老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质与流程

1.本发明涉及服务器自动化测试领域，尤其涉及一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质。


背景技术：

2.服务器产品部件在生产过程中，会通过老化测试来剔除早期失效的产品部件，而老化测试中老化时间的设定会直接影响到服务器产品部件的质量，过短的老化时间会带来较高的产品部件出厂不良率；而过长的老化时间则会降低服务器的生产效率，导致生产过程中的生产成本增加。因此选择合适的老化时间就显得特别重要。
3.现有方案的老化时间选择基本大多都是人工通过经验值对待测试部件进行老化时间的设定，这种基于人工经验值进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节。


技术实现要素：

4.本发明的主要目的在于提供一种老化时间设定方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的技术方案不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。
5.第一方面，本发明提供一种老化时间设定方法，所述老化时间设定方法包括：
6.对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t；
7.基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1；
8.若所述故障率之和不大于第一阈值，则以n 1作为n，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤；
9.若所述故障率之和大于第一阈值，则判断n是否小于m；
10.若n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t；
11.若n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t。
12.可选的，所述基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤包括：
13.将第i个时间段的故障个数ki代入第一预设公式，计算得到待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，第一预设公式如下：
[0014][0015]
其中，λi为待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，m]；
[0016]
将待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率λi代入第二预设公式，计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，第二预设公式如下：
[0017][0018]
其中，ρ为待测试部件组在前n个时间段的故障率之和。
[0019]
可选的，所述设定时长t基于上一批待测试部件组的老化时间设定，其中，第一批待测试部件组的设定时长为默认值。
[0020]
可选的，所述老化时间设定方法，还包括：
[0021]
获取各个待测试部件组的老化时间，其中，各个待测试部件组属于同一目标类型；
[0022]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间。
[0023]
可选的，所述根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间的步骤，包括：
[0024]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定各个待测试部件组的老化时间的众数，以所述众数作为目标类型的老化时间。
[0025]
可选的，所述根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间的步骤，包括：
[0026]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间计算各个待测试部件组的老化时间的平均数，以所述平均数作为目标类型的老化时间。
[0027]
第二方面，本发明还提供一种老化时间设定装置，所述老化时间设定装置包括：
[0028]
记录模块，用于对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t；
[0029]
计算模块，用于基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1；
[0030]
执行模块，用于若所述故障率之和不大于第一阈值，则以n 1作为n，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤；
[0031]
判断模块，用于若所述故障率之和大于第一阈值，则判断n是否小于m；第一设定模块，用于若n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t；
[0032]
第二设定模块，用于若n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t。
[0033]
可选的，所述计算模块，具体用于：
[0034]
将第i个时间段的故障个数ki代入第一预设公式，计算得到待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，第一预设公式如下：
[0035][0036]
其中，λi为待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，m]；
[0037]
将待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率λi代入第二预设公式，计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，第二预设公式如下：
[0038][0039]
其中，ρ为待测试部件组在前n个时间段的故障率之和。
[0040]
第三方面，本发明还提供一种老化时间设定设备，所述老化时间设定设备包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的老化时间设定程序，其中所述老化时间设定程序被所述处理器执行时，实现如上所述的老化时间设定方法的步骤。
[0041]
第四方面，本发明还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有老化时间设定程序，其中所述老化时间设定程序被处理器执行时，实现如上所述的老化时间设定方法的步骤。
[0042]
本发明中，对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t；基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1；若所述故障率之和不大于第一阈值，则以n 1作为n，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤；若所述故障率之和大于第一阈值，则判断n是否小于m；若n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t；若n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t。通过本发明，基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，若故障率之和大于第一阈值，且n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t，若故障率之和大于第一阈值，且n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t，不再依靠人工经验值设定待测试部件的老化时间，通过统计分析即可快速得到待测试部件的老化时间且可以对老化时间的设定进行动态调节，解决了现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。
附图说明
[0043]
图1为本发明实施例方案中涉及的老化时间设定设备的硬件结构示意图；
[0044]
图2为本发明老化时间设定方法一实施例的流程示意图；
[0045]
图3为本发明老化时间设定装置一实施例的功能模块示意图。
[0046]
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0047]
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0048]
第一方面，本发明实施例提供一种老化时间设定设备，该老化时间设定设备可以是个人计算机(personal computer，pc)、笔记本电脑、服务器等具有数据处理功能的设备。
[0049]
参照图1，图1为本发明实施例方案中涉及的老化时间设定设备的硬件结构示意图。本发明实施例中，老化时间设定设备可以包括处理器1001(例如中央处理器central processingunit，cpu)，通信总线1002，用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信；用户接口1003可以包括显示屏(display)、输入单元比如键盘(keyboard)；网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口
(如无线保真wireless-fidelity，wi-fi接口)；存储器1005可以是高速随机存取存储器(random access memory，ram)，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器，存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。本领域技术人员可以理解，图1中示出的硬件结构并不构成对本发明的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
[0050]
继续参照图1，图1中作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及老化时间设定程序。其中，处理器1001可以调用存储器1005中存储的老化时间设定程序，并执行本发明实施例提供的老化时间设定方法。
[0051]
第二方面，本发明实施例提供了一种老化时间设定方法。
[0052]
一实施例中，参照图2，图2为本发明老化时间设定方法一实施例的流程示意图。如图2所示，老化时间设定方法，包括：
[0053]
步骤s10，对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t；
[0054]
本实施例中，待测试部件组所包含的待测试部件至少为2个，若待测试部件组所包含的待测试部件为50个，则对待测试部件组进行老化测试后，记录待测试部件组所包含的50个待测试部件在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t。
[0055]
具体地，记录待测试部件组所包含的50个待测试部件在0至t时间段的故障个数，t至2t时间段的故障个数，2t至3t时间段的故障个数，(m-1)t至mt时间段的故障个数，以此类推，记录待测试部件组在设定时长t的各个时间段的故障个数。
[0056]
步骤s20，基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1；
[0057]
本实施例中，用待测试部件组在第i个时间段的故障个数除以待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数之和，即可得到待测试部件组在第i个时间段的故障率，将前n个时间段的故障率相加，即可计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1。
[0058]
进一步地，一实施例中，步骤s20包括：
[0059]
将第i个时间段的故障个数ki代入第一预设公式，计算得到待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，第一预设公式如下：
[0060][0061]
其中，λi为待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，m]；
[0062]
将待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率λi代入第二预设公式，计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，第二预设公式如下：
[0063][0064]
其中，ρ为待测试部件组在前n个时间段的故障率之和。
[0065]
本实施例中，若i为1，则将第1个时间段的故障个数k1代入第一预设公式，得到待
测试部件组在设定时长t的第1个时间段的故障率，若i为2，则将第2个时间段的故障个数k2代入第一预设公式，得到待测试部件组在设定时长t的第2个时间段的故障率，以此类推，根据待测试部件组在各个时间段的故障个数，可分别计算得到待测试部件组在各个时间段的故障率。其中，第一预设公式如下：
[0066][0067]
其中，λi为待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，m]。
[0068]
若n为3，则将待测试部件组在设定时长t的第1个时间段的故障率λ1，待测试部件组在设定时长t的第2个时间段的故障率λ2，待测试部件组在设定时长t的第3个时间段的故障率λ3代入第二预设公式计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和ρ，其中，ρ＝λ1 λ2 λ3。
[0069]
步骤s30，若所述故障率之和不大于第一阈值，则以n 1作为n，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤；
[0070]
本实施例中，若步骤s20中计算得到的待测试部件组在前n个时间段的故障率之和ρ不大于第一阈值，则n的值增加1，即以n 1作为n，再执行基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤。
[0071]
步骤s40，若所述故障率之和大于第一阈值，则判断n是否小于m；
[0072]
本实施例中，若步骤s20中计算得到的待测试部件组在前n个时间段的故障率之和ρ大于第一阈值，则判断n是否小于m。
[0073]
步骤s50，若n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t；
[0074]
本实施例中，若判断结果为n小于m，则表明待测试部件组的测试时长还未到达设定时长t故障率就已经满足了期望值，则设定待测试部件组的老化时间为n*t。
[0075]
具体地，若设定时长t为3h，t包含的时间段的总个数为3，每个时间段的时长为1h，第一阈值为95％，若前两个时间段的故障率之和为96％，即故障率提前满足了期望值，因为此时n为2，即n小于m，所以设定待测试部件组的老化时间为2*1h＝2h。又因为本批次待测试部件组的设定时长基于上一批待测试部件组的老化时间设定，所以可得知本批次待测试部件组的老化时间由上一批次的3h调整为了2h。
[0076]
步骤s60，若n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t。
[0077]
本实施例中，若判断结果为n等于m，则表明对待测试部件组的测试时长达到设定时长t时，待测试部件组仍然有较高的故障率，可推断在下个时间段待测试部件组的故障率可能依然较高，所以需要增加待测试部件组的设定时长，设定待测试部件组的老化时间为t t，解决了现有方案中对待测试部件的老化时间进行设定时不可以动态调节的缺陷。其中，待测试部件的故障率为待测试部件的功能失效的发生概率。
[0078]
具体地，若设定时长t为3h，t包含的时间段的总个数为3，每个时间段的时长为1h，第一阈值为95％，若前两个时间段的故障率之和为93％，前三个时间段的故障率之和为100％，因为此时n为3，即n等于m，所以设定待测试部件组的老化时间为3h 1h＝4h。又因为
本批次待测试部件组的设定时长基于上一批待测试部件组的老化时间设定，所以可得知本批次待测试部件组的老化时间由上一批次的3h调整为了4h。
[0079]
本实施例中，对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t；基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1；若所述故障率之和不大于第一阈值，则以n 1作为n，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长t的各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤；若所述故障率之和大于第一阈值，则判断n是否小于m；若n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t；若n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t。通过本实施例，基于记录的待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，若故障率之和大于第一阈值，且n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t，若故障率之和大于第一阈值，且n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t，不再依靠人工经验值设定待测试部件的老化时间，通过统计分析即可快速得到待测试部件的老化时间且可以对老化时间的设定进行动态调节，解决了现有方案中对待测试部件进行老化时间的设定的方法不够灵活，无法对老化时间进行动态调节的问题。
[0080]
进一步地，一实施例中，所述设定时长t基于上一批待测试部件组的老化时间设定，其中，第一批待测试部件组的设定时长为默认值。
[0081]
本实施例中，设定时长t基于上一批待测试部件组的老化时间设定，若上一批待测试部件组的老化时间为t，则本批待测试部件组的设定时长为t，进一步地，若本批待测试部件组的老化时间为t t，则下一批待测试部件组的设定时长为t t，其中，第一批待测试部件组设定的老化时间为默认值。
[0082]
进一步地，一实施例中，所述老化时间设定方法，还包括：
[0083]
获取各个待测试部件组的老化时间，其中，各个待测试部件组属于同一目标类型；
[0084]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间。
[0085]
本实施例中，根据上一批待测试部件组的老化时间确定本批次待测试部件组的设定时长，再通过步骤s10至步骤s60，获取本批次待测试部件组的老化时间。以此类推，即可获取各个待测试部件组的老化时间，其中，各个待测试部件组属于同一目标类型。
[0086]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间，即可通过统计分析得到一个科学合理的目标类型的老化时间。其中，目标类型包括cpu，硬盘或内存储器。
[0087]
进一步地，一实施例中，所述根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间的步骤，包括：
[0088]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定各个待测试部件组的老化时间的众数，以所述众数作为目标类型的老化时间。
[0089]
本实施例中，获取各个待测试部件组的老化时间之后，根据获取的各个待测试部件组的老化时间，确定各个待测试部件组的老化时间的众数，以各个待测试部件组的老化时间的众数作为目标类型的老化时间。
[0090]
具体地，获取20个待测试部件组的老化时间后，确定这20个待测试部件组的老化时间的众数，例如，这20个待测试部件组所属目标类型为cpu，且这20个待测试部件组的老
化时间中有5个待测试部件组的老化时间为3h，12个待测试部件组的老化时间为4h，3个待测试部件组的老化时间为5h，这20个待测试部件组的老化时间的众数为4h，则以4h作为cpu的老化时间。
[0091]
进一步地，获取各个待测试部件组的老化时间之后，还可以根据获取的各个待测试部件组的老化时间，以至少连续h个待测试部件组的老化时间都相同的老化时间作为目标类型的老化时间。
[0092]
进一步地，一实施例中，所述根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间的步骤，包括：
[0093]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间计算各个待测试部件组的老化时间的平均数，以所述平均数作为目标类型的老化时间。
[0094]
本实施例中，获取各个待测试部件组的老化时间之后，根据获取的各个待测试部件组的老化时间，计算各个待测试部件组的老化时间的平均数，以各个待测试部件组的老化时间的平均数作为目标类型的老化时间。
[0095]
具体地，若获取了20个待测试部件组的老化时间，且这20个待测试部件组所属目标类型为硬盘，且这20个待测试部件组的老化时间中有5个待测试部件组的老化时间为3h，12个待测试部件组的老化时间为4h，3个待测试部件组的老化时间为5h，计算得到这20个待测试部件组的老化时间的平均数为3.9h，则以3.9h作为硬盘的老化时间。
[0096]
第三方面，本发明实施例还提供一种老化时间设定装置。
[0097]
一实施例中，参照图3，图3为本发明老化时间设定装置一实施例的功能模块示意图。如图3所示，老化时间设定装置，包括：
[0098]
记录模块10，用于对待测试部件组进行老化测试，记录待测试部件组在设定时长t内各个时间段的故障个数，其中，t包含的时间段的总个数为m，每个时间段的时长为t；
[0099]
计算模块20，用于基于记录的待测试部件组在设定时长t的各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，其中，n的初始值为1；
[0100]
执行模块30，用于若所述故障率之和不大于第一阈值，则以n 1作为n，执行所述基于记录的待测试部件组在设定时长t的各个时间段的故障个数计算待测试部件组在前n个时间段的故障率之和的步骤；
[0101]
判断模块40，用于若所述故障率之和大于第一阈值，则判断n是否小于m；
[0102]
第一设定模块50，用于若n小于m，则设定待测试部件组的老化时间为n*t；
[0103]
第二设定模块60，用于若n等于m，则设定待测试部件组的老化时间为t t。
[0104]
进一步地，一实施例中，计算模块20，用于：
[0105]
将第i个时间段的故障个数ki代入第一预设公式，计算得到待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，第一预设公式如下：
[0106][0107]
其中，λi为待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率，i的取值范围为[1，m]；
[0108]
将待测试部件组在设定时长t的第i个时间段的故障率λi代入第二预设公式，计算得到待测试部件组在前n个时间段的故障率之和，第二预设公式如下：
[0109][0110]
其中，ρ为待测试部件组在前n个时间段的故障率之和。
[0111]
进一步地，一实施例中，所述设定时长t基于上一批待测试部件组的老化时间设定，其中，第一批待测试部件组的设定时长为默认值。
[0112]
进一步地，一实施例中，所述老化时间设定装置还包括确定模块，用于：
[0113]
获取各个待测试部件组的老化时间，其中，各个待测试部件组属于同一目标类型；
[0114]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定目标类型的老化时间。
[0115]
进一步地，一实施例中，确定模块，还用于：
[0116]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间确定各个待测试部件组的老化时间的众数，以所述众数作为目标类型的老化时间。
[0117]
进一步地，一实施例中，确定模块，还用于：
[0118]
根据获取的各个待测试部件组的老化时间计算各个待测试部件组的老化时间的平均数，以所述平均数作为目标类型的老化时间。
[0119]
其中，上述老化时间设定装置中各个模块的功能实现与上述老化时间设定方法实施例中各步骤相对应，其功能和实现过程在此处不再一一赘述。
[0120]
第四方面，本发明实施例还提供一种可读存储介质。
[0121]
本发明可读存储介质上存储有老化时间设定程序，其中所述老化时间设定程序被处理器执行时，实现如上述的老化时间设定方法的步骤。
[0122]
其中，老化时间设定程序被执行时所实现的方法可参照本发明老化时间设定方法的各个实施例，此处不再赘述。
[0123]
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
[0124]
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
[0125]
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备执行本发明各个实施例所述的方法。
[0126]
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。