一种样本分析仪及样本分析系统的制作方法

1.本技术涉及医疗技术领域，更具体地涉及样本分析技术。


背景技术：

2.对样本进行分析时，样本一般通过进样器将样本运送并提供给样本分析装置，由于进样器和样本分析装置均存在误差，在实际使用中需要基于该误差对样本进行精确的控制。相关技术中，在调试阶段得到进样器和样本分析装置的总误差参数，将该总误差参数存储在进样器主控制器中，使得实际使用时需要按调试阶段的进样器与样本分析装置搭配使用，无法与其他进样器或样本分析装置进行搭配，这极大限制了整个样本分析仪以及样本分析系统的灵活使用，导致进样器与样本分析装置的安装要求较高，降低了安装效率以及样本分析的效率。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供了一种样本分析仪及样本分析系统，以至少解决上述的问题之一。
4.根据本技术的第一方面，提供了一种样本分析仪，所述样本分析仪包括：
5.进样器，用于运送样本到预设位置，所述进样器包括存储进样器参数的进样器存储单元；
6.样本分析装置，用于对所述预设位置的样本进行分析操作，所述样本分析装置包括存储分析装置参数的参数存储单元和处理器；
7.所述处理器执行一个或多个程序时实现以下步骤：
8.从所述进样器存储单元获取所述进样器参数，以及从所述参数存储单元获取所述分析装置参数；
9.基于所述进样器参数和所述分析装置参数，控制所述样本分析装置对所述样本进行操作。
10.可选地，所述基于所述进样器参数和所述分析装置参数，控制所述样本分析装置对所述样本进行操作，包括：
11.基于所述进样器参数中的进样器误差参数和所述分析装置参数中的采样移动参数，得到所述样本分析装置的采样机构的移动距离；
12.控制所述采样机构从初始位置移动所述移动距离到达所述预设位置，并对所述样本进行操作。
13.可选地，所述参数存储单元还用于存储所述进样器参数作为备份数据。
14.可选地，所述处理器还用于：比较所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数是否一致。
15.可选地，所述处理器还用于：当所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数一致时，向所述进样器发送所述进样器参数；或，
16.当所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数不一致时，基于操作者指令向所述进样器发送操作指令。
17.可选地，当所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数不一致时，基于操作者指令向所述进样器发送所述操作指令，包括：
18.当所述操作者指令指示所述进样器存储单元更换时，则所述操作指令包括所述处理器向所述进样器发送所述进样器参数并存储至所述进样器存储单元；
19.当所述操作者指令指示所述进样器更换时，则所述操作指令包括所述处理器获取更换后的进样器的进样器参数并存储至所述参数存储单元；
20.当所述操作者指令指示所述参数存储单元更换时，所述操作指令包括所述处理器从所述进样器存储单元获取所述进样器参数并存储至更换后的参数存储单元。
21.可选地，所述处理器还用于：
22.当所述参数存储单元中不存在所述备份数据时，获取所述进样器参数并存储于所述参数存储单元作为所述备份数据；或，
23.当所述进样器中不存在所述进样器参数时，将所述备份数据发送至所述进样器存储单元存储为所述进样器参数。
24.根据本技术的第二方面，提供了一种样本分析系统，包括：
25.串联设置的多个样本分析仪，每个所述样本分析仪包括：
26.进样器，用于将样本运送到预设位置，所述进样器包括存储进样器参数的进样存储单元；
27.样本分析装置，与所述进样器连接，所述样本分析装置包括控制器和存储分析装置参数的参数存储单元，所述控制器用于基于所述进样器参数和所述分析装置参数控制所述样本分析装置对所述预设位置的所述样本进行操作；
28.轨道，与所述进样器连接，用于将所述样本运送至所述进样器；
29.轨道主控装置，与所述轨道和所述进样器连接，用于控制所述轨道和所述进样器的操作。
30.可选地，所述控制器用于基于所述进样器参数和所述分析装置参数控制所述样本分析装置对所述预设位置的所述样本进行操作，包括：
31.基于所述进样器参数中的进样器误差参数和所述分析装置参数中的采样移动参数，得到所述样本分析装置的采样机构的移动距离；
32.控制所述采样机构从初始位置移动所述移动距离到达所述预设位置，并对所述样本进行所述操作。
33.可选地，所述轨道主控装置还用于：存储所述进样器参数作为备份数据。
34.可选地，所述轨道主控装置还用于：获取所述进样存储单元中当前存储的进样器参数，并比较所述当前存储的进样器参数和所述备份数据是否一致。
35.可选地，所述轨道主控装置还用于：
36.当所述当前存储的进样器参数和所述备份数据一致时，所述轨道主控装置向所述进样器发送所述进样器参数；
37.或，
38.当所述当前存储的进样器参数和所述备份数据不一致时，所述轨道主控装置基于
操作者指令向所述进样器发送操作指令。
39.可选地，所述轨道主控装置基于操作者指令向所述进样器发送所述操作指令，包括：
40.当所述操作者指令指示所述进样器存储单元更换时，所述轨道主控装置向所述进样器发送所述进样器参数并存储至所述进样器存储单元；
41.当所述操作者指令指示所述进样器更换时，则所述操作指令包括所述轨道主控装置获取更换后的进样器的进样器参数并存储至所述参数存储单元；
42.当所述操作者指令指示所述轨道主控装置更换时，所述操作指令包括更换后的轨道主控装置从所述进样器存储单元获取所述进样器参数并存储至所述更换后的轨道主控装置。
43.可选地，所述轨道主控装置还用于：当所述轨道主控装置中不存在所述备份数据时，获取所述进样器参数并存储于所述轨道主控装置作为所述备份数据；或，
44.当所述进样器中不存在所述进样器参数时，将所述备份数据发送至所述进样器存储单元存储为所述进样器参数。
45.根据本技术实施例的样本分析仪及系统，通过将进样器参数存储于进样器端，而将分析装置参数存储于样本分析装置端，实现了进样器与样本分析装置之间的解耦，使得任意进样器可以与任意样本分析装置组合使用，降低了安装要求，提高了安装效率、仪器和进样器的搭配灵活度。
附图说明
46.通过结合附图对本技术实施例进行更详细的描述，本技术的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本技术实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。
47.图1是根据本技术实施例的样本分析仪的示意性结构框图；
48.图2是根据本技术实施例的进样器误差参数的示例；
49.图3是根据本技术实施例的样本分析装置和进样器之间的总误差参数的示例；
50.图4是根据本技术实施例的操作者指令的示例；
51.图5是根据本技术实施例的样本分析系统的示意性结构框图；
52.图6是根据本技术实施例的操作者指令的又一示例。
具体实施方式
53.为了使得本技术的目的、技术方案和优点更为明显，下面将参照附图详细描述根据本技术的示例实施例。显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是本技术的全部实施例，应理解，本技术不受这里描述的示例实施例的限制。基于本技术中描述的本技术实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所有其它实施例都应落入本技术的保护范围之内。
54.在样本分析的相关技术中，对进样器和样本分析装置进行调试时，可以检测样本分析装置中的采样机构到对样本进行操作的实际位置之间的实际距离，结合采样机构到对
memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(ram，random access memory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的ram可用，例如静态随机存取存储器(sram，static random access memory)、同步静态随机存取存储器(ssram，synchronous static random access memory)、动态随机存取存储器(dram，dynamic random access memory)、同步动态随机存取存储器(sdram，synchronous dynamic random access memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(ddrsdram，double data rate synchronous dynamic random access memory)、增强型同步动态随机存取存储器(esdram，enhanced synchronous dynamic random access memory)、同步连接动态随机存取存储器(sldram，synclink dynamic random access memory)、直接内存总线随机存取存储器(drram，direct rambus random access memory)。本技术实施例描述的存储器旨在包括这些和任意其它适合类型的存储器。
65.在一些实施例中，处理器可以通过软件、硬件、固件或者其组合实现，可以使用电路、单个或多个为特定用途集成电路(application specific integrated circuit，asic)、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、数字信号处理装置(digital signal processing device，dspd)、可编程逻辑装置(programmable logic device，pld)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，fpga)、中央处理器(central processing unit，cpu)、控制器、微控制器、微处理器中的至少一种，从而使得该处理器120可以执行本技术的各个实施例中的部分步骤或全部步骤或其中步骤的任意组合。
66.在一些实施例中，样本分析仪还可以包括：
67.i/o接口，可以由比如usb、ieee1394或rs-232c等串行接口、scsi、ide或ieee1284等并行接口以及由d/a转换器和a/d转换器等组成的模拟信号接口构成。i/o接口上连接有由键盘、鼠标、轨迹球、点击轮、按键、按钮、触感板或者触摸屏或其它控制部件等构成的输入设备，操作者可以用输入设备直接输入数据。
68.在一些实施例中，i/o接口上可以连接具有显示功能的显示器，例如：液晶屏、触摸屏、led显示屏等，样本分析仪可以将会诊数据输出到显示器上进行显示。
69.在一些实施例中，样本分析仪还可以包括：通信模块。通信模块可以包括任意通信协议的接口。其中,通信接口通过网络与外界进行通信。样本分析仪可以通过通信接口以一定的通信协议，与通过该网络连接的任意装置之间传输数据。应了解，根据本技术实施例的样本分析仪不受通信接口的限制，无论是现在已知的通信协议的接口，还是将来开发的通信协议的接口，都可以用于本技术实施例的样本分析仪，以实现通过网络与外界通信的功能，在此不做限制。
70.在一些实施例中，进样器存储单元或参数存储单元、处理器、i/o接口和通信模块之间可以通过总线进行通信。当然，除了总线，进样器存储单元或参数存储单元、处理器、i/o接口和通信模块之间还可以通过其他方式实现通信，例如无线等，这里不做限制。
71.根据本技术实施例，在步骤s110中，样本分析装置从所述进样器存储单元获取所述进样器参数，以及从所述参数存储单元获取所述分析装置参数。
72.在一些实施例中，进样器可以运送样本到预设位置。
73.其中，由于误差的存在，对样本进行操作的实际位置与理论位置可能不完全一致。预设位置可以是样本分析装置中的采样机构对样本进行操作的实际位置。也就是说，该预
设位置可以是进样器将样本移动到的实际位置。进样器将样本移动到该预设位置，以及样本分析装置的采样机构移动到该预设位置，然后对样本进行相应的操作。应了解，进样器将样本运送至预设位置的这一步骤，可以在样本分析装置从进样器的进样器存储单元中获取进样器参数，或从参数存储单元121获取分析装置参数这些步骤之前、也可以是同时、还可以是之后，在此不做限制。
74.可选地，进样器参数可以包括进样器误差参数。其中，进样器误差参数可以是进样器端的加工、装配误差。
75.在一些实施例中，进样器参数还可以包括进样器将样本移动至预设位置内所需的其他参数，如模拟光耦(dac)参数、进样调节步数等等。
76.在一些实施例中，进样器误差参数可以基于样本分析装置的参考位置到第一位置的实际距离参数以及理论距离参数得到。
77.其中，样本分析装置的参考位置可以是样本分析装置中的便于测量距离的任意固定位置。具体来说，参见图2，图2示出了根据本技术实施例的进样器误差参数的示例。如图2所示，样本分析装置的参考位置可以是样本分析仪装置的工装前板的位置，该参考位置到预设位置(即对样本操作的实际位置)的理论距离可以是已知的固定值h；可以通过特定工装或测距方法(例如红外测距、基于视觉技术的测距等)得到该参考位置到预设位置的实际距离d2，从而可以得到样本分析装置的工装前板到预设位置的实际距离与理论距离之间的差值d
2-h，即为进样器误差参数δd2＝d
2-h，其受进样器加工和装配误差影响，不同进样器之间的进样器误差参数不同。
78.由此可知，进样器可以不依赖于样本分析装置的操作即可得到进样器误差参数。所以，对于任意进样器，均可以在将其与样本分析装置进行调试时，测量得到进样器误差参数，并存储于进样器的进样器存储单元中。这样，在使用过程中，即可直接从进样器的存储单元中获取进样器误差参数进行使用，无需重新调试，也不用限制在按调试阶段的样本分析仪装置与进样器搭配使用，使得样本分析仪的使用更加灵活、便捷，且效率高，降低了安装要求，提高了安装效率。
79.可选地，分析装置参数可以包括装置误差参数。其中，装置误差参数可以是样本分析装置端的加工、装配误差。
80.在一些实施例中，分析装置参数还可以包括样本分析装置的采样机构的运动调节步数。
81.在一些实施例中，装置误差参数可以基于进样器误差参数以及样本分析装置参数和进样器之间的总误差参数得到。
82.在一些实施例中，样本分析装置和进样器之间的总误差参数可以基于样本分析装置的采样机构的初始位置到预设位置的实际距离参数和理论距离参数得到。
83.具体来说，参见图3，图3示出了根据本技术实施例的样本分析装置和进样器之间的总误差参数的示例。如图3所示，样本分析装置的采样机构从其初始位置移动到预设位置的理论距离参数可以是已知的固定值d0。可以通过测距方法(例如红外测距、基于视觉技术的测距等)得到采样机构的初始位置到预设位置的实际距离d，从而可以得到实际距离与理论距离之间的差值d-d0，即为样本分析仪装置和进样器之间的总误差参数δd＝d-d0，其既包含了样本分析仪装置端的加工、装配误差δd1，又包含了进样器端的加工、装配误差δd2。
因此，可以根据进样器误差参数δd2以及总误差参数
△
d，即可得到装置误差参数δd1＝δd-δd2。
84.在一些实施例中，分析装置参数可以包括采样移动参数，其中，采样移动参数包括采样机构从其初始位置移动到预设位置的理论距离参数d0和装置误差参数δd1之和，即采样移动参数d1＝d0 δd1。由此可知，分析装置参数中不包括进样器的加工、装配误差，从而实现了与进样器的解耦。
85.在一些实施例中，采样移动参数可以存储于样本分析装置的装置存储单元中。
86.如此，进样器误差参数存储于进样器端，分析装置参数存储于样本分析装置端，可以实现任意进样器与任意样本分析仪装置的组合使用，而无需重新进行调试安装，降低了安装要求，极大提高了进样器与样本分析装置之间组合使用的灵活性，和安装使用效率。
87.根据本技术实施例，在步骤s120中，所述基于所述进样器参数和所述分析装置参数，控制所述样本分析装置对所述样本进行操作，包括：
88.基于所述进样器参数中的进样器误差参数和所述分析装置参数中的采样移动参数，得到所述样本分析装置的采样机构的移动距离；
89.控制所述采样机构从初始位置移动所述移动距离到达所述预设位置，并对所述样本进行操作。
90.在一些实施例中，所述移动距离包括进样器误差参数和所述采样移动参数之和。
91.在一些实施例中，样本分析装置可以包括血液分析装置或涂片制备装置。进一步地，采样机构可以是采样针。
92.在一些实施例中，结合图2和图3，样本分析仪对样本进行分析时，样本分析装置的处理器可以从进样器存储单元获取进样器参数，并下发至进样器以控制进样器基于进样器参数运送样本至预设位置；而样本分析装置的处理器还从装置存储单元获取采样移动参数d1，结合从进样器存储单元获取的进样器参数得到采样机构需要执行的移动距离，即采样机构的移动距离可以是进样器参数的进样器误差参数δd2和采样移动参数d1之和，即d1 δd2，然后控制采样机构从其初始位置移动d1 δd2，到达进样器将样本送达的预设位置，然后采样机构对样本进行相应的操作，如采样和/或混匀。
93.在样本分析仪的使用过程中，进样器可能会出现故障，此时需要对进样器中的部分组件或整个进样器进行更换。现有的相关技术中，由于进样器和样本分析装置需要绑定使用，那么更换进样器之后则不存在其与之前的样本分析装置之间的总误差参数，可能导致样本分析仪无法继续使用，只有重新进行调试进样器的位置后才能正常工作，使得样本分析仪的使用效率低下。
94.可选地，基于上述考虑，所述参数存储单元还用于存储所述进样器参数作为备份数据。
95.其中，将进样器中的进样器参数备份至样本分析装置的参数存储单元中，当检测到进样器中存储的进样器参数与样本分析装置中存储的备份数据不一致时，将二者进行同步，使其一致，则即使更换进样器中的部分组件或整个进样器，也可以分别通过样本分析装置直接得到当前的进样器参数和分析装置参数，无需再用相应的夹具调节进样器的相关参数，进一步提高了样本分析仪的工作效率。
96.在一些实施例中，所述样本分析装置的处理器还用于比较所述备份数据与当前存
储于所述进样器的所述进样器参数是否一致。
97.具体来说，样本分析仪可以在启动时(即开机时)，样本分析装置的处理器可以获取当前进样器的进样器参数，并与存储在样本分析装置的参数存储单元中的备份数据比较，当进样器中存在进样器参数且样本分析装置的参数存储单元中存在备份数据时，如果二者一致，则说明进样器没有发生变化，如果二者不一致则说明进样器中的至少部分组件发生更换。此时，样本分析装置可以提示操作者进样器中的至少部分组件发生变化，例如，以声和/或光的方式进行提醒。当进样器中不存在进样器参数或样本分析装置的参数存储单元中不存在备份数据时，样本分析装置的处理器可以直接将备份数据发送至进样器存储为进样器参数或将进样器参数存储于样本分析装置作为备份数据，以保证进样器参数和备份数据同步，有利于提高样本分析仪的升级效率。
98.在一些实施例中，所述样本分析装置的处理器还用于：
99.当所述参数存储单元中不存在所述备份数据时，获取所述进样器参数并存储于所述参数存储单元作为所述备份数据；或，
100.当所述进样器中不存在所述进样器参数时，将所述备份数据发送至所述进样器存储单元存储为所述进样器参数。
101.其中，当样本分析装置的参数存储单元中不存在所述备份数据，进样器中存在进样器参数时，样本分析装置的处理器可以获取进样器参数并将其存储于参数存储单元作为备份数据；当进样器中不存在进样器参数，样本分析装置的参数存储单元中存在备份数据时，样本分析装置的处理器将参数存储单元中的备份数据发送至进样器存储单元存储为进样器参数。
102.在一些实施例中，所述样本分析装置的处理器还用于：当所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数一致时，向所述进样器发送所述进样器参数；或，
103.当所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数不一致时，基于操作者指令向所述进样器发送操作指令。
104.其中，当样本分析装置确定所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数一致时，说明进样器没有发生任何变化，可以直接基于进样器中存储的进样器参数控制进样器运动，则可以将所述进样器参数下发至进样器，进样器接收到该进样器参数后基于该进样器参数进行运动，将样本移动至预设位置。当样本分析装置确定所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数不一致时，样本分析装置的处理器可以根据操作者的指示进行相应的操作，参见图4，图4示出了根据本技术实施例的操作者指令的示例。如图4所示，如向操作者提供相应的选项，每个选项对应于数据不一致的不同原因；此时，操作者可以根据实际情况进行选择合适的选项来发出相应的操作者指令。样本分析装置的处理器则根据相应的操作者指令，向进样器发送操作指令。
105.在一些实施例中，当所述备份数据与当前存储于所述进样器的所述进样器参数不一致时，基于操作者指令向所述进样器发送所述操作指令，包括：
106.当所述操作者指令指示所述进样器存储单元更换时，则所述操作指令包括所述处理器向所述进样器发送所述进样器参数并存储至所述进样器存储单元；
107.当所述操作者指令指示所述进样器更换时，则所述操作指令包括所述处理器获取更换后的进样器的进样器参数并存储至所述参数存储单元；
108.当所述操作者指令指示所述参数存储单元更换时，所述操作指令包括所述处理器从所述进样器存储单元获取所述进样器参数并存储至更换后的参数存储单元。
109.其中，当操作者选择进样器存储单元更换时即操作者指令指示仅进样器存储单元更换时，进样器执行样本运送的执行组件并没有发生变化，所以可以继续使用之前的进样器参数，此时，样本分析装置只需将其存储的备份数据发送至进样器，进样器将该备份数据存储作为进样器参数既可以继续正常工作，此时，无需操作者再执行任何其他的调试等工作，极大减少了操作者的工作量，提高了样本分析仪的使用效率。当操作者选择进样器更换时即操作者指令指示整个进样器进行了更换时，如前所述，进样器参数可以不依赖于样本分析仪装置即可以单独测量得到，那么，此时操作者仅需对更换后的进样器单独进行测量，将更换后的进样器参数存储于更换后的进样器的进样器存储单元中，样本分析装置的处理器可以从更换后的进样器的进样器存储单元中获取更换后的进样器参数，存储至参数存储单元进行存储备份；当需要使用更换后的进样器时，将该更换后的进样器参数下发至更换后的进样器，更换后的进样器基于该更换后的进样器参数执行样本移动到相应的预设位置，由于样本分析装置的采样机构的移动距离是基于进样器参数得到，那么更换进样器后，采样机构的移动距离则相应的使用更换后的进样器参数得到更换后的移动距离，如此，采样机构移动该更换后的移动距离则可以准确地达到更换后的预设位置。相比于传统方式中，无需根据之前的进样器参数采用夹具来调整更换的进样器，而是直接利用更换后的进样器参数，即可实现准确地对样本进行操作，提高了样本分析仪的安装和升级效率。
110.在上述实施例中，当操作者选择进样器更换时即操作者指令指示整个进样器进行了更换时，在满足工作要求的前提下，还可以不对更换后的进样器进行测量得到更换后的进样器参数，而由样本分析装置中的处理器直接将备份数据发送至更换后的进样器中并存储为进样器参数。
111.在实际应用中，为了提高样本检测的效率，可以将多个样本分析仪串联设置，构成一个样本分析系统，以对样本进行一种或多种分析操作。其中，样本分析系统通过轨道将样本运送至对应的样本分析仪，再经过样本分析仪的进样器将样本运送到预设位置对其进行相应的操作。在目前的相关技术中，与运送样本相关联的参数均存储在轨道主控装置中，而与运送样本相关联的参数包括多个样本分析仪(包括进样器和样本分析装置)的总参数和轨道相关的参数，使得轨道主控装置必须与对应的样本分析仪搭配使用，如果没有搭配使用则会导致整个样本分析系统处于非正常状态。且安装整个样本分析系统时，需要按照生产整个样本分析系统调试顺序安装，安装顺序错误也会导致本分析系统处于非正常状态。这极大限制了整个样本分析系统的灵活使用，导致整个样本分析系统的安装要求很高，也降低了安装效率、样本分析仪的搭配灵活度。
112.基于上述考虑，根据本技术实施例，提供了一种样本分析系统。参见图5，图5示出了根据本技术实施例的样本分析系统的示意性结构框图。如图5所示，样本分析系统500可以包括：
113.串联设置的多个样本分析仪510，每个所述样本分析仪510包括：
114.进样器511，用于将样本运送到预设位置，所述进样器包括存储进样器参数的进样存储单元；
115.样本分析仪装置512，与所述进样器511连接，所述样本分析仪装置512包括控制器
和存储分析装置参数的参数存储单元，所述控制器用于基于所述进样器参数和所述分析装置参数控制所述样本分析仪装置对所述预设位置的所述样本进行操作；
116.轨道520，与所述进样器511连接，用于将所述样本运送至所述进样器511；
117.轨道主控装置530，与所述轨道520和所述进样器511连接，用于控制所述轨道520和所述进样器511的操作。
118.其中，轨道主控装置控制轨道将样本运送到样本分析仪的进样器处，样本分析仪的样本分析仪装置中的控制器获取进样器存储单元中的进样器参数下发至进样器，控制进样器将样本移动到预设位置；样本分析仪装置的控制器还从参数存储单元获取分析装置参数，并基于进样器参数和分析装置参数控制所述样本分析仪装置对所述预设位置的所述样本进行操作。由于进样器参数存储于进样器的进样器存储单元中，分析装置参数存储于样本分析仪装置的参数存储单元中，即进样器参数与分析装置参数分开存储，不仅实现了进样器与样本分析仪装置之间的解耦，以实现任意样本分析仪装置与任意进样器之间均可搭配使用，能够方便且快速地组合使用任何样本分析仪装置和任何进样器，无需重新调试；而且还实现了样本分析仪与轨道主控装置的解耦，任意样本分析仪与任意轨道主控装置之间均可搭配使用。相比于传统的样本分析系统，根据本技术实施例的样本分析系统，不需要限制在按调试阶段的样本分析仪装置与进样器、以及样本分析仪与轨道主控装置的搭配使用，更不需要进行重新调试，使得生产不必再将进样器和样本分析仪装置顺序、以及多个样本分析仪之间的安装顺序拼接完成后在进行调试，使得多个样本分析仪之间的多个样本分析仪装置与多个进样器可以并行进行安装工作，提升生产效率，且整个样本分析仪系统的使用更加灵活、便捷，且效率高。适合广泛应用于任何样本分析的场合，例如，对样本进行分析、处理的流水线系统。
119.可选地，样本分析仪可以包括血液分析仪或涂片制备仪。应了解，样本分析系统中多个样本分析仪可以是相同类型的仪器，也可以是不同类型的仪器，例如，样本分析系统可以包括串联设置的血液分析仪和涂片制备仪。样本分析系统中样本分析仪的数量以及类型可以根据需要进行设置，在此不做限制。
120.相应地，每个样本分析仪对样本进行对应的操作。在一些实施例中，所述操作包括采样和/或混匀。
121.可选地，对于每个样本分析仪，进样器将样本移动到每个样本分析仪的预设位置，以便对应的样本分析仪装置在该预设位置对样本进行操作。
122.在一些实施例中，样本分析系统的多个样本分析仪中至少部分可以包括根据本发明实施例的样本分析仪。
123.同样地，样本分析系统的样本分析仪中，预设位置可以是样本分析仪装置中的采样机构对样本进行操作的实际位置。也就是说，该预设位置可以是进样器将样本移动到的实际位置。进样器将样本移动到该预设位置，以及样本分析仪装置的采样机构移动到该预设位置，然后对样本进行相应的操作。应了解，进样器将样本运送至预设位置的这一步骤，可以在样本分析仪装置从进样器的进样器存储单元中获取进样器参数，或从参数存储单元获取分析装置参数这些步骤之前、也可以是同时、还可以是之后，在此不做限制。
124.在一些实施例中，所述控制器用于基于所述进样器参数和所述分析装置参数控制所述样本分析仪装置对所述预设位置的所述样本进行操作，包括：
125.基于所述进样器参数中的进样器误差参数和所述分析装置参数中的采样移动参数，得到所述样本分析仪装置的采样机构的移动距离；
126.控制所述采样机构从初始位置移动所述移动距离到达所述预设位置，并对所述样本进行所述操作。
127.在一些实施例中，所述移动距离包括进样器误差参数和所述采样移动参数之和。
128.在一些实施例中，样本分析装置可以包括血液分析装置或涂片制备装置。进一步地，采样机构可以是采样针。
129.具体来说，与本技术实施例中的样本分析仪类似或相同地，样本分析仪对样本进行分析时，样本分析仪装置的处理器可以从进样器存储单元获取进样器参数，并下发至进样器以控制进样器基于进样器参数运送样本至预设位置；而样本分析仪装置的处理器还从装置存储单元获取采样移动参数d1，结合从进样器存储单元获取的进样器参数得到采样机构需要执行的移动距离，即采样机构的移动距离可以是进样器参数的进样器误差参数δd2和采样移动参数d1之和，即d1 δd2，然后控制采样机构从其初始位置移动d1 δd2，到达进样器将样本送达的预设位置，然后采样机构对样本进行相应的操作，如采样和/或混匀。
130.应了解，进样器参数以及样本分析仪装置的分析装置参数，均可通过本技术前述实施例的样本分析仪中的相关方法(如图2和图3)得到，具体原理和过程在此不再重复。
131.可选地，轨道主控装置可以包括cpu、gpu或其它具有运算能力的芯片。实际应用中，处理器可以通过软件、硬件、固件或者其组合实现，可以使用电路、单个或多个为特定用途集成电路(application specific integrated circuit，asic)、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、数字信号处理装置(digital signal processing device，dspd)、可编程逻辑装置(programmable logic device，pld)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，fpga)、中央处理器(central processing unit，cpu)、控制器、微控制器、微处理器中的至少一种。
132.在实际应用中，因为样本分析仪的进样器和/或轨道主控装置可能会出现故障，此时需要对进样器的部分组件、进样器或轨道主控装置进行更换。现有的相关技术中，由于进样器和样本分析仪装置、多个样本分析仪与轨道主控装置需要绑定使用，那么更换样本分析仪的进样器之后轨道主控装置如果使用更换前的总参数，可能导致整个样本分析系统处于非正常状态，只有对更换的进样器重新进行调试后才能正常工作，给样本分析工作带来极大的不变，降低了安装效率以及样本分析的效率。
133.可选地，基于上述考虑，轨道主控装置还可以用于存储所述进样器参数作为备份数据。
134.其中，轨道主控装置可以对应于多个样本分析仪，存储所述多个进样器的进样器参数作为备份数据。当轨道主控装置检测到进样器中存储的进样器参数与轨道主控装置中存储的对应的备份数据不一致时，将对应的进样器参数和备份数据进行同步，使二者一致，则即使更换进样器中的部分组件或整个进样器，也可以分别通过轨道主控装置直接得到当前的进样器参数，无需再用相应的夹具调节进样器的相关参数，进一步提高了样本分析仪的工作效率。
135.在一些实施例中，样本分析系统可以包括串联设置的第一样本分析仪和第二样本分析仪，其中，第一样本分析仪包括第一进样器和第一样本分析仪装置，第一进样器的进样
存储单元中存储第一进样器参数，第二样本分析仪包括第二进样器和第二样本分析仪装置，第二进样器的进样存储单元中存储第二进样器参数；相应地，轨道主控装置可以分别从第一进样器的进样存储单元获取所述第一进样器参数进行存储，作为第一备份数据；以及从第二进样器的进样存储单元获取所述第二进样器参数进行存储，作为第二备份数据。其中，第一备份数据对应与第一样本分析仪(或第一进样器)，第二备份数据对应与第二样本分析仪(或第二进样器)。在一些实施例中，备份数据可以与样本分析仪或进样器具有对应的编号，以表示备份数据与样本分析仪或进样器的对应关系。
136.在一些实施例中，所述轨道主控装置还用于：获取所述进样存储单元中当前存储的进样器参数，并比较所述当前存储的进样器参数和所述备份数据是否一致。
137.具体来说，在样本分析仪启动时(即开机时)，轨道主控装置可以获取该样本分析仪的进样器中的当前进样器参数，并与存储在轨道主控装置中的对应的备份数据比较，如果二者一致，则说明该样本分析仪的进样器和轨道主控装置均没有发生变化，如果不一致则说明该样本分析仪的进样器中的至少部分组件或轨道主控装置发生更换。此时，轨道主控装置可以提示操作者该样本分析仪中进样器的至少部分组件或轨道主控装置发生变化，例如，以声和/或光的方式进行提醒。当轨道主控装置确认样本分析仪的进样器中不存在进样器参数，或其自身不存在与该样本分析仪的进样器参数相对应的备份数据时，可以直接将对应的备份数据发送至进样器存储为进样器参数或将进样器参数对应地存储于轨道主控装置作为备份数据，以保证进样器和轨道主控装置中的进样器参数和对应的备份数据之间的同步，有利于提高样本分析系统的升级效率。
138.在一些实施例中，所述轨道主控装置还用于：
139.当所述轨道主控装置中不存在所述备份数据时，获取对应的所述进样器参数并存储于所述轨道主控装置作为所述备份数据；或，
140.当所述进样器中不存在所述进样器参数时，将所述备份数据发送至对应的所述进样器存储单元存储为所述进样器参数。
141.其中，轨道主控装置在比较进样器中的进样器参数和轨道主控装置自身中对应存储的备份数据时，可能会发现进样器中不存在进样器参数或其自身不存在对应的备份数据，此时，当轨道主控装置中不存在所述备份数据，进样器中存在进样器参数时，轨道主控装置可以获取进样器参数并将其存储为备份数据；当进样器中不存在进样器参数，轨道主控装置中存在备份数据时，轨道主控装置将备份数据发送至进样器存储单元存储为进样器参数。
142.在一些实施例中，所述轨道主控装置还用于：
143.当所述当前存储的进样器参数和所述备份数据一致时，所述轨道主控装置向所述进样器发送所述进样器参数；
144.或，
145.当所述当前存储的进样器参数和所述备份数据不一致时，所述轨道主控装置基于操作者指令向所述进样器发送所述操作指令。
146.在一些实施例中，操作者可以通过操作者指令来指示数据不一致的原因。进一步地，轨道主控装置还可以向操作者提供对应的选项，每个选项对应于数据不一致的不同原因。此时，操作者可以根据实际情况进行选择合适的选项来发出该操作者指令。具体来说，
参见图6，图6示出了根据本技术实施例的操作者指令的又一示例。如图6所示，操作者指令可以指示样本分析系统中的第i个样本分析仪或第i个进样器(也可以是样本分析仪或进样器的id号)中的进样器存储单元更换、进样器更换、或轨道主控装置更换。在操作者根据实际情况进行选择后，则将相应的操作者指令发送至轨道主控装置，轨道主控装置根据不同的操作者指令，进行不同的响应。
147.在一些实施例中，所述轨道主控装置基于操作者指令向所述进样器发送所述操作指令，包括：
148.当所述操作者指令指示所述进样器存储单元更换时，则所述操作指令包括所述轨道主控装置向所述进样器发送所述进样器参数并存储至所述进样器存储单元；
149.当所述操作者指令指示所述进样器更换时，则所述操作指令包括所述轨道主控装置获取更换后的进样器的进样器参数并存储至所述参数存储单元；
150.当所述操作者指令指示所述轨道主控装置更换时，所述操作指令包括更换后的轨道主控装置从所述进样器存储单元获取所述进样器参数并存储至所述更换后的轨道主控装置。
151.其中，如果操作者指令指示进样存储单元更换，而进样器没变化，则可以从轨道主控装置中存储的对应的备份数据恢复该进样器的进样器参数，即轨道主控装置接收到操作者指令后，响应于该操作者指令向进样器发送备份数据，对应的进样器接收到该备份数据后，存储在本地作为其进样器参数。如果操作者指令指示进样器更换，则更换后的进样器，具有更换后的进样器参数，那么轨道主控装置接收到操作者指令后，响应于该操作者指令向更换后的进样器请求获取更换后的进样器参数，并继续作为备份数据进行备份。如果操作者指令指示轨道主控装置更换，则更换后的轨道主控装置接收到操作者指令后，响应于该指令，向多个进样器请求获取多个进样器参数，并相应地存储为备份数据。这样，就可以使得在更换进样器的部分组件、进样器或轨道主控装置后，无需再用夹具调整进样器的相应参数，也不必将整个样本分析系统进行重新行调试，可以直接从进样器或进样器主控装置进行恢复，进一步提升了样本分析系统的使用效率。而在更换多个进样器或进样器的部分组件时，也可以让对应的多个样本分析仪装置或多个进样器并行工作，进一步提升生产效率和整个样本分析系统的使用效率。
152.在上述实施例中，当操作者选择进样器更换时即操作者指令指示整个进样器进行了更换时，在满足工作要求的前提下，还可以不对更换后的进样器进行测量得到更换后的进样器参数，而由轨道主控装置直接将对应的备份数据发送至更换后的进样器中并存储为进样器参数。
153.在一些实施例中，以样本分析系统可以包括串联设置的第一样本分析仪和第二样本分析仪为例，对本技术实施例的样本分析系统进行说明。其中，样本分析系统包括：
154.第一样本分析仪包括第一进样器和第一样本分析仪装置，第一进样器用于将样本运送到第一预设位置，第一进样器包括第一存储进样器参数的第一进样存储单元；第一样本分析仪装置，与第一进样器连接，第一样本分析仪装置包括第一控制器和第一存储分析装置参数的第一参数存储单元，第一控制器用于基于第一进样器参数和第一分析装置参数控制第一样本分析仪装置对第一预设位置的样本进行操作；
155.第二样本分析仪包括第二进样器和第二样本分析仪装置，第二进样器用于将样本
运送到第二预设位置，第二进样器包括第二存储进样器参数的第二进样存储单元；第二样本分析仪装置，与第二进样器连接，第二样本分析仪装置包括第二控制器和第二存储分析装置参数的第二参数存储单元，第二控制器用于基于第二进样器参数和第二分析装置参数控制第二样本分析仪装置对第二预设位置的样本进行操作；
156.轨道，包括与第一进样器连接的第一轨道，用于将样本运送至第一进样器；以及第二轨道，连接于第一进样器和第二进样器之间，用于将样本运送至第二进样器；
157.轨道主控装置，与轨道、第一进样器和第二进样器连接，用于控制轨道、第一进样器和第二进样器的操作；
158.轨道主控装置可以基于相应的第一轨道参数控制第一轨道将样本运送到第一样本分析仪的第一进样器处，第一样本分析仪的第一控制器获取第一进样器存储单元中的第一进样器参数下发至第一进样器，控制第一进样器将样本移动到第一预设位置；第一控制器还从第一参数存储单元获取第一分析装置参数，基于第一进样器参数中的第一进样器误差参数和第一分析装置参数中的第一采样移动参数，得到第一样本分析仪装置的第一采样机构的第一移动距离；控制第一采样机构从其初始位置移动第一移动距离到达第一预设位置，并对样本进行第一操作；
159.第一控制器控制该经过第一操作的样本移动到第二轨道，轨道主控装置可以基于相应的第二轨道参数控制第二轨道将样本运送到第二样本分析仪的第二进样器处；
160.第二样本分析仪的第二控制器获取第二进样器存储单元中的第二进样器参数下发至第二进样器，控制第二进样器将样本移动到第二预设位置；第二控制器还从第二参数存储单元获取第二分析装置参数，基于第二进样器参数中的第二进样器误差参数和第二分析装置参数中的第二采样移动参数，得到第二样本分析仪装置的第二采样机构的第二移动距离；控制第二采样机构从其初始位置移动第二移动距离到达第二预设位置，并对样本进行第二操作。
161.在上述一些实施例中，轨道还可以包括第三轨道，与第二样本分析仪连接，用于将经过第二操作的样本移动到指定位置。其中指定位置可以是缓存位置，也可以是样本分析结束位置，在此不做限制。
162.在上述一些实施例中，由于不同的样本所需要进行的分析操作不同，有些样本可能不需要进行第一操作，则轨道主控装置还可以基于相应的第一轨道参数和第二轨道参数控制第一轨道和第二轨道直接将样本运送至第二样本分析仪的第二进样器处，而不经过第一样本分析仪的第一操作(即跳过第一样本分析仪)；同样地，在样本运送至第二样本分析仪的第二进样器处后，第二样本分析仪的第二控制器获取第二进样器存储单元中的第二进样器参数下发至第二进样器，控制第二进样器将样本移动到第二预设位置；第二控制器还从第二参数存储单元获取第二分析装置参数，基于第二进样器参数中的第二进样器误差参数和第二分析装置参数中的第二采样移动参数，得到第二样本分析仪装置的第二采样机构的第二移动距离；控制第二采样机构从其初始位置移动第二移动距离到达第二预设位置，并对样本进行第二操作。
163.在上述一些实施例中，轨道主控装置可以分别从第一进样器的进样存储单元获取所述第一进样器参数进行存储，作为第一备份数据；以及从第二进样器的进样存储单元获取所述第二进样器参数进行存储，作为第二备份数据。
164.在上述一些实施例中，轨道主控装置在第一(或第二)样本分析仪启动时(即开机时)，获取该第一(或第二)样本分析仪的第一(或第二)进样器中的当前第一(或第二)进样器参数，并与存储在轨道主控装置中的对应的第一(或第二)备份数据比较，如果二者一致，轨道主控装置向第一(或第二)进样器发送第一(或第二)进样器参数以控制第一(或第二)进样器运送样本至第一(或第二)预设位置；如果二者不一致，轨道主控装置向操作者提供对应的选项，每个选项对应于数据不一致的不同原因；操作者根据实际情况进行选择合适的选项来发出操作者指令，包括：
165.如果操作者指令指示第一(或第二)进样存储单元更换，则可以从轨道主控装置中存储的对应的第一(或第二)备份数据恢复该第一(或第二)进样器的第一(或第二)进样器参数，即轨道主控装置接收到操作者指令后，响应于该操作者指令向第一(或第二)进样器发送第一(或第二)备份数据，对应的第一(或第二)进样器接收到该第一(或第二)备份数据后，存储在本地作为其第一(或第二)进样器参数；
166.如果操作者指令指示第一(或第二)进样器更换，则更换后的新的第一(或第二)进样器，具有新的第一(或第二)进样器参数，那么轨道主控装置接收到操作者指令后，响应于该操作者指令向新的第一进样器请求获取新的第一(或第二)进样器参数，并继续作为第一(或第二)备份数据进行备份；
167.如果操作者指令指示轨道主控装置更换，则更换后的轨道主控装置接收到操作者指令后，响应于该操作者指令，向第一进样器和第二进样器请求获取第一进样器参数和第二进样器参数，并相应地存储为第一备份数据和第二备份数据。
168.这样，样本分析系统在更换任何一个进样器的部分组件、进样器或轨道主控装置后，无需再用夹具调整进样器的相应参数，也不必将整个样本分析系统进行重新行调试，可以直接从进样器或进样器主控装置进行恢复，极大减少了操作者的工作量以及提升了样本分析系统的使用效率。而在更换多个进样器或进样器的部分组件时，也可以让对应的多个样本分析仪装置或多个进样器并行工作，进一步提升生产效率和整个样本分析系统的使用效率。
169.由此可知，根据本技术实施例的样本分析装置及系统，通过将进样器参数存储于进样器端，而将分析装置参数存储于样本分析仪装置端，实现了进样器与样本分析仪装置之间的解耦，使得任意进样器可以与任意样本分析仪装置组合使用，降低了安装要求，提高了安装、仪器和进样器的搭配灵活度。
170.本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本技术的范围。
171.在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个设备，或一些特征可以忽略，或不执行。
172.在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本技术的实施
例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。
173.类似地，应当理解，为了精简本技术并帮助理解各个申请方面中的一个或多个，在对本技术的示例性实施例的描述中，本技术的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该本技术的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本技术要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如相应的权利要求书所反映的那样，其申请点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本技术的单独实施例。
174.本领域的技术人员可以理解，除了特征之间相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
175.此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本技术的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
176.应该注意的是上述实施例对本技术进行说明而不是对本技术进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本技术可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
177.以上所述，仅为本技术的具体实施方式或对具体实施方式的说明，本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。