一种残膜回收机防缠绕挑膜装置的制 一种秧草收获机用电力驱动行走机构

一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法与流程

2022-04-24 18:59:34 来源:中国专利 TAG:


1.本发明是关于一种样品处理及/或样品分析的方法,且特别是关于一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法。


背景技术:

2.样品处理及/或样品分析用的装置,包括电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪(sem/eds)、3d激光共焦轮廓仪(3d laser confocal profile)或x-射线光电子能谱仪(x-ray photoelectron spectroscopy;xps)等,均为精密的材料分析仪器,价格昂贵且仪器配备高阶计算机及专用的控制卡及专用键盘,故操作人员需受专业训练才能操作此精密的样品处理及/或样品分析用的装置,且必须在现场操作,将样品放入样品处理及/或样品分析用的装置后,然后才能执行后续的样品处理及拍摄影像分析等作业。此种操作模式不利于提供跨厂区或甚至跨国企业服务。
3.有鉴于此,一种可改善上述缺点的远程控制样品处理及/或样品分析的方法乃目前业界所殷切期盼。


技术实现要素:

4.本发明的一特征是公开了一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法,其步骤包括:提供一受控端系统,该受控端系统包括:一样品处理及/或样品分析装置;一受控端主计算机,该受控端主计算机与该样品处理及/或样品分析装置通讯连接;一受控端控制装置,该受控端控制装置包括一受控端专用键盘、一受控端一般键盘及一受控端鼠标,且该受控端控制装置与该受控端主计算机通讯连接,用以控制该样品处理及/或样品分析装置的操作;及一受控端屏幕,该受控端屏幕与该受控端主计算机通讯连接,且该受控端屏幕乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果;提供一远程控制系统,该远程控制系统包括:一主控端计算机,且该主控端计算机内有安装一远程控制软件;一主控端控制装置,该主控端控制装置包括一主控端专用键盘、一主控端一般键盘及一主控端鼠标,且该主控端控制装置与该主控端计算机通讯连接,且该主控端控制装置与该受控端系统中的该受控端控制装置的构造与功能均相同;及一主控端屏幕,该主控端屏幕与该主控端计算机通讯连接;使该远程控制系统与该受控端系统通过宽带网络建立联机,并使该远程控制系统通过该远程控制软件控制该受控端系统,此时该主控端屏幕画面与该受控端屏幕同步呈现;提供一待处理及/或待分析的样品,并将该待处理及/或待分析的样品放入该受控端系统中的该样品处理及/或样品分析装置内;以及通过该主控端计算机及该远程控制软件,使该受控端系统中的该受控端控制装置在该远程控制系统的该主控端控制装置操作时被同步操作,并进而通过被同步操作的该受控端控制装置使该样品处理及/或样品分析装置进行后续的样品处理及/或样品分析作业。
5.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该样品处理及/或样品分析装置为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪
(sem/eds)、3d激光共焦轮廓仪(3d laser confocal profile)或x-射线光电子能谱仪(x-ray photoelectron spectroscopy;xps)。
6.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该电子束显微镜为扫描式电子显微镜(sem)、穿透式电子显微镜(tem)、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪(sem/eds)或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪(tem/eds)。
7.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该离子束显微镜为聚焦离子束显微镜(fib)或电浆聚焦离子束扫描电子显微镜(pfib)。
8.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该双粒子束显微镜为双束聚焦离子束显微镜(dual beam fib)、双束聚焦离子束/能量散射光谱仪(dual beam fib/eds)。
9.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该受控端专用键盘包括扫描模式选择钮、样品位置调整钮、扫描影像对比调控钮、影像明亮调控钮、影像倍率调控钮、焦距调控钮、像差调整钮、及影像位置调整钮。
10.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该主控端专用键盘包括扫描模式选择钮、样品位置调整钮、扫描影像对比调控钮、影像明亮调控钮、影像倍率调控钮、焦距调控钮、像差调整钮、及影像位置调整钮。
11.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该受控端系统更包括一受控端辅助装置,该受控端辅助装置包括一辅助计算机及一辅助输入/输出装置,该辅助计算机与该受控端主计算机通讯连接,且该辅助计算机输入/输出装置与该辅助计算机通讯连接,藉由该受控端辅助装置使自该受控端主计算机所获得的相关样品的分析数据可进一步被备份、处理或传递。
12.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该辅助输入/输出装置为一辅助键盘、及/或一储存设备、及/或一辅助鼠标。
13.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该远程控制软件例如为但不限于teamviewer、chrome remote desktop、splashtop、microsoft remote desktop、tightvnc、radmin、usb over ethernet、daemon tools usb、usb network gate、mikogo、anydesk、wayk now。
14.前述的的任一种远程控制样品处理及/或样品分析的方法,其中该远程控制系统中的该主控端计算机内所安装的该远程控制软件有二套,在该远程控制系统与该受控端系统通过宽带网络建立网络联机后,其中一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置中的该主控端专用键盘可远程控制该受控端控制装置中的该受控端专用键盘,而另一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置中的该主控端一般键盘及该主控端鼠标可远程控制该受控端控制装置中的该受控端一般专用键盘及该受控端鼠标。
附图说明
15.图1所绘示的是根据本发明实施例一所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
16.图2所绘示的是根据本发明实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
17.图3所绘示的是根据本发明实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析
的方法示意图。
18.图4所绘示的是根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
19.其中,附图中符号的简单说明如下:
20.100
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端系统
21.110
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
样品处理及/或样品分析装置
22.130
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端主计算机
23.150
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端控制装置
24.151
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端专用键盘
25.153
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端一般键盘
26.155
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端鼠标
27.170
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端屏幕
28.190
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
受控端辅助装置
29.191
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
辅助计算机
30.193
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
辅助输入/输出装置
31.200
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端系统
32.230
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端计算机
33.250
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端控制装置
34.251
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端专用键盘
35.253
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端一般键盘
36.255
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端鼠标
37.270
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
主控端屏幕
具体实施方式
38.为了使本发明公开内容的叙述更加详细与完备,下文针对本发明的实施方案与具体实施例进行了说明性的描述;但这并非是实施或运用本发明具体实施例的唯一形式。以下所揭露的各种实施例,在有益的情形下可相互组合或取代,也可在一种实施例中附加其他的实施例,而无须进一步的记载或说明。
39.在以下描述中,将详细叙述许多特定细节以使读者能够充分理解以下的实施例。然而,可在无此等特定细节的的情况下实践本发明的的实施例。在其他情况下,为简化附图,熟知的结构与装置仅示意性地绘示于图中。
40.实施例
41.以下将以在远程控置系统中的控制端计算机内装载有一套远程控制软件的实施例一、二以及在远程控置系统中的控制端计算机内装载有二套远程控制软件的实施例三、四例示说明根据本发明的远程控制样品处理及/或样品分析的方法。惟,在根据本发明的其它实施例中,在远程控置系统中的控制端计算机内装载的远程控制软件也可视需要调整为其它套数。
42.实施例一
43.请参阅图1,其所绘示的是根据本发明实施例一所公开的远程控制样品处理及/或
样品分析的方法示意图。
44.如图1所示,提供一受控端系统100,该受控端系统100包括:一样品处理及/或样品分析装置110;一受控端主计算机130,该受控端主计算机130与该样品处理及/或样品分析装置110通讯连接;一受控端控制装置150,该受控端控制装置150包括一受控端专用键盘151、一受控端一般键盘153及一受控端鼠标155,且该受控端控制装置150与该受控端主计算机130通讯连接,用以控制该样品处理及/或样品分析装置110的操作;及一受控端屏幕170,该受控端屏幕170与该受控端主计算机130通讯连接,且该受控端屏幕170乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置110在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果;提供一远程控制系统200,该远程控制系统200包括:一主控端计算机230,且该主控端计算机230内有安装一远程控制软件(未绘示);一主控端控制装置250,该主控端控制装置250包括一主控端专用键盘251、一主控端一般键盘253及一主控端鼠标255,且该主控端控制装置250与该主控端计算机230通讯连接,且该主控端控制装置250与该受控端系统100中的该受控端控制装置150的构造与功能均相同;及一主控端屏幕270,该主控端屏幕270与该主控端计算机230通讯连接;使该远程控制系统200与该受控端系统100通过宽带网络建立联机,并使该远程控制系统200通过该远程控制软件(未绘示)控制该受控端系统100,此时该主控端萤270幕画面与该受控端屏幕170同步呈现;提供一待处理及/或待分析的样品(未绘示),并将该待处理及/或待分析的样品(未绘示)放入该受控端系统100中的该样品处理及/或样品分析装置110内;以及通过该主控端计算机230及该远程控制软件(未绘示),使该受控端系统100中的该受控端控制装置150在该远程控制系统200的该主控端控制装置250操作时被同步操作,并进而通过被同步操作的该受控端控制装置150使该样品处理及/或样品分析装置110进行后续的样品处理及/或样品分析作业。
45.根据本发明实施例一所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该样品处理及/或样品分析装置110,可为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪(sem/eds)、3d雷射共焦轮廓仪(3d laser confocal profile)或x-射线光电子能谱仪(x-ray photoelectron spectroscopy;xps)。其中,该电子束显微镜为例如但不限于扫描式电子显微镜(sem)、穿透式电子显微镜(tem)、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪(sem/eds)或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪(tem/eds);该离子束显微镜为例如但不限于聚焦离子束显微镜(fib)或电浆聚焦离子束扫描电子显微镜(pfib);该双粒子束显微镜为例如但不限于双束聚焦离子束显微镜(dual beam fib)、双束聚焦离子束/能量散射光谱仪(dual beam fib/eds)。
46.根据本发明实施例一所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该受控端专用键盘151可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
47.根据本发明实施例一所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该主控端专用键盘251可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
48.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该远程控制软件例如为但不限
于teamviewer、chrome remote desktop、splashtop、microsoft remote desktop、tightvnc、radmin、usb over ethernet、daemon tools usb、usb network gate、mikogo、anydesk、wayk now。
49.实施例二
50.请参阅图2,其所绘示的是根据本发明实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
51.如图2所示,提供一受控端系统100,该受控端系统100包括:一样品处理及/或样品分析装置110;一受控端主计算机130,该受控端主计算机130与该样品处理及/或样品分析装置110通讯连接;一受控端控制装置150,该受控端控制装置150包括一受控端专用键盘151、一受控端一般键盘153及一受控端鼠标155,且该受控端控制装置150与该受控端主计算机130通讯连接,用以控制该样品处理及/或样品分析装置110的操作;一受控端屏幕170,该受控端屏幕170与该受控端主计算机130通讯连接,且该受控端屏幕170乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置110在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果;及一受控端辅助装置190,该受控端辅助装置190包括一辅助计算机191及一辅助输入/输出装置193,该辅助计算机191与该受控端主计算机130通讯连接,且该辅助输入/输出装置193与该辅助计算机191通讯连接,藉由该受控端辅助装置190使自该受控端主计算机130所获得的相关样品的分析数据可进一步被备份、处理或传递;提供一远程控制系统200,该远程控制系统200包括:一主控端计算机230,且该主控端计算机230内有安装一远程控制软件(未绘示);一主控端控制装置250,该主控端控制装置250包括一主控端专用键盘251、一主控端一般键盘253及一主控端鼠标255,且该主控端控制装置250与该主控端计算机230通讯连接,且该主控端控制装置250与该受控端系统100中的该受控端控制装置150的构造与功能均相同;及一主控端屏幕270,该主控端屏幕270与该主控端计算机230通讯连接;使该远程控制系统200与该受控端系统100通过宽带网络建立联机,并使该远程控制系统200通过该远程控制软件(未绘示)控制该受控端系统100,此时该主控端萤270幕画面与该受控端屏幕170同步呈现;提供一待处理及/或待分析的样品(未绘示),并将该待处理及/或待分析的样品(未绘示)放入该受控端系统100中的该样品处理及/或样品分析装置110内;以及通过该主控端计算机230及该远程控制软件(未绘示),使该受控端系统100中的该受控端控制装置150在该远程控制系统200的该主控端控制装置250操作时被同步操作,并进而通过被同步操作的该受控端控制装置150使该样品处理及/或样品分析装置110进行后续的样品处理及/或样品分析作业。
52.根据本发明实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该样品处理及/或样品分析装置110,可为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪(sem/eds)、3d激光共焦轮廓仪(3d laser confocal profile)或x-射线光电子能谱仪(x-ray photoelectron spectroscopy;xps)。其中,该电子束显微镜为例如但不限于扫描式电子显微镜(sem)、穿透式电子显微镜(tem)、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪(sem/eds)或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪(tem/eds);该离子束显微镜为例如但不限于聚焦离子束显微镜(fib)或电浆聚焦离子束扫描电子显微镜(pfib);该双粒子束显微镜为例如但不限于双束聚焦离子束显微镜(dual beam fib)、双束聚焦离子束/能量散射光谱仪(dual beam fib/eds)。
53.根据本发明实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该辅助输入/输出装置193为例如但不限于一辅助键盘、及/或一储存设备、及/或一辅助鼠标。
54.根据本发明实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该受控端专用键盘151可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
55.根据本发明实施例二所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该主控端专用键盘251可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
56.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该远程控制软件例如为但不限于teamviewer、chrome remote desktop、splashtop、microsoft remote desktop、tightvnc、radmin、usb over ethernet、daemon tools usb、usb network gate、mikogo、anydesk、wayk now。
57.实施例三
58.请参阅图3,其所绘示的是根据本发明实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
59.如图3所示,提供一受控端系统100,该受控端系统100包括:一样品处理及/或样品分析装置110;一受控端主计算机130,该受控端主计算机130与该样品处理及/或样品分析装置110通讯连接;一受控端控制装置150,该受控端控制装置150包括一受控端专用键盘151、一受控端一般键盘153及一受控端鼠标155,且该受控端控制装置150与该受控端主计算机130通讯连接,用以控制该样品处理及/或样品分析装置110的操作;及一受控端屏幕170,该受控端屏幕170与该受控端主计算机130通讯连接,且该受控端屏幕170乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置110在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果;提供一远程控制系统200,该远程控制系统200包括:一主控端计算机230,且该主控端计算机230内有安装一远程控制软件(未绘示);一主控端控制装置250,该主控端控制装置250包括一主控端专用键盘251、一主控端一般键盘253及一主控端鼠标255,且该主控端控制装置250与该主控端计算机230通讯连接,且该主控端控制装置250与该受控端系统100中的该受控端控制装置150的构造与功能均相同;及一主控端屏幕270,该主控端屏幕270与该主控端计算机230通讯连接;使该远程控制系统200与该受控端系统100通过宽带网络建立联机,并使该远程控制系统200通过该远程控制软件(未绘示)控制该受控端系统100,此时该主控端萤270幕画面与该受控端屏幕170同步呈现;提供一待处理及/或待分析的样品(未绘示),并将该待处理及/或待分析的样品(未绘示)放入该受控端系统100中的该样品处理及/或样品分析装置110内;以及通过该主控端计算机230及该远程控制软件(未绘示),使该受控端系统100中的该受控端控制装置150在该远程控制系统200的该主控端控制装置250操作时被同步操作,并进而通过被同步操作的该受控端控制装置150使该样品处理及/或样品分析装置110进行后续的样品处理及/或样品分析作业。
60.根据本发明实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的
该样品处理及/或样品分析装置110,可为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪(sem/eds)、3d激光共焦轮廓仪(3d laser confocal profile)或x-射线光电子能谱仪(x-ray photoelectron spectroscopy;xps)。其中,该电子束显微镜为例如但不限于扫描式电子显微镜(sem)、穿透式电子显微镜(tem)、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪(sem/eds)或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪(tem/eds);该离子束显微镜为例如但不限于聚焦离子束显微镜(fib)或电浆聚焦离子束扫描电子显微镜(pfib);该双粒子束显微镜为例如但不限于双束聚焦离子束显微镜(dual beam fib)、双束聚焦离子束/能量散射光谱仪(dual beam fib/eds)。
61.根据本发明实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该受控端专用键盘151可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
62.根据本发明实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该主控端专用键盘251可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
63.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该远程控制软件例如为但不限于teamviewer、chrome remote desktop、splashtop、microsoft remote desktop、tightvnc、radmin、usb over ethernet、daemon tools usb、usb network gate、mikogo、anydesk、wayk now。
64.此外,根据本发明实施例三所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,其与实施例一的差异在于该远程控制系统200中的该主控端计算机230内所安装的该远程控制软件有二套,在该远程控制系统200与该受控端系统100通过宽带网络建立网络联机后,其中一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置250中的该主控端专用键盘251可远程控制该受控端控制装置150中的该受控端专用键盘151,而另一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置250中的该主控端一般键盘253及该主控端鼠标255可远程控制该受控端控制装置150中的该受控端一般专用键盘151及该受控端鼠标153。
65.实施例四
66.请参阅图4,其所绘示的是根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法示意图。
67.如图4所示,提供一受控端系统100,该受控端系统100包括:一样品处理及/或样品分析装置110;一受控端主计算机130,该受控端主计算机130与该样品处理及/或样品分析装置110通讯连接;一受控端控制装置150,该受控端控制装置150包括一受控端专用键盘151、一受控端一般键盘153及一受控端鼠标155,且该受控端控制装置150与该受控端主计算机130通讯连接,用以控制该样品处理及/或样品分析装置110的操作;一受控端屏幕170,该受控端屏幕170与该受控端主计算机130通讯连接,且该受控端屏幕170乃用于呈现该样品处理及/或样品分析装置110在操作时所必须输入的参数及分析后所获得的结果;及一受控端辅助装置190,该受控端辅助装置190包括一辅助计算机191及一辅助输入/输出装置193,该辅助计算机191与该受控端主计算机130通讯连接,且该辅助输入/输出装置193与该
辅助计算机191通讯连接,藉由该受控端辅助装置190使自该受控端主计算机130所获得的相关样品的分析数据可进一步被备份、处理或传递;提供一远程控制系统200,该远程控制系统200包括:一主控端计算机230,且该主控端计算机230内有安装一远程控制软件(未绘示);一主控端控制装置250,该主控端控制装置250包括一主控端专用键盘251、一主控端一般键盘253及一主控端鼠标255,且该主控端控制装置250与该主控端计算机230通讯连接,且该主控端控制装置250与该受控端系统100中的该受控端控制装置150的构造与功能均相同;及一主控端屏幕270,该主控端屏幕270与该主控端计算机230通讯连接;使该远程控制系统200与该受控端系统100通过宽带网络建立联机,并使该远程控制系统200通过该远程控制软件(未绘示)控制该受控端系统100,此时该主控端萤270幕画面与该受控端屏幕170同步呈现;提供一待处理及/或待分析的样品(未绘示),并将该待处理及/或待分析的样品(未绘示)放入该受控端系统100中的该样品处理及/或样品分析装置110内;以及通过该主控端计算机230及该远程控制软件(未绘示),使该受控端系统100中的该受控端控制装置150在该远程控制系统200的该主控端控制装置250操作时被同步操作,并进而通过被同步操作的该受控端控制装置150使该样品处理及/或样品分析装置110进行后续的样品处理及/或样品分析作业。
68.根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该样品处理及/或样品分析装置110,可为电子束显微镜、离子束显微镜、双粒子束显微镜、原子力显微镜、质谱仪、能量散射光谱仪(sem/eds)、3d激光共焦轮廓仪(3d laser confocal profile)或x-射线光电子能谱仪(x-ray photoelectron spectroscopy;xps)。其中,该电子束显微镜为例如但不限于扫描式电子显微镜(sem)、穿透式电子显微镜(tem)、扫描式电子显微镜/能量散射光谱仪(sem/eds)或穿透式电子显微镜/能量散射光谱仪(tem/eds);该离子束显微镜为例如但不限于聚焦离子束显微镜(fib)或电浆聚焦离子束扫描电子显微镜(pfib);该双粒子束显微镜为例如但不限于双束聚焦离子束显微镜(dual beam fib)、双束聚焦离子束/能量散射光谱仪(dual beam fib/eds)。
69.根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该辅助输入/输出装置193为例如但不限于一辅助键盘、及/或一储存设备、及/或一辅助鼠标。
70.根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该受控端专用键盘151可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
71.根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,前述的该主控端专用键盘251可包括但不限于扫描模式选择钮(未绘示)、样品位置调整钮(未绘示)、扫描影像对比调控钮(未绘示)、影像明亮调控钮(未绘示)、影像倍率调控钮(未绘示)、焦距调控钮(未绘示)、像差调整钮(未绘示)、及影像位置调整钮(未绘示)等。
72.前述的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,该远程控制软件例如为但不限于teamviewer、chrome remote desktop、splashtop、microsoft remote desktop、tightvnc、radmin、usb over ethernet、daemon tools usb、usb network gate、mikogo、anydesk、wayk now。
73.此外,根据本发明实施例四所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,其与实施例二的的差异在于该远程控制系统200中的该主控端计算机230内所安装的该远程控制软件有二套,在该远程控制系统200与该受控端系统100通过宽带网络建立网络联机后,其中一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置250中的该主控端专用键盘251可远程控制该受控端控制装置150中的该受控端专用键盘151,而另一套该远程控制软件乃用以使该主动端控制装置250中的该主控端一般键盘253及该主控端鼠标255可远程控制该受控端控制装置150中的该受控端一般专用键盘151及该受控端鼠标153。
74.根据本发明所公开的远程控制样品处理及/或样品分析的方法,当样品处理及/或样品分析装置与受过训练的专业人员分处相异的甲、乙两地时,位于乙地的专业训练人员不需亲临样品处理及/或样品分析装置所在的甲地便可远程控制位于甲地样品处理及/或样品分析装置进行后续的样品处理及/或样品分析作业,故此种操作模式可更便利地提供跨厂区或甚至跨国企业服务。
75.以上所述仅为本发明较佳实施例,并非用以限定本发明的范围,任何熟悉本项技术的人员,在不脱离本发明的精神和范围内,可在此基础上做进一步的改进和变化,因此本发明的保护范围当权利要求书所界定的范围为准。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

发表评论 共有条评论
用户名: 密码:
验证码: 匿名发表

相关文献