显示面板的残像测试方法及相关装置与流程

1.本技术属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板的残像测试方法及相关装置。


背景技术：

2.显示面板的残像是指显示面板在显示前一静态画面并持续一段时间后，在显示后一画面时仍然会出现前一画面的影像或轮廓的现象。因此，在显示面板出厂前需要对显示面板的残像水平进行测试，以保证出厂后显示面板的显示效果。
3.但是，利用现有的残像测试方法对亮度均一性较差的显示面板进行测试所获得的残像测试结果不能很好地与目视结果匹配。


技术实现要素：

4.本技术提供一种显示面板的残像测试方法及相关装置，以提高残像测试结果与目视结果之间的匹配度。
5.为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的残像测试方法，包括：使所述显示面板显示中灰阶画面，并获得所述显示面板中多个第一测试区域和多个第二测试区域的第一亮度数据；其中，所述显示面板设置有第一选定区域和第二选定区域，所述第一选定区域内设置有多个所述第一测试区域，所述第二选定区域内设置有多个所述第二测试区域，且一个所述第一测试区域和一个所述第二测试区域构成一个测试组，同一所述测试组内的所述第一测试区域和所述第二测试区域关于所述显示面板的第一中轴线对称设置；使位于所述第一中轴线一侧的所述显示面板显示黑画面，且位于所述第一中轴线另一侧的所述显示面板显示白画面；使所述显示面板显示所述中灰阶画面，并获得多个所述第一测试区域和多个所述第二测试区域的第二亮度数据；根据同一测试组内的所述第一测试区域和所述第二测试区域的第一亮度数据和第二亮度数据获得第一残像参数；利用多个所述测试组的所述第一残像参数获得第二残像参数。
6.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板的残像测试装置，包括相互耦接的存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现上述任一实施例中所述的残像测试方法。
7.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种存储装置，存储有能够被处理器运行的程序指令，所述程序指令用于实现上述任一实施例中所述的残像测试方法。
8.区别于现有技术情况，本技术的有益效果是：本技术所提供的残像测试方法中显示面板具有至少一组第一选定区域和第二选定区域；且第一选定区域内设置有多个第一测试区域，第二选定区域内设置有多个第二测试区域，一个第一测试区域和一个第二测试区域构成一个测试组，而同一测试组内的第一测试区域和第二测试区域关于显示面板的第一中轴线对称设置。后续可以根据同一测试组内的第一测试区域和第二测试区域在黑白块老化之前和之后的亮度数据获得第一残像参数，并基于多个测试组的第一残像参数获得第二
残像参数。在本技术中将第一选定区域和第二选定区域进行细分，细分后的第一测试区域和第二测试区域的面积较小，细分后的第一测试区域和第二测试区域内的亮度均一性较好。基于细分后的第一测试区域和第二测试区域所获得的第二残像参数，可以减少第一选定区域和第二选定区域内亮度不均所造成的数据量化结果和目视结果不匹配的现象，以使得残像测试结果更为准确。
9.此外，对第一选定区域细分后的每个测试组中第一测试区域与第二测试区域之间的第一距离不同，可以根据每个测试组的第一距离确定其对第二残像参数的贡献度(即第一权重值)，基于每个测试组的贡献度计算获得的第二残像参数与目视结果的匹配性更优，结果更加准确。
附图说明
10.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
11.图1为本技术显示面板的残像测试方法一实施方式的流程示意图；
12.图2为显示面板一实施方式的结构示意图；
13.图3a为显示面板显示黑白块一实施方式的结构示意图；
14.图3b为显示面板显示黑白块另一实施方式的结构示意图；
15.图4为显示面板另一实施方式的结构示意图；
16.图5a为进入步骤s103后分别在不同采集时间下所采集获得的第一选定区域和多个第一测试区域的亮度数据示意图；
17.图5b为进入步骤s103后分别在不同采集时间下所采集获得的第二选定区域和多个第二测试区域的亮度数据示意图；
18.图6为本技术显示面板的残像测试装置一实施方式的结构示意图；
19.图7为本技术存储装置一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
20.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
21.请参阅图1和图2，图1为本技术显示面板的残像测试方法一实施方式的流程示意图，图2为显示面板一实施方式的结构示意图。该显示面板可以为oled显示面板、led显示面板、液晶显示面板等。本技术所提供的残像测试方法包括：
22.s101：使显示面板1显示中灰阶画面，并获得显示面板1中多个第一测试区域a和多个第二测试区域b的第一亮度数据；其中，显示面板1设置有第一选定区域a和第二选定区域b，第一选定区域a内设置有多个第一测试区域a，第二选定区域b内设置有多个第二测试区域b，且一个第一测试区域a和一个第二测试区域b构成一个测试组10，同一测试组10内的第
一测试区域a和第二测试区域b关于显示面板1的第一中轴线l1对称设置。
23.具体地，如图2所示，图2中示意画出一组第一选定区域a和第二选定区域b。一般而言，显示面板1的中央区域为人眼感知较为明显的区域，故同组内的第一选定区域a和第二选定区域b可以包括位于显示面板1的中央区域的部分。
24.可选地，第一选定区域a和第二选定区域b关于显示面板1的第一中轴线l1对称设置，第一选定区域a与第一中轴线l1之间具有预设间隔d，该预设间隔d可以为0.3-0.8mm，例如，0.5mm等。一方面，该预设间隔d的设置可以使得第一选定区域a尽可能位于显示面板1的中央位置；另一方面，后续进行黑白块老化时是以该第一中轴线l1进行划分，第一中轴线l1位置处的亮度数据偏差较大；该预设间隔d的设置可以使得第一选定区域a和第二选定区域b避开黑白块切分时的界面，以使得后续获得的第二残像参数较为准确。
25.如图2中所示，上述第一中轴线l1可以与显示面板1的长边平行；当然，在其他实施例中，该第一中轴线l1也可以与显示面板1的短边平行。进一步，当显示面板1还包括与第一中轴线l1相互垂直的第二中轴线l2时，该第一选定区域a还可关于该第二中轴线l2对称设置，第二选定区域b也可关于该第二中轴线l2对称设置。该设计方式可以使得第一选定区域a和第二选定区域b尽可能位于显示面板1的中央区域，以使得后续获得的第二残像参数与目视结果更为匹配。而具体第一选定区域a和第二选定区域b的尺寸大小可以根据实际需求进行调整，例如，当第一中轴线l1与显示面板1的长边平行时，第一选定区域a的长度可以为显示面板1的长边长度的40％左右，第一选定区域a的宽度可以为显示面板1的短边长度的10％左右。
26.此外，在进行上述步骤s101之前，本技术所提供的残像测试方法还可以包括：对显示面板1进行划分以获得至少一组第一选定区域a和第二选定区域b；其中，同组内的第一选定区域a和第二选定区域b关于第一中轴线l1对称设置；对第一选定区域a进行划分以获得多个第一测试区域a、以及对第二选定区域b进行划分以获得多个第二测试区域b；其中，多个第一测试区域a和多个第二测试区域b沿垂直于第一中轴线方向l1(即沿第二中轴线l2)并排设置。上述对显示面板1进行划分的方式较为简单。当然，在其他实施例中，也可采用其他划分方式；例如，多个第一测试区域a中部分沿垂直于第一中轴线l1并排设置，部分沿第一中轴线l1并排设置。但不管何种划分方式，只要同一测试组10内的第一测试区域a和第二测试区域b关于第一中轴线l1对称设置即可。在一个应用场景中，如图2中所示，图2中将第一选定区域a细分为四个第一测试区a，将第二选定区域b细分为四个第二测试区b，且一个第一测试区a与一个第二测试区b对应并构成一个测试组10；即图2中形成四个测试组10。
27.较佳地，所有第一测试区域a和第二测试区域b的形状和面积相同；例如，如图2中所示，第一测试区域a和第二测试区域b为面积相同的矩形。该设计方式可以降低对第一选定区域a和第二选定区域b进行细分的难度。当然，在其他实施例中，多个第一测试区域a的形状、大小也可不同，本技术对此不作限定。例如，在远离第一中轴线l1的方向上，第一测试区域a的面积可以逐渐增大。由于越远离第一中轴线l1的区域对目视结果影响越小，故上述设计方式对最终第二残像参数的结果影响不是很大。
28.进一步，如图2中所示，显示面板1包括与第一中轴线l1相互垂直的第二中轴线l2时，每一第一测试区域a关于第二中轴线l2对称，每一第二测试区域b关于第二中轴线l2对称。该设计方式可以使得第一测试区域a和第二测试区域b尽可能位于显示面板1的中央区
域，以使得后续获得的第二残像参数与目视结果更为匹配。
29.此外，上述步骤s101中中灰阶是指位于最高灰阶和最低灰阶之间的任一灰阶。假设当前显示面板1的最高灰阶为255，最低灰阶为0，则上述中灰阶可以为0至255之间的任一灰阶。上述步骤s101中第一测试区域a和第二测试区域b的第一亮度数据可以通过亮度采集装置采集获取，该亮度采集装置可以为亮度计等。具体地，在本实施例中，可以通过亮度采集装置获得第一测试区域a中多个位置处的亮度值，并将多个位置处的亮度值的均值作为第一测试区域a的第一亮度数据；以及可以通过亮度采集装置获得第二测试区域b中多个位置处的亮度值，并将多个位置处的亮度值的均值作为第二测试区域b的第二亮度数据。
30.s102：使位于第一中轴线l1一侧的显示面板1显示黑画面，且位于第一中轴线l1另一侧的显示面板1显示白画面。
31.具体地，如图3a所示，图3a为显示面板显示黑白块一实施方式的结构示意图，在图3a中位于第一中轴线l1左侧的显示面板1显示黑画面，位于第一中轴线l1右侧的显示面板1显示白画面；此时对应于图2，图2中的第一选定区域a显示黑画面，第二选定区域b显示白画面。当然，在其他实施例中，显示面板1进行黑白块显示的方式也可为其他。如图3b所示，图3b为显示面板显示黑白块另一实施方式的结构示意图，在图3b中位于第一中轴线l1左侧的显示面板1显示白画面，位于第一中轴线l1右侧的显示面板1显示黑画面；此时对应于图2，图2中的第一选定区域a显示白画面，第二选定区域b显示黑画面。
32.此外，在进行上述步骤s102时，可以设定该步骤s102所持续的时间(即，使显示面板1显示黑白块所持续的时间)；例如，持续时间可以为1分钟、5分钟、10分钟等，通过改变持续时间可以获得不同持续时间下的残像测试结果；后续研发人员可以根据不同持续时间下的残像测试结果对显示面板的功率等方面进行优化。
33.s103：使显示面板1显示中灰阶画面，并获得多个第一测试区域a和多个第二测试区域b的第二亮度数据。
34.具体地，为了实现可对比性，该步骤s103中所显示的中灰阶画面与步骤s101中所显示的中灰阶画面相同；第一测试区域a和第二测试区域b的第二亮度数据可以通过亮度采集装置采集获取，具体第二亮度数据的获得过程与第一亮度数据相同，在此不再赘述。
35.s104：根据同一测试组内的第一测试区域a和第二测试区域b的第一亮度数据和第二亮度数据获得第一残像参数。
36.具体地，上述步骤s104的实现过程可以为：获得同一测试组内的第一测试区域a的第一亮度数据与第二测试区域b的第一亮度数据之间的第一和值和第一差值、以及获得同一测试组内的第一测试区域a的第二亮度数据与第二测试区域b的第二亮度数据之间的第二和值和第二差值；获得第一差值与第一和值的第一比值、以及获得第二差值与第二和值的第二比值；将第二比值与第一比值的差值的绝对值作为第一残像参数。以公式表示如下：
37.其中，is1为第一残像参数，单位可以为jnd；i(t)a为第一测试区域a的第二亮度数据，i(t)b为第二测试区域a的第二亮度数据，i(0)a为第一测试区域a的第一亮度数据，i(0)b为第二测试区域b的第一亮度数据。上述计算第一残像参数的过程较为简单，且计算量较小。
38.在一个应用场景中，如图2中所示，图2中形成有四个测试组10，每个测试组10经过步骤s104之后均会获得对应的第一残像参数。
39.s105：利用多个测试组10的第一残像参数获得第二残像参数。
40.在上述设计方式中，将第一选定区域a和第二选定区域b进行细分，细分后的第一测试区域a和第二测试区域b的面积较小，细分后的第一测试区域a和第二测试区域b的亮度均一性较好。基于细分后的第一测试区域a和第二测试区域b所获得的第二残像参数，可以减少第一选定区域a和第二选定区域b内亮度不均所造成的数据量化结果和目视结果不匹配的现象，以使得残像测试结果更为准确。
41.在一个实施方式中，上述步骤s105的具体实现过程可以为：利用多个测试组10的第一残像参数和对应的第一权重值获得第二残像参数；其中，同一测试组10中的第一测试区域a与第二测试区域b之间的第一距离越大，第一权重值越小。一般而言，距离黑白块交界处(即第一中轴线l1)的位置越近，残像目视越明显，对应设置的第一权重值越大。即本技术可以根据每个测试组10内第一测试区域a与第二测试区域b之间的第一距离确定其对第二残像参数的贡献度(即第一权重值)，基于每个测试组10的贡献度计算获得的第二残像参数与目视结果的匹配性更优，结果更加准确。
42.进一步，上述利用多个测试组的第一残像参数和对应的第一权重值获得第二残像参数的步骤具体包括：获得每个测试组的第一残像参数和对应的第一权重值之间的第一乘积；其中，所有第一权重值之和为一；将所有第一乘积之和作为第二残像参数。以公式表示如下：
43.其中，is2为第二残像参数，单位为jnd；is1(i)为第i个测试组的第一残像参数，λ1(i)为第i个测试组的第一残像参数所对应的第一权重值，n为第一选定区域a和第二选定区域b所构成的测试组的总个数。上述计算第二残像参数的方式较为简单，且计算量较小。
44.可选地，在本实施例中，上述第一权重值的设置过程可以为：
45.a、获得每个测试组10中第一测试区域a与第二测试区域b之间的第一距离。具体地，如图2中所示，图2中包括四个第一测试区域，分别标记为a1、a2、a3和a4；且标记为a1的第一测试区域与标记为b1的第二测试区域之间的第一距离为d1，标记为a2的第一测试区域与标记为b2的第二测试区域之间的第一距离为d2，标记为a3的第一测试区域与标记为b3的第二测试区域之间的第一距离为d3，标记为a4的第一测试区域与标记为b4的第二测试区域之间的第一距离为d4。
46.b、获得所有第一距离的第一和值，并获得每个测试组10的第一距离与第一和值的第一比值。具体地，如图2中所示，标记为a1的第一测试区域对应的测试组10的第一比值为d1/(d1 d2 d3 d4)，标记为a2的第一测试区域对应的测试组10的第一比值为d2/(d1 d2 d3 d4)，标记为a3的第一测试区域对应的测试组10的第一比值为d3/(d1 d2 d3 d4)，标记为a4的第一测试区域对应的测试组10的第一比值为d4/(d1 d2 d3 d4)。
47.c、根据每个测试组10的第一距离的大小从多个第一比值中选择一个作为第一权重值；其中，第一距离越大，所选择的第一权重值越小。具体地，如图2中所示，上述四个测试组10所对应的比值由大至小排列依次为：d4/(d1 d2 d3 d4)、d3/(d1 d2 d3 d4)、d2/(d1 d2 d3 d4)、d1/(d1 d2 d3 d4)；则此时标记为a1的第一测试区域对应的测试组10的第一权
重值为d4/(d1 d2 d3 d4)，标记为a2的第一测试区域对应的测试组10的第一权重值为d3/(d1 d2 d3 d4)，标记为a3的第一测试区域对应的测试组10的第一权重值为d2/(d1 d2 d3 d4)，标记为a4的第一测试区域对应的测试组10的第一权重值为d1/(d1 d2 d3 d4)。
48.上述方式可以有效将同一测试组10内第一测试区域和第二测试区域之间的第一距离与第一权重值产生关联，且上述根据第一距离设置第一权重值的过程计算量较小。
49.当然，在其他实施例中，设置第一权重值的过程也可为其他；例如，当多个第一测试区域a的形状和面积相同，且沿垂直于第一中轴线l1的方向(即沿第二中轴线l2方向)并排设置时，只要保证相邻第一测试区域a或相邻第二测试区域b对应的第一权重值之间的差值相同即可，对于具体每个测试组10所对应的第一权重值的具体数值并无太大限定。例如，以图2中为例，标记为a1、a2、a3和a4的第一测试区域所对应的四个测试组10的第一权重值可以分别为40％、30％、20％、10％(共计100％)；或者，标记为a1、a2、a3和a4的第一测试区域所对应的四个测试组10的第一权重值可以分别为31％、27％、23％、19％(共计100％)等。上述第一权重值的设置过程较为简单。
50.当然，在其他实施例中，上述步骤s105利用多个测试组的第一残像参数获得第二残像参数的实现过程也可为其他；例如，将多个测试组的第一残像参数的均值作为第二残像参数。
51.在又一个实施方式中，如图4所示，图4为显示面板另一实施方式的结构示意图。在上述步骤s101之前对显示面板1进行划分时，可以对显示面板1进行划分以获得至少两组第一选定区域a和第二选定区域b。此时位于同一组内的第一选定区域a和第二选定区域b关于第一中轴线l1对称设置；相邻的第一选定区域a之间可以设置有间隔(如图4中所示)，或者，相邻的第一选定区域a之间也可直接接触。可选地，所有第一选定区域a的形状和面积相同，且所有第一选定区域a可以沿垂直于第一中轴线l1的方向(即第二中轴线l2的方向)并排设置；和/或，相邻第一选定区域a细分为多个第一测试区域(图4未示意)的方式可以相同。上述设计方式可以降低对显示面板1进行划分的难度。另一可选地，每个第一选定区域a可以关于第二中轴线l2对称。该设计方式可以使得第一选定区域a尽可能位于显示面板1的中央位置，使得后续的残像测试结果与目视结果尽可能匹配。
52.进一步，在此基础上，在上述步骤s105利用多个测试组的第一残像参数和对应的第一权重值获得第二残像参数的步骤之后，还可以包括：利用多个第二残像参数和对应的第二权重值获得显示面板1的第三残像参数；其中，同组的第一选定区域a与第二选定区域b之间的第二距离越大，第二权重值越小。以公式表示如下：
53.其中，is3为第三残像参数，单位为jnd；is2(i)为与第i个第一选定区域a相关的第二残像参数；λ2(i)为与第i个第一选定区域a相关的第二权重值，m为第一选定区域a的总个数。上述计算第三残像参数的方式较为简单，且计算量较小。
54.可选地，在本实施例中，所有第二权重值之和也可为1；且第二权重值的设置过程可以与第一权重值类似，在此不再详述。例如，获得每组第一选定区域a与第二选定区域b之间的第二距离；获得所有第二距离的第二和值，并获得每组第一选定区域a和第二选定区域b的第二距离与该第二和值的第二比值；根据每组第一选定区域a和第二选定区域b的第二距离的大小从多个第二比值中选择一个作为第二权重值；其中，第二距离越大，所选择的第
二权重值越小。
55.此外，在进行步骤s103时，在使显示面板1显示中灰阶画面后开始计时，持续采集获得多个时刻下的第一测试区域a和第二测试区域b的第二亮度数据，后续可以通过步骤s104-s105获得每个时刻下的第二残像参数；进一步可以根据多个时刻和每个时刻下的第二残像参数绘制出相应的残像曲线；此时研发人员可以根据残像曲线对显示面板的残像水平进行判断。
56.下面以一个具体地应用场景对本技术所提供的残像测试方法作进一步说明。具体而言，预先设置步骤s102所持续的时间为1min，显示面板1的划分方式如图2中所示。
57.请参阅图5a和图5b，图5a为进入步骤s103后分别在不同采集时间下所采集获得的第一选定区域和多个第一测试区域的亮度数据示意图，图5b为进入步骤s103后分别在不同采集时间下所采集获得的第二选定区域和多个第二测试区域的亮度数据示意图。从图5a和图5b中可以看出，第一选定区域a内多个第一测试区域的亮度并不相同，第二选定区域b内多个第二测试区域的亮度并不相同，存在一定的差异性。在某些情况下，当第一选定区域a和第二选定区域b中靠近第一中轴线l1附近区域的亮度差值较大时，即使第一选定区域a和第二选定区域b的亮度平均差异较小，用户依然也会从第一中轴线l1位置处看到明显的分界线。即此时直接按照第一选定区域a的平均亮度和第二选定区域b的平均亮度来计算获得的残像参数并不能匹配目视结果。
58.进一步，如下表1所示，表1为利用不同残像测试方法所获得的残像测试结果对照表。
59.表1：利用不同残像测试方法所获得的残像测试结果对照表
[0060][0061]
其中，表1中现有方法的实现步骤为：使显示面板显示中灰阶画面，并获得显示面板中第一选定区域和第二选定区域的第一平均亮度数据；使位于第一中轴线一侧的显示面板显示黑画面，且位于第一中轴线另一侧的显示面板显示白画面；使显示面板显示中灰阶画面，并获得第一选定区域和第二选定区域的第二平均亮度数据；根据第一平均亮度数据和第二平均亮度数据获得第一残像参数，该第一残像参数即为本技术中的第二残像参数；表1中本技术所采用的测试方法可参见上述步骤s101-步骤s105，在此不再赘述。
[0062]
其中，表1中is2指采用现有方法或本技术所提供的方法在进行黑白块老化后显示中灰阶图像后的第0秒和第10秒所测试获得的第二残像参数；is1(1)、is1(2)、is1(3)、is1(4)分别是指图2中a1和b1形成的第一测试组、a2和b2形成的第二测试组、a3和b3形成的第三测试组、a4和b4形成的第四测试组所测试获得的第一残像参数。
[0063]
从上表1中可以看出，在同一时刻下，与第一中轴线l1最接近的第一测试组的第一残像参数is1(1)与现有方法中所获得的第二残像参数is2并不相同，两者之间存在差异。且由于人眼目视效果与最接近第一中轴线的第一测试组有较大关联，故可以认为采用现有方法所获得的残像结果与人眼目视效果的匹配性不是很好。
[0064]
此外，从上表1中可以看出，is1(2)、is1(3)、is1(4)的值与现有方法所获得的is2相比也都存在差异，说明细分后的a2和b2、a3和b3、a4和b4的区域亮度差异与a和b区域整体均值亮度差均不同。而由于距离第一中轴线l1越远(如a3和b3)的区域，对人眼目视效果影响越小，本技术中根据距离调整各个测试区域的第一残像参数对最终结果的第一权重值的方式将得到更合理、更准确、且与人眼目视结果匹配度更高的第二残像参数。
[0065]
另外，业内一般将1.5jnd作为人眼无法辨别的残影参数值；本实施例中采用现有方法实时获得第二残像参数，且发现其要达到＜1.5jnd所需的时间为14.9s。当采用本技术所提供的方法分别获取第一测试组、第二测试组、第三测试组和第四测试组对应的第一残像参数与时间的曲线图后发现，第一测试组要达到＜1.5jnd所需的时间为15.8s，第二测试组要达到＜1.5jnd所需的时间为14.9s，第三测试组要达到＜1.5jnd所需的时间为12.1s，第四测试组要达到＜1.5jnd所需的时间为9.4s，第一选定区域要达到＜1.5jnd所需的时间为13.5s。即不同测试区域要达到肉眼无法分辨的1.5jnd所需的时间不同，采用本技术所提供的方式与目视效果的匹配度更高。
[0066]
根据以上数据分析可知，当图2中a、b区域内亮度均一性较差时，现有方法得到的第二残像参数与本技术所提供的方法得到的第二残像参数的差异将进一步放大，最终造成现有方法残像结果与目视结果完全不能匹配，从而评价失效；本技术所提供的方法能通过区域细分以确保每个小区域的亮度均一性，通过设置每个小区域的贡献度来精准量化亮度差异对残像结果影响，确保残像量化与实际目视结果匹配。
[0067]
请参阅图6，图6为本技术显示面板的残像测试装置一实施方式的结构示意图。该残像测试装置具体包括：相互耦接的存储器30和处理器32，存储器30中存储有程序指令，处理器32用于执行程序指令以实现上述任一残像测试方法中的步骤。具体地，该残像测试装置包括但不限于：台式计算机、笔记本电脑、平板电脑、服务器等，在此不做限定。此外，处理器32还可以称为cpu(central processing unit，中央处理单元)。处理器32可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器32还可以是通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit,asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。另外，处理器32可以由集成电路芯片共同实现。
[0068]
请参阅图7，图7为本技术存储装置一实施方式的结构示意图，该存储装置50存储有能够被处理器运行的程序指令52，程序指令52用于实现上述任一残像测试方法中的步骤。可选地，该存储装置50包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0069]
以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。