用于匹配校准参数的设备和方法以及传感器系统与流程

1.本发明涉及一种用于匹配校准参数的设备以及一种具有这种设备的传感器系统。此外，本发明涉及一种用于匹配校准参数的方法。本发明尤其涉及对用于传感器数据的校准参数的匹配。


背景技术：

2.传感器、尤其是具有微电子机械系统(mems)的传感器，在众多应用领域中使用。例如，在便携式电子设备中应用mems传感器，所述便携式电子设备例如是智能手机、可听设备和可穿戴设备。在此，传感器能够例如用于检测加速度、转速或者磁场，以便确定设备在空间中的取向。为了补偿由于生产引起的系统测量误差、例如偏移，能够例如在生产期间已经进行预先校准。为了除此之外还考虑到传感器的由于温度引起的波动或者老化效应，能够在运行期间执行传感器的重新校准。
3.例如，文献de 10 2010 029 668a1描述一种用于校准三轴磁场传感器的方法。为此提出，首先通过叠加的信号确定磁场传感器的所记录的测量值的偏移，随后求取磁场传感器沿着测量轴线的灵敏度。灵敏度的求取通过如下方式进行：首先确定沿着第一测量轴线的灵敏度，随后基于第一测量轴线的灵敏度确定磁场传感器沿着别的测量轴线的灵敏度。


技术实现要素：

4.本发明实现一种根据本发明的用于匹配用于传感器的校准参数的设备和方法以及一种传感器系统。其他有利的实施方式在以下说明书中描述。
5.因此提出：
6.一种用于匹配用于传感器的校准参数的设备，该设备具有控制装置和校准器。该控制装置包括存储器装置、监控模块、控制模块和测量数据评估模块。该存储器装置设计用于存储用于传感器的一组校准参数。该监控模块设计用于求取存储在存储器装置中的校准参数的至少一个准确度值。当传感器处在预先确定的状态中时，进行准确度值的求取。该控制模块设计用于将校准参数的所求取的至少一个准确度值与预先确定的准确度标准进行比较。该测量数据评估模块设计用于从传感器接收测量数据。另外，该测量数据评估模块设计用于检验所接收的测量数据是否适合用于计算校准参数。该校准器设计用于计算新的一组校准参数。尤其是，在使用通过测量数据评估模块接收的测量数据的情况下通过校准器进行新的一组校准参数的计算。如果存储在存储器装置中的校准参数的所求取的至少一个准确度值不满足准确度标准，并且所接收的测量数据适合用于确定新的一组校准参数，则执行新的一组校准参数的计算。
7.此外提出：
8.一种传感器系统，该传感器系统具有传感器、根据本发明的用于匹配校准参数的设备和补偿装置。该传感器设计用于输出与通过传感器监控的测量参量相对应的测量数
据。该补偿装置设计用于在使用校准参数的情况下校正由传感器输出的测量数据。
9.最后提出：
10.一种用于匹配用于传感器的校准参数的方法。该方法包括监控传感器是否处在预先确定的状态中的步骤。另外，该方法包括求取用于传感器的当前的一组校准参数的至少一个准确度值的步骤。此外，该方法包括将当前的一组校准参数的所求取的至少一个准确度值与预先确定的准确度标准进行比较的步骤。除此之外，该方法包括检验由传感器提供的测量数据是否适合用于计算校准参数的步骤。最后，该方法包括计算新的一组校准参数的步骤。尤其在使用所接收的测量数据的情况下进行新的一组校准参数的计算。如果当前的一组校准参数的所求取的至少一个准确度值不满足预先确定的准确度标准，并且所接收的测量数据适合用于计算新的一组校准参数，则进行新的一组校准参数的计算。
11.本发明的优点
12.本发明所基于的认识在于，可能需要在使用寿命的进程中并且尤其在发生变化的框架条件(例如温度波动)的情况下匹配传感器数据的校准。此外，本发明所基于的认识在于，新的校准参数的求取与附加的花费并且因此还与传感器系统的更高的能量消耗有关。
13.因此，本发明的构思是，提出一种尽可能有效且节能的用于确定用于传感器系统的校准参数的方法。为此提出，检验现有的校准参数的当前准确度，并且只有当一方面准确度借助现有的校准参数不再满足预先给定的要求，并且除此之外来自传感器系统的适合的测量数据(该测量数据使得能够确定新的一组校准参数)也准备待用时，才确定一组新的校准参数。否则，可以将传感器系统的为确定新的校准参数所需的部件停用。通过这种方式，一方面能够实现经校准的传感器数据的足够高的准确度，而另一方面能够将传感器系统的能量消耗最小化。
14.任意适合的传感器可以是如下传感器：所述传感器的数据能够通过这种方式被校准。尤其是，所述传感器能够是具有微电子机械系统(mems)的传感器。例如，所述传感器可以是在便携式设备中使用的传感器，所述便携式设备例如是智能手机、可听设备和可穿戴设备。例如，所述传感器可以是用于检测加速度、转速或者磁场的mems传感器。例如，借助这种传感器能够求取在空间中的位置、运动和/或取向。
15.所使用的校准参数原则上可以是任意适合的校准参数，所述校准参数适合用于校正由传感器提供的原始传感器数据。例如，所述校准参数能够详细说明由传感器提供的原始传感器数据的偏移或者比例因数。除此之外，校准参数也能够详细说明由传感器提供的原始传感器数据的任意其他特性，所述原始传感器数据能够在使用校准参数的情况下被校正或被补偿。相应地，术语“一组校准参数”不仅能够理解为例如详细说明偏移或者类似物的唯一的参数，也能够理解为任意更高数量的参数，所述参数例如表征由传感器提供的原始传感器数据的线性的或者非线性的特性。
16.为了评估用于当前的校准参数的准确度，例如能够辨认传感器的或传感器系统的预先确定的状态，并且在该状态中，能够分析处理产生的传感器数据，所述产生的传感器数据尤其是原始数据和/或经校准的传感器数据。为此，能够将所述数据例如与预先给定的期望值或者类似物进行比较。例如，如果运动传感器提供不等于零的值，虽然已知或者至少假设具有该传感器的系统处在静止状态中，则由此能够推断出偏差。例如，基于该经辨认的偏差，能够启动新校准、即能够启动确定新的一组校准参数。以类似的方式，也能够评价别的
传感器的准确度值，所述别的传感器例如是磁场传感器、转速传感器或者类似物。视传感器的类型或型号而定地，例如在传感器系统的休眠状态(ruhezustand)中，在传感器系统在空间中的预先给定的、尤其是恒定的方位(lage)中，或者在别的适合的状态中，能够评估校准参数的准确度。
17.如在下文将更详细地阐述的那样，在评价校准参数时并且必要时也在匹配校准参数时，尤其也能够共同考虑传感器的或传感器系统的温度和/或温度变化。
18.如果确定当前的校准参数不满足期望的准确度要求，则能够启动确定新的校准参数。然而，为此还必需的是，适合的数据、尤其是适合的传感器数据也可用于校准参数的这样的新确定。为此目的，能够检验由传感器提供的传感器数据是否适合用于确定新的校准参数。例如，能够检验传感器或传感器系统是否处在适合用于确定新的校准参数的状态中。例如，能够检验传感器或传感器系统是否处在静止状态中、是否处在预先确定的位置、方位或者类似状态中。例如，为了求取用于运动传感器的校准参数，能够检验传感器或传感器系统是否处在静止状态中。在这种情况下，能够辨认由传感器提供的传感器数据的可能的偏移，并且能够相应地匹配校准参数。类似地，对于磁场传感器、转速传感器或者类似物，也能够分别首先检验传感器或传感器系统是否处在适合用于确定新的校准参数的状态中，例如是否处在已知的位置或方位中。
19.除此之外，也能够考虑在传感器和/或传感器系统中的或者在传感器和/或传感器系统上的当前温度和/或温度发展，以便决定是否应该启动确定新的校准参数。例如，当在传感器或传感器系统上已出现恒定的或者至少几乎恒定的温度时，能够进行新的校准参数的确定。同样可能的是，只有当传感器或传感器系统处在预先确定的温度范围中时，才启动确定新的校准参数。
20.只有当实际上应该实施校准参数的新确定时，才能够激活为确定新的校准参数所需的部件、例如校准器。否则，可以停用所述部件、尤其是校准器。例如，能够将校准器置于准备就绪模式或者待机模式，并且只有当实际上需要确定新的校准参数时，才能够激活该校准器。替代地，如果不需要新确定校准参数，则也能够完全关断该校准器。通过这种方式能够降低整个系统的能量消耗。尤其是在由电池或者类似物等电储能器馈送的便携式系统的情况下，这是特别有利的。
21.根据一种实施方式，控制装置设计用于，当存储在存储器装置中的校准参数的所求取的至少一个准确度值不满足准确度标准，并且所接收的测量数据适合用于确定新的一组校准参数时，激活校准器。如果仅根据所提到的条件激活校准器，则能够限制如下持续时间：在该持续时间中校准器活跃地工作。
22.根据一种实施方式，控制装置设计用于，在校准器已经完成新的一组校准参数的计算之后，停用校准器。校准器的停用能够包括例如校准器的完全关断。替代地，校准器也能够被置于准备就绪模式或者待机模式中，在该准备就绪模式或者待机模式中，校准器的能量消耗显著地更低。在校准器已计算新的一组校准参数之后，随后能够再次停用校准器。通过这种方式将校准器的活跃时间最小化，并且因此相应地也将系统的能量消耗最小化。通过这种方式能够将整个系统的能量消耗最小化。
23.根据一种实施方式，控制装置设计用于，当自新的一组校准参数的上一次计算以来已过去了预先确定的时间段时，才激活校准器。例如，校准参数的新计算能够周期性地以
预先给定的周期持续时间进行，或者校准参数的计算能够在事先确定的时间点进行。替代地也可能的是，在每次新计算校准参数之后至少在预先给定的时间段内禁止另外的校准参数的新计算。通过这种方式能够防止过于频繁地计算新的校准参数，并且由此能够进一步降低系统的能量消耗。
24.根据一种实施方式，控制装置设计用于，对校准器的调节参数进行修改。例如，校准器的所述调节参数能够影响测量值的权重。校准器的调节参数尤其能够包括过滤器参数或者类似物。当然，校准器的任意其他适合的、能够通过控制装置匹配的调节参数也是可能的。例如，调节参数能够基于当前由传感器提供的测量数据和/或另外的参数来匹配，所述另外的参数例如是传感器的或传感器系统的温度或者类似物。除此之外，例如也能够共同考虑准确度、例如当前的校准参数的通过监控模块求取的准确度的当前评价(evaluierung)，以便相应地匹配校准器的调节参数。
25.根据一种实施方式，该控制装置包括温度评估模块(temperatur-bewertungsmodul)。温度评估模块能够设计用于求取并且必要时存储传感器的当前温度。在此，控制装置能够设计用于，当传感器的所求取的当前温度与先前的参考温度值的偏差大于预先确定的阈值时，激活校准器。尤其是，能够由一个或者多个先前的、所存储的温度测量值求取该参考温度值。温度波动能够具有对由传感器提供的原始传感器数据的相对较大的影响。相应地，在温度变化的情况下，可能需要匹配用于传感器的校准参数。例如，如果便携式设备被移动并且在此被带到具有不同的环境温度的环境中，则传感器的温度也能够发生变化。必要时，这能够使得对校准参数的匹配变得必要。例如，当设备(例如智能手机或者类似物)从建筑物的内部空间带到外面或者反过来从外面带到内部时，可能需要匹配校准参数。
26.根据一种实施方式，用于匹配校准参数的设备具有温度建模装置，该温度建模装置包括模型数据存储器和预测模型。该预测模型能够设计用于，在使用当前温度和存储在模型数据存储器中的温度模型的情况下提供与温度相关的校准参数。相应地，在使用这种类型的模型数据的情况下能够实施校准参数的匹配，所述校准参数能够实现提供与温度相关的校准参数，而不必在每次温度变化时立即计算新的校准参数。
27.根据一种实施方式，该温度建模装置包括用于估计温度模型的模块。用于估计温度模型的该模块能够设计用于计算用于校准参数的、与温度相关的模型。此外，用于估计温度模型的该模块能够设计用于将所计算的温度模型的数据存储在温度建模装置的模型数据存储器中。通过这种方式，在用于匹配校准参数的设备内能够实现用于传感器的校准参数的温度相关性的建模。这能够实现对建模的动态匹配。
28.根据一种实施方式，测量数据评估模块设计用于，当传感器处在预先确定的状态中时，将用于计算校准参数的测量数据分类为适合。例如，这样的预先确定的状态能够包括传感器或传感器系统在空间中的已知的或者预先确定的方位。附加地或者替代地，预先确定的状态例如能够包括预先确定的运动，该预先确定的运动例如是具有预先确定的速度的线性运动或者速度为零的线性运动、即静止状态。此外，预先确定的状态例如能够也包括关于至少一个空间方向的预先确定的至少一个空间取向。视传感器而定地，当然也能够将任意其他适合的预先确定的状态设置为适合用于相应的分类。
29.根据一种实施方式，测量数据评估模块设计用于，只有与校准参数的先前的计算
步骤所基于的测量数据不同的测量数据才被分类为适合用于计算校准参数。如果不存在与先前的计算步骤的测量数据不同的新的测量数据，则能够一直暂停校准参数的新计算，直到再次存在新的测量数据。由此也能够降低校准过程的花费并且因此降低能量消耗。
30.根据一种实施方式，用于匹配校准参数的设备包括输入接口，通过该输入接口能够完全地或者部分地可选地激活和停用控制装置和/或校准器。通过这种方式，也能够实现新的校准参数的计算的外部激活和/或停用。
31.如前所述，传感器数据能够是由任意适合的传感器提供的传感器数据。尤其是，具有根据本发明的用于匹配校准参数的设备的传感器系统能够包括具有微电子机械系统的传感器。例如，该传感器能够是加速度传感器、转速传感器/或者磁场传感器。
32.只要合理，上述构型方案和扩展方案能够任意地相互组合。本发明的其他构型方案、扩展方案和实现方式还包括本发明的先前或者在下文中在实施例方面描述的特征的未明确提到的组合。尤其是，本领域技术人员还将个别方面作为改进或者补充添加到本发明的相应的基本形式中。
附图说明
33.在下文中，根据附图阐述本发明的其他特征和优点。在此示出：
34.图1示出根据一种实施方式的具有用于匹配校准参数的设备的传感器系统的方框图的示意图；
35.图2示出根据一种实施方式的用于匹配校准参数的设备的方框图的示意图；
36.图3示出根据另一种实施方式的用于匹配校准参数的设备的方框图的示意图；
37.图4示出根据一种实施方式的用于匹配校准参数的方法所基于的流程图；
38.图5示出根据另一种实施方式的用于匹配校准参数的方法所基于的流程图。
具体实施方式
39.图1示出根据一种实施方式的传感器系统的方框图的示意图。传感器系统包括传感器2，该传感器能够提供测量数据，所述测量数据与通过传感器所监控的测量参量相对应。例如，传感器2能够是具有微电子机械系统(mems)的传感器。例如，该传感器能够是加速度传感器、转速传感器或者磁场传感器。当然，任意其他适合的传感器也是可能的。
40.能够在补偿装置3上提供由传感器2提供的原始传感器数据。该补偿装置3能够在使用校准参数的情况下对由传感器输出的测量数据进行校正，并且输出经补偿的传感器数据。例如，补偿装置能够对原始传感器数据的偏移进行校正。除此之外，例如也能够在使用适合的校准参数的情况下对非线性或者类似物进行匹配。尤其也能够对原始传感器数据进行与温度相关的校正。
41.为了通过补偿装置3校正原始传感器数据，能够向该补偿装置提供适合的校准参数。例如，这能够由用于匹配校准参数的设备1来进行。为此，在下文中更详细地阐述用于匹配校准参数的设备1。
42.图2示出用于匹配校准参数的设备1的方框图的示意图。用于匹配校准参数的设备1包括至少一个控制装置10和校准器20。在此，控制装置10监控当前所使用的校准参数的准确度，并且在需要时启动通过校准器20计算新的校准参数。除此之外，控制装置10能够检验
由传感器2提供的传感器数据，并且能够在需要计算新的校准参数时向校准器20提供适合用于新计算校准参数的传感器数据。尤其是，如果需要计算新的校准参数，控制装置10能够激活校准器20。如果新的校准参数的计算完成和/或如果当前可供使用的校准参数足够准确，则控制装置10能够停用校准器20，即能够完全关断该校准器或者能够将该校准器至少置于准备就绪模式或待机模式中。
43.控制装置10能够包括例如存储器装置11，在该存储器装置中保存有一组校准参数。能够相应地向补偿装置3提供该组校准参数。因此，补偿装置3能够在使用存储在存储器装置11中的校准参数的情况下对由传感器2提供的原始传感器数据进行校正并且提供经校准的传感器数据。
44.此外，控制装置10包括监控模块12。该监控模块12监控保存在存储器装置11中的当前的校准参数的准确度。例如，监控模块12能够在使用当前保存在存储器装置11中的校准参数的情况下对由传感器2提供的原始传感器数据进行分析处理，并且能够检验由传感器2提供的当前的传感器数据是否基于当前的校准参数提供预期的结果。例如，监控模块12检验，在不运动的传感器2的情况下，运动传感器的传感器数据在基于当前的校准参数进行相应的补偿之后是否也确实相应于静止状态。类似地，也能够对别的传感器的传感器数据进行验证，所述别的传感器例如是转速传感器、磁场传感器或者类似物。为此，必要时还能够向监控模块12提供关于传感器2的状态的信息。因此，监控模块12能够求取，借助当前保存在存储器装置11中的校准参数，经补偿的传感器数据是否相应于预期的传感器数据，或者能够求取经校正的传感器数据是否偏离预期的传感器数据。因此，基于预期的传感器数据与借助当前的校准参数求取的值之间的如此求取的偏差，能够计算准确度值。
45.接着，由监控模块12求取的准确度值能够提供给控制模块13。控制模块13能够将监控模块12的所求取的准确度值与一个或者多个预确定的准确度标准进行比较。通过这种方式，控制模块13能够确定，基于保存在存储器装置11中的校准参数的、当前所求取的准确度值是否满足预先给定的准确度标准，或者能够确定，借助保存在存储器装置11中的校准参数是否不能够进一步满足预先给定的准确度标准。如果不能够满足预先给定的准确度标准，则控制模块13能够启动通过校准器20计算新的一组校准参数。
46.通常，新的一组校准参数的计算需要传感器2的适合的测量数据。为了检验这一点，在控制装置10中能够设置有测量数据评估模块14。测量数据评估模块14能够从传感器2接收测量数据，并且能够检验所述测量数据是否适合用于计算校准参数。例如，测量数据评估模块14能够检验传感器2是否处于如下状态：在该状态中，该传感器能够为计算新的一组校准参数提供适合的测量数据。例如，为此能够检验传感器2或传感器系统是否处在静止状态中；传感器2的或传感器系统的定向是否至少在一个空间方向上是恒定的并且必要时相应于预先给定的定向；或者是否满足用于提供用于计算新的校准参数的测量数据的其他适合的框架条件。
47.相应地，只有当一方面准确度在使用当前保存在存储器装置11中的校准参数的情况下不满足预先给定的准确度标准，并且除此之外通过测量数据评估模块14已确定由传感器2提供传感器数据(该传感器数据允许新的一组校准参数的计算)时，控制模块13才能够启动计算新的一组校准参数。
48.如果满足先前提到的用于校准参数的新计算的条件，则控制模块13能够激活校准
器20。接着，校准器20能够在使用传感器2的被测量数据评估模块14分类为适合的测量数据的情况下计算新的一组校准数据。接着，通过校准器20计算的新的校准参数能够保存在存储器装置11中。新计算的校准参数在此能够取代先前保存的校准数据。替代地，也能够除了已经保存在存储器装置11中的校准数据之外还保存新计算的校准数据。
49.通过校准器20计算一组新的校准参数之后，能够例如通过控制装置10的控制模块13停用校准器20。例如，能够完全关断校准器20。替代地也可能的是，将校准器20置于准备就绪模式或者待机模式中。
50.图3示出根据另一种实施方式的用于匹配用于传感器2的校准参数的设备1的方框图的示意图。在此，在图3中示出的设备1能够包括先前结合图2所描述的部件。因此，先前提到的实施方案也同样适用于根据图3的实施方式。
51.如图3所示，控制装置10能够附加地包括温度评估模块15。例如，该温度评估模块15能够接收并分析处理传感器2的或者具有传感器2的传感器系统的数据。经分析处理的温度数据能够由控制装置10的控制模块13接收。例如如果确定传感器2上的或者具有传感器2的传感器系统上的温度显著地发生变化，即所发生的变化大于预先给定的阈值，则控制模块13同样能够启动一组校准参数的新计算。尤其是，当在探测到显著的温度变化之后由传感器2提供适合用于计算新的校准参数的测量数据时，控制模块13能够启动校准参数的新计算。
52.附加地或者替代地，用于匹配校准参数的设备1还能够包括温度建模装置30。该温度建模装置30能够包括例如模型数据存储器32和预测模型31。此外，在温度建模装置30上能够设置有用于估计温度模型的模块33。
53.例如，用于估计温度模型的模块33能够计算用于校准参数的与温度相关的模型。通过这种方式，例如能够以数学模型或者类似物的形式示出传感器数据的温度漂移。尤其是，能够根据多组校准参数计算与温度相关的模型，所述多组校准参数是借助校准器20针对不同的温度所估计的。校准参数的与温度相关的模型或者至少这样的模型的参数化能够例如保存在模型数据存储器32中。接着，基于保存在模型数据存储器32中的数据，预测模型31能够确定与温度相关的校准参数。通过这种方式，借助与温度相关的校准参数能够匹配用于校正原始传感器数据的校准参数，而不需要在每次温度变化时始终新计算校准参数。由此，能够进一步减少用于新计算校准参数的花费。
54.图4示出根据一种实施方式的用于匹配用于传感器2的校准参数的方法所基于的流程图的示意图。原则上，该方法能够包括任意的为了实现先前描述的设备1已经描述的步骤。类似地，先前描述的用于匹配校准参数的设备1也能够包括任意适合的部件，以实现下文描述的方法步骤。
55.首先，在步骤s1中监控传感器2是否处在预先确定的状态中。视传感器2而定地，例如能够监控运动传感器是否处在静止状态中，能够监控方位传感器是否处在预先给定的位置中或者是否至少在一个空间方向上具有预先确定的定向。除此之外，视传感器2而定地，在步骤s1中探测的任意其他适合的状态当然也是可能的。
56.接着，在步骤s2中，求取用于传感器2的当前的一组校准参数的至少一个准确度值。例如能够求取，在传感器2的预先给定的状态中，基于校准参数补偿的原始传感器数据是否偏离期望值。尤其是能够检验经校正的原始传感器数据与期望值的偏差是否大于预先
给定的极限值。除此之外，必要时还能够共同考虑自校准参数的上一次计算以来是否已经过去了至少一个预先给定的时间段。
57.随后，在步骤s3中，将所求取的准确度值与预先确定的准确度标准进行比较，该预先确定的准确度标准例如是用于所求取的准确度值的阈值。如果所求取的准确度值不满足预先确定的准确度标准，则这能够使得需要当前的一组校准参数的新计算。
58.必要时，例如借助输入接口或者类似物，也能够接收用于计算新的一组校准参数的外部信号通知。除此之外，可能也能够为了新计算另外一组校准参数而匹配一个或者多个用于调准过程的调节参数。例如，能够匹配用于过滤的过滤器参数，该过滤例如是时间过滤或者类似物。
59.在步骤s4中能够检验由传感器2提供的传感器数据是否适合用于校准参数的新计算。例如，为此能够检验传感器2是否位于如下状态：在该状态中，该传感器能够提供适合用于计算新的校准参数的传感器数据。例如，为此能够检验运动传感器当前是否处在静止状态中，或者传感器是否处在预先给定的位置中或者是否至少在一个空间方向上处在预先给定的定向上。然而，视传感器2的类型而定地，用于检验的任意其他标准也是可能的，以便确定传感器2是否为新计算校准参数提供适合的测量值。
60.如果由传感器2提供的传感器数据适合用于计算新的校准参数，并且事先在步骤s3中已确定基于当前的校准参数的准确度的检验和/或基于另外的标准应该进行校准参数的新计算，则能够在步骤s5中计算一组新的校准参数。接着，新计算的校准参数能够在步骤s6中被提供并且例如保存在存储器装置11中。
61.图5示出根据另一种实施方式的用于匹配校准参数的方法所基于的流程图。原则上，图5中的方法也包括已经结合图4描述的方法步骤。因此，事先已经进行的实施方案也适用于根据图5的方法。
62.如图5所示，该方法除此之外能够包括例如步骤s7，在该步骤中，接收并分析处理传感器2的和/或具有传感器2的传感器系统的温度。例如能够检验传感器2的或具有传感器2的传感器系统的温度在运行期间是否显著地发生变化，例如所发生的变化大于至少一个预先给定的阈值。然而，除此之外，别的用于分析处理传感器温度的标准也是可能的。相应地，当传感器2的或具有传感器2的传感器系统的温度根据一个预先给定的条件已经发生变化时，例如能够启动计算新的校准参数。例如，当传感器2的温度显著地升高或者降低时，能够启动校准参数的新计算。
63.此外，能够设置有步骤s8，在该步骤中实施校准参数的与温度相关的建模。例如，在步骤s8中能够计算或者估计校准参数的与温度相关的建模、尤其是校准参数的与温度相关的变化。例如，基于对于传感器2的传感器数据的温度相关性的这种的所计算的或者经估计的建模，能够以与温度相关的方式匹配校准参数，而不必在每次温度变化时始终实施校准参数的新计算。为此，例如能够将用于传感器数据的温度相关性的建模的参数或者将完整的与温度相关的模型保存在模型数据存储器32中。通过这种方式，例如步骤s8能够根据传感器2的或具有传感器2的传感器系统的温度分别提供与温度相关的校准参数，而不必始终实施校准参数的新计算。
64.例如，如果用于与温度相关的建模的存储器空间是有限的，则与温度相关的建模的存储器空间也能够分别仅局限于预先给定的温度范围。如果传感器2的或具有传感器2的
传感器系统的当前温度偏离相应的温度范围，则接着能够例如借助校准器20实施新的校准参数的计算。
65.总而言之，本发明涉及对用于传感器的校准参数的匹配。经匹配的校准参数能够用于校正传感器的原始传感器数据。尤其提出，只有当当前可供使用的校准参数的准确度不再足够并且用于传感器的新校准的测量数据可供使用时，才计算新的校准参数。否则，可以将为校准传感器数据所需的部件停用，以便降低能量消耗。