计算科里奥利测量装置的测量管质量的方法及该测量装置与流程

技术特征：
1.一种用于计算与科里奥利测量装置(10)的至少一个测量管(11.1)有关的质量的方法(100)，所述科里奥利测量装置(10)用于测量流过所述测量管的介质的密度或质量流率，所述科里奥利测量装置具有以下部件：振动系统(11)，所述振动系统具有用于传导所述介质的至少一个测量管(11.1)，至少一个激励器(13)和至少两个传感器(14)，所述至少一个激励器被设计成激励测量管振动，所述至少两个传感器用于检测所述测量管振动，所述激励器和/或所述传感器各自具有带有永磁体的至少一个磁体装置(15)和一个线圈装置(16)，支承元件(12)，所述支承元件用于支承所述至少一个测量管，电子器件测量/控制电路(77)，所述电子器件测量/控制电路被设计成操作所述激励器，并且被设计成提供所述密度和/或质量流量的测量值，并执行所述方法，电子器件外壳(80)，所述电子器件测量/控制电路被布置在所述电子器件外壳中，所述方法(100)至少具有以下步骤：将所述至少一个激励器的至少一个激励输入变量(aeg)与至少一个传感器的至少一个输出变量(ag)关联(101)，基于所述测量管的振动模型和所述关联来确定所述振动系统的当前振动特性(ase)(102)，从所述振动系统的所述当前振动特性确定所述测量管在标准条件下的标准振动特性(sse)(103)，其特征在于，在至少一个方法步骤中，以下变量中的至少一个被使用：以下温度中的至少一个的非线性贡献：介质温度、支承元件温度、外壳温度；介质压力；所述磁体装置暴露于相应阈值温度以上的温度下的至少一个累积时间；介质粘度。2.根据权利要求1所述的方法，其中，当使用所述介质温度和/或所述支承元件温度和/或所述外壳温度时，使用第一温度系数集合或第二温度系数集合，其中，如果所述介质温度高于极限温度，则使用所述第一温度系数集合，其中，如果所述介质温度低于所述极限温度，则使用所述第二温度系数集合。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，附加地使用以下变量中的至少一个来计算所述标准振动特性：以下温度中的至少一个：介质温度、支承元件温度、外壳温度、激励器温度、传感器温度；介质密度和/或介质密度的平方。4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，第一累积时间相对于第一阈值温度被测量，并且第二累积时间相对于第二阈值温度被测量并且被用于计算所述标准振动特性。5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述至少一个累积时间在每种情况下是非线性的、单调且特别是递减函数的自变量，
其中，例如通过对数函数或根函数或指数函数来描述所述函数。6.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述介质温度和/或所述支承元件温度和/或所述外壳温度分别由为此目的设置的至少一个温度传感器确定。7.根据权利要求2到6中的任一项所述的方法，其中，所述测量管或所述支承元件或所述电子器件外壳的外壳壁的弹性模量被用于确定温度系数集合中的温度系数。8.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述非线性贡献例如是二次的、对数的、位势的或指数的贡献。9.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述方法包括以下方法步骤：将所述标准振动特性与参考振动特性进行比较(104)，所述参考振动特性(rse)例如通过标准条件下的操作校准或工厂校准来确定。10.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述方法包括以下方法步骤：观察所述标准振动特性的时间进展(105)，以及如果发生如下事项，则输出警告消息(106)：所述标准振动特性(sse)具有与所述参考振动特性(rse)的最小偏差，和/或所述标准振动特性的变化率的值超过最小值。11.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，所述振动特性是模态刚度。12.根据权利要求11所述的方法，其中，振动模型被形成具有被应用高达二阶的自由度，特别地，所述振动模型具有分量其中，f
d
是由所述至少一个激励器施加在所述至少一个测量管上并且形成所述激励输入变量的激励力，x
s
是由所述激励器引起的所述振动系统的振动幅度，所述振动幅度形成响应变量，a是所述至少一个测量管的材料相关和几何形状相关的常数，h是所述至少一个测量管的管壁厚度，ω0是分别激励的振动模式的共振频率，q是质量因数，所述质量因数描述了在单次激励期间所述振动系统的振动的衰减行为，以及s＝iω，其中ω对应于所述振动系统的激励频率，以及其中，a和h的乘积是所述至少一个测量管的模态刚度的量度。13.一种被设计成用于执行根据前述权利要求中的任一项所述的方法的科里奥利测量装置(10)，包括：
振动系统(11)，所述振动系统具有用于传导所述介质的至少一个测量管(11.1)，至少一个激励器(13)和至少两个传感器(14)，所述至少一个激励器被设计成激励测量管振动，所述至少两个传感器用于检测所述测量管振动，所述激励器和/或所述传感器各自具有带有永磁体的至少一个磁体装置(15)和一个线圈装置(16)，支承元件(12)，所述支承元件用于支承所述至少一个测量管，电子器件测量/控制电路(77)，所述电子器件测量/控制电路被设计成操作所述激励器，并且被设计成提供所述密度和/或质量流量的测量值，并执行所述方法，电子器件外壳(80)，所述电子器件测量/控制电路被布置在所述电子器件外壳中。14.根据权利要求13所述的科里奥利测量装置，其中，所述科里奥利测量装置(10)具有至少一个温度传感器(17)，所述至少一个温度传感器被设计成测量以下温度中的至少一个：介质温度、支承元件温度、外壳温度、激励器温度、传感器温度。

技术总结
本发明涉及一种用于计算与科里奥利测量装置(10)的至少一个测量管(11.1)有关的质量的方法(100)，该科里奥利测量装置用于测量流过该测量管的介质的密度或质量流量，其中，通过确定各种振动特性，可以得出关于测量管状态的结论。的结论。的结论。


技术研发人员：阿尔弗雷德
受保护的技术使用者：恩德斯 豪斯流量技术股份有限公司
技术研发日：2020.07.10
技术公布日：2022/3/22