一种处理器性能测试方法、装置、设备和介质与流程

1.本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种处理器性能测试方法、装置、设备和介质。


背景技术：

2.中央处理器(central processing unit，简称cpu)，是电子计算机的主要设备之一，电脑中的核心配件。其功能主要是解释计算机指令以及处理计算机软件中的数据。cpu是计算机中负责读取指令，对指令译码并执行指令的核心部件。中央处理器主要包括两个部分，即控制器、运算器，其中还包括高速缓冲存储器及实现它们之间联系的数据、控制的总线。中央处理器的功效主要为处理指令、执行操作、控制时间、处理数据。在计算机体系结构中，cpu是对计算机的所有硬件资源(如存储器、输入输出单元)进行控制调配、执行通用运算的核心硬件单元。cpu是计算机的运算和控制核心。计算机系统中所有软件层的操作，最终都将通过指令集映射为cpu的操作。
3.在cpu研发生产时，需要对处理器的综合能力进行测试。然而，相关技术中提供的测试方法会受到编译器影响，导致处理器的测试结果不够准确。


技术实现要素：

4.本技术实施例通过提供一种处理器性能测试方法、装置、设备和介质，解决了现有技术中测试方法会受到编译器影响，导致处理器测试结果不准确的技术问题，实现了降低编译器对处理器测试的影响程度，提高处理器测试结果的准确性的技术效果。
5.第一方面，本技术提供了一种处理器性能测试方法，方法包括：
6.在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，识别编译器中的待应用优化标识；
7.根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间；
8.判断预设优化时间是否与目标测试时间匹配；
9.当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，根据目标测试时间确定第一优化标识，通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译。
10.进一步地，当预设优化时间与目标测试时间匹配时，方法还包括：
11.根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的测试指标准确度；
12.判断测试指标准确度是否与目标指标准确度匹配；
13.当测试指标准确度与目标指标准确度匹配时，通过待应用优化标识对目标测试算法进行继续编译。
14.进一步地，当测试指标准确度与目标指标准确度不匹配时，方法还包括：
15.根据目标测试时间和目标指标准确度确定第二优化标识，通过第二优化标识对目标测试算法进行继续编译。
16.进一步地，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间，包
括：
17.构建编译器的优化标识集群，优化标识集群包括n个优化标识以及各个优化标识对应的预设优化时间，n为正整数；
18.根据待应用优化标识，从优化标识集群中确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
19.进一步地，构建编译器的优化标识集群，包括：
20.获取编译器的n个优化标识，以及每个优化标识对应的m个优化时间样本数据；m为正整数；
21.对每个优化标识对应的m个优化时间样本数据进行机器学习，确定每个优化标识对应的预计优化时间；
22.关联每个优化标识和该优化标识对应的预计优化时间，以构建优化标识集群。
23.进一步地，目标测试时间的确定方式包括：
24.获取目标处理器的性能测试需求；
25.根据性能测试需求，确定目标测试时间。
26.第二方面，本技术提供了一种处理器性能测试装置，装置包括：
27.识别模块，用于在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，识别编译器中的待应用优化标识；
28.预设优化时间确定模块，用于根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间；
29.时间匹配判断模块，用于判断预设优化时间是否与目标测试时间匹配；
30.第一更换模块，用于当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，根据目标测试时间确定第一优化标识，通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译。
31.进一步地，装置还包括：
32.测试指标准确度确定模块，用于当预设优化时间与目标测试时间匹配时，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的测试指标准确度；
33.准确度匹配判断模块，用于判断测试指标准确度是否与目标指标准确度匹配；
34.继续编译模块，用于当测试指标准确度与目标指标准确度匹配时，通过待应用优化标识对目标测试算法进行继续编译。
35.第三方面，本技术提供了一种电子设备，包括：
36.处理器；
37.用于存储处理器可执行指令的存储器；
38.其中，处理器被配置为执行以实现如第一方面提供的一种处理器性能测试方法。
39.第四方面，本技术提供了一种非临时性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行实现如第一方面提供的一种处理器性能测试方法。
40.本技术实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
41.本技术在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，通过识别待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间与目标测试时间之间是否匹配，在不匹配时，采用满足目标测试时间要求的第一优
化标识，对目标测试算法进行继续编译，以降低编译器对处理器测试的影响，进而提高处理器测试结果的准确度。
附图说明
42.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
43.图1为本技术提供的一种处理器性能测试方法的流程示意图；
44.图2为本技术提供的一种处理器性能测试装置的结构示意图；
45.图3为本技术提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
46.本技术实施例通过提供一种处理器性能测试方法，解决了现有技术中测试方法会受到编译器影响，导致处理器测试结果不准确的技术问题。
47.本技术实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
48.一种处理器性能测试方法，方法包括：在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，识别编译器中的待应用优化标识；根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间；判断预设优化时间是否与目标测试时间匹配；当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，根据目标测试时间确定第一优化标识，通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译。
49.本实施例在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，通过识别待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间与目标测试时间之间是否匹配，在不匹配时，采用满足目标测试时间要求的第一优化标识，对目标测试算法进行继续编译，以降低编译器对处理器测试的影响，进而提高处理器测试结果的准确度。
50.为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
51.首先说明，本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
52.本实施例提供了如图1所示的一种处理器性能测试方法，方法包括：
53.步骤s11，在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，识别编译器中的待应用优化标识。
54.步骤s12，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
55.步骤s13，判断预设优化时间是否与目标测试时间匹配。
56.步骤s14，当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，根据目标测试时间确定第一优化标识，通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译。
57.在对处理器性能进行测试的过程中，编译器会将目标测试算法的源语言翻译成处
理器可用的目标语言。通常情况下，目标测试算法是高级语言，目标语言是机器语言。
58.相关技术中，在编译器对目标测试算法进行编译的过程中，编译器会对目标测试算法进行优化处理，使得编译器的编译效率更高，进而处理器的测试效率更高。然而，正是由于编译器对目标测试算法进行了优化，导致目标测试算法中部分需要对处理器进行测试的功能被弱化，使得处理器的测试结果较优。虽然测试结果较优，但是这并不代表处理器的该功能较强。由于编译器分担了处理器的一部分工作，导致处理器的测试结果并不准确。为了解决上述问题，本实施例提供了如图1所示的测试方案，以降低编译器对处理器的测试结果的影响，提高处理器的测试结果准确性，也可以认为是提高处理器的测试结果的客观性。
59.关于步骤s11，在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，识别编译器中的待应用优化标识。
60.编译器中包含有多种对应的优化标识。例如以gcc为基础的编译器中，优化标识包括：-o1、-o3、-os、-ofast等。其中，-o1用于优化代码的大小以及代码执行的速度；-o3通过采取很多向量化算法，提高代码的并行执行程度，利用现代cpu中的流水线，cache等，提高执行代码的大小，也会降低目标代码的执行时间。
61.在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试的过程中，编译器对目标测试算法进行编译，并识别编译器中的待应用优化标识。待应用优化标识是指编译器编译到当前时刻即将使用的优化标识。
62.关于步骤s12，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
63.使用待应用优化标识，编译器就会对目标测试算法进行优化，虽然会提高编译器的编译效率，但也可能导致目标测试算法对处理器的某项性能测试的测试程度进行弱化，导致测试结果不准确。
64.本实施例为了降低待应用优化标识对处理器测试结果的影响，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
65.具体地，可以通过步骤s21-步骤s22实现。
66.步骤s21，构建编译器的优化标识集群，优化标识集群包括n个优化标识以及各个优化标识对应的预设优化时间，n为正整数；
67.步骤s22，根据待应用优化标识，从优化标识集群中确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
68.在对目标处理器进行性能测试时，当编译器确定之后，其对应的优化标识也就确定了，可以根据编译器的优化标识以及各个优化标识对应的预设优化时间，构建优化标识集群。
69.当识别到待应用优化标识时，可以通过查询优化标识集群，进而确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
70.其中，构建编译器的优化标识集群，包括：
71.步骤s31，获取编译器的n个优化标识，以及每个优化标识对应的m个优化时间样本数据；m为正整数；
72.步骤s32，对每个优化标识对应的m个优化时间样本数据进行机器学习，确定每个优化标识对应的预计优化时间；
73.步骤s33，关联每个优化标识和该优化标识对应的预计优化时间，以构建优化标识
集群。
74.确定编译器的n个优化标识，并确定各个优化标识对应的优化时间样本数据。优化时间样本数据可以是根据编译器在历史编译过程中对应的样本数据，也可以是对编译器进行单独测试得到的样本数据，本实施例对此不作限制。
75.针对每个优化标识，对其对应的m个优化时间样本数据进行机器学习，确定每个优化标识对应的预计优化时间，机器学习的算法可以参考相关技术中提供的算法，此处不再赘述。
76.将每个优化标识以及对应的预计优化时间进行关联，关联后的所有优化标识和预计优化时间构成优化标识集群。在确定了待应用优化标识时，可以通过查询优化标识集群，确定待应用优化标识对应的预计优化时间。
77.需要注意的是，n个优化标识中每个优化标识对应的优化时间样本数据的数量可以相同也可以不相同。在需要平衡各个优化标识的样本数据的有效性的时候，每个优化标识需要对应相同数量的优化时间样本数据，例如m个优化时间样本数据。对于某一优化标识而言，m越大，该优化标识最终得到的预计优化时间越准确，但是预计优化时间的确定效率将会较低，因此，在实际操作时，需要根据预计优化时间的准确性和效率各自的占比，确定m的大小。
78.关于步骤s13，判断预设优化时间是否与目标测试时间匹配。
79.目标测试时间可以通过获取目标处理器的性能测试需求确定，根据性能测试需求，确定目标测试时间。
80.性能测试需求可以是测试过程的总时间、测试结果的准确度、总时间与准确度之间的占比、处理器中各个性能的测试准确性占比等。
81.测试过程的总时间可以是指目标处理器完成整个性能测试所要花费的全部时间。
82.测试结果的准确度可以通过百分比表示，准确度的衡量标准可以根据实际情况进行设定。
83.总时间与准确度之间的占比表示处理器测试目的的倾向性，若测试目的更倾向于测试效率，那么总时间应当较少，准确度可以适当降低；若测试目的更倾向于测试准确度，那么准确度需要较高，总时间则花费较多。
84.处理器中各个性能的测试准确性占比可以是指各性能之间的重要性，例如，处理器可以包括运算速率、指令读取速率等。当测试目的更倾向于运算速率时，那么运算速率的占比相比于指令读取速率的占比更高。
85.在确定预设优化时间和目标测试时间之后，判断两者是否匹配。例如，当测试目的是快速完成处理器的性能测试时，那么目标测试时间就较短，若预设优化时间小于等于目标测试时间，就达到了时间短的目的，那么认为预设优化时间和目标测试时间匹配，进而执行步骤s15。反之，当预设优化时间和目标测试时间不匹配时，执行步骤s14。
86.当测试目的是得到处理器准确的性能测试时，目标测试时间就相对较长，若预设优化时间大于目标测试时间，则可以定性认为这样测试后处理器的性能测试结果准确性更高，进而认为预设优化时间和目标测试时间匹配，继续执行步骤s15。反之，当预设优化时间和目标测试时间不匹配时，执行步骤s14。
87.关于步骤s14，当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，根据目标测试时间确定
第一优化标识，通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译。
88.当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，认为待应用优化标识不符合测试需求，需要对其更换，因此，可以根据目标测试时间，从优化标识集群中选择满足需求的第一优化标识，使用第一优化标识替换待应用优化标识，进而通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译，以继续进行处理器的性能测试。
89.步骤s15，当预设优化时间与目标测试时间匹配时，通过待应用优化标识对目标测试算法进行继续编译。
90.当预设优化时间与目标测试时间匹配时，认为待应用优化标识符合测试需求，可以继续进行编译，以继续进行处理器的性能测试。
91.步骤s15还可以替换为以下方案：
92.步骤s41，当预设优化时间与目标测试时间匹配时，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的测试指标准确度。
93.当预设优化时间与目标测试时间匹配时，还可以确定与待应用优化标识对应的测试指标准确度。测试指标准确度是指使用该优化标识后对处理器的某性能的测试结果的影响程度。例如，使用-o3优化标识与不使用-o3优化标识相比，对于处理器的运算速率测试结果，前者比后者会增加20％，那么测试指标准确度则可以认为是20％。
94.测试指标准确度的确定方式可以参考步骤s21-步骤s22、步骤s31-步骤s32的原理，具体包括：
95.获取编译器的n个优化标识，以及每个优化标识对应的p个测试指标准确度样本数据；p为正整数；
96.对每个优化标识对应的p个测试指标准确度样本数据进行机器学习，确定每个优化标识对应的测试指标准确度；
97.关联每个优化标识和该优化标识对应的测试指标准确度，以构建优化标识集群。
98.据待应用优化标识，从优化标识集群中确定待应用优化标识对应的测试指标准确度。
99.步骤s42，判断测试指标准确度是否与目标指标准确度匹配。
100.在确定指标准确度与目标指标准确度之后，判断两者是否匹配。例如，使用-o3优化标识与不使用-o3优化标识相比，对于处理器的运算速率测试结果，前者比后者会增加20％，那么测试指标准确度则可以认为是20％。当目标指标准确度是10％，20％大于10％，则认为指标准确度与目标指标准确度匹配，可以继续执行步骤s43。当目标指标准确度是30％，20％小于30％，则认为指标准确度与目标指标准确度不匹配，可以继续执行步骤s44。
101.步骤s43，当测试指标准确度与目标指标准确度匹配时，通过待应用优化标识对目标测试算法进行继续编译。
102.当预设优化时间与目标测试时间匹配、且测试指标准确度与目标指标准确度匹配时，认为待应用优化标识符合测试需求，可以继续进行编译，以继续进行处理器的性能测试。
103.步骤s44，当测试指标准确度与目标指标准确度不匹配时，根据目标测试时间和目标指标准确度确定第二优化标识，通过第二优化标识对目标测试算法进行继续编译。
104.当测试指标准确度与目标指标准确度不匹配时，认为待应用优化标识不符合测试
需求，需要对其更换，因此，可以根据目标测试时间和目标指标准确度，从优化标识集群中选择满足需求的第二优化标识，使用第二优化标识替换待应用优化标识，进而通过第二优化标识对目标测试算法进行继续编译，以继续进行处理器的性能测试。
105.综上所述，本实施例在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，通过识别待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间与目标测试时间之间是否匹配，在不匹配时，采用满足目标测试时间要求的第一优化标识，对目标测试算法进行继续编译，以降低编译器对处理器测试的影响，进而提高处理器测试结果的准确度。
106.基于同一发明构思，本技术提供了如图2所示的一种处理器性能测试装置，装置包括：
107.识别模块21，用于在使用目标测试算法对目标处理器进行性能测试，且使用编译器对目标测试算法进行编译的过程中，识别编译器中的待应用优化标识；
108.预设优化时间确定模块22，用于根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的预设优化时间；
109.时间匹配判断模块23，用于判断预设优化时间是否与目标测试时间匹配；
110.第一更换模块24，用于当预设优化时间与目标测试时间不匹配时，根据目标测试时间确定第一优化标识，通过第一优化标识对目标测试算法进行继续编译。
111.进一步地，装置还包括：
112.测试指标准确度确定模块，用于当预设优化时间与目标测试时间匹配时，根据待应用优化标识，确定待应用优化标识对应的测试指标准确度；
113.准确度匹配判断模块，用于判断测试指标准确度是否与目标指标准确度匹配；
114.继续编译模块，用于当测试指标准确度与目标指标准确度匹配时，通过待应用优化标识对目标测试算法进行继续编译。
115.第二更换模块，用于当测试指标准确度与目标指标准确度不匹配时，根据目标测试时间和目标指标准确度确定第二优化标识，通过第二优化标识对目标测试算法进行继续编译。
116.进一步地，预设优化时间确定模块22，包括：
117.构建子模块，用于构建编译器的优化标识集群，优化标识集群包括n个优化标识以及各个优化标识对应的预设优化时间，n为正整数；
118.预设优化时间确定子模块，用于根据待应用优化标识，从优化标识集群中确定待应用优化标识对应的预设优化时间。
119.进一步地，构建子模块，包括：
120.样本数据获取子模块，用于获取编译器的n个优化标识，以及每个优化标识对应的m个优化时间样本数据；m为正整数；
121.机器学习子模块，用于对每个优化标识对应的m个优化时间样本数据进行机器学习，确定每个优化标识对应的预计优化时间；
122.关联子模块，用于关联每个优化标识和该优化标识对应的预计优化时间，以构建优化标识集群。
123.进一步地，装置还包括：
124.性能测试需求获取模块，用于获取目标处理器的性能测试需求；
125.目标测试时间确定模块，用于根据性能测试需求，确定目标测试时间。
126.基于同一发明构思，本实施例提供了如图3所示的一种电子设备，包括：
127.处理器31；
128.用于存储处理器31可执行指令的存储器32；
129.其中，处理器31被配置为执行以实现如上述提供的一种处理器性能测试方法。
130.基于同一发明构思，本实施例提供了一种非临时性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由电子设备的处理器31执行时，使得电子设备能够执行实现如上述提供的一种处理器性能测试方法。
131.由于本实施例所介绍的电子设备为实施本技术实施例中信息处理的方法所采用的电子设备，故而基于本技术实施例中所介绍的信息处理的方法，本领域所属技术人员能够了解本实施例的电子设备的具体实施方式以及其各种变化形式，所以在此对于该电子设备如何实现本技术实施例中的方法不再详细介绍。只要本领域所属技术人员实施本技术实施例中信息处理的方法所采用的电子设备，都属于本技术所欲保护的范围。
132.本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
133.本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
134.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
135.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
136.尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
137.显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。