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一种裂纹长度的连续测量方法与流程

2022-02-22 18:48:22 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述裂纹长度的连续测量方法包括:s1:对试件加载连续载荷;s2:获取加载连续载荷状态下的多张连续原始图像;s3:对多张所述连续原始图像进行图像筛选,得到第一图像和第二图像;s4:对所述第一图像和第二图像进行像素级分析,得到所述试件的实际裂纹长度。2.根据权利要求1所述的裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述步骤s2包括:对摄像设备进行图像采集频率时间间隔参数设定,得到可用的摄像设备;利用所述可用的摄像设备获取不间断加载连续载荷下的多张连续原始图像。3.根据权利要求1所述的裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述步骤s3包括:利用均方误差和结构相似性方法对多张所述连续原始图像进行图像筛选。4.根据权利要求3所述的裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述均方误差为:其中,mse表示均方误差,也即像素值之差平方和的均值,h、w分别表示处理后的图像的像素数量和原始图像的像素数量,x(i,j)、y(i,j)分别表示经过处理后的图像的像素值和原始图像的像素值,i,j表示像素坐标。5.根据权利要求3所述的裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述结构相似性为:利用像素均值作为亮度估计值,利用标准差作为对比度估计值,利用协方差作为结构相似度的度量值。6.根据权利要求5所述的裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述利用像素均值作为亮度估计值为:所述利用标准差作为对比度估计值为:所述利用协方差作为结构相似度的度量值为:其中,其中,l(x,y)是亮度比较函数,c(x,y)是对比度比较函数,s(x,y)是结构比较函数,μ
x

y
分别表示图像x和y的均值,且σ
x
,σ
y
分别表示图像x和y的标准差,分别表示图像x和y的标准差,σ
xy
表示处理厚的图像x和原始图像y的均方差且
h、w分别表示处理后的图像的像素数量和原始图像的像素数量,x(i,j)和y(i,j)分别表示处理后的图像的像素值和原始图像的像素值,i,j表示像素坐标,c1,c2,c3为常数。7.根据权利要求1所述的裂纹长度的连续测量方法,其特征在于,所述步骤s4包括:s41:框选所述第一图像和/或第二图像中图像表面的目标长度范围;s42:获取所述目标长度范围中的长度值和像素数;s43:根据所述长度值和所述像素数,得到目标系数值;s44:获取所述第一图像和/或所述第二图像中裂纹的像素长度;s45:根据所述目标系数值以及所述裂纹的像素长度,得到所述试件的实际裂纹长度。

技术总结
本发明公开了一种裂纹长度的连续测量方法,所述裂纹长度的连续测量方法包括:S1:对试件加载连续载荷;S2:获取加载连续载荷状态下的多张连续原始图像;S3:对多张所述连续原始图像进行图像筛选,得到第一图像和第二图像;S4:对所述第一图像和第二图像进行像素级分析,得到所述试件的实际裂纹长度。本发明所提供的裂纹长度的连续测量方法,能够在不暂停疲劳试验的前提下使用光测力学方法完成对裂纹长度的测量,从而进一步提高裂纹长度的测量效率。率。


技术研发人员:殷之平 李炎 罗洁
受保护的技术使用者:西北工业大学
技术研发日:2021.11.09
技术公布日:2022/2/8
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