一种芯片测试设备及芯片测试方法与流程

技术特征：
1.一种芯片测试设备，其特征在于，包括cpu主控模块、mcu控制模块和通讯接口模块，所述cpu主控模块与所述mcu控制模块连接，所述mcu控制模块还与所述通讯接口模块连接；所述cpu主控模块预设有待测芯片的测试应用程序，所述cpu主控模块通过所述测试应用程序进行测试流程的控制；在运行所述测试应用程序时，所述mcu控制模块负责执行cpu主控模块下传的命令，并基于所述命令向所述通讯接口模块发送数据，所述通讯接口模块针对由所述mcu控制模块发送的数据进行转换，并完成与所述待测芯片的数据通讯；所述通讯接口模块针对向所述mcu控制模块反馈的待测芯片的数据进行转换，所述mcu控制模块接受并处理所述数据，并将处理后数据或者判断结果反馈至所述cpu主控模块，所述cpu主控模块根据所述处理后数据或者所述mcu控制模块判断结果提供待测芯片的最终功能测试结果。2.如权利要求1所述的芯片测试设备，其特征在于，所述测试应用程序用于针对所述待测芯片的触控功能和/或显示功能进行测试。3.如权利要求1所述的芯片测试设备，其特征在于，所述mcu控制模块包括电源管理单元、显示图像处理单元、电压电流测量单元及io控制和测量单元中的任意一种或多种。4.如权利要求1所述的芯片测试设备，其特征在于，所述cpu主控模块预设有多个测试应用程序，任意一个测试应用程序用于针对其对应型号的所述待测芯片的触控功能和/或显示功能进行检测。5.如权利要求1所述的芯片测试设备，其特征在于，所述通讯接口模块包括协议转换模块和接口模块；所述协议转换模块用于在接收到测试数据时按照接口输出标准将所述测试数据发送至所述接口模块，所述接口模块将所述测试数据发送至所述待测芯片，并将接收到的所述待测芯片的响应数据通过协议转换模块进行相应的格式转换后发送至所述mcu控制模块。6.如权利要求5所述的芯片测试设备，其特征在于，所述接口模块包括芯片通讯接口及显示接口。7.如权利要求6所述的芯片测试设备，其特征在于，所述芯片通讯接口包括i2c接口和/或spi接口和/或其他io接口；所述显示接口包括mipidphy接口、mipi cphy接口、lvds接口、edp接口及rgb接口的任意一种或多种。8.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试设备，包括：根据预设的配置文件确定待测芯片的测试应用程序，不同的配置文件对应的测试应用程序不同；启动所述测试应用程序以对所述待测芯片执行对应的测试项；获取所述待测芯片的响应数据；根据所述响应数据得到所述待测芯片的待测功能的最终测试结果；测试应用程序包括待测芯片的触控功能测试应用程序、显示功能测试应用程序、触控与显示功能并行测试应用程序及触控与显示功能串行测试应用程序中的至少一种。9.如权利要求8所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试设备包括cpu主控模块、mcu控制模块和通讯接口模块，所述mcu控制模块与所述cpu主控模块连接，所述mcu控制模块还与所述通讯接口模块连接；启动所述测试应用程序以对所述待测芯片执行所述测试项，获取对所述待测芯片的响
应数据，包括：s1：启动所述测试应用程序，根据所述测试应用程序对应的测试项判断是否需要读写所述待测芯片，若是，进入s2；s2：调用库文件中与所述测试应用程序对应的待测功能的接口函数；s3：根据所述待测功能的接口函数访问对应的操作系统的设备节点；s4：判断是否直接读写所述待测芯片，若是，进入s5，若否，进入s6；s5：通过所述设备节点调用所述操作系统驱动程序的接口读写函数，并通过所述通讯接口模块对所述待测芯片进行读写，再通过所述通讯接口模块接收所述待测芯片返回至所述接口读写函数的响应数据，进入s8；s6：判断是否通过所述mcu控制模块读写所述待测芯片，若是，则进入s7；s7：通过所述设备节点调用mcu控制模块读写函数以使mcu控制模块的固件程序执行相应命令，并通过所述通讯接口模块实现对所述待测芯片的读写，再通过所述通讯接口模块接收所述待测芯片返回至所述mcu控制模块读写函数的响应数据，进入s8；s8：所述读写函数获取的响应数据依次反馈给所述设备节点、库文件及应用程序，完成所述待测芯片数据的读写。10.如权利要求8-9任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，当所述测试应用程序为触控与显示功能并行测试应用程序时，启动所述测试应用程序以对所述待测芯片执行所述待测功能的测试项，包括：启动所述测试应用程序，根据所述测试应用程序同时启动第一线程对所述待测芯片执行触控功能测试项和启动第二线程对所述待测芯片执行显示功能测试项；获取对所述待测芯片执行所述测试项时所述待测芯片反馈的响应数据，包括：获取所述第一线程对所述待测芯片执行触控功能测试项时得到的触控测试响应数据；获取所述第二线程对所述待测芯片执行显示功能测试项时得到的显示测试响应数据。

技术总结
本发明公开了一种芯片测试设备及芯片测试方法，芯片测试方法应用于芯片测试设备，在进行待测芯片测试时，根据测试人员设置的配置文件来确定启动哪个测试应用程序，不同的配置文件对应的待测芯片的待测功能的测试应用程序不同，通过启动不同的测试应用程序来启动不同待测芯片的不同待测功能的测试项，最终根据得到的响应数据得到测芯片的待测功能的测试结果，当需要对不同厂家的芯片的不同功能进行测试时，只需要根据待测芯片的生产厂家及待测功能更改设置的配置文件即可实现对不同厂家的不同待测芯片的不同待测功能的测试，提高了芯片测试设备的通用性和兼容性，提高了测试效率，且更改设置配置文件的过程简单快捷，不需要专业的编程人员操作。要专业的编程人员操作。要专业的编程人员操作。


技术研发人员：侯卫京 曹兴 林钦发 曾睿 黄余毅
受保护的技术使用者：敦泰电子（深圳）有限公司
技术研发日：2022.03.11
技术公布日：2022/6/24