交流穿墙套管的回路电阻测试方法、系统、设备和介质与流程

1.本发明涉及交流穿墙套管的回路测量技术领域，具体涉及交流穿墙套管的回路电阻测试方法、系统、设备和介质。


背景技术：

2.穿墙套管如果出现以下缺陷，回路电阻都将会增大：第一、穿墙套管室内室外两部分在安装连接时工艺不严谨或者端部导体与套管内部导杆连接松动，第二、长时间运行中受各种机械外力(自身重力、外部载荷、温差引起的热胀冷缩、振动、风力等因素)引起接触状态不稳定；第三，套管长期满负荷运行在较高的温度下，使得导体本身及与导体连接的各部位氧化层变厚。这些缺陷可能导致穿墙套管运行过程中发热烧坏，酿成事故。
3.为了检查穿墙套管在制造、安装、检修质量和运行中的健康水平，在出厂试验、交接试验和预防性试验中，都规定必须测量导电回路的直流电阻，以此判定穿墙套管导电回路中有无缺陷。
4.如图1所示，常规回路电阻测试仪原理示意图，回路电阻测试采用直流压降法，在导体两端加直流电流，测量出导体两端的电压降，根据欧姆定律r＝u/i即可算出该段导体的回路电阻。
5.如图2所示，常规的穿墙套管回路电阻测试方法示意图，图中穿墙套管为其俯视图，回路电阻测试仪的电流正极端子i 、电压正极端子v 分别经电流测试线和电压测试线接在套管的室外部分接线掌上，电流负极端子i-、电压负极端子v-分别经电流测试线和电压测试线接在室内部分的接线掌上。由于负极的电流和电流测试线需要绕过墙体，经小门绕行接于套管的室内部分。常规的回路电阻测试仪测试线长度有限，若采用驳接的方式，则会导致测量精度不足；若定制专用测试线，则需要增加电流测试线的截面积，导致测试线重量及成本翻倍，造成测试线展放和收线过程更繁琐耗时，给测试带来不便，难度增大。


技术实现要素：

6.为解决现有技术所存在的技术问题，本发明提供交流穿墙套管的回路电阻测试方法、系统、设备和介质，通过将a、b、c三相交流穿墙套管中的每两相交流穿墙套管组合在墙体一侧的端部短接，通过测量、计算得到各相交流穿墙套管的电阻，简化了测试操作过程，缩短了作业时间，并且提高了测试精度。
7.本发明的第一个目的在于提供交流穿墙套管的回路电阻测试方法。
8.本发明的第二个目的在于提供交流穿墙套管的回路电阻测试系统。
9.本发明的第三个目的在于提供一种计算机设备。
10.本发明的第四个目的在于提供一种存储介质。
11.本发明的第一个目的可以通过采取如下技术方案达到：
12.交流穿墙套管的回路电阻测试方法，所述方法包括：
13.s1、将a相套管、b相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与a相套管、b相套管在
墙体另一侧的端部连接，测量得到a相套管与b相套管的回路电阻之和；
14.s2、将b相套管、c相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与b相套管、c相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到b相套管与c相套管的回路电阻之和；
15.s3、将c相套管、a相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与c相套管、a相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到c相套管与a相套管的回路电阻之和；
16.s4、根据a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和计算得到a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
17.本发明的第二个目的可以通过采取如下技术方案达到：
18.交流穿墙套管的回路电阻测试系统，包括：
19.测量模块，用于将a相套管、b相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与a相套管、b相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到a相套管与b相套管的回路电阻之和；将b相套管、c相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与b相套管、c相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到b相套管与c相套管的回路电阻之和；将c相套管、a相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与c相套管、a相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到c相套管与a相套管的回路电阻之和；
20.运算输出模块，用于根据a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和计算得到a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
21.本发明的第三个目的可以通过采取如下技术方案达到：
22.一种计算机设备，包括处理器以及用于存储处理器可执行程序的存储器，所述处理器执行存储器存储的程序时，实现上述的交流穿墙套管回路电阻测试方法。
23.本发明的第四个目的可以通过采取如下技术方案达到：
24.一种存储介质，存储有程序，所述程序被处理器执行时，实现上述的交流穿墙套管回路电阻测试方法。
25.本发明与现有技术相比，具有如下优点和有益效果：
26.本发明提供的交流穿墙套管的回路电阻测试方法，通过将a、b、c三相交流穿墙套管中的每两相交流穿墙套管组合的室内或室外部分短接起来，通过回路电阻测试仪测量得到每两相交流穿墙套管组合的回路电阻之和，根据所得的回路电阻之和计算得到各相交流穿墙套管的电阻，避免采用驳接的方式导致测量精度不足，也不用定制专用测试线，减少了电流线展放及收线工作，简化了测试操作过程，缩短了作业时间，并且提高了测试精度。
附图说明
27.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
28.图1是常规回路电阻测试仪原理示意图；
29.图2是常规的穿墙套管回路电阻测试方法示意图；
30.图3是本发明实施例1中的交流穿墙套管回路电阻测试方法步骤示意图；
31.图4是本发明实施例1中的交流穿墙套管回路电阻测试方法示意图。
具体实施方式
32.下面将结合附图和实施例，对本发明技术方案做进一步详细描述，显然所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，本发明的实施方式并不限于此。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
33.实施例1：
34.如图3所示，本发明的交流穿墙套管回路电阻测试方法示意图，图中穿墙套管为其俯视图，包括以下步骤：
35.s1、将a相套管、b相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与a相套管、b相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到a相套管与b相套管的回路电阻之和。
36.如图4所示，交流穿墙套管回路电阻测试方法示意图，优选的，所述测量仪器为回路电阻测试仪，回路电阻测试仪的电流正极端子i 、电压正极端子v 分别经电流测试线和电压测试线接在b相套管的室外部分接线掌上；电流负极端子i-、电压负极端子v-分别经电流测试线和电压测试线接在a相套管的室外部分的接线掌上；将a相套管、b相套管的室内部分短接起来；此时通过回路电阻测试仪测量得到a相套管与b相套管回路电阻之和r
ab
。
37.因此负极的电流和电流测试线不需要绕过墙体，不需要经小门绕行接于套管的室内部分，解决了常规的回路电阻测试仪测试线长度有限的问题，避免采用驳接的方式导致测量精度不足，也不用定制专用测试线，避免导致测试线重量及成本翻倍，减少了电流线展放及收线工作，大大地简化了测试操作过程，缩短了作业时间，并且提高了测试精度。
38.s2、将b相套管、c相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与b相套管、c相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到b相套管与c相套管的回路电阻之和。
39.优选的，所述测量仪器为回路电阻测试仪，回路电阻测试仪的电流正极端子i 、电压正极端子v 分别经电流测试线和电压测试线接在c相套管的室外部分接线掌上；电流负极端子i-、电压负极端子v-分别经电流测试线和电压测试线接在b相套管的室内部分的接线掌上；将b相套管、c相套管的室内部分短接起来；此时通过回路电阻测试仪测量得到b相套管与c相套管回路电阻之和r
bc
。
40.s3、将c相套管、a相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与c相套管、a相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到c相套管与a相套管的回路电阻之和。
41.优选的，所述测量仪器为回路电阻测试仪，回路电阻测试仪的电流正极端子i 、电压正极端子v 分别经电流测试线和电压测试线接在c相套管的室外部分接线掌上；电流负极端子i-、电压负极端子v-分别经电流测试线和电压测试线接在a相套管的室内部分的接线掌上；将c相套管、a相套管的室内部分短接起来；此时通过回路电阻测试仪测量得到c相套管与a相套管回路电阻之和r
ca
。
42.s4、根据a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和计算得到a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
43.优选的，根据步骤s1～s3所得的a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和可列出方程组：
[0044][0045]
其中，ra为a相套管的回路电阻，rb为b相套管的回路电阻，rc为c相套管的回路电阻，r
ab
为a相套管与b相套管回路电阻之和，r
bc
为b相套管与c相套管回路电阻之和，r
ca
为c相套管与a相套管回路电阻之和。
[0046]
把方程组(1)改写成向量形式：
[0047][0048]
对向量形式(2)求解，得到：
[0049][0050]
也就是：
[0051][0052]
其中，ra为a相套管的回路电阻，rb为b相套管的回路电阻，rc为c相套管的回路电阻，r
ab
为a相套管与b相套管回路电阻之和，r
bc
为b相套管与c相套管回路电阻之和，r
ca
为c相套管与a相套管回路电阻之和。
[0053]
根据公式(4)可以计算出a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
[0054]
本发明中的交流穿墙套管的回路电阻测试无需定制测试线，减少了电流线展放及收线工作，大大地简化了测试操作过程，缩短了作业时间，并且提高了测试精度。
[0055]
实施例2：
[0056]
本实施例提供了交流穿墙套管的回路电阻测试系统，该系统包括测量模块、和运算输出模块，各个模块的具体功能如下：
[0057]
所述测量模块，用于将a相套管、b相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与a相套管、b相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到a相套管与b相套管的回路电阻之和；将b相套管、c相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与b相套管、c相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到b相套管与c相套管的回路电阻之和；将c相套管、a相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与c相套管、a相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到c相套管与a相套管的回路电阻之和；
[0058]
所述运算输出模块，用于根据a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相
套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和计算得到a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
[0059]
具体的，根据测量模块所得的a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和可列出方程组：
[0060][0061]
其中，ra为a相套管的回路电阻，rb为b相套管的回路电阻，rc为c相套管的回路电阻，r
ab
为a相套管与b相套管回路电阻之和，r
bc
为b相套管与c相套管回路电阻之和，r
ca
为c相套管与a相套管回路电阻之和。
[0062]
把方程组(5)改写成向量形式：
[0063][0064]
对向量形式(6)求解，得到：
[0065][0066]
也就是：
[0067][0068]
其中，ra为a相套管的回路电阻，rb为b相套管的回路电阻，rc为c相套管的回路电阻，r
ab
为a相套管与b相套管回路电阻之和，r
bc
为b相套管与c相套管回路电阻之和，r
ca
为c相套管与a相套管回路电阻之和。
[0069]
根据公式(8)可以计算出a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
[0070]
实施例3：
[0071]
本实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器、计算机等，其包括通过系统总线连接的处理器、存储器、输入装置、显示器和网络接口，该处理器用于提供计算和控制能力，该存储器包括非易失性存储介质和内存储器，该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库，该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境，处理器执行存储器存储的计算机程序时，实现上述实施例1的交流穿墙套管回路电阻测试方法，如下：
[0072]
将a相套管、b相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与a相套管、b相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到a相套管与b相套管的回路电阻之和；
[0073]
将b相套管、c相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与b相套管、c相套管在墙体
另一侧的端部连接，测量得到b相套管与c相套管的回路电阻之和；
[0074]
将c相套管、a相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与c相套管、a相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到c相套管与a相套管的回路电阻之和；
[0075]
根据a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和计算得到a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
[0076]
优选的，所述测量仪器为回路电阻测试仪。
[0077]
实施例4：
[0078]
本实施例提供了一种存储介质，该存储介质为计算机可读存储介质，其存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时，处理器执行存储器存储的计算机程序时，实现上述实施例1的交流穿墙套管回路电阻测试方法，如下：
[0079]
将a相套管、b相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与a相套管、b相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到a相套管与b相套管的回路电阻之和；
[0080]
将b相套管、c相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与b相套管、c相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到b相套管与c相套管的回路电阻之和；
[0081]
将c相套管、a相套管在墙体一侧的端部短接，测量仪器与c相套管、a相套管在墙体另一侧的端部连接，测量得到c相套管与a相套管的回路电阻之和；
[0082]
根据a相套管与b相套管的回路电阻之和、b相套管与c相套管的回路电阻之和、c相套管与a相套管的回路电阻之和计算得到a相套管的回路电阻、b相套管的回路电阻、c相套管的回路电阻。
[0083]
优选的，所述测量仪器为回路电阻测试仪。
[0084]
上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。