用于测试用于产生电流脉冲的电子电路的方法与流程

1.本发明涉及一种用于测试电子电路的方法及一种电子电路。


背景技术：

2.用于提供电流脉冲的电子电路在现有技术中是已知的。借助所述电流脉冲，例如可以以这样的方式对磁力计的复位线圈通电，使得复位磁场转换器的磁状态。这种电路通常包括一个电荷泵，借助它可以将电荷从电压源转移到一个充电电容器中，以及一个低降电压调节器，借助它可以平滑纹波。充电电容器通常与电子电路内的其他部件一起安装，其中，可以将整个电子电路尤其构型为集成电路。集成充电电容器在此可以具有在几百皮法(pf)的范围内的电容。这些电子电路通常以充电电容器上的固定的额定电压值(sollspannungswert)运行。


技术实现要素：

3.本发明的一个任务是使得电子电路能够与外部充电电容器(ladungskondensator)一起运行，并且在此在测试方法中预先求取设置用于充电电容器的目标电压，其中，然后将该目标电压存储在电子电路的存储器中。在此，基于用于电流脉冲的电流路径的电流-电压特性求取目标电压。本发明的另一个任务是提供一种能够使用该方法的电子电路。
4.所述任务是通过根据本发明的用于测试用于产生电流脉冲的电子电路的方法以及根据本发明的用于产生电流脉冲的电子电路来实现的。以下说明本发明的有利的扩展方案。
5.用于产生电流脉冲的电子电路具有电压供应连接部、接地连接部、充电电容器连接部、可调节的直流电压源、存储器和数模转换器。可调节的直流电压源设置用于在接地连接部和充电电容器连接部之间施加直流电压。直流电压源还设置用于由存储在存储器中的目标电压来确定直流电压的值。在此，目标电压已根据下面描述的本发明的方法来求取并被存储在存储器中。附加地，可以提供关于充电电容器的额定电容的信息，其中，在电子电路的运行期间具有所述额定电容的充电电容器连接在接地连接部和充电电容器连接部之间。
6.尤其可以设置，从存储器中读取目标电压的数字值，该数字值通过数模转换器转换为目标电压的模拟值，并且直流电压源具有用于模拟值的输入端，并设置用于在接地连接部和充电电容器连接部之间施加直流电压。此外，可以在存储器和数模转换器之间布置计算单元，在将目标电压进一步传递到数模转换器之前，借助该计算单元进一步处理从存储器中获取的目标电压，并且如果需要，基于另外的参数进行改变。直流电压源可以包含一个电荷泵。
7.一种测试用于产生电流脉冲的电子电路的方法，包括以下步骤：
[0008]-在接地连接部和充电电容器连接部之间连接具有预给定电容的充电电容器；
[0009]-在接地连接部和充电电容器连接部之间切换(schalten)至少一个电流路径；
[0010]-在接地连接部和充电电容器连接部之间施加预先给定的测量参数；
[0011]-确定接地连接部和充电电容器连接部之间的测量参量
[0012][0013]-根据测量参量求取目标电压；
[0014]-将目标电压存储在存储器中。
[0015]
待产生的电流脉冲在此尤其可以流过在所述方法期间切换的电流路径。从而对于每个电子电路在生产后都能够执行所述用于测试电子电路的方法，然后将目标电压存储在存储器中。可以设置，直流电压的值对应于目标电压的值。然而在其他实施方式中，也可以设置不同的关系。预给定的电容可以对应于用于运行电子电路的充电电容器的额定电容。
[0016]
电流脉冲在此可以借助恒流源产生，其中施加电流作为预给定的恒定测量参数并且测量所得电压作为测量参量。替代地，电流脉冲可以借助恒压源产生，其中施加电压作为预给定的恒定测量参数并且测量所得电流作为测量参量。测量参数在此可以具有预给定的固定值，而测量参量代表可变值。
[0017]
在所述电子电路的一个实施方式中，所述电子电路还具有磁力计的转换器和多个励磁线圈，其中励磁线圈是至少一个电流路径的一部分。励磁线圈可以是例如磁力计的复位线圈。然后可以使用电流脉冲来重置磁场转换器的磁状态。在用于测试电子电路的方法中，然后可以使用具有励磁线圈的电流路径的电流-电压特性来求取目标电压。
[0018]
原则上，对于测试电子电路的方法可以使用两个不同的运行模式。在此，可以将充电电容器连接部处预给定电流强度引入到电子电路中，并且可以将接地连接部和充电电容器连接部之间的电压降视为测量参量。替代地，可以在接地连接部和充电电容器连接部之间施加预给定电压，并且可以将流过充电电容器连接部的电流强度视为测量参数。此外，多个电流路径可以在电子电路内并联连接。
[0019]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，测量参数是在充电电容器连接部处预给定的电流强度，测量参量是电压。
[0020]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，多个电流路径被依次切换到导通。在充电电容器连接部处预给定的电流强度大于目标电流强度。对于每个电流路径，确定接地连接部和充电电容器连接部之间的、被确定为测量参量的电压。目标电压对应于为不同电流路径求取的电压的最大值。电子电路在此可以如此构型，使得耗电器布置在电流路径内，例如磁力计的励磁线圈，并且电流路径中的每个可以被切换为单独导通。励磁线圈也可称为复位线圈。
[0021]
通过所述方法能够实现，布置在不同电流路径中的可以对应于磁力计的励磁线圈的耗电器分别以这样的方式被通电，使得可供使用的电流脉冲的电流强度足够大。这通过以下方式进行：将在测试期间所求取的最大电压针对电流路径之一选择为目标电压。
[0022]
在一个实施方式中，电子电路具有测试连接部。所述测试连接部可以分别与电流路径之一的第一端和第二端连接。然后，用于测试电子电路的方法如此进行：将多个电流路径切换到并联导通；所述方法包括以下步骤：
[0023]-对充电电容器连接部施加大于目标电流强度的预给定电流强度；
[0024]-测量接地连接部和充电电容器连接部之间的相关电压；
[0025]-将测试连接部与电流路径的第一端连接；
[0026]-测量充电电容器连接部与测试连接部之间的第一电压降；
[0027]-将测试连接部与电流路径的第二端连接；
[0028]-测量接地连接部和测试连接部之间的第二电压降；
[0029]-更换到下一个电流路径；
[0030]-根据针对每个电流路径测量的电压以及针对每个电流路径测量的第一电压降和第二电压降来求取目标电压。
[0031]
在该实施方式中可以设置，在电子电路的正常运行中，具有多个耗电器、例如磁力计的励磁线圈的多个电流路径同时导通。为了确定目标电压，使用附加的测试连接部，借助附加的测试连接部能够确定单个电流路径的特性。
[0032]
此外可以设置，电流路径在正常运行时切换到并联导通，但在执行该方法时切换到单独导通。在这种情况下，每个电流路径被单独地切换到导通并且该方法如所描述的针对每个电流路径单独地执行。
[0033]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，目标电压对应于针对电流路径测量的电压的总和以及其他电流路径的第一电压降和第二电压降的总和，其中，在电流路径中测得的电压是针对不同电流路径求取的电压的最大值。这是确定目标电压的一个简单的可能性。
[0034]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，针对电流路径的预给定几何布置降低目标电压。尤其可能有用的是：针对不同电流路径求取的电压的最大值远大于在其余电流路径中求取的电压，并且例如在磁力计的情况下，在另外的电流路径中还存在另外的励磁线圈，借助另外的励磁线圈能够补偿降低的目标电压。
[0035]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，测量参数是电压并且测量参量是电流强度。
[0036]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，对电流路径之一在接地连接部和充电电容器连接部之间施加第一预给定电压。然后将相应的电流路径对于预给定时间段切换到导通。然后测量接地连接部和充电电容器连接部之间的剩余电压(verbleibende spannung)，并由此计算流过的电流。所述流过的电流可以被称为第一电流值。然后在接地连接部和充电电容器连接部之间施加第二预给定电压。然后将相应的电流路径对于预给定时间段切换到导通。然后测量接地连接部和充电电容器连接部之间的剩余电压，并由此计算流过的电流。所述流过的电流可以被称为第二电流值。根据流过的电流计算电容器电压的额定值(sollwert)。然后针对其他电流路径重复所描述的方法步骤，其中目标电压对应于电容器电压的额定值的最大值。所述电子电路在此可以如此构型，使得耗电器布置在电流路径内，例如磁力计的励磁线圈内，并且每个电流路径可以被切换为单独导通。这使得能够针对每个电流路径测试多个预给定电压，并且例如借助二分法或外推法求取目标电压。可以针对其他的预给定电压重复这些步骤，直到达到接近目标电流强度的电流值。此处施加的预给定电压则对应于目标电压。
[0037]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，对于每个预给定电压，对于预给定时间段，每个电流路径多次被切换到导通，其中，预给定电压仅在开始时被施加。由此生成多个第一电流值或多个第二电流值，根据分别预先给定的电压，由所述多个第一电流值
或多个第二电流值分别计算第一电流值或第二电流值的最佳估计。这使得能够更精确地进行目标电压的确定。
[0038]
在用于测试电子电路的方法的一个实施方式中，同时将电流路径切换到导通。然后在接地连接部和充电电容器连接部之间施加第一预给定电压，然后电流路径对于预给定时间段被切换到导通。然后测量接地连接部和充电电容器连接部之间的剩余电压，并由此计算流过的电流。所述流过的电流可以被称为第一电流值。然后在接地连接部和充电电容器连接部之间施加第二预给定电压，然后电流路径对于预给定时间段被切换到导通。然后测量接地连接部和充电电容器连接部之间的剩余电压，并由此计算流过的电流。所述流过的电流可以被称为第二电流值。然后根据流过的电流计算电容器电压的额定值，其中，基于所述额定值求取目标电压。对于预给定电压中的每个，电流路径也可以对于预给定时间段多次被切换到导通，其中预给定电压仅在开始时被施加。由此生成多个第一电流值或多个第二电流值，根据分别预先给定的电压，由所述多个第一电流值或多个第二电流值分别计算第一电流值或第二电流值的最佳估计。这使得能够更精确地进行目标电压的确定。
[0039]
该实施方式中可以设置，在电子电路的正常运行中，具有多个耗电器、例如磁力计的励磁线圈的多个电流路径同时导通。
[0040]
在一个实施发送中，电子电路具有温度传感器。直流电压源设置用于在求取直流电压值时考虑目标电压和温度。在用于测试电子电路的方法中，目标电压然后以这样的方式被匹配，使得在预给定温度范围内，针对所有温度经匹配的目标电压高于通过所述方法求取的目标电压。因此，与测试过程中存在的温度相比，可以在运行期间考虑并补偿电子电路的温度偏差。
附图说明
[0041]
参考以下附图解释本发明的实施例。在示意图中示出：
[0042]
图1示出一个电子电路；
[0043]
图2示出另一电子电路；
[0044]
图3示出另一电子电路；
[0045]
图4示出另一电子电路；
[0046]
图5示出另一电子电路；
[0047]
图6示出另一电子电路；和
[0048]
图7示出温度变化过程图。
具体实施方式
[0049]
图1示出了用于产生电流脉冲的电子电路1，其具有电压供应连接部11、接地连接部12、充电电容器连接部13、可调节的直流电压源2、存储器3和数模转换器。可调节的直流电压源2设置用于在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加直流电压。此外，直流电压源2设置用于根据存储在存储器3中的目标电压来求取直流电压的值。尤其可以设置，从存储器3中读出目标电压的数字值，该数字值通过数模转换器4被转换为目标电压的模拟值，直流电压源2具有用于所述模拟值的输入端21并设置用于在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加直流电压。在存储器3和数模转换器4之间布置可选的计算单元31，在
目标电压被进一步传递给数模转换器4之前借助该计算单元进一步处理从存储器3中获取的目标电压，并且必要时基于其他的参数进行改变。电子电路1在此可以构型为集成电路，例如在芯片中。
[0050]
尤其可以设置，从存储器3读取目标电压的数字值，借助数模转换器4将该数字值转换为目标电压的模拟值，直流电压源2具有用于所述模拟值的输入端21并设置用于在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加直流电压。直流电压源2可以包含电荷泵。
[0051]
在电子电路1的生产之后，可以执行用于测试电子电路1的方法。所述方法包括以下步骤：
[0052]-在接地连接部12和充电电容器连接部13之间连接具有预给定电容的充电电容器101；
[0053]-在接地连接部12和充电电容器连接部13之间切换电流路径5；
[0054]-在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加预给定的测量参数；
[0055]-确定接地连接部12和充电电容器连接部13之间的测量参量；
[0056]-根据所述测量参量求取目标电压；
[0057]-将目标电压存储在存储器中3。
[0058]
电子电路1可以包括根据该方法求取并存储在存储器3中的目标电压。为了切换电流路径5，如图1所示的电子电路1可以具有开关6和开关控制器61。此外，示出了充电电容器101的第一电容器连接部111和第二电容器连接部112，其中，可以通过电容器连接部111、112引入测量参数并且能够在电容器连接部111、112处测量测量参量。例如，开关6可以构型为晶体管。充电电容器101在此可以具有电容，所述电容不能低成本地集成到集成电路中，例如用于高功率脉冲。电容可以至少为1μf，即1微法拉。充电电容器101和电容器连接部111、112可以不是根据本发明的电子电路1的一部分。
[0059]
图1中可选地示出磁力计7的转换器72和励磁线圈71，其中励磁线圈71是电流路径5的一部分。原则上，本发明可以很好地用于这样的磁力计7，但是也可以设想限定的电流脉冲流过电流路径5的其他用途。励磁线圈71可以例如是磁力计7的复位线圈。然后电流脉冲可以用于重置转换器72的磁状态。在用于测试电子电路1的方法中，然后可以使用具有励磁线圈71的电流路径5的电流-电压特性来求取目标电压。
[0060]
图2示出电子电路1，其除了下面描述的不同之处外，对应于图1的电子电路1。在该实施例中，电子电路1包括两个电流路径5，第一电流路径51和第二电流路径52。两个电流路径5均具有开关6，所述开关可以借助开关控制器61进行切换。因此每个电流路径都可以单独切换到导通。也可以设置多于两个的电流路径。如果电子电路1具有磁力计7，则励磁线圈71可以以类似于图1的方式布置在每个电流路径5中。
[0061]
原则上，对于用于测试电子电路的方法1可以使用两个不同的运行模式。在此，可以将充电电容器连接部13处预给定电流强度引入电子电路1，并且可以将接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压降视为测量参量。替代地，可以在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加预给定电压，并且可以将流过充电电容器连接部13的电流强度视为测量参数。这可以通过使用第一电容器连接部111和第二电容器连接部112来实现。
[0062]
此外，可以区分两个应用情况。在第一应用情况中，电流路径5在正常运行中在时间上依次被运行并且因此可以单独地被切换。下面描述了这个应用情况。
[0063]
在一个实施例中，测量参数是在充电电容器连接部13处预给定电流强度，并且测量参量是接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压。多个电流路径5，例如第一电流路径51和然后第二电流路径52，依次地切换到导通。在充电电容器连接部13处预给定电流强度大于目标电流强度。对于每个电流路径5，确定接地连接部12和充电电容器连接部13之间的作为测量参量的电压。目标电压对应于针对不同的电流路径5求取的电压的最大值。
[0064]
在此可以使用以下算法：
[0065]
对于i＝1到n(n是电流路径5的数量)
[0066]-在充电电容器连接部13到接地连接部12之间切换第i个电流路径5到导通；
[0067]-将预给定电流强度施加到充电电容器连接部13，例如借助第二电容器连接部112(在此可以如此进行安全附加
[0068]
(sicherheitszuschlag)，使得预给定电流强度大于目标电流强度)；
[0069]-测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压，例如在电容器连接部111、112处
[0070]-停止施加的电流；
[0071]-切换第i个电流路径5到不导通(sperrend)；
[0072]
更换到下一个i，即到下一个电流路径5；
[0073]
在遍历所有n个周期后，计算目标电压，目标电压是区间[1；n]内所有i上测得的电压的最大值。
[0074]
在一个实施例中，测量参数是接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压，并且测量参量是流过充电电容器连接部13的电流强度。尽管此处可以直接测量，但是优选考虑使用电流强度的间接测量，如下所述，因为如此能够减少所施加的电流脉冲的持续时间，并且由此可以减少电流路径5上的负载，并且如此能够减少测试方法对电子电路1的影响。
[0075]
对于电流路径5中的一个电流路径，例如第一电流路径51，在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加第一预给定电压。然后第一电流路径51对于预给定时间段被切换到导通。在经过该时间段之后，测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的剩余电压并且由此计算已经流过的电流。然后在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加第二预给定电压。然后第一电流路径51对于预给定时间段被切换到导通。在经过该时间段之后，测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的剩余电压并且由此计算已经流过的电流。根据流过的电流计算电容器电压的额定值。现在对其他电流路径5重复所描述的方法步骤，在此例如是第二电流路径52。目标电压现在对应于电容器电压额定值的最大值。电容器电压的额定值可以借助二分算法确定。
[0076]
在一个实施例中，对于预给定电压中的每个，每个电流路径5多次被切换到导通，并且分别计算已经流过的电流，其中在确定电容器电压的额定值时考虑计算得到的电流。
[0077]
在此可以使用以下算法：
[0078]
对于i＝1到n(n是电流路径5的数量)
[0079]-调用测试模式，该模式如此配置从充电电容器连接部13到接地连接部12的相应第i个电流路径5，使得第i个电流路径可以分别对于预给定时间段δt切换到导通；
[0080]-对于j＝1到p(具有p个预给定电压的搜索算法，例如二分法算法，其中假设p个周
期是足够的)；
[0081]
ο在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加第j个预给定测试电压v
s,j
(i)；
[0082]
ο测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压v
s,j,0
(i)(对于j＝1，测得的电压对应于预给定的测试电压)；
[0083]
ο对于k＝1到q(电流强度的q个计算点，q原则上也可以为1)；
[0084]
·
切换在充电电容器连接部13和接地连接部12之间的第i个电流路径5到导通；
[0085]
·
等待时间间隔δt；
[0086]
·
切换第i个电流路径5到不导通；
[0087]
·
测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压v
s,j,k
(i)；
[0088]
·
计算从充电电容器101获取的电流：
[0089]is,j,k
(i)＝c
ext
[v
s,j,k
(i)-v
s,j,k-1
(i)]/δt(在此c
ext
为充电电容器101的电容)；
[0090]
ο更换到下一个k，即电流强度的下一个计算点；
[0091]
ο根据电流的q个测量点，确定预给定电压v
s,j
(i)的最佳电流估计值i
s,j
(i)；
[0092]
ο如果i
s,j
(i)》i
tgt,0
(i)并且|i
s,j
(i)-i
s,j-1
(i)|《ei,其中i
tgt,0
(i)对应于目标电流强度并且ei为最大容许误差，电容器电压的额定值为vs(i)＝v
s,j
(i)并且无需考虑其他j；
[0093]-否则，使用搜索算法的下一个预给定测试电压，算法的实施继续到下一个j；
[0094]
现在可以将目标电压v
tgt,0
计算为针对在区间[1；n]内所有i的电容器电压vs(i)额定值的最大值。
[0095]
在第二应用情况中设置，电流路径5在正常运行中同时运行。而在执行该方法的同时电流路径5可以被单独运行。替代地，可以设置，在执行该方法的同时，电流路径5也并联运行，例如通过将开关6切换为并联导通或不导通。
[0096]
图3示出电子电路1，其除了下面描述的不同之处外，对应于图2的电子电路1。电流路径51和52并联连接并具有共用的开关6，使得第一电流路径51和第二电流路径52只能同时被切换到导通或不导通，而不能相互独立。也可以设置多于两个的电流路径。如果电子电路1具有磁力计7，则在每个电流路径5中励磁线圈71可以以类似于图1的方式布置。原则上，在此针对用于测试电子电路1的方法可以再次使用的两个不同的运行模式。在这种情况下，可以将充电电容器连接部13处预给定电流强度引入电子电路1，并且可以将接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压降视为测量参量。替代地，可以在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加预给定电压，并且可以将流过充电电容器连接部13的电流强度视为测量参数。这可以通过使用第一电容器连接部111和第二电容器连接部来实现。
[0097]
在一个实施例中，测量参数是接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压，并且测量参量是流过充电电容器连接部13的电流强度。直接测量在这里再次是可能的，但是由于电流脉冲的持续时间较短，电流强度的间接测量再次是优选的，如上所述。该方法如下所述执行。
[0098]
在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加第一预给定电压。然后电流路径5、即第一电流路径51和第二电流路径52对于预给定的时间段被切换到导通，然后测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的剩余电压并且由此计算流过的电流。然后在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加第二预给定电压。然后电流路径5对于预给定的时间段被切换到导通，然后测量接地连接部和充电电容器连接部之间的剩余电压并且由此计
算流过的电流。电容器电压的额定值由所述流过的电流计算，其中目标电压基于额定值求取。
[0099]
在一个实施例中，电流路径5针对预给定电压的每个多次被切换到导通，并且分别计算所述流过的电流，其中在确定电容器电压的额定值时考虑所计算的电流。
[0100]
如果在执行该方法时所有开关6总是同时被切换到导通或不导通，代替图3的电子电路1，则该方法也可以用于图2的电子电路中。
[0101]
在此可以使用以下算法：
[0102]
调用测试模式，该模式如此配置从充电电容器连接部13到接地连接部12的电流路径5，使得电流路径5对于预给定时间段δt可以同时导通；
[0103]
对于j＝1到p(具有p个预给定电压的搜索算法，例如二分法算法，其中假设p个周期是足够的)；
[0104]-在接地连接部12和充电电容器连接部13之间施加第j个预给定测试电压v
s,j
；
[0105]-测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压(对于j＝1，测量的电压对应于预给定的测试电压)；
[0106]-对于k＝1到q(电流强度的q个计算点，q原则上也可以为1)；
[0107]
ο将充电电容器连接部13和接地连接部12之间的电流路径5切换到导通；
[0108]
ο等待时间间隔δt；
[0109]
ο将电流路径5的切换到不导通；
[0110]
ο测量接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压v
s,j,k
；
[0111]
ο计算从充电电容器101获取的电流：
[0112]is,j,k
＝c
ext
[v
s,j,k-v
s,j,k-1
]/δt(在此c
ext
为充电电容101的电容)；
[0113]-更换到下一个k，即电流强度的下一个计算点；
[0114]-基于电流的q个测量点，确定对于预给定电压v
s,j
的最佳电流估计值i
s,j
；
[0115]-如果i
s,j
》i
tgt,0
并且i
s,j-i
s,j-1
|《ei，其中i
tgt,0
对应目标电流强度，ei为最大容许误差，则电容器电压的额定值为vs＝v
s,j
并且无需再考虑其他j；
[0116]
否则，使用搜索算法的下一个预给定测试电压，算法的实施继续到下一个j；
[0117]
现在可以将目标电压v
tgt,0
计算为针对在区间[1；n]内所有i的电容器电压v
tgt,0
额定值的最大值。
[0118]
图4示出电子电路1，其除了下面描述的不同之处外，对应于图3的电子电路1。电子电路1具有测试连接部14。测试连接部14可以分别与电流路径5的第一端53和第二端54连接。这通过具有三个开关元件81的切换开关8进行，每个开关元件可以借助开关控制来切换。在此开关元件81可以是晶体管。如图3所示，第一电流路径51和第二电流路径52可以通过一个共同的开关6进行切换。在图4中的用于测试的电子电路1的方法中，测量参数是在充电电容器连接部13处预给定的电流强度并且测量参量是接地连接部12和充电电容器连接部13之间的电压。
[0119]
图5示出电子电路1，其除了下面描述的不同之处外，对应于图3的电子电路1。电子电路1在此在每个电流路径5中分别具有一个开关6，也如结合图2所解释的。在此电流路径5的第二端54布置在开关6下方。
[0120]
执行以下步骤：
[0121]-在充电电容器连接部13处施加预给定电流强度，该预给定电流强度大于目标电流强度；
[0122]-测量接地端12和充电电容端13之间的相关电压；
[0123]-将测试连接部14与电流路径5的第一端53连接；
[0124]-测量充电电容器连接部13和测试连接部14之间的第一电压降；
[0125]-将测试连接部14与电流路径5的第二端54连接；
[0126]-测量接地连接部12与测试连接部14之间的第二电压降；
[0127]-更换到下一个电流路径5；
[0128]-根据针对每个电流路径5测量的电压以及针对每个电流路径5测量的第一电压降和第二电压降求取目标电压。
[0129]
因此，对于第一电流路径51然后对于第二电流路径52，能够依次执行该方法，其中，对于电流路径51、52中的每个并且必要时对于其他电流路径5测量充电电容器连接部13和测试连接部14之间的第一电压降并且测量接地连接部12和测试连接部14之间的第二电压降。
[0130]
在一个实施例中，目标电压对应于针对电流路径5测量的电压的总和以及其他电流路径5的第一电压降和第二电压降的总和，其中，在电流路径5中测量的电压是针对不同电流路径求取的电压的最大值。
[0131]
对于每个电流路径5的目标电流强度可能不同。可以使用以下算法：
[0132]
对于i＝1到n(n是电流路径的数量5)；
[0133]-将预给定的电流强度施加到充电电容器连接部13，例如借助第二电容器连接部112(在此可以如此进行安全附加，使得预给定的电流强度大于目标电流强度)；
[0134]-测量接地连接部12与充电电容器连接部13之间的电压vs(i)；
[0135]-将测试连接部14与第i个电流路径5的第一端53连接；
[0136]-测量测试连接部14和充电电容器连接部13之间的第一电压降v
dropcap
(i)；
[0137]-将测试连接部14与第i个电流路径5的第二端54连接；
[0138]-测量测试连接部14和接地连接部12之间的第二电压降v
dropgnd
(i)；
[0139]-停止施加的电流；
[0140]-断开到测试连接部14的连接，例如通过断开开关元件81；
[0141]-更换到下一个i，即到下一个电流路径5；
[0142]
根据针对每个电流路径5测量的电压、针对每个电流路径5测量的第一电压降和第二电压降计算目标电压v
tgt,0
。
[0143]
因此，所述方法可以首先针对第一电流路径51执行，然后针对第二电流路径52执行，然后针对可能存在的其他电流路径5执行。针对电流路径5、51、52中的每个电流路径测量第一电压降和第二电压降。
[0144]
目标电压v
tgt,0
可以是针对所有电流路径5的测量电压vs(i)的最大值(其中i＝m应适用于最大值)，其中可以设置，将所有其他电流路径的第一电压降的总和(σ
i≠mvdropcap
(i))和所有其他电流路径的第二电压降的总和(σ
i≠mvdropgnd
(i))分别添加到测量电压vs(i)的最大值，其中v
dropcap
代表充电电容器连接部13上的第一电压降，v
dropgnd
代表接地连接部12上的第二电压降。
[0145]
如果测试连接部14与第i个电流通路5的第一端53连接，在测量测试连接部14与充电电容器连接部13之间的第一电压降v
dropcap
(i)时，可以求取充电电容器连接部13与第i个电流通路5的第一端之间的电压降。如果测试连接部14与第i个电流路径5的第二端54连接，在测量测试连接部14与接地连接部12之间的第二电压降v
dropgnd
(i)时，可以求取接地连接部12与第i个电流路径5的第二端54之间的电压降。
[0146]
每个电流路径5的目标电流强度可以不同。于是可以使用以下算法：
[0147]
对于i＝1到n(n是电流路径5的数量)；
[0148]-如此切换开关6，使得第i个电流路径导通；
[0149]-将预给定的电流强度施加到充电电容器连接部13，例如借助第二电容器连接部112(在此可以如此进行安全附加，使得预给定电流强度大于目标电流强度)；
[0150]-测量接地连接部12与充电电容器连接部13之间的电压vs(i)；
[0151]-将测试连接部14与第i个电流路径5的第一端53连接；
[0152]-测量测试连接部14与充电电容器连接部13之间的第一电压降v
dropcap
(i)；
[0153]-将测试连接部14与第i个电流路径5的第二端54连接；
[0154]-测量测试连接部14和接地连接部12之间的第二电压降v
dropgnd
(i)；
[0155]-停止施加的电流；
[0156]-如此切换开关6，使得第i个电流路径不再导通；
[0157]-断开与测试连接部的连接，例如通过断开开关元件81；
[0158]
更换到下一个i，即到下一个电流路径5；
[0159]
在执行n个周期后，目标电压v
tgt,0
被计算为针对所有电流路径5的测量电压vs(i)的最大值(其中i＝m应适用于最大值)，其中可以设置，分别将针对所有其他电流路径的第一电压降的总和(σ
i≠mvdropcap
(i))和针对所有另外的电流路径的第二电压降的总和(σ
i≠m v
dropgnd
(i))分别添加到测量电压vs(i)的最大值，其中v
dropcap
代表充电电容器连接部13上的第一电压降，v
dropgnd
代表接地连接部12上的第二电压降。
[0160]
如果测试连接部14与第i个电流路径5的第一端53连接，在测量测试连接部14与充电电容器连接部13之间的第一电压降v
dropcap
(i)时，可以求取充电电容器连接部13和第i个电流路径5的第一端之间的电压降。如果测试连接部14与第i个电流路径5的第二端54连接，在测量测试连接部14和接地连接部12之间的第二电压降v
dropgnd
(i)时，可以求取接地连接部12与第i个电流路径5的第二端54之间的电压降。
[0161]
在一个实施例中，针对电流路径5的预给定几何布置降低目标电压。如果针对不同电流路径5求取的电压的最大值远大于在其余电流路径5中求取的电压，则这是特别有用的，并且例如在磁力计7的情况下，在其他电流路径5中存在有其他励磁线圈71，降低的目标电压可以借助所述其他励磁线圈来补偿。
[0162]
在此，可以使用以下算法：
[0163]
如果
[0164]vs
(m)》vs(j) δv(j)并且vs(j) δv(j)》vs(i)；
[0165]
其中
[0166]
j属于电流路径5的预给定子集j；
[0167]
i不是具有最大电压的电流路径；
[0168]vs
(m)设置为值vs(j) δv(j)，其中，然后可以在计算目标电压时使用该值。
[0169]
如果属于子集j的第j个电流路径5可用于补偿第m个电流路径中减小的电流，例如如果第j个电流路径5的励磁线圈71和第m个电流路径的励磁线圈71在空间上彼此靠近布置，于是磁场包括两个线圈的磁场的叠加，则这尤其是有意义的。
[0170]
图6示出电子电路1，其除了下面描述的不同之处外，对应于图4的电子电路1。电子电路1具有与计算单元31连接的温度传感器9。直流电压源2在求取直流电压的值时可以考虑目标电压和温度。这可以例如由此实现：计算单元31根据温度改变目标电压。此外，还可以在测试方法期间如此改变所求取的目标电压，使得在预给定温度范围内，对于所有温度经匹配的目标电压高于通过该方法求取的目标电压。尤其可以设置，所述目标电压是在标准温度下求取的，并且借助基于模型和/或实验求取的、关于电流路径5的知识，由在标准温度下求取的目标电压计算针对指定温度范围附近的所有其他温度的目标电压。在此还可以设置，考虑耗电器的参数，例如励磁线圈71。
[0171]
图7示出具有温度轴121和目标电压轴122的图表120，其中绘制了目标电压131的变化过程133。目标电压131的变化过程133在此绘制在最低温度123和最高温度124之间，其中，标准温度125例如能够对应于执行所述方法时存在的温度。此外，示出经匹配的目标电压132的变化过程134，对于最低温度123和最高温度124之间的所有温度，经匹配的目标电压的变化过程在目标电压131变化过程133之上。经匹配的目标电压132的变化过程134在此是直线，但也可以不同地构型。
[0172]
对于所有描述的方法，可以由标准温度125下的目标电压131求取经匹配的目标电压132。对于最低温度123和最高温度124之间的温度，经匹配的目标电压132的变化过程134可以如此由(借助基于模型和/或实验求取的、关于电流路径5的知识)在标准温度125下求取的目标电压131计算，使得对于最低温度123和最高温度124之间的所有温度，经匹配的目标电压132的变化过程134位于目标电压131的变化过程133上方，其中目标电压131的变化过程133必要时借助基于模型和/或实验求取的、关于电流路径5的知识计算。目标电流强度取决于电流路径5的电导率和目标电压，并且就其而言又可以与温度相关。电流路径5的电导率可以取决于目标电压并且同样取决于温度。可以使用以下公式计算对于标准温度t0的目标电流强度i
tgt,0
(图7中的附图标记125)，其中g是电导率，v
tgt,0
是标准温度t0下的目标电压：
[0173]itgt,0
＝g(v
tgt,0
,t0)v
tgt,0
[0174]
与温度相关的目标电流强度可以借助以下等式来描述：
[0175]itgt
(t)＝i
tgt,0
(1 fi(t-t0))
[0176]
因此得到电导率：
[0177]
g(v,t)＝g(v
tgt,0
,t0)(1 fg(v-v
tgt,0
,t
–
t0))
[0178]
因此，目标电压也取决于温度：
[0179]vtgt
(t)＝i
tgt
(t)/g(v
tgt
,t)
[0180]
＝i
tgt,0
(1 fi(t-t0))/g(v
tgt,0
,t0)(1 fg(v
tgt-v
tgt,0
,t
–
t0))
[0181]
＝v
tgt,0
(1 fv(v
tgt-v
tgt,0
,t
–
t0))
[0182]
函数fi和fg可以借助特征化(charakterisierung)和模拟来求取。然后可以找到一个简单(例如线性)的函数：
[0183]vtgt
*(t)＝v
tgt,0
*(1 a(t
–
t0))
[0184]
使得对于最低温度和最高温度之间的所有温度适用：
[0185]vtgt
*(t)≥v
tgt
(t)
[0186]
所述经温度补偿的目标电压对应于v
tgt
*(t)的函数，然后可以通过以下方式来确定：选择足够的v
tgt
(t)附加值(zuschlag)并借助函数v
tgt
(t)来评估系数a。由此可以得到图7中的图示。
[0187]
结合图6和7描述的方法也可以应用于图1至3和5的电子电路1并且不限于图4的电子电路1。
[0188]
尽管通过优选的实施例详细描述本发明，但是本发明不限于所公开的实施例，并且本领域技术人员可以从中得出其他变化而不脱离本发明的保护范围。