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薄层溶洞高度计算方法、装置、电子设备及介质与流程

2022-03-16 01:10:12 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种薄层溶洞高度计算方法,其特征在于,包括:确定子波模型,计算确定薄层或溶洞的顶、底部的反射波;计算由薄层或溶洞的顶、底部的反射波而形成的复合波;根据所述复合波,计算薄层或溶洞的高度。2.根据权利要求1所述的薄层或溶洞的高度计算方法,其中,通过公式(1)计算薄层或溶洞的顶、底部的复合波:其中,h为薄层或溶洞的高度,v为层速度,t为薄层顶底反射时间的平均值,t为反射波的视周期,r
s
为复合波,as
i
为复合波的反射振幅,根据傅里叶变换,任意反射波为多个正弦波和余弦波的叠加,a
i
是每个正弦波的振幅,t
i
是每个正弦波的周期,n是反射波由n个正弦波组成。3.根据权利要求2所述的薄层溶洞高度计算方法,其中,根据所述复合波,计算薄层或溶洞的高度包括:计算所述复合波的积分公式;计算所述积分公式的一元一次拟合公式;根据所述一元一次拟合公式绘制拟合曲线,计算所述拟合曲线的斜率,进而计算薄层或溶洞的高度。4.根据权利要求3所述的薄层溶洞高度计算方法,其中,所述复合波的积分公式为:其中,h为薄层或溶洞的高度,v为层速度,t为薄层顶底反射时间的平均值,t为反射波的视周期,r
s
为复合波。5.根据权利要求4所述的薄层溶洞高度计算方法,其中,以为y,以为x,则所述积分公式的一元一次拟合公式为:6.根据权利要求3所述的薄层溶洞高度计算方法,其中,所述复合波的积分公式为:其中,7.根据权利要求6所述的薄层溶洞高度计算方法,其中,以为y,以
为x,则所述积分公式的一元一次拟合公式为:8.一种薄层溶洞高度计算装置,其特征在于,包括:反射波确定模块,确定子波模型,计算确定薄层或溶洞的顶、底部的反射波;复合波计算模块,计算由薄层或溶洞的顶、底部的反射波而形成的复合波;薄层溶洞高度计算模块,根据所述复合波,计算薄层或溶洞的高度。9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:存储器,存储有可执行指令;处理器,所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令,以实现权利要求1-7中任一项所述的薄层溶洞高度计算方法。10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的薄层溶洞高度计算方法。

技术总结
本申请公开了一种薄层溶洞高度计算方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括:确定子波模型,计算确定薄层或溶洞的顶、底部的反射波;计算由薄层或溶洞的顶、底部的反射波而形成的复合波;根据复合波,计算薄层或溶洞的高度。本发明针对任何波形的模型,通过一系列的点来进行拟合,得到一个优化的薄层或溶洞的高度结果,因而计算结果更为准确可靠。因而计算结果更为准确可靠。因而计算结果更为准确可靠。


技术研发人员:李远钦 刘韬 刘丽峰
受保护的技术使用者:中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
技术研发日:2020.09.15
技术公布日:2022/3/14
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