适用于非标准连接接口转接的检测系统的制作方法

1.一种检测系统，尤其是指一种适用于非标准连接接口转接的检测系统。


背景技术：

2.目前主机板测试中，当主机板的非标准连接接口进行测试时，对于不同的非标准连接接口需要通过对应非标接口使用特定的连接线，才能将非标准连接接口连接至标准bsi开发测试治具转接卡，再通过标准bsi开发测试治具以进行对应的测试。
3.在上述测试条件，需要针对每一种非标准连接接口订制特定的连接线，然而非标准连接接口的仅能在特定订制下才会被使用，进而导致特定连接线的订制上来说也存在成本高昂且会受限于非标准连接接口的专利权限制，导致特定连接线订制不便。
4.进一步来说，特定连接线与非标准连接接口一般是使用金属卡扣的方式以进行电性连接，在测试过程中的反复连接以及移除的过程易造成非标准连接接口与特定连接线的卡扣结构容易产生损坏，导致会产生出非标准连接接口不正确的测试结果。
5.综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在主机板的非标准连接接口检测不便且检测结果准确性不足的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。


技术实现要素：

6.有鉴于现有技术存在主机板的非标准连接接口检测不便且检测结果准确性不足的问题，本发明遂公开一种适用于非标准连接接口转接的检测系统，其中：
7.本发明所公开的适用于非标准连接接口转接的检测检测系统，其包含：主机板、转接卡、第一组合件、第二组合件、标准测试转接卡以及标准bsi开发测试治具，转接卡更包含：非标准连接接口、第一标准连接接口以及多个固定槽；标准测试转接卡更包含：多个第二标准连接接口以及第一标准bsi开发测试治具连接接口。
8.主机板具有多个主机板非标准连接接口，主机板非标准连接接口相连的电路种类比例不相同。
9.转接卡的非标准连接接口是用以与主机板非标准连接接口其中之一形成电性连接；转接卡的第一标准连接接口与转接卡的非标准连接接口形成电性连接；及转接卡的多个固定槽分别配置于转接卡。
10.第一组合件具有多个卡扣件，第一组合件的卡扣件的位置与转接卡的固定槽的位置一一对应，第一组合件的卡扣件穿过转接卡的固定槽以使第一组合件与转接卡彼此卡扣固定组合。
11.第二组合件具有多个卡扣槽以及标准连接接口穿槽，第一组合件与转接卡彼此形成卡扣固定，第一组合件的卡扣件再穿过第二组合件的卡扣槽以及第一标准连接接口穿过标准连接接口穿槽以使第一组合件、转接卡以及第二组合件彼此卡扣固定组合。
12.标准测试转接卡的多个第二标准连接接口具有不相同的脚位数量，依据第二标准连接接口的脚位数量以及主机板非标准连接接口相连的电路种类比例选择与第一标准连
接接口形成电性连接的第二标准连接接口以进行电性连接；及标准测试转接卡的第一标准bsi开发测试治具连接接口与第二标准连接接口形成电性连接。
13.标准bsi开发测试治具具备第二标准bsi开发测试治具连接接口，标准bsi开发测试治具通过第二标准bsi开发测试治具连接接口与第一标准bsi开发测试治具连接接口形成电性连接，以对主机板对应的主机板非标准连接接口进行测试。
14.本发明所公开的系统如上，与现有技术之间的差异在于第一组合件的卡扣件穿过转接卡的固定槽以使第一组合件与转接卡彼此卡扣固定组合，第一组合件的卡扣件再穿过第二组合件的卡扣槽以使第一组合件、转接卡以及第二组合件彼此卡扣固定组合，主机板与转接卡彼此电性连接，转接卡与标准测试转接卡彼此电性连接，标准测试转接卡再与标准bsi开发测试治具彼此电性连接，借以提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性。
15.通过上述的技术手段，本发明可以达成提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性的技术功效。
附图说明
16.图1为本发明适用于非标准连接接口转接的检测系统的系统方块图。
17.图2为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的转接卡立体图。
18.图3为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件立体图。
19.图4为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件与转接卡立体组合图。
20.图5为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第二组合件立体图。
21.图6为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件、转接卡以及第二组合件立体组合图。
22.图7为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件立体组合图。
23.图8为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件、转接卡以及第二组合件平面组合图。
24.其中，附图标记：
25.10
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主机板
26.11
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非标准连接接口
27.20
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转接卡
28.21
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非标准连接接口
29.22
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第一标准连接接口
30.23
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固定槽
31.24
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底边
32.30
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第一组合件
33.31
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卡扣件
34.311
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卡槽
35.32
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防护导件
36.33
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底边
37.40
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第二组合件
38.41
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卡扣槽
39.42
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标准连接接口穿槽
40.43
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底边
41.50
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标准测试转接卡
42.51
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第二标准连接接口
43.52
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第一标准bsi开发测试治具连接接口
44.60
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标准bsi开发测试治具
45.61
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第二标准bsi开发测试治具连接接口
具体实施方式
46.以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
47.以下首先要说明本发明所公开的适用于非标准连接接口转接的检测系统，并请参考图1所示，图1为本发明适用于非标准连接接口转接的检测系统的系统方块图。
48.本发明所公开的适用于非标准连接接口转接的检测系统，其包含：主机板10、转接卡20、第一组合件30、第二组合件40、标准测试转接卡50以及标准bsi开发测试治具60，转接卡20更包含：非标准连接接口21、第一标准连接接口22以及多个固定槽23；标准测试转接卡50更包含：多个第二标准连接接口51以及第一标准bsi开发测试治具连接接口52。
49.主机板10具有多个主机板非标准连接接口11，主机板非标准连接接口11为即非熟知的通用序列总线(universal serial bus，usb)、快捷外设互联标准接口(peripheral component interconnect express，pci-e)、串列进阶技术附接接口(serial advanced technology attachment，sata)、双列直插式存储器模组接口(dual in-line memory module，dimm)
…
等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。
50.主机板10的主机板非标准连接接口11所相连的电路种类比例不相同，具体而言，主机板10的主机板非标准连接接口11可以选择下列电路种类一个或是多个相连，电路总类例如是：上拉电阻(pull-up resistor)、下拉电阻(pull-down resistor)、整流电路、单/双向控制电路、开关电路、稳压电路
…
等，在此仅为举例说明之，并不以此局限本发明的应用范畴。
51.转接卡20包含有非标准连接接口21以及第一标准连接接口22，转接卡20的非标准连接接口21是提供与主机板10的主机板非标准连接接口11其中之一形成电性连接，转接卡20的第一标准连接接口22与转接卡20的非标准连接接口21形成电性连接，转接卡20的多个固定槽23分别配置于转接卡20，转接卡20的示意请参考图2所示，图2为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的转接卡立体图，转接卡20即是提供将主机板10的主机板非标准连接接口11由非标准连接接口转换为标准连接接口。
52.请参考图3所示，图3为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件立体图，第一组合件30具有多个卡扣件31，第一组合件30的卡扣件31的位置与转接卡20的固定槽23的位置一一对应，第一组合件30的卡扣件31穿过转接卡20的固定槽23以使第一组合件30与转接卡20彼此卡扣固定组合，第一组合件30与转接卡20卡扣固定组合的示意请参考
图4所示，图4为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件与转接卡立体组合图。
53.值得注意的是，第一组合件30为聚合物材质所制成，聚合物材质例如是：环氧树脂、聚乙烯、聚氯乙烯
…
等，在此仅为举例说明之，并不以局限本发明的应用范畴，将第一组合件30的卡扣件31向内按压以使之穿过转接卡20的固定槽23通过第一组合件30的卡扣件31恢复的弹性与卡扣件31的卡槽311以提供第一组合件30与转接卡20彼此卡扣固定组合。
54.请参考图5所示，图5为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第二组合件立体图，第二组合件40具有多个卡扣槽41以及标准连接接口穿槽42，第一组合件30与转接卡20彼此形成卡扣固定后，第一组合件30的卡扣件31再穿过第二组合件40的卡扣槽41以及转接卡20的第一标准连接接口22穿过第二组合件40的标准连接接口穿槽42以使第一组合件30、转接卡20以及第二组合件40彼此卡扣固定组合，第一组合件30、转接卡20以及第二组合件40卡扣固定组合的示意请参考图6所示，图6为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件、转接卡以及第二组合件立体组合图。
55.值得注意的是，第二组合件40亦为聚合物材质所制成，聚合物材质例如是：环氧树脂、聚乙烯、聚氯乙烯
…
等，在此仅为举例说明之，并不以局限本发明的应用范畴，将第一组合件30的卡扣件31向内按压以使之穿过第二组合件40的卡扣槽41通过第一组合件30的卡扣件31恢复的弹性与卡扣件31的卡槽311以提供第一组合件30、转接卡20以及第二组合件40彼此卡扣固定组合。
56.第一组合件30更具备一组防护导件32，第一组合件30的防护导件32是配置于第一组合件30两端，第一组合件30的防护导件32是在第一组合件30与转接卡20卡扣固定组合时对转接卡20提供导引以及防护之用，以及第一组合件30的防护导件32是在第一组合件30、转接卡20以及第二组合件40彼此卡扣固定组合时对第二组合件40提供导引以及防护之用，第一组合件30的防护导件32的示意请参考图7所示，图7为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件立体组合图。
57.请参考图8所示，图8为本发明适用于非标准连接接口转接的检测的第一组合件、转接卡以及第二组合件平面组合图，第一组合件30的底边33以及第二组合件40的底边43与转接卡20的底边24切齐，转接卡20的非标准连接接口21与主机板10的主机板非标准连接接口11形成电性连接时，第一组合件30以及第二组合件40即可提供转接卡20的限位，即机械组装过程中会将转接卡20的非标准连接接口21与主机板10的主机板非标准连接接口11彼此相连组装，而在转接卡20的非标准连接接口21与主机板10的主机板非标准连接接口11的组装过程中通过第一组合件30以及第二组合件40的限位以避免转接卡20的非标准连接接口21以及主机板10的主机板非标准连接接口11在机械组装的过程中受损。
58.标准测试转接卡50的多个第二标准连接接口51具有不相同的脚位数量，依据标准测试转接卡50的第二标准连接接口51的脚位数量以及主机板10的主机板非标准连接接口11相连的电路种类比例选择与转接卡20的第一标准连接接口22形成电性连接的标准测试转接卡50的第二标准连接接口51以进行电性连接，标准测试转接卡50的多个第一标准bsi开发测试治具连接接口52与标准测试转接卡50的第二标准连接接口51形成电性连接。
59.值得注意的是，标准测试转接卡50的每一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52可以分别与标准测试转接卡50的每一个第二标准连接接口51形成电性连接；标准测试转
接卡50的每一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52仅与不相同的标准测试转接卡50的每一个第二标准连接接口51形成电性连接；标准测试转接卡50的每一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52与部分的标准测试转接卡50的第二标准连接接口51形成电性连接。
60.具体而言，假设标准测试转接卡50具有第一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52以及第二个第一标准bsi开发测试治具连接接口52，标准测试转接卡50具有第一个第二标准连接接口51、第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51，第一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52与第一个第二标准连接接口51、第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51形成电性连接，第二个第一标准bsi开发测试治具连接接口52也与第一个第二标准连接接口51、第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51形成电性连接。
61.具体而言，假设标准测试转接卡50具有第一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52以及第二个第一标准bsi开发测试治具连接接口52，标准测试转接卡50具有第一个第二标准连接接口51、第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51，第一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52仅与第一个第二标准连接接口51形成电性连接，第二个第一标准bsi开发测试治具连接接口52仅与第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51形成电性连接。
62.具体而言，假设标准测试转接卡50具有第一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52以及第二个第一标准bsi开发测试治具连接接口52，标准测试转接卡50具有第一个第二标准连接接口51、第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51，第一个第一标准bsi开发测试治具连接接口52与第一个第二标准连接接口51以及第二个第二标准连接接口51形成电性连接，第二个第一标准bsi开发测试治具连接接口52与第二个第二标准连接接口51以及第三个第二标准连接接口51形成电性连接。
63.标准bsi开发测试治具60具备第二标准bsi开发测试治具连接接口61，标准bsi开发测试治具60通过标准bsi开发测试治具60的第二标准bsi开发测试治具连接接口61与标准测试转接卡50的第一标准bsi开发测试治具连接接口52形成电性连接，主机板10与转接卡20形成电性连接，转接卡20与标准测试转接卡50形成电性连接，标准测试转接卡50与标准bsi开发测试治具60形成电性连接，标准bsi开发测试治具60即可对主机板10对应的主机板非标准连接接口11进行测试。
64.综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于第一组合件的卡扣件穿过转接卡的固定槽以使第一组合件与转接卡彼此卡扣固定组合，第一组合件的卡扣件再穿过第二组合件的卡扣槽以使第一组合件、转接卡以及第二组合件彼此卡扣固定组合，主机板与转接卡彼此电性连接，转接卡与标准测试转接卡彼此电性连接，标准测试转接卡再与标准bsi开发测试治具彼此电性连接，借以提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性。
65.通过此一技术手段可以来解决现有技术所存在主机板的非标准连接接口检测不便且检测结果准确性不足的问题，进而达成提供转接卡的限位保护且提高非标准连接接口检测稳定性的技术功效。
66.虽然本发明所公开的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本领域技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，可以在
实施的形式上及细节上作些许的更动。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求所界定内容为准。