理器可以在控制寄存器mpc的控制下，开始进行扫描模式的信号检测和调整。在扫描模式的信号检测和调整下，需要以参考电压vref作为基准，参考电压vref位于眼图的中间。若参考电压vref已经过了调校，则处理器可以直接进行扫描模式的信号检测和调整，基于已完成设置的模式寄存器内的数据，对待检测的信号样本进行追踪模式的检测，并按照检测结果对当前的数据信号dq和数据选取脉冲dqs进行调整。
165.s624、设置参考电压(set vref)。若参考电压vref没有经过调校，则处理器需要先对参考电压vref进行调校，即设置参考电压，而后再进行扫描模式的信号检测和调整。
166.s625、结束并退出检测。处理器在进行了扫描模式的信号检测和调整后，可以在控制寄存器mpc的控制下，结束并退出检测。
167.可以理解的是，根据检测需要，进行不同模式下的信号检测和调整，这样，丰富了检测方法，提高了检测方法的灵活性。
168.图13为本技术实施例提供的信号检测装置的一个可选的结构示意图，如图13所示，一种信号检测装置800包括：处理器801和存储单元802。其中：
169.处理器801，被配置为获取数据信号和数据选取脉冲；数据信号受控于数据选取脉冲；基于预设检测模式，确定采样时刻集合；采样时刻集合包括多个采样时刻，其中，相邻的采样时刻之间相差预设间隔时段；按照采样时刻集合，对数据信号和数据选取脉冲中的至少一个进行采样，得到对应的采样值；
170.存储单元802，被配置为存储边界位置，以及存储信号检测装置800中其他需要存储的数据。
171.在本技术的一些实施例中，处理器801，还被配置为基于采样值，确定并存储边界位置；边界位置表征数据信号和数据选取脉冲的第一相对时延；以及，基于边界位置，调整数据信号和数据选取脉冲中的至少一个，直至补偿参数满足预设补偿参数范围；补偿参数用于补偿第一相对时延至标准相对时延。
172.在本技术的一些实施例中，如图14所示，存储单元802包括：第一存储模块803、第二存储模块804和第三存储模块805。其中：
173.第一存储模块803，被配置为存储模式标识，以及，存储采样延迟时段；模式标识表征预设检测模式；采样延迟时段基于数据信号的脉冲宽度而确定；
174.第二存储模块804和第三存储模块805，被配置为存储边界位置；其中，第二存储模
块804被配置为存储当前第一相对时延相对于上一次信号检测所获得第一相对时延的减小量，以及，存储数据信号的左边界；第三存储模块805被配置为存储当前第一相对时延相对于上一次信号检测所获得第一相对时延的增大量，以及，存储数据信号的右边界。
175.本技术实施例中，第一存储模块803存储了模式标识，模式标识用于表征预设检测模式。处理器801可以从第一存储模块803中读取模式标识，从而确定预设检测模式。在预设检测模式仅包括追踪模式和扫描模式这两种模式的情况下，第一存储模块803可以仅用一个bit来存储模式标识，例如，用0表征扫描模式，用1表征追踪模式。
176.本技术实施例中，第一存储模块803还存储了采样延时时段。处理器801可以从第一存储模块803中读取采样延时时段，并将数据信号dq或数据选取脉冲dqs延时采样延迟时段，生成多个第一采样信号。第一存储模块803可以用两个bit来存储采样延迟时段；第一存储模块803也可以用两个以上bit来存储采样延迟时段，使采样延迟时段能够更精确。
177.本技术实施例中，第二存储模块804可以用3个bit存储当前第一相对时延相对于上一次信号检测所获得第一相对时延的减小量(即时刻的提前量)，以供处理器801在追踪模式下读取和使用。第二存储模块804还用两个寄存器存储了数据信号的左边界，以供处理器801在扫描模式下读取和使用。
178.本技术实施例中，第三存储模块805可以用3个bit存储当前第一相对时延相对于上一次信号检测所获得第一相对时延的增大量(即时刻的延后量)，以供处理器801在追踪模式下读取和使用。第二存储模块804还用两个寄存器存储了数据信号的右边界，以供处理器801在扫描模式下读取和使用。
179.在本技术的一些实施例中，信号检测装置800还包括：控制寄存器(mpc)806，被配置为控制信号检测的开始和结束。
180.在本技术的一些实施例中，处理器801为系统级芯片soc。
181.需要说明的是，图15为本技术实施例提供的存储器的一个可选的结构示意图，如图15所示，存储器900包括信号检测装置800。信号检测装置800可以集成于存储器900之上，用于对该存储器900中的信号进行检测，这样，实现了对存储器900的实时检测，同时提高了存储器900的集成度。
182.这里需要指出的是：以上存储器和装置实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本技术存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本技术方法实施例的描述而理解。
183.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
184.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合
或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。
185.上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本技术实施例方案的目的。
186.另外，在本技术各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
187.以上所述，仅为本技术的实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。