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电子设备质量管控方法及装置与流程

2022-05-11 14:56:24 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及设备检测领域,具体涉及一种电子设备质量管控方法及装置。


背景技术:

2.现代工业模式的生产销售,从原料进入生产现场开始,需要经过加工、运送、装配、检验、销售等一系列流程,以上每个流程步骤均需通过一个或几个工位人员来完成,在某一流程的工位人员完成相应作业后,产品会传递至下一工位来继续处理后续的作业。因此,每一工位是否作业正常将直接影响到整个生产销售线的进度。所有的电子设备在生产出货前,都必须完成功能测试,以确保各元器件贴装完好,各项功能正常。
3.生产线上配备有生产检测设备,但在质量管控过程中,由于没有进行良好的管控,因此导致存在不良产品流入市场的风险。


技术实现要素:

4.因此,本发明要解决没有进行良好的管控,因此导致存在不良产品流入市场的风险的技术问题,从而提供一种电子设备质量管控方法及装置,该技术方案如下:
5.一方面,本技术提供了一种电子设备质量管控方法,所述方法包括:
6.对被测设备进行项目检测;在所述被测设备未测试成功的情况下,则第一预设时间段内,对所述被测设备进行本项目重复检测;
7.如果未在第一预设时间段内对所述被测设备进行本项目重复检测,则所述被测设备为次品;
8.如果对所述被测设备进行本项目重复检测的次数达到预设次数,且所述被测设备未测试成功,则所述被测设备为次品;
9.如果对所述被测设备进行本项目重复检测的次数未超过预设次数,且所述被测设备测试成功,则所述被测设备为良品,将所述被测设备传输至下一检测项目。
10.可选地,所述项目包括多个,所述方法还包括:所述被测设备从第一个项目开始检测至最后一个项目,如果检测的时间大于第二预设时间段时,则所述被测设备为次品。
11.可选地,所述项目检测包括音频检测、超声波检测中的至少一种。
12.可选地,所述电子设备包括手机、平板、智能手表中的至少一种。
13.另一方面,本技术提供了一种电子设备质量管控装置,所述装置包括:
14.检测模块,用于对被测设备进行项目检测;重复检测模块,用于在所述被测设备未测试成功的情况下,则第一预设时间段内,对所述被测设备进行本项目重复检测;
15.第一判断模块,用于如果未在第一预设时间段内对所述被测设备进行本项目重复检测,则所述被测设备为次品;
16.第二判断模块,用于如果对所述被测设备进行本项目重复检测的次数达到预设次数,且所述被测设备未测试成功,则所述被测设备为次品;
17.第三判断模块,用于如果对所述被测设备进行本项目重复检测的次数未超过预设
次数,且所述被测设备测试成功,则所述被测设备为良品,将所述被测设备传输至下一检测项目。
18.可选地,所述项目包括多个,所述装置还包括:第四判断模块,用于所述被测设备从第一个项目开始检测至最后一个项目,如果检测的时间大于第二预设时间段时,则所述被测设备为次品。
19.可选地,所述项目检测包括音频检测、超声波检测中的至少一种。
20.可选地,所述电子设备包括手机、平板、智能手表中的至少一种。
21.再一方面,本技术提供了一种计算机设备,包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器之间互相通信连接,所述存储器中存储有计算机指令,所述处理器通过执行所述计算机指令,从而执行上述的电子设备质量管控方法。
22.又一方面,本技术提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使计算机设备执行上述的电子设备质量管控方法。
23.还一方面,本技术提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在计算机设备上运行时,用于实现上述的电子设备质量管控方法。
24.本发明技术方案,具有如下优点:
25.本发明提供的电子设备质量管控方法,在电子设备测试工装产线上加入时间管控,不仅防止该检测项目的工作人员私自拿去修复后流入生产线,影响产品质量,还防止在一个项目检测中浪费过多时间,从而提升检测效率。经过多次测量都不合格,如后续偶然测试合格,其本身存在较大不良风险,会影响产品质量。且反复进行测试,会浪费时间,影响生产效率。通过设定时间管控和次数管控,能够有效的防止不良产品流入市场,影响产品质量,并且能够提高生产效率。
附图说明
26.为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
27.图1为本发明实施例1电子设备质量管控方法的流程图;
28.图2为本发明实施例2电子设备质量管控装置的结构框图;
29.图3为本发明实施例3电子设备的原理框图。
具体实施方式
30.下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
31.在本发明的描述中,需要说明的是,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外,下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
32.实施例1
33.本实施例提供了一种电子设备质量管控方法,图1是说明根据本发明某些实施例,对电子设备进行质量管控的流程图。虽然下文描述的过程包括以特定的顺序出现的多个操作,但是应该清楚地了解到,这些过程也可以包括更多或者更少的操作,这些操作可以顺序执行或者并行执行(例如使用并行处理器或者多线程环境)。该方法包括如下步骤(s101~s105):
34.s101、对被测设备进行项目检测。
35.被测设备可以为手机、平板、智能手表等电子设备,所要进行的项目检测可包括音频检测、超声波检测、震动检测、led等检测、触摸屏检测、屏显界面检测、听筒检测、扬声器(包括上扬声器和下扬声器)检测、耳机检测、fm检测、gps自动检测、蓝牙检测、传感器(包括距离传感器和光线传感器等)检测、充电器检测、相机检测、指纹录入检测、sar校准检测、工模测试项检查位(fao)校准检测、外观检测及扫描过站等等。还可包括sim卡检测、sd卡检测、按键检测、版本信息检测及卡托检测等等。
36.被测设备完成装配后,进入测试工装,连接无线网,利用扫描设备扫描产品信息上传至制造执行(mes)系统。
37.s102、在被测设备未测试成功的情况下,则第一预设时间段内,对被测设备进行本项目重复检测。
38.如果被测设备在本项目中测试成功,则将该被测设备传输至下一项目中进行检测。如果被测设备在本项目中测试成功,则对该被测设备进行重复检测,并且距离下次检测的时间间隔在第一预设时间段内。即在被测设备未检测成功后,第一预设时间段内进行下次检测。举例来说,对被测设备进行超声波检测,第一次对被测设备进行检测,被测设备未测试成功,则在第一次检测完后一小时内,对被测设备进行第二次检测。
39.s103、如果未在第一预设时间段内对被测设备进行本项目重复检测,则被测设备为次品。
40.被测设备如未测试成功,可对被测设备进行适应性修复,及时对修复后的被测设备进行检测。如上次检测至下次检测的时间间隔不在第一预设时间段内,则该被测设备被锁定,自动列入次品系统。利用第一预设时间段内作为时间管控,不仅防止该检测项目的工作人员私自拿去修复后流入生产线,影响产品质量,还防止在一个项目检测中浪费过多时间,从而提升检测效率。
41.s104、如果对被测设备进行本项目重复检测的次数达到预设次数,且被测设备未测试成功,则被测设备为次品。
42.设定次数管控,可在预设次数内对被测设备进行重复检测。如果在预设次数内对被测设备进行检测,被测设备始终未能测试成功,则该被测设备被锁定,自动列入次品系统。经过多次测量都不合格,如后续偶然测试合格,其本身存在较大不良风险,会影响产品质量。且反复进行测试,会浪费时间,影响生产效率。设定次数管控,可提升电子产品的生产质量及生产效率。需要说明的是,本领域技术人员可根据实际情况设定第一预设时间段的时长、预设次数的次数,在此不作限定。
43.举例来说,将被测设备放入超声波测试设备进行超声波检测,开始测试信息上传至mes系统,如果测试成功,将测试信息上传至mes系统,并可触发超时管控(例如,管控时段为从触发到进入fao测试的时间,时间设定为1小时,超过时间手机被锁定,自动列为次品),
将被测设备取出,传输至下一个测试项目中;如果测试不成功,则可在1个小时内进行重复测试,如果重复测试三次均未成功,则被测设备被锁定,自动列为次品。
44.s105、如果对被测设备进行本项目重复检测的次数未超过预设次数,且被测设备测试成功,则被测设备为良品。
45.在预设次数内对被测设备进行检测,如果被测设备测试成功,则说明该被测设备属于良品。将该被测设备取出,传输至下一个项目进行检测。
46.举例来说,将被测设备放入音频检测设备中进行检测,将开始测试信息上传至mes系统,如果测试成功,则取出手机,将被测设备传输至超声波测试设备中。
47.综上所述,在电子设备测试工装产线上加入时间管控,不仅防止该检测项目的工作人员私自拿去修复后流入生产线,影响产品质量,还防止在一个项目检测中浪费过多时间,从而提升检测效率。经过多次测量都不合格,如后续偶然测试合格,其本身存在较大不良风险,会影响产品质量。且反复进行测试,会浪费时间,影响生产效率。通过设定时间管控和次数管控,能够有效的防止不良产品流入市场,影响产品质量,并且能够提高生产效率。
48.在一个或多个实施例中,项目检测包括多个,逐个项目对被测设备进行检测。该方法还包括:
49.被测设备从第一个项目开始检测至最后一个项目,如果检测的时间大于第二预设时间段时,则被测设备为次品。
50.被测设备完成装配后,进入测试工装产线,开始检测信息上传至mes系统。被测设备从第一个项目开始检测至最后一个项目检测,如果所花时间小于或等于第二预设时间段,则被测设备为良品,并解除对该被测设备的时间管控;如果所花时间大于第二预设时间段,则该被测设备被锁定,自动列入次品系统。
51.举例来说,第二预设时间段为2小时,被测设备从第一个项目(例如音频检测)开始检测至最后一个项目(例如扫描站)所花时间为1.5小时,则被测设备为良品,则可对该被测设备关机装皮套、装镀膜盘;如果所花时间为2.2小时,则被测设备为次品。
52.实施例2
53.本实施例提供一种电子设备质量管控装置,该装置可以为计算机设备,也可以设置在计算机设备中。如图2所示,该装置包括:检测模块101、重复检测模块102、第一判断模块103、第二判断模块104和第三判断模块105。
54.检测模块101,用于对被测设备进行项目检测;详细内容请参见实施例1中的相关描述,此处不再赘述。
55.重复检测模块102,用于在所述被测设备未测试成功的情况下,则第一预设时间段内,对所述被测设备进行本项目重复检测;详细内容请参见实施例1中的相关描述,此处不再赘述。
56.第一判断模块103,用于如果未在第一预设时间段内对所述被测设备进行本项目重复检测,则所述被测设备为次品;详细内容请参见实施例1中的相关描述,此处不再赘述。
57.第二判断模块104,用于如果对所述被测设备进行本项目重复检测的次数达到预设次数,且所述被测设备未测试成功,则所述被测设备为次品;详细内容请参见实施例1中的相关描述,此处不再赘述。
58.第三判断模块105,用于如果对所述被测设备进行本项目重复检测的次数未超过
预设次数,且所述被测设备测试成功,则所述被测设备为良品,将所述被测设备传输至下一检测项目。详细内容请参见实施例1中的相关描述,此处不再赘述。
59.在一个或多个实施例中,项目包括多个,即需对被测设备进行不同类型的检测。该装置还包括第四判断模块(图2中未示出)。
60.第四判断模块,用于所述被测设备从第一个项目开始检测至最后一个项目,如果检测的时间大于第二预设时间段时,则所述被测设备为次品。详细内容请参见实施例1中的相关描述,此处不再赘述。
61.在一个或多个实施例中,电子设备包括手机、平板、智能手表中的至少一种。项目检测包括音频检测、超声波检测中的至少一种。
62.本实施例电子设备质量管控装置的效果可参见实施例1中的相关描述,在此不做赘述。
63.实施例3
64.本实施例提供了一种计算机设备,如图3所示,该计算机设备包括处理器201和存储器202,其中处理器201和存储器202可以通过总线或者其他方式连接,图3中以通过总线连接为例。
65.处理器201可以为中央处理器(central processing unit,cpu)。处理器201还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,dsp)、图形处理器(graphics processing unit,gpu)、嵌入式神经网络处理器(neural-network processing unit,npu)或者其他专用的深度学习协处理器、专用集成电路(application specific integrated circuit,asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片,或者上述各类芯片的组合。
66.存储器202作为一种非暂态计算机可读存储介质,可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块,如本发明实施例中的电子设备质量管控方法对应的程序指令/模块(如上述实施例中的检测模块101、重复检测模块102、第一判断模块103、第二判断模块104、第三判断模块105和第四判断模块)。处理器201通过运行存储在存储器202中的非暂态软件程序、指令以及模块,从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理,即实现上述的电子设备质量管控方法。
67.存储器202可以包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序;存储数据区可存储处理器201所创建的数据等。此外,存储器202可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非暂态存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中,存储器202可选包括相对于处理器201远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至处理器201。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
68.本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的电子设备质量管控方法。其中,所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory,rom)、随机存储记忆体(random access memory,ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive,缩写:hdd)或固态硬盘(solid-state drive,ssd)等;所述存储介质还可以包括上述
种类的存储器的组合。
69.本技术实施例还提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在计算机设备上运行时,实现实施例1中的电子设备质量管控方法。
70.显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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