一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置的制作方法

1.本发明涉及集成电路检测技术领域，具体为一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置。


背景技术：

2.印制电路板集成许多不同的集成电路，来实现某种功能，通常主要采用单板功能和通道功能的检测技术在印制电路板上检测集成电路的质量隐患，利用发光二极管的灯亮与否来判断集成电路的质量好坏，但是目前在进行检测集成电路板过程中，因为电路板上会存有静电，所以会吸附很多灰尘，进而导致其表面会粘附很多灰尘。
3.因此，现在急需一种不仅可以对集成电路板进行电路检测，而且在检测过程中，也可以对电路板上吸附的灰尘进行处理，从而在保证了电路板可以正常使用的同时，也可以对其进行灰尘处理保护，延长电路板的使用寿命，从而，一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置应运而生。


技术实现要素：

4.(一)解决的技术问题
5.针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置，具备自动检测，且可以对粘附的灰尘进行吸除等优点，解决了现有技术中在集成电路板上粘附有很多灰尘的问题。
6.(二)技术方案
7.为实现上述自动检测，且可以对粘附的灰尘进行吸除等目的，本发明提供如下技术方案：一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置，包括框架，所述框架内部的上端固定安装有转动杆，所述转动杆的左右两端均啮合连接有偏移杆，所述偏移杆的下端固定安装有弹性板，所述弹性板的下端固定安装与检测装置。
8.优选的，所述偏移杆的内部开设有连接槽，所述连接槽的内部固定安装有连接弹簧，所述弹性板与框架内壁之间的连接关系为固定连接，所述弹性板的上端固定安装有连接框，通过转动杆转动，带动偏移杆相互远离的过程中，带动弹性板运动，弹性板受到挤压力的作用，向下凸出，从而弹性板配合固定杆的作用，带动下端的检测装置向下运动，然后配合齿板向下运动，带动调节轮运动，调节轮在运动过程中可以配合支撑杆带动检测机构相互靠近，然后带动正负电极板向集成电路板靠近，从而实现了对集成电路检测的效果。
9.优选的，所述连接框内部的左右两端均滑动连接有弧形杆，所述弧形杆与连接槽之间活动安装有挤压杆，所述连接框的内部固定安装有连接囊，所述连接囊的上端开设有出气口，下端开设有进气口，通过偏移杆运动，偏移杆配合连接槽带动挤压杆运动，挤压杆配合弧形杆对连接囊施加拉扯力，连接囊在受到拉扯力过程中，会产生吸力作用，同时配合齿板带动调节轮运动，调节轮配合支撑杆带动连接板运动，从而带动检测机构运动，然后在正负电极板靠近集成电路板时，会对弧形板产生挤压力，弧形板配合导杆带动挡杆从竖杆
中向两侧运动，从而竖杆中的出气孔被打开，从而实现了对集成电路板上的灰尘进行吸收的效果。
10.优选的，所述检测装置包括：固定杆，所述固定杆的滑动连接有滑动板，所述滑动板的下端固定安装有led检测灯，所述滑动板的左右两端均固定安装有支撑杆，所述支撑杆的下端活动铰接有连接板，所述连接板下端的相对面上活动铰接有检测机构。
11.优选的，所述滑动板与支撑杆、连接板之间均为通气设计，所述滑动板的内部转动连接有调节轮，所述调节轮的相对面上啮合连接有齿板，所述齿板的上端与弹性板之间的连接关系为固定连接。
12.优选的，所述检测机构包括：活动杆，所述活动杆的相对面上活动铰接有弧形板，所述弧形板的内部通过导杆固定存储仓，所述存储仓的内部固定安装有竖杆，所述竖杆内部的上下两端均滑动连接有挡杆。
13.优选的，所述弧形板的相对面上分别固定安装有正负电极板，所述正负电极板与led检测灯之间为电连接关系。
14.优选的，所述竖杆的内部开设有出气孔，所述挡杆相互接触时出气孔被堵塞。
15.(三)有益效果
16.与现有技术相比，本发明提供了一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置，具备以下有益效果：
17.1、该集成电路自动检测用的灰尘处理装置，通过转动杆转动，带动偏移杆相互远离的过程中，带动弹性板运动，弹性板受到挤压力的作用，向下凸出，从而弹性板配合固定杆的作用，带动下端的检测装置向下运动，然后配合齿板向下运动，带动调节轮运动，调节轮在运动过程中可以配合支撑杆带动检测机构相互靠近，然后带动正负电极板向集成电路板靠近，从而实现了对集成电路检测的效果。
18.2、该集成电路自动检测用的灰尘处理装置，通过偏移杆运动，偏移杆配合连接槽带动挤压杆运动，挤压杆配合弧形杆对连接囊施加拉扯力，连接囊在受到拉扯力过程中，会产生吸力作用，同时配合齿板带动调节轮运动，调节轮配合支撑杆带动连接板运动，从而带动检测机构运动，然后在正负电极板靠近集成电路板时，会对弧形板产生挤压力，弧形板配合导杆带动挡杆从竖杆中向两侧运动，从而竖杆中的出气孔被打开，从而实现了对集成电路板上的灰尘进行吸收的效果。
附图说明
19.图1为本发明整体结构正面示意图；
20.图2为本发明连接框结构示意图；
21.图3为本发明检测装置结构示意图；
22.图4为本发明检测机构结构示意图；
23.图5为本发明图3中a结构放大示意图。
24.图中：1、框架；2、转动杆；3、偏移杆；4、弹性板；5、检测装置；51、固定杆；52、滑动板；521、调节轮；522、齿板；53、led检测灯；54、支撑杆；55、连接板；56、检测机构；561、活动杆；562、弧形板；563、导杆；564、存储仓；565、竖杆；566、挡杆；6、连接槽；7、连接弹簧；8、连接框；81、弧形杆；82、挤压杆；83、连接囊。
具体实施方式
25.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
26.实施例一：
27.请参阅图1-2，一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置，包括框架1，框架1内部的上端固定安装有转动杆2，转动杆2的左右两端均啮合连接有偏移杆3，偏移杆3的下端固定安装有弹性板4，弹性板4的下端固定安装与检测装置5，偏移杆3的内部开设有连接槽6，连接槽6的内部固定安装有连接弹簧7，弹性板4与框架1内壁之间的连接关系为固定连接，弹性板4的上端固定安装有连接框8。
28.通过转动杆2转动，带动偏移杆3相互远离的过程中，带动弹性板4运动，弹性板4受到挤压力的作用，向下凸出，从而弹性板4配合固定杆51的作用，带动下端的检测装置5向下运动，然后配合齿板522向下运动，带动调节轮521运动，调节轮521在运动过程中可以配合支撑杆54带动检测机构56相互靠近，然后带动正负电极板向集成电路板靠近，从而实现了对集成电路检测的效果。
29.实施例二：
30.请参阅图1、2、3、4，一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置，包括框架1，框架1内部的上端固定安装有转动杆2，转动杆2的左右两端均啮合连接有偏移杆3，偏移杆3的下端固定安装有弹性板4，弹性板4的下端固定安装与检测装置5，连接框8内部的左右两端均滑动连接有弧形杆81，弧形杆81与连接槽6之间活动安装有挤压杆82，连接框8的内部固定安装有连接囊83，连接囊83的上端开设有出气口，下端开设有进气口。
31.通过偏移杆3运动，偏移杆3配合连接槽6带动挤压杆82运动，挤压杆82配合弧形杆81对连接囊83施加拉扯力，连接囊83在受到拉扯力过程中，会产生吸力作用，同时配合齿板522带动调节轮521运动，调节轮521配合支撑杆54带动连接板55运动，从而带动检测机构56运动，然后在正负电极板靠近集成电路板时，会对弧形板562产生挤压力，弧形板562配合导杆563带动挡杆566从竖杆565中向两侧运动，从而竖杆565中的出气孔被打开，从而实现了对集成电路板上的灰尘进行吸收的效果。
32.实施例三：
33.请参阅图1-5，一种集成电路自动检测用的灰尘处理装置，包括框架1，框架1内部的上端固定安装有转动杆2，转动杆2的左右两端均啮合连接有偏移杆3，偏移杆3的内部开设有连接槽6，连接槽6的内部固定安装有连接弹簧7，弹性板4与框架1内壁之间的连接关系为固定连接，弹性板4的上端固定安装有连接框8，通过转动杆2转动，带动偏移杆3相互远离的过程中，带动弹性板4运动，弹性板4受到挤压力的作用，向下凸出，从而弹性板4配合固定杆51的作用，带动下端的检测装置5向下运动，然后配合齿板522向下运动，带动调节轮521运动，调节轮521在运动过程中可以配合支撑杆54带动检测机构56相互靠近，然后带动正负电极板向集成电路板靠近，从而实现了对集成电路检测的效果。
34.偏移杆3的下端固定安装有弹性板4，弹性板4的下端固定安装与检测装置5，检测装置5包括：固定杆51，固定杆51的滑动连接有滑动板52，滑动板52与支撑杆54、连接板55之
间均为通气设计，滑动板52的内部转动连接有调节轮521，调节轮521的相对面上啮合连接有齿板522，齿板522的上端与弹性板4之间的连接关系为固定连接，滑动板52的下端固定安装有led检测灯53，滑动板52的左右两端均固定安装有支撑杆54，支撑杆54的下端活动铰接有连接板55，连接板55下端的相对面上活动铰接有检测机构56，检测机构56包括：活动杆561，活动杆561的相对面上活动铰接有弧形板562，弧形板562的相对面上分别固定安装有正负电极板，正负电极板与led检测灯53之间为电连接关系，弧形板562的内部通过导杆563固定存储仓564，存储仓564的内部固定安装有竖杆565，竖杆565的内部开设有出气孔，挡杆566相互接触时出气孔被堵塞，竖杆565内部的上下两端均滑动连接有挡杆566，连接框8内部的左右两端均滑动连接有弧形杆81，弧形杆81与连接槽6之间活动安装有挤压杆82，连接框8的内部固定安装有连接囊83，连接囊83的上端开设有出气口，下端开设有进气口，通过偏移杆3运动，偏移杆3配合连接槽6带动挤压杆82运动，挤压杆82配合弧形杆81对连接囊83施加拉扯力，连接囊83在受到拉扯力过程中，会产生吸力作用，同时配合齿板522带动调节轮521运动，调节轮521配合支撑杆54带动连接板55运动，从而带动检测机构56运动，然后在正负电极板靠近集成电路板时，会对弧形板562产生挤压力，弧形板562配合导杆563带动挡杆566从竖杆565中向两侧运动，从而竖杆565中的出气孔被打开，从而实现了对集成电路板上的灰尘进行吸收的效果
35.工作原理：该集成电路自动检测用的灰尘处理装置，通过转动杆2转动，带动偏移杆3相互远离的过程中，带动弹性板4运动，弹性板4受到挤压力的作用，向下凸出，从而弹性板4配合固定杆51的作用，带动下端的检测装置5向下运动，然后配合齿板522向下运动，带动调节轮521运动，调节轮521在运动过程中可以配合支撑杆54带动检测机构56相互靠近，然后带动正负电极板向集成电路板靠近，从而实现了对集成电路检测的效果；通过偏移杆3运动，偏移杆3配合连接槽6带动挤压杆82运动，挤压杆82配合弧形杆81对连接囊83施加拉扯力，连接囊83在受到拉扯力过程中，会产生吸力作用，同时配合齿板522带动调节轮521运动，调节轮521配合支撑杆54带动连接板55运动，从而带动检测机构56运动，然后在正负电极板靠近集成电路板时，会对弧形板562产生挤压力，弧形板562配合导杆563带动挡杆566从竖杆565中向两侧运动，从而竖杆565中的出气孔被打开，从而实现了对集成电路板上的灰尘进行吸收的效果。
36.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。