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校准烧录方法及系统与流程

2022-06-05 12:15:33 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及摄像技术领域,尤其涉及一种校准烧录方法及系统。


背景技术:

2.随着科学技术的不断进步,摄像模组的应用也越来越广泛,尤其是在智能手机、平板电脑、车载电子设备、安防监控系统等客户端中的应用,已经植根于人类的日常生活,进而客户端对摄像模组的成像效果的要求也越来越高。
3.但摄像模组由于个体的差异,其成像效果不尽相同,不能采用同一个参数进行补偿,当前的图像校正技术需要多家厂商协作完成,校正效果难以保证。
4.因此,现有技术存在图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题。


技术实现要素:

5.本发明提供一种校准烧录方法及系统,以缓解现有技术存在图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题。
6.为解决上述问题,本发明提供的技术方案如下:
7.本发明实施例提供一种校准烧录方法,包括:
8.获取摄像模组拍摄的初始图像;
9.根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准确定所述摄像模组的图像校准参数;
10.烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器;
11.校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结果。
12.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准确定所述摄像模组的图像校准参数的步骤,包括:
13.对所述初始图像进行图像均匀度处理,得到中间图像;
14.根据所述摄像模组的几何中心参数和所述中间图像获取所述图像校准参数,其中,所述图像校正参数至少包括自动白平衡校正数据和镜头阴影校正数据。
15.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述根据所述摄像模组的几何中心参数和所述中间图像获取所述图像校准参数的步骤,包括:
16.对所述中间图像进行光学中心处理,确定所述摄像模组的光学中心参数;
17.根据所述光学中心参数以及所述几何中心参数,确定所述摄像模组的中心偏移量;
18.根据所述中心偏移量确定所述图像校准参数,其中,所述中心偏移量与所述自动白平衡校正数据相对应。
19.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述的对所述初始图像进行图像均匀度处理,得到所述中间图像的步骤包括:
20.根据所述初始图像的中心亮度与所述初始图像的周边亮度的差异,获取电流补正参数;
21.根据所述电流补正参数补正所述初始图像,以得到所述中间图像,其中,所述电流补正参数与所述镜头阴影校正数据相对应。
22.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结果的步骤,包括:
23.对校准后的所述摄像模组存储的图像校准参数进行数据有效性校验;
24.对校准后的所述摄像模组拍摄的校验图像进行画质校验;
25.根据数据有效性校验结果和画质校验结果输出所述摄像模组的良品判定结果。
26.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述对校准后的所述摄像模组拍摄的校验图像进行画质校验的步骤,包括:
27.获取所述摄像模组拍摄的初始校验图像;
28.根据所述摄像模组中存储的图像校准参数对所述初始校验图像进行画质处理得到所述校验图像;
29.根据所述校验图像的实际色彩通道取值参数以及标准值对所述校验图像进行画质校验以得到所述画质校验结果。
30.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述根据所述校验图像的实际色彩通道取值参数以及标准值对所述校验图像进行画质校验以得到所述画质校验结果的步骤,包括:
31.根据所述实际色彩通道取值参数与所述标准值,确定色彩通道取值偏差值;
32.根据所述色彩通道取值偏差值与偏差阈值的比较结果输出所述画质校验的校验结果。
33.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述对校准后的所述摄像模组存储的图像校准参数进行数据有效性校验的步骤,包括:
34.对所述图像校准参数中的自动白平衡校正数据进行数据有效性校验;
35.对所述图像校准参数中的镜头阴影校正数据进行数据有效性校验,其中,所述数据有效性校验结果包括所述自动白平衡校正数据的数据有效性校验结果和所述镜头阴影校正数据的数据有效性校验结果。
36.在本发明实施例提供的校准烧录方法中,所述烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器的步骤,包括:
37.对所述存储器进行安全检测;
38.在所述安全检测通过后,对所述摄像模组进行污点检测;
39.在所述污点检测通过后,将所述图像校准参数烧录至所述存储器。
40.同时,本发明实施例还提供了一种校准烧录系统,包括:
41.获取模块,用于获取摄像模组拍摄的初始图像;
42.确定模块,用于根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准参数确定所述摄像模组的图像校准参数;
43.烧录模块,用于烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器;
44.校验模块,用于校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结
果。
45.本发明的有益效果为:本发明提供一种校准烧录方法及系统,该校准烧录方法包括获取摄像模组拍摄的初始图像,根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准确定所述摄像模组的图像校准参数,烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器,校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结果。本发明实施例将校正、烧录和检测功能一体化,缓解了现有技术存在的图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题。
附图说明
46.为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
47.图1为本发明实施例提供的校准烧录方法的一种流程示意图。
48.图2为本发明实施例提供的校准烧录方法的另一种流程示意图。
49.图3为本发明实施例提供的校准烧录系统的结构示意图。
具体实施方式
50.下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
51.针对现有技术存在的图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题,本发明实施例可以缓解。
52.如图1所示,在一种实施例中,本发明提供的校准烧录方法包括以下步骤:
53.s101:系统初始化及工作环境配置。
54.在一种实施例中,本步骤涉及的系统初始化及工作环境是指校准烧录系统的供电电源,光源(包括日光灯、室内钨丝灯、日光阴影等主要自动白平衡模式下的仿真模拟光源)的位置及发光强度,待烧录的摄像模组的工作电压、芯片逻辑、信号逻辑及时序逻辑等控制信号,参考对象的内容、亮度、分辨率等。参考对象可以是厂家提供的任意图案、参考物等,例如rgb纯色图案、风景画、人物画等。
55.在一种实施例中,本步骤用以实现根据摄像模组的工作参数进行系统初始化及工作环境配置,进而可以使得校准烧录系统控制所述摄像模组的摄像头对参考对象进行拍摄得到初始图像。
56.在一种实施例中,实现根据摄像模组的工作参数进行系统初始化及工作环境配置的步骤可以包括以下步骤:获取所述摄像模组的配置参数项以及配置参数项对应的参数值,并确定为所述工作参数;根据所述工作参数向所述摄像模组提供工作环境。
57.在一种实施例中,根据所述工作参数向所述摄像模组提供工作环境的步骤可以包括:根据所述工作参数中的电压项,提供所述摄像模组的工作电压;根据所述工作参数中的
芯片项,提供所述摄像模组的芯片逻辑;根据所述工作参数中的信号项,提供所述摄像模组的信号逻辑;根据所述工作参数中的时序项,提供所述摄像模组的时序逻辑。
58.下文将结合具体场景对本步骤进行具体的示意性说明。
59.s102:获取摄像模组拍摄的初始图像。
60.在一种实施例中,本步骤可以是在前述步骤s101提供的工作环境下,校准烧录系统控制所述摄像头对所述参考对象进行拍摄得到初始图像。具体的,初始图像是指没有进行任何优化处理的原生图像。
61.s103:根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准确定所述摄像模组的图像校准参数。
62.在一种实施例中,本步骤包括:对所述初始图像进行图像均匀度处理,得到中间图像;根据所述摄像模组的几何中心参数和所述中间图像获取所述图像校准参数,其中,所述图像校正参数至少包括自动白平衡校正数据和镜头阴影校正数据。
63.在一种实施例中,根据所述摄像模组的几何中心参数和所述中间图像获取所述图像校准参数的步骤,包括:对所述中间图像进行光学中心处理,确定所述摄像模组的光学中心参数;根据所述光学中心参数以及所述几何中心参数,确定所述摄像模组的中心偏移量;根据所述中心偏移量确定所述图像校准参数,其中,所述中心偏移量与所述自动白平衡校正数据相对应。具体的,几何中心参数在摄像模组制作之后唯一确定,一般是摄像头镜片的中心位置;光学中心参数与摄像头的安装角度相关,在摄像模组制作工艺精度较差时,光学中心与摄像头镜片的轴线不在同一条线上,这种偏差就是本技术涉及的中心偏移量,中心偏移量一般由偏移角度和偏移距离组成。
64.在一种实施例中,对所述初始图像进行图像均匀度处理,得到所述中间图像的步骤包括:根据所述初始图像的中心亮度与所述初始图像的周边亮度的差异,获取电流补正参数;根据所述电流补正参数补正所述初始图像,以得到所述中间图像,其中,所述电流补正参数与所述镜头阴影校正数据相对应。具体的,电流补正方式一般是向摄像头芯片边缘区域的感光元件通一个较大的电流,向摄像头芯片中心区域的感光元件通一个较小的电流,以调整各区域的供给电流补正参数,在烧录以后可以得到亮度均匀性较好的成像。进一步的,基于电流补正方式可以确定rgb三色彩通道或者rgbw四色彩通道的增益参数。增益参数一般是一个(0,1)内的取值,用以对各色彩通道的亮度进行调整。
65.s104:烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器。
66.在一种实施例中,本步骤可以包括:对所述存储器进行安全检测;在所述安全检测通过后,对所述摄像模组进行污点检测;在所述污点检测通过后,将所述图像校准参数烧录至所述存储器。具体的,安全检测是指对存储器的电路进行短路检测或者断路检测。
67.在一种实施例中,对所述摄像模组进行污点检测的步骤可以包括:获取所述摄像头的感光芯片的芯片污点面积参数;获取所述摄像头的镜片的镜片污点面积参数;根据所述芯片污点面积参数和所述镜片污点面积参数,进行污点检测。需要说明的是,面积参数可以是污点的面积值,也可以是污点面积占所在表面总面积的比值。
68.s105:校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结果。
69.在一种实施例中,本步骤可以包括:对校准后的所述摄像模组存储的图像校准参数进行数据有效性校验;对校准后的所述摄像模组拍摄的校验图像进行画质校验;根据数
据有效性校验结果和画质校验结果输出所述摄像模组的良品判定结果。具体的,良品判定结果是指摄像模组校准后能不能拍摄高质量的照片,若可以拍摄高质量的照片则为良品,若不可以拍摄高质量的照片则为不良品。
70.在一种实施例中,对校准后的所述摄像模组存储的图像校准参数进行数据有效性校验的步骤可以包括:对所述图像校准参数中的自动白平衡校正数据进行数据有效性校验;对所述图像校准参数中的镜头阴影校正数据进行数据有效性校验,其中,所述数据有效性校验结果包括所述自动白平衡校正数据的数据有效性校验结果和所述镜头阴影校正数据的数据有效性校验结果。
71.在一种实施例中,对校准后的所述摄像模组拍摄的校验图像进行画质校验的步骤可以包括:获取所述摄像模组拍摄的初始校验图像;根据所述摄像模组中存储的图像校准参数对所述初始校验图像进行画质处理得到所述校验图像;根据所述校验图像的实际色彩通道取值参数以及标准值对所述校验图像进行画质校验以得到所述画质校验结果。其中,标准值是指摄像模组生产厂家提供的摄像模组标准参数。
72.在一种实施例中,根据所述校验图像的实际色彩通道取值参数以及标准值对所述校验图像进行画质校验以得到所述画质校验结果的步骤可以包括:根据所述实际色彩通道取值参数与所述标准值,确定色彩通道取值偏差值;根据所述色彩通道取值偏差值与偏差阈值的比较结果输出所述画质校验的校验结果。具体的,偏差阈值是指实际色彩通道取值与标准值差值的最大范围,一般是一个百分比或一个数值等。
73.本实施例提供一种校准烧录方法,该方法将校正、烧录和检测功能一体化,缓解了现有技术存在的图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题。
74.为了使得本发明可以被更好的理解,现结合具体的应用实例进行说明。
75.如图2所示,在一种应用实施例中,本发明提供的校准烧录方法包括以下步骤:
76.s201:控制摄像模组进行拍照。
77.本步骤主要在烧录系统的测试盒中进行的。
78.在本步骤中,拍照是指在标准供电下,摄像头和光源(烧录系统提供的仿真模拟光源)保持固定距离,依次在三种不同的色温(上文中的钨丝灯等三种白平衡模式)条件下对参考对象进行拍照获取原生图像(raw图,cmos或者ccd图像感应器将捕捉到的光源信号转化为数字信号的原始数据)。
79.在本步骤中,主要进行sensor(摄像模组的图像感应芯片)初始设置和otp(one time programmable,一次性可编程芯片,摄像模组的存储器,指在摄像头传感器中植入一次性可编程芯片,在产品出货前进行校正数据烧录,到达用户手中不可以变成操作)的关键设置。
80.在本步骤中,烧录系统的iovdd测试盒提供:7组可编程电源:avdd、dvdd、dovdd、iovdd、pow、af、vfuse,(r2c,r3x,r5x,r6u支持可调范围及精度参阅对应测试盒型号规格书);2组固定电源5v(r3x、r2c、r5x支持)和12v(r5x支持)。iovdd测试盒内部io电平,比如mclk、rest、pwdn、sda、scl、io-out都是跟随iovdd电压,可以设置成跟dovdd一样电平(若不设置无法操作如上的信号脚)。
81.在本实施例中,针对摄像模组内摄像头的工作电压进行如下配置:
82.hw_voltage_avdd=2.8//0~3.8;
83.hw_voltage_dvdd=1.15//0~3.8;
84.hw_voltage_dovdd=1.8//0~3.8;
85.hw_voltage_iovdd=1.8//0~3.8;
86.hw_voltage_pow=1.15//0~3.8;
87.hw_voltage_af=0//0~3.8;
88.hw_voltage_vfuse=0//0~10;
89.hw_output_5v=0;
90.hw_output_12v=0。
91.在本步骤中,i2c芯片的设置项包括:
92.hw_i2c_speed:i2c速率单位khz,1khz~1mhz可调;
93.hw_i2c_intervaltime:i2c指令间隔时间;
94.hw_i2c_commprotocal:i2c或者spi(仅r2c,r5x支持spi)通讯协议选择;
95.hw_checkdeviceack:i2c通信时侦测是否有ack回馈true:侦测,回馈false:不侦测;
96.hw_spicslow:cs电平(仅r2c,r5x支持),true:cs电平为低;false:cs电平为高,当通讯协议选择spi才需设置;
97.hw_spilittleendian:设置读写spi时,低位在前还是高位在前;true:低位在前;false:高位在前,当通讯协议选择spi才需设置(仅r2c,r5x支持)。
98.在本应用场景中,i2c芯片的芯片逻辑设置如下:
99.hw_i2c_speed=400;
100.hw_i2c_intervaltime=200;
101.hw_i2c_commprotocal=0//0:i2c 1:spi;
102.hw_i2c_slave=0
×
20;
103.hw_i2c_mode=0
×
1608;
104.hw_checkdeviceack=false;
105.hw_spicslow=true;
106.hw_spilittleendian=true。
107.在本步骤中,mclk、pwdn、rest等时序逻辑的说明如下:
108.hw_sensor_mclk:sensor时钟频率,单位mhz,0~136mhz可调;
109.hw_reset_active:设置sensor上电时序电平,true高电平,false低电平;
110.hw_pwdn_active:设置sensor上电时序电平,true高电平,false低电平;
111.hw_dvp_vs_active,hw_dvp_hs_active:dvp vs hs同步信号设置,true高电平有效,false,低电平有效(dvp图像传输接口才需设置,非dvp可以不设置)。
112.在本应用场景中,mclk、pwdn、rest等时序逻辑设置如下:
113.hw_sensor_mclk=24;
114.//如果设定参数为true或者false后面不能加备注
115.//false:低电平true:高电平;
116.hw_reset_active=true;
117.hw_pwdn_active=true;
118.hw_dvp_vs_active=false;
119.hw_dvp_hs_active=false。
120.在本步骤中,sensor的上电时序及其他参数说明如下:
121.hw_powerupsequence:依据具体sensor品牌选择,以下参数可配置
122.//ov=0x00,sony=0x10,sansung=0x20,hynix=0x30,aptina=0x40,st=0x50,toshi ba=0x60,gcoreinc=0x70,superpix=0x80,dongbu=0x90,custom=0xfe,other=0xff,deserializer=0x91。
123.在本应用实例中,sensor的上电时序及其他参数设置如下:
124.hw_powerupsequence=u
×
10;
125.//0
×
00:ov 0
×
10:sony 0
×
20:samsung 0x30:hynix 0
×
40:aptina 0
×
50:st 0
×
60:toshiba 0
×
70:gcoreinc 0
×
80:superpix 0
×
90:dongbu;
126.//"rdb_imx318_5488
×
4112_1115.55_24_cphy_0
×
20";
127.hw_sensorname="imx318";
128.hw_engineer_mode=false;
129.hw_useddr3=true。
130.在本步骤中,cphy参数【使用r6u cphy sensor才需设置】的设置说明如下:
131.hw_cphy_mode://0x0:sensor输出参考时钟;0x1:sensor不输出参考时钟(9线模式),目前常用设置0x01;
132.hw_cphy_rate:mipi数据传输速率,单位gsps/trio。
133.在本应用实例中,cphy参数设置如下:
134.hw_cphy_mode=0
×
01//0
×
0:sensor输出参考时钟;
[0135]0×
1:sensor不输出参考时钟(9线模式);
[0136]
hw_cphy_rate=1.199450。
[0137]
在上述配置的基础上,烧录系统和摄像模组可以正常工作,并进行拍摄输出图像。
[0138]
s202:烧录参数到存储器。
[0139]
本步骤是在烧录站内进行,主要是进行校准参数的获取及烧录。
[0140]
如图2所示,本步骤包含以下六个步骤:
[0141]
s2021:开路及短路检测。
[0142]
本步骤用于实现对摄像模组的电路安全检查。具体的,open/short电流检查是指利用电流在流经电阻线路的电路特性进行的电路的开路和短路检查。在接触端子开路中没有电流时会产生较大电压,在接触端子短路中有电流时电压差趋近于零。由此对每个端子的电源供给进行检测,是后面烧录写入的重要前提。
[0143]
s2022:shading。
[0144]
本步骤中的shading是指图像均匀度计算。光线进入摄像头感光芯片,由于芯片正中心感受光线强度较大,成像效果更为清晰明亮,四角位置由于机械机构设计会有部分遮挡,从而成像效果较为模糊和昏暗。通过测量计算得到四角亮度之间的差异最大值和四角亮度与中心亮度的比值进行量化计算。调整各区域的供给电流补正参数,在烧录步骤以后可以得到亮度均匀性较好的成像。
[0145]
s2023:oc计算。
[0146]
本步骤中的oc(optical center光学中心)计算,指根据影像拟合多个圆心,重定位得出最终光学中心。计算感光芯片几何中心和光学中心的偏移量。
[0147]
s2024:pod/pog。
[0148]
本步骤包括pod(particle on die,模具上的污点)和pog(particle on glass,镜片上的污点)计算;pod是摄像头感光芯片上的污点,面积较小;pog一般是出现在镜头上的污点,面积较大。在本步骤中对pog和pod设定不同的规格进行检查,超出规格的产品不可以进行烧录。
[0149]
s2025:otp校正。
[0150]
本步骤中的otp(one time programmable一次性可编程)校正是通过前面几步的计算结果,通过补正方法计算出r、g、b三个通道的增益值。
[0151]
s2026:otp烧录。
[0152]
本步骤中的otp烧录是将计算得到r、g、b三个通道的增益值写入到otp可编程寄存器地址中。之后摄像头采集的影像将根据新的增益值进行更新优化。
[0153]
本步骤s202还需要进行awb和lsc的获取及烧录。
[0154]
具体的,awb(automatic white balance自动白平衡),是指在日光灯的房间里拍摄的影像会显得发绿,在室内钨丝灯光下拍摄出来的景物就会偏黄,而在日光阴影处拍摄到的照片则莫名其妙地偏蓝,其原因就在于“白平衡”的设置上,白平衡的作用就是在这些场景下恢复图像的正常颜色。lsc(lens shading correction镜头阴影校正),指画面四角由于入射光线不足形成的暗角,同时,由于不同频率的光折射率差别,导致色彩亮度差异。通过摄像头感光芯片的电流补偿值调整,可以弥补图像的这种整体不均匀性,称为镜头阴影矫正。
[0155]
本步骤在获取raw图后,就可以根据图像优化算法获取到awb数据和lsc数据,之后根据下表1进行awb数据检查和lsc数据检查,检查通过后和r、g、b三个通道的增益值一起写入otp芯片内。
[0156][0157]
表1:otp烧录规格表
[0158]
s203:检测。
[0159]
本步骤是在检测站内进行,主要作用是对烧录后摄像头拍照的效果进行检查判定。
[0160]
如图2所示,本步骤包含以下三个步骤:
[0161]
s2031:otp读取。
[0162]
本步骤中的otp读取是从摄像头感光芯片的寄存器中读出数据。
[0163]
s2032:update awb/lsc。
[0164]
本步骤中的update awb/lsc是指对读取的信息中awb段数据进行校验,对lsc数据进行校验,防止烧录过程中的异常导致数据不完整。
[0165]
s2033:awb卡控和lsc卡控。
[0166]
本步骤中的awb卡控和lsc卡控是将烧录后获取影像再次计算出来的红绿蓝三基色信号通道取值比例和原厂标准值进行对比,在三种不同的色温环境下拍照取像计算三次,并设立规格进行判断。对于烧录后计算值与标准值偏差超出规格的,认定为不良品,以供下一步骤输出。
[0167]
s204:结果输出。
[0168]
本步骤主要是进行校准结果的输出,例如摄像模组校准后可以正常工作,即烧录后计算值与标准值偏差没有超出规格的摄像模组可以正常工作,认定为良品;若摄像模组校准后不可以正常工作,即烧录后计算值与标准值偏差超出规格的摄像模组不可以正常工作,认定为不良品。摄像模组是否为良品就是烧录检测的结果,本步骤直接输出即可。
[0169]
相应的,本发明实施例还提供一种校准烧录系统,如图3所示,该校准烧录系统包括如下模块:
[0170]
配置模块301,用于系统初始化及工作环境配置。
[0171]
获取模块302,用于获取摄像模组拍摄的初始图像。
[0172]
确定模块303,用于根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准参数确定所述摄像模组的图像校准参数。
[0173]
烧录模块304,用于烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器。
[0174]
校验模块305,用于校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结果。
[0175]
在一种实施例中,确定模块303用于对所述初始图像进行图像均匀度处理,得到中间图像;根据所述摄像模组的几何中心参数和所述中间图像获取所述图像校准参数,其中,所述图像校正参数至少包括自动白平衡校正数据和镜头阴影校正数据。
[0176]
在一种实施例中,确定模块303用于对所述中间图像进行光学中心处理,确定所述摄像模组的光学中心参数;根据所述光学中心参数以及所述几何中心参数,确定所述摄像模组的中心偏移量;根据所述中心偏移量确定所述图像校准参数,其中,所述中心偏移量与所述自动白平衡校正数据相对应。
[0177]
在一种实施例中,确定模块303用于根据所述初始图像的中心亮度与所述初始图像的周边亮度的差异,获取电流补正参数;根据所述电流补正参数补正所述初始图像,以得到所述中间图像,其中,所述电流补正参数与所述镜头阴影校正数据相对应。
[0178]
在一种实施例中,烧录模块304用于对所述存储器进行安全检测;在所述安全检测通过后,对所述摄像模组进行污点检测;在所述污点检测通过后,将所述图像校准参数烧录至所述存储器。
[0179]
在一种实施例中,校验模块305用于对校准后的所述摄像模组存储的图像校准参
数进行数据有效性校验;对校准后的所述摄像模组拍摄的校验图像进行画质校验;根据数据有效性校验结果和画质校验结果输出所述摄像模组的良品判定结果。
[0180]
在一种实施例中,校验模块305用于获取所述摄像模组拍摄的初始校验图像;根据所述摄像模组中存储的图像校准参数对所述初始校验图像进行画质处理得到所述校验图像;根据所述校验图像的实际色彩通道取值参数以及标准值对所述校验图像进行画质校验以得到所述画质校验结果。
[0181]
在一种实施例中,校验模块305用于根据所述实际色彩通道取值参数与所述标准值,确定色彩通道取值偏差值;根据所述色彩通道取值偏差值与偏差阈值的比较结果输出所述画质校验的校验结果。
[0182]
在一种实施例中,校验模块305用于对所述图像校准参数中的自动白平衡校正数据进行数据有效性校验;对所述图像校准参数中的镜头阴影校正数据进行数据有效性校验,其中,所述数据有效性校验结果包括所述自动白平衡校正数据的数据有效性校验结果和所述镜头阴影校正数据的数据有效性校验结果。
[0183]
根据上述实施例可知:
[0184]
本发明提供一种校准烧录方法及系统,该校准烧录方法包括获取摄像模组拍摄的初始图像,根据所述初始图像对所述摄像模组进行图像校准确定所述摄像模组的图像校准参数,烧录所述图像校准参数至所述摄像模组的存储器,校验校准后的所述摄像模组以输出所述摄像模组的良品判定结果。本发明实施例通过将校正、烧录和检测功能一体化,缓解了现有技术存在的图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题。
[0185]
综上所述,虽然本技术已以优选实施例揭露如上,但上述优选实施例并非用以限制本技术,本领域的普通技术人员,在不脱离本技术的精神和范围内,均可作各种更动与润饰,因此本技术的保护范围以权利要求界定的范围为准。
再多了解一些

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