一种SSD测试装置的制作方法

一种ssd测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及固态硬盘技术领域，具体是涉及一种ssd测试装置。


背景技术：

2.固态硬盘(solid state drives)，简称ssd，是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元(flash芯片、dram芯片)组成。ssd产品出货之前需要经过一系列的测试，以验证产品是否为合格产品，确认是合格产品后才能销售给客户使用。由于固态硬盘出货量非常大，现有的ssd测试装置只能逐一的进行测试，测试效率低，测试工作量大。因此如何实现大批量ssd的快速测试是目前需要解决的问题。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是为了克服上述背景技术的不足，提供一种可高效的对大批量的固态硬盘进行测试的ssd测试装置。
4.本实用新型提出的一种ssd测试装置，包括：
5.测试计算机，包括pc主板，所述pc主板上设置有卡槽；
6.扩展卡，插设在所述pc主板的卡槽上；
7.测试背板，与所述pc主板通过控制线缆连接，所述测试背板还与所述扩展卡通过高速线缆连接；以及
8.至少两个测试转板，插设在所述测试背板上，并通过所述高速线缆与所述扩展卡连接；
9.其中，被测固态硬盘插接在所述测试转板的插座上。
10.进一步，所述测试转板和所述高速线缆分别有多个，且每个所述测试转板通过独立的一条所述高速线缆与所述扩展卡连接。
11.进一步，所述测试转板上设置有sata接口插座。
12.进一步，所述测试转板上设置有pcie接口插座。
13.进一步，所述扩展卡为sata扩展卡或pcie扩展卡，所述扩展卡与所述卡槽拔插式连接。
14.进一步，所述测试转板上设置有电信号连接的mcu模块和电源开关模块，所述mcu模块与所述pc主板电信号连接，所述电源开关模块与所述测试转板的插座电信号连接用于插座的供电或断电。
15.与现有技术相比，本实用新型的优点如下：通过在测试背板上设置至少两个测试转板，可同时进行至少两个固态硬盘的测试。当需要进行大批量测试时，增加测试背板上测试转板的数量，即可进行固态硬盘的大批量高效测试，有效提高固态硬盘测试工作的效率。
附图说明
16.图1是本实用新型实施例的ssd测试装置的结构示意图。
17.图中：10-pc主板；20-扩展卡；30-测试背板；40-测试转板；50-控制线缆；60-高速线缆；70-dut。
具体实施方式
18.现在将详细参照本实用新型的具体实施例，在附图中例示了本实用新型的例子。尽管将结合具体实施例描述本实用新型，但将理解，不是想要将本实用新型限于所述的实施例。相反，想要覆盖由所附权利要求限定的在本实用新型的精神和范围内包括的变更、修改和等价物。应注意，这里描述的方法步骤都可以由任何功能块或功能布置来实现，且任何功能块或功能布置可被实现为物理实体或逻辑实体、或者两者的组合。
19.为了使本领域技术人员更好地理解本实用新型，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。
20.注意：接下来要介绍的示例仅是一个具体的例子，而不作为限制本实用新型的实施例必须为如下具体的步骤、数值、条件、数据、顺序等等。本领域技术人员可以通过阅读本说明书来运用本实用新型的构思来构造本说明书中未提到的更多实施例。
21.参见图1所示，本实用新型实施例提供一种ssd测试装置，包括测试计算机、扩展卡20、测试背板30、测试转板40、控制线缆50以及高速线缆60。
22.测试计算机，包括pc主板10，pc主板10上设置有卡槽。
23.扩展卡20插设在pc主板10的卡槽上。扩展卡20与pc主板10上的卡槽拔插式连接。扩展卡20为sata扩展卡20或pcie扩展卡20。可根据测试需求，在pc主板10的卡槽上插接对应的sata扩展卡20或pcie扩展卡20。
24.测试背板30与pc主板10通过控制线缆50连接，测试背板30还与扩展卡20通过高速线缆60连接。
25.多个测试转板40分别插设在测试背板30上，并通过高速线缆60与扩展卡20连接。多个被测固态硬盘(dut)一一对应的插接在多个测试转板40的插座上。本实施例中，被测固态硬盘、测试转板40以及高速线缆60的数量相同，每个测试转板40的插座上插接有一个被测固态硬盘，每个测试转板40通过独立的一条高速线缆60与扩展卡20连接。每个测试转板40上设置的插座包括sata接口插座和pcie接口插座。
26.测试转板40上设置有电信号连接的mcu模块和电源开关模块，mcu模块与pc主板10电信号连接，电源开关模块与测试转板40的插座电信号连接用于插座的供电或断电。
27.需要说明的是，进行测试工作时，测试计算机运行配套的测试软件，由于测试计算机以及测试软件均为现有技术，本实施例不对其进行具体限定。
28.本实施例的ssd测试装置对固态硬盘的测试方法包括上掉电测试、电气性能测试以及读写擦测试方法。
29.具体的，上掉电测试方法为：pc主板10发送串口命令给测试转板40上的mcu模块，mcu模块控制电源开关模块执行power off操作，将插座上的dut70断电，等待一定时间后，再执行power on操作，对插座上的dut70供电，然后pc主板10对dut70进行识别，若能识别，则判定该dut70的本次上掉电测试正常。
30.电气性能测试(偏压测试)：pc主板10发送串口命令给测试转板40上的mcu模块，比如发送调整供电电压-5％(即降低供电电压5％)的操作指令，mcu模块收到命令后将dut70
的供电电压降低5％，然后在该供电电压条件下进行完整的测试。当测试通过后，说明该dut70的电气性能满足-5％的条件。当发送调整供电 5％(即提高供电电压5％)的操作指令，mcu模块收到命令会将dut70的供电电压提高5％，然后在该供电电压条件下进行完整的测试，当测试通过后，说明该dut70的电气性能满足 5％的条件。
31.读写擦测试：pc主板10通过sata扩展卡20或pcie扩展卡20、高速线缆60、测试背板30、测试转板40将高速信号(sata信号或者pcie信号)和dut70互联，通过高速信号传输数据。
32.当执行擦除操作时，pc主板10通过高速信号发送擦除指令给dut70，dut70执行擦除操作，当擦除完成后，返回擦除ok。
33.当执行写命令时，pc主板10通过高速信号发送需要写入的数据给dut70，dut70将需要写入的数据保存起来，当写入完成后，返回写入ok。
34.当执行读命令时，pc主板10通过高速信号发送需要读取数据的地址区域给dut70，dut70收到需要读取的地址区域后，将该区域保存的数据发送给pc主板10。当需要读取的数据读完后，返回读取ok。
35.本实施例ssd测试装置的主要功能和特点如下：
36.1.可以同时支持多个固态硬盘测试。
37.2.可以支持sata接口和pcie接口的固态硬盘测试。
38.3.可以支持sata接口的不同规格的固态硬盘。如msata固态硬盘、m.2sata固态硬盘、cfast固态硬盘存储卡、2.5寸sata固态硬盘和定制化接口固态硬盘。
39.4.可以支持pcie接口的不同规格固态硬盘。如m.2pcie固态硬盘、u.2pcie固态硬盘、e1.s固态硬盘、cfexpress固态硬盘存储卡和定制化接口固态硬盘。
40.5.支持固态硬盘不同供电规格的偏压测试。当ssd供电电压是3.3v供电时，可以设置
±
5％的偏压测试，当ssd供电电压是5v时，可以设置
±
10％的偏压测试，当ssd供电电压是12v时，可以设置
±
10％或者
±
20％的偏压测试。
41.6.可以支持dut上电和掉电测试。
42.7.可以支持dut的读写性能测试，满足sata3.0的性能和pcie3.0x4的性能，并向下兼容。
43.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
44.需要说明的是，在本实用新型中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包
括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
45.以上所述仅是本实用新型的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所实用新型的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。