瞬态光电压测试样品组件的制作方法

1.本技术涉及瞬态光电压测量系统技术领域，特别是涉及一种瞬态光电压测试样品组件。


背景技术：

2.目前随着能源危机和环境污染的日益加重，在材料应用领域，尤其是半导体材料、光电材料在解决能源和环境问题方面有着极其重要的应用前景，因此加强材料的基础研究意义十分重大。在对材料的研究中，材料电子属性的测量是必不可少的。电子属性包括各种光电材料和其它半导体器件中的载流子动力学，载流子密度，传输/复合寿命，扩散长度，迁移率和复合速率等。
3.而目前对材料电子属性的测量技术有瞬态光电压、光电流及其衍生出的累积电荷量等技术。但是光电流技术主要表征光电材料在模拟太阳光下的氧化还原反应底物的能力。累积电荷量技术主要表征不同电位下光生电荷在光电材料与电解液固液界面累积的技术。上述两项技术还不足以研究载流子复合，光生，电荷传输机制和收集等的载流子动力学的基本物理研究。而瞬态光电压技术可以表征光生电荷在半导体内产生、分离、传输和复合的过程。
4.但是，现有的瞬态光电压技术无论是在工作原理上、还是时间尺度上，都不能测量原位反应过程中的电荷传输变化。也就是说，现有的瞬态光电压技术只能通过外加偏置电压调制或者对材料/物质光源扰动调制的方式，研究材料本身中的电荷的变化，是材料本身的电子属性的测量。而不能研究不同材料/物质之间的原位反应过程中的电荷的产生、分离、传输和复合的过程，尤其是不能研究不同材料/物质的原位反应过程界面的电荷传输动力学。瞬态光电压的测量是一个在微/纳米尺度上以足够快的时间响应进行的测量，样品电极与底电极之间很小的位置改变就会对结果造成很大的影响；测量环境中的电磁信号也会带来很大的噪音。因此瞬态光电压的测量过程中需要保持测量样品电极与底电极之间位置、角度、距离等的足够稳定、保持不变，此外还需要保持测量环境的干扰足够小。


技术实现要素：

5.为了克服现有技术的不足，本技术实施例提供一种瞬态光电压测试样品组件，通过磁性材料的吸合将电极材料稳定夹持住，还可以减少测量环境的干扰。
6.为了实现上述目的，本发明提供了一种瞬态光电压测试样品组件，包括：第一夹板，所述第一夹板具有一个第一贯通开口；所述第一夹板上设置有凹槽，所述横跨所述第一贯通开口；所述第一贯通开口的两侧设置有第一卡合部位；所述凹槽用于放置待测试样品电极；第二夹板，所述第二夹板具有一个第二贯通开口，所述第二贯通开口与所述第一贯通开口相对应设置；所述第二贯通开口的两侧设置有第二卡合部位，所述第二卡合部位和所述第一卡合部位相互配合卡合；
电极板，所述电极板设置在所述第二夹板上且与所述第二卡合部位相对的一面；所述电极板具有第一电极柱，所述第一电极柱贯通所述第二夹板与所述测试样品接触，所述第一电极柱设置在靠近所述第二贯通开口处；磁性材料，所述磁性材料设置在所述第一夹板和所述第二夹板的内部，位于所述第一夹板和所述第二夹板内的所述磁性材料相互吸合，相互吸合住的所述第一夹板和所述第二夹板夹持住所述样品电极。
7.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述凹槽位于所述第一夹板的中间位置；所述凹槽的面积大于所述第一贯通开口的面积；其中，所述样品电极的一部分从所述第一贯通开口处露出，所述样品电极的另一部分夹持在所述凹槽内。
8.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述第一夹板还设置有多个第一容置槽，部分所述磁性材料安装在所述第一容置槽内，所述第一容置槽的数量与位于所述第一夹板上的所述磁性材料的数量相同所述第一容置槽设置在所述第一夹板的四周边角处，所述第一容置槽之间相互对称。
9.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述第一容置槽为贯通槽，所述第一容置槽的贯通开口与所述凹槽位于同一平面，所述第一容置槽暴露出所述磁性材料边沿。
10.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述凹槽内设置有样品电极容置槽 ，所述样品电极容置槽形状与所述样品电极形状相同；所述样品电极容置槽与所述凹槽的厚度两者的厚度之和与所述样品电极的厚度相同。
11.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述样品电极容置槽与所述样品电极之间形成狭缝。
12.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述第二夹板还设置有多个第二容置槽，部分所述磁性材料安装在所述第二容置槽内，所述第二容置槽的数量与位于所述第二夹板上的所述磁性材料的数量相同；所述第二容置槽设置在所述第二夹板的四周边角处，所述第二容置槽之间相互对称；所述第二容置槽与所述第一容置槽相对应且位于相同位置。
13.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述电极板上还设置有第二电极柱，所述第二电极柱设置在远离所述第二贯通开口处；所述第二电极柱的一端电连接所述第一电极柱，所述电极柱的另一端连接导线。
14.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述电极板上还设置有阻抗变换模块，所述阻抗变换模块的一端电连接所述第一电极柱，所述阻抗变换模块的另一端电连接所述第二电极柱；所述阻抗变换模块用于匹配瞬态光电压测试的不同阻抗。
15.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述电极板上还设置有预处理模块，所述预处理模块的一端电连接所述第一电极柱，所述预处理模块的另一端电连接所述第二电极柱。
16.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述瞬态光电压测试样品组件还包括保护盖；所述保护盖通过固定件固定在所述第二夹板上，所述保护盖覆盖所述电极板；所述保护盖为凸字形，包括中央的凸部和两侧的折边；两侧的所述折边通过固定
件固定在所述第二夹板上，中央的所述凸部构成容置腔，所述电极板位于所述容置腔内；所述保护盖一侧为封闭状，另一侧为开放状。
17.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述中央的凸部为长方体型或立方体型或球型。
18.根据本发明实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件，所述保护盖涂覆电磁屏蔽材料，对所述电极板处进行电磁屏蔽。
19.本发明的有益效果为：本发明实施例提供了一种瞬态光电压测试样品组件，通过在第一夹板和第二夹板之间设置磁性材料，且在第一夹板上设置凹槽来放置样品电极，可以有效稳定样品电极在该测试样品组件上，样品电极在第一夹板和第二夹板件可以稳固压合，不会产生位移，从而影响瞬态光电压的测量。且该磁性材料还可以在样品电极的周围形成较强的磁场，从而可以屏蔽外在的磁场干扰，提高检测结果的精确性。且第一夹板和第二夹板均设置有贯通开口，样品电极可以暴露在该贯通开口中，为样品电极提供原位反应的场所，从而样品在激励源激励下可以观测原位反应中的瞬态光电压。
附图说明
20.为了更清楚地说明本技术实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1为本实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件结构示意图。
22.图2为本实施例所提供的第一夹板结构示意图。
23.图3为本实施例所提供的样品电极置于第一夹板上的示意图。
24.图4为本实施例所提供的第二夹板结构示意图。
25.图5为本实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件俯视图。
26.图6为本实施例所提供的电路板元器件示意图。
27.图7为本实施例所提供的保护盖结构示意图。
具体实施方式
28.为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本技术的公开内容更加透彻全面。
29.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。
30.如图1-图7所示，本发明实施例提供了一种瞬态光电压测试样品组件，该组件用来夹持承载样品的样品电极进行瞬态光电压测量。如图1所示，瞬态光电压测试样品组件包括：第一夹板10，所述第一夹板10具有一个第一贯通开口11，所述第一贯通开口11呈凹字型；所述第一夹板10上设置有凹槽12，所述凹槽12横跨所述第一贯通开口11；所述第一
贯通开口11的两侧设置有第一卡合部位13；所述凹槽12用于放置待测试样品电极50；第二夹板20，所述第二夹板20具有一个第二贯通开口21，所述第二贯通开口21呈凹字型，所述第二贯通开口21与所述第一贯通开口11相对应设置；所述第二贯通开口21的两侧设置有第二卡合部位23，所述第二卡合部位23和所述第一卡合部位13相互配合卡合；电极板30，所述电极板30设置在所述第二夹板20上且与所述第二卡合部位23相对的一面；所述电极板30具有第一电极柱31，所述第一电极柱31贯通所述第二夹板20与待测试的所述样品电极50接触，所述第一电极柱31设置在靠近所述第二贯通开口21处；磁性材料40，所述磁性材料40设置在所述第一夹板10和所述第二夹板20的内部，位于所述第一夹板10和所述第二夹板20内的所述磁性材料40相互吸合，相互吸合住的所述第一夹板10和所述第二夹板20夹持住所述样品电极50。
31.本实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件为一种卡合组件，待测试的样品电极50夹设在该卡和组件中。该组件包括所述第一夹板10和所述第二夹板20，所述第一夹板10和所述第二夹板20通过磁性材料40吸合在一起，且该组件整体呈凹型设计。该组件具有一个凹型的贯通开口，所述样品电极50夹设在该组件中后，部分所述样品电极50可以从凹型的所述贯通开口中暴露出来，从而给样品电极50上的样品材料提供原位反应的场所。由于瞬态光电压的测量是一个在微/纳米尺度上以足够快的时间响应进行的测量，样品电极50与底电极之间很小的位置改变就会对结果造成很大的影响，而且测量环境中的电磁信号也会带来很大的噪音。因此瞬态光电压的测量过程中需要保持测量样品电极50与底电极之间位置、角度、距离等的足够稳定、保持不变，此外还需要保持测量环境的干扰足够小。因此本实施例所提供的瞬态光电压测试样品组件在所述第一夹板10上还设置有凹槽12，用于容置所述样品电极50，所述凹槽12横跨所述贯通开口，且所述凹槽12与所述样品电极50的形状相似，所述样品电极50可以契合在所述凹槽12中。而且，该组件还通过磁性材料40的吸合力将所述第一夹板10和所述第二夹板20牢固的吸合在一起，从而将所述样品电极50牢固的夹持住，避免了所述样品电极50在测试中出现移动或晃动从而影响测试结果。所述磁性材料40还可以在所述样品电极50的四周提供磁场，从而可以屏蔽外在磁场的干扰，降低了测量环境中的电磁信号的噪音，可以有效提高测试结果的准确性。故本发明所提供的瞬态光电压测试样品组件，通过所述磁性材料40的吸合可以将所述样品电极50夹持住，而且利用磁场的目的，一个是可以屏蔽外界环境的磁性干扰，另一个是将所述第一夹板10和所述第二夹板20吸合在一起，保持测量过程中所述样品电极50位置的稳定不变。本发明所提供的瞬态光电压测试样品组件在不同压力和温度下也能保持足够稳定，还能满足不同化学环境下的使用，装置稳定，应用广泛。
32.具体地，如图2、图3所示，所述第一夹板10上设置有向内凹陷的第一贯通开口11，所述第一贯通开口11贯通所述第一夹板10的顶面和底面，从而在所述第一夹板10的所述第一贯通开口11处形成两个第一贯通开口侧面和一个第一贯通开口底面，使得所述第一夹板10整体呈凹字型。在一个实施例中，所述凹槽12位于所述第一夹板10的中间位置；所述凹槽12的面积大于所述第一贯通开口11的面积。且所述凹槽12横跨所述第一贯通开口11，跨越两个所述第一贯通开口侧面和一个所述贯通开口底面，所述凹槽12的整体与所述样品电极50形状类似，所述样品电极50可以契合在所述凹槽12中。
33.在一个实施例中，所述第一夹板10还设置有多个第一容置槽14，部分所述磁性材
料40安装在所述第一容置槽14内，所述第一容置槽14的数量与位于所述第一夹板10上的所述磁性材料40的数量相同。
34.在一个实施例中，所述第一容置槽14设置在所述第一夹板10的四周边角处，所述第一容置槽14之间相互对称；所述第一容置槽14的开口与所述第一贯通开口11相平行或所述第一容置槽14的开口与所述第一贯通开口11相垂直；即所述第一容置槽14的开口位于所述第一夹板10的前后侧面或左右侧面。
35.在一个实施例中，所述第一容置槽14为贯通槽，所述第一容置槽14的贯通开口与所述凹槽12位于同一平面，所述第一容置槽14暴露出所述磁性材料40边沿。且所述凹槽12的面积大于所述第一贯通开口11的面积，所述第一容置槽14的贯通开口将所述磁性材料40暴露出来，暴露出来的所述磁性材料40位于所述凹槽12的边缘。暴露出来的所述磁性材料40所形成的磁场可以屏蔽外界磁场对测试的影响。
36.具体地，在所述第一夹板10的侧面设置有多个第一容置槽14，所述容置槽用于安装所述磁性材料40。每一个所述第一容置槽14放置一个磁性材料40，因此，所述第一容置槽14的数量与位于所述第一夹板10上的所述磁性材料40的数量相同。所述第一容置槽14的数量可以根据实际需求来设置不同的数量，在本实施例中以四个所述第一容置槽14为例说明。如图2所示，在所述第一夹板10的侧面设置有所述第一容置槽14，所述第一容置槽14可以设置在所述第一夹板10的前后侧面或左右侧面或前后左右侧面。本实施例中以四个所述第一容置槽14设置在前后侧面为例说明。所述第一容置槽14设置在前后侧面的四个边角处，且所述第一容置槽14之间相互对称。具体地，所述第一容置槽14深入所述第一夹板10内部，从而可以接受大块的磁性材料40来增加吸合力。所述第一容置槽14与所述凹槽12位于同一平面，当将所述磁性材料40嵌入到所述第一容置槽14后，所述磁性材料40的边沿会从所述第一容置槽14露出。具体地，如图2所示，所述磁性材料40的边沿从所述第一容置槽14的贯通开口露出后，位于所述凹槽12的边缘。即暴露出边沿的所述磁性材料40与所述凹槽12的边缘接壤。所述磁性材料40在所述第一容置槽14中露出边沿，一方面可以在所述样品电极50的周围形成更强的磁场，从而可以屏蔽外在环境的磁场干扰，提高瞬态光电压测量结果的准确性。另一方面，从所述第一容置槽14中露出边沿的所述磁性材料40在所述凹槽12中，在所述第一夹板10和所述第二夹板20吸合时，提供了更大的磁性吸合力，从而可以更方便地把所述凹槽12中的所述样品电极50更稳定的压合，避免所述样品电极50发生移动或晃动。
37.在一个实施例中，所述第一卡合部位13包括第一卡合凹槽131和/或第一卡合凸起132，所述第一卡合凹槽131和所述第一卡合凸起132形状匹配且相互卡合。
38.在一个实施例中，所述第一卡合凹槽131和/或所述第一卡合凸起132的数量为偶数，所述第一卡合凹槽131和/或所述第一卡合凸起132设置在所述第一容置槽14的中间。
39.在一个实施例中，所述第一卡合凹槽131为类矩形形状，在类矩形的各个角上设置有圆角；所述第一卡合凸起132为类矩形形状，在类矩形上设置有相应的圆角凸起。
40.具体地，如图2-图4所示，进一步的，为了防止所述第一夹板10和所述第二夹板20在磁性材料40吸合过程中可能存在的偏移给所述样品电极50位置带来干扰移动，从而在所述第一夹板10上设置有所述第一卡合部位13，相应地，在所述第二夹板20上设置有第二卡合部位23，所述第一卡合部位13和所述第二卡合部位23相配合，互相卡合。所述第一卡合部
位13包括第一卡合凹槽131和/或第一卡合凸起132，所述第二卡合部位23包括第一卡合凹槽131和/或第一卡合凸起132。本实施中以所述第一卡合部位13为第一卡合凹槽131，所述第二卡合部位23为第一卡合凸起132为例说明。在所述第一夹板10上设置所述第一卡合凹槽131，进一步地，所述第一卡合凹槽131设置为对称的两个，并位于两两所述第一容置槽14的中央，用于与所述第二夹板20上的所述第一卡合凸起132相匹配卡合。因此，当所述第一夹板10和所述第二夹板20磁性吸合时，通过所述第一卡合凸起132和所述第一卡合凹槽131的配合，在磁性吸合的同时，所述第一卡合凸起132和所述第一卡合凹槽131形状匹配，在所述第一夹板10和所述第二夹板20吸合时不会产生偏移，从而进一步的保持所述样品电极50位置的稳定性。而且，为了进一步的提高所述第一卡合凸起132和所述第一卡合凹槽131相互卡合的稳定性，可以将所述第一卡合凹槽131设置成类矩形形状，在矩形的各个角上设置圆角；相应地，将所述第一卡合凸起132设置成对应的类矩形形状，在类矩形的所述第一卡合凸起132上设置对应的圆角凸起，圆角的设置可以增大所述第一卡合凸起132和所述第一卡合凹槽131的接触面积，可以保持卡合的稳定性和精确性。
41.在一个实施例中，所述凹槽12内设置有样品电极容置槽121，所述样品电极容置槽121形状与所述样品电极50形状相同；所述样品电极容置槽121与所述凹槽12的两者的厚度之和与所述样品电极50的厚度相同。即所述样品电极容置槽121是在所述凹槽12的基础下，继续向下设置一定厚度的容置槽。所述样品电极容置槽121的厚度加上所述凹槽12的厚度之和与所述样品电极50的厚度相同，所述样品电极50放置在所述样品电极容置槽121中，所述样品电极50的顶面与所述第一夹板10的顶面位于同一平面。具体地，所述样品电极50放置在所述凹槽12上时，部分所述样品电极50从所述第一夹板10的贯通开口处暴露出来，暴露出来的部分所述样品电极50作为待检测端，暴露的开口更方便激励源的照射，该激励源可以是激光、可见光、连续源、电磁波以及瞬时源等在内的任意一种。所述样品电极50的另一端通过所述第一夹板10和所述第二夹板20的吸合设置在所述凹槽12中。为了进一步的保持所述样品电极50的稳定，在所述凹槽12中设置所述样品电极容置槽121，所述样品电极容置槽121与所述样品电极50形状适配相同，从而可以将所述样品电极50的一端完全嵌入到所述样品电极容置槽121中，来减少所述样品电极50的移动。且所述凹槽12以及所述样品电极容置槽121的厚度与所述样品电极50的厚度相同，在实际应用中需要根据样品电极50的厚度来相应调整所述凹槽12以及所述样品电极容置槽121的厚度。所述样品电极50的形状包括但不限于矩形、圆形、方形、菱形等形状，在本实施例中以矩形的样品电极50为例说明。
42.在一个实施例中，所述样品电极容置槽121与所述样品电极50之间形成狭缝。具体地，所述样品电极50的四条边之间与所述凹槽12的四条边均分别留有一定的距离并构成狭缝。即所述样品电极容置槽121的边与所述凹槽12的边之间存在一定的距离，该距离的设置，可以远离所述磁性材料40露出的边沿，减小所述第一夹板10和所述第二夹板20在磁吸时对所述样品电极50的侧边造成的冲击力从而对样品电极50可能产生破坏。
43.类似地，如图4所示，在一个实施例中，所述第二夹板20还设置有多个第二容置槽24，部分所述磁性材料40安装在所述第二容置槽24内，所述第二容置槽24的数量与位于所述第二夹板20上的所述磁性材料40的数量相同。
44.在一个实施例中，所述第二容置槽24设置在所述第二夹板20的四周边角处，所述第二容置槽24之间相互对称；所述第二容置槽24的开口位于所述第二夹板20的前后侧面或
左右侧面；所述第二容置槽24与所述第一容置槽14相对应且位于相同位置；即同为前后侧面或同为左右侧面。
45.在一个实施例中，所述第二卡合部位23包括第一卡合凸起132和/或第一卡合凹槽131，所述第一卡合凹槽131和所述第一卡合凸起132形状匹配且相互卡合；且所述第一卡合部位13和所述第二卡合部位23相对应互相卡合。
46.具体地，所述第二夹板20与所述第一夹板10类似地同样设置有向内凹陷的第二贯通开口21，所述第二贯通开口21贯通所述第二夹板20的顶面和底面，从而在所述第二夹板20的所述第二贯通开口21处形成两个第二贯通开口侧面和一个第二贯通开口底面，使得所述第二夹板20整体呈凹字型。在本实施例中，对应地，在所述第二夹板20两两所述第二容置槽24的中央位置设置有对称的所述第一卡合凸起132，所述第一卡合凸起132与位于所述第一夹板10上的所述第一卡合凹槽131相互配合卡合。其中，位于所述第一夹板10上的所述第一卡合凹槽131可以换成所述第一卡合凸起132，相应地，位于所述第二夹板20上的所述第一卡合凸起132可以换成所述第一卡合凹槽131。或者是其他卡和结构，该卡合结构可以实现匹配卡和，避免所述第一夹板10和所述第二夹板20磁性吸合中的偏移即可。
47.具体地，如图5、图6所示，在所述第二夹板20上设置有所述电路板30，在所述电路板30上设置有所述第一电极柱31，其中所述第一电极柱31贯通所述第二夹板20的顶面和底面，所述第一电极柱31从所述第二夹板20的底面露出，形成底面的电极触点。当所述第一夹板10和所述第二夹板20吸合时，所述第一电极柱31通过电极触点可以与所述样品电极50电性连接。且所述第一电极柱31设置在在靠近所述第二贯通开口21处，当所述第一夹板10和所述第二夹板20吸合时，此处的磁性吸合力更强，从而可以便于与所述样品电极50电性连接，也保持了连接的稳定性。
48.进一步地，如图5所示，在一个实施例中，所述电极板30上还设置有第二电极柱32，所述第二电极柱32设置在远离所述第二贯通开口21处；所述第二电极柱32的一端电连接所述第一电极柱31，所述第二电极柱32的另一端连接导线。具体地，为了便于与外接导线连接，将所测量的瞬态光电压传输出去，在所述电路板30上还设置了所述第二电极柱32，所述第二电极柱32设置在远离所述第二贯通开口21处，避免了所述第一电极柱31与所述第二电极柱32之间的相互干扰。
49.如图6所示，在一个实施例中，所述电极板30上还设置有阻抗变换模块33，所述阻抗变换模块33的一端电连接所述第一电极柱31，所述阻抗变换模块33的另一端电连接所述第二电极柱32；所述阻抗变换模块33用于匹配瞬态光电压测试的不同阻抗。具体地，所述阻抗变换模块33可以是可变电阻，将所述可变电阻的一端电性连接所述第一电极柱31，另一端电性连接所述第二电极柱32，从而可以实现瞬态光电压测量时不同的阻抗匹配，可以满足不同的测量需求。
50.在一个实施例中，所述电极板30上还设置有预处理模块34，所述预处理模块34的一端电连接所述第一电极柱31，所述预处理模块34的另一端电连接所述第二电极柱32。具体地，在所述电路板30上还可以设置所述预处理模块34，由于瞬态光电压的信号可能会比较微弱，而在所述预处理模块34中设置有微弱信号的跟随、放大电路或者是具有上述功能的芯片，来对所测量得到的微弱信号进行初级的预处理。而且由于所述预处理模块34设置在靠近所述样品电极50的所述第二夹板20上的所述电路板30上，所述样品电极50上经过激
励源激励发生的原位反应后的微弱信号可以得到就近处理，从而可以防止信号衰减过快而测量不出结果，或者被噪音信号所淹没接收不到测量结果，从而可以提高检测的精度。本实施例所提到的预处理可以是信号处理，也可以是数据变换。位于所述电路板上的两个电极柱，所述第一电极柱31输入，所述第二电极柱32输出。因此，经过所述第二电极柱32输出后的信号，因为是经过所述预处理模块34处理后，在后续系统中已经是经过预处理之后的数据了。
51.如图7所示，在一个实施例中，所述瞬态光电压测试样品组件还包括保护盖15；所述保护盖15通过固定件固定在所述第二夹板20上，所述保护盖15覆盖所述电极板30；所述保护盖15为凸字形，包括中央的凸部151和两侧的折边152；两侧的所述折边152通过固定件固定在所述第二夹板20上，中央的所述凸部151构成容置腔，所述电极板30位于所述容置腔内；所述保护盖15一侧为封闭状，另一侧为开放状。
52.在一个实施例中，所述中央凸部151为长方体型或立方体型或球型。
53.在一个实施例中，所述保护盖15涂覆电磁屏蔽材料，对所述电极板30处进行电磁屏蔽。
54.本发明除了电磁信号屏蔽保持电磁信号的稳定之外，由于采用了上下板磁性吸合的方式结合保护盖板的使用，使得该测量用的组件，在不同压力和温度下也能保持足够稳定，还能满足不同化学环境下的使用，装置稳定，应用广泛。
55.具体地，所述瞬态光电压测试样品组件还包括保护盖15，所述保护盖15设置在所述电路板30上方，用于保护所述电路板30。所述保护盖15整体呈凸字形，分为中央的凸部151和两侧的折边152，两侧的折边152可以用于与所述第二夹板20固定连接。两侧的折边152上设置有固定连接孔，固定件通过连接孔将所述保护盖15固定在所述第二夹板20上。所述固定件包括但不限于螺丝、螺栓等固定件。在本实施例中，所述中央的凸部151以长方体为例说明，所述中央凸部151也可以是除了长方体外的其他形状，包括但不限于立方体、球体、梯形体或其他形状，只要能实现对所述电极板30的保护作用即可，在此不做限定。在本实施例中，所述中央的凸部151的顶面和后侧面以及两个侧表面均为封闭状态，而所述凸部151的底面和前侧面为开口状态。底面开口用于容纳所述电路板30，前侧面开口用于连接外接导线。所述保护盖15固定在所述第二夹板20上方，将所述电路板30覆盖住，所述保护盖15的中间具有容纳空间，所述电路板30位于该容纳空间之中，从而对所述电路板30进行保护。而且，在所述保护盖15上还涂覆有磁屏蔽材料，可以对电极处进行磁屏蔽，进一步减少环境信号的噪音。
56.本发明实施例提供了一种瞬态光电压测试样品组件，通过在第一夹板10和第二夹板20之间设置磁性材料40，且在第一夹板10上设置凹槽12来放置样品电极50，可以有效稳定样品电极50在该测试样品组件上，样品电极50在第一夹板10和第二夹板20件可以稳固压合，不会产生位移，从而影响瞬态光电压的测量。且该磁性材料40还可以在样品电极50的周围形成较强的磁场，从而可以屏蔽外在的磁场干扰，提高检测结果的精确性。且第一夹板10和第二夹板20均设置有贯通开口，样品电极50可以暴露在该贯通开口中，为样品电极50提供原位反应的场所，从而样品在激励源激励下可以观测原位反应中的瞬态光电压。
57.在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少
一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。
58.上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
59.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。