一种芯片测试设备防辐射装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试设备防辐射装置。


背景技术：

2.随着移动互联网、云计算、物联网、大数据等新兴产业的增长，电子信息产业进入了新的发展阶段，控制、通信、人机交互和网络互联等融入了大量的新兴的电子技术，设备功能越来越复杂，系统集成度越来越复杂，新兴电子信息技术的发展依赖与半导体产业的不断推动，而这些技术都需要芯片进行技术支持，因此，芯片作为一项核心技术，其使用变得越来越频繁和重要，芯片即是使用单晶硅晶圆用作基层，然后使用光刻、掺杂、cmp等技术制成 mosfet或bjt等组件，再利用薄膜和cmp技术制成导线，集成电路的分类方法很多，依照电路属模拟或数字，可以分为：模拟集成电路、数字集成电路和混合信号集成电路，集成电路对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能，成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管，性能高是由于组件快速开关，消耗更低能量，因为组件很小且彼此靠近，在芯片加工后或是使用前为了保证其可靠性需要进行测试。
3.在对芯片进行测试的时候用到芯片测试设备，现有的芯片测试设备都放置在测试室进行作业，但测试室的门窗和墙壁等大都没有隔离措施，所以一定剂量的辐射难以避免，一些工作人员会穿戴防辐射服避免辐射危害，但附近的工作人员无法进行有效的辐射减免，容易对人体造成危害，而且现有的防辐射装置不具备高度调节的功能，不同体型的工作人员不便于对其进行观察操作，使用较为不便。


技术实现要素：

4.本实用新型提供一种芯片测试设备防辐射装置，旨在解决现有的芯片测试设备都放置在测试室进行作业，但测试室的门窗和墙壁等大都没有隔离措施，所以一定剂量的辐射难以避免，一些工作人员会穿戴防辐射服避免辐射危害，但附近的工作人员无法进行有效的辐射减免，容易对人体造成危害，而且现有的防辐射装置不具备高度调节的功能，不同体型的工作人员不便于对其进行观察操作，使用较为不便的问题。
5.本实用新型是这样实现的，一种芯片测试设备防辐射装置，包括底板，所述底板的顶部固定连接有四个立柱，所述底板的顶部设置有防辐射机构，所述防辐射机构的顶部固定连接有顶板，所述顶板的底部固定连接有伸缩缸，所述伸缩缸的底部固定连接有托板，所述托板的顶部活动连接有测试设备本体；
6.所述防辐射机构包括防辐射侧板、前门和观察窗，所述防辐射侧板固定连接在底板的顶部且与立柱的表面固定连接，所述前门活动连接在前侧两个立柱相对的一侧，所述观察窗固定连接在前门的前侧。
7.为了达到便于沿着立柱转动前门以达到对测试设备本体进行操作的效果，作为本实用新型的一种芯片测试设备防辐射装置优选的，所述前门前侧的右侧固定连接有铰接
件，所述铰接件后侧的右侧与立柱固定连接。
8.为了达到让前门关闭在装置前侧的时候对前门进行固定，并且在需要打开的时候便于打开的效果，作为本实用新型的一种芯片测试设备防辐射装置优选的，所述前门的左侧固定连接有磁力条，前侧所述立柱的右侧固定连接有金属条，所述金属条的表面与磁力条配合使用。
9.为了达到便于将前门拉开或是将其关闭的效果，作为本实用新型的一种芯片测试设备防辐射装置优选的，所述前门的前侧固定连接有拉把，所述拉把的表面开设有防滑纹路。
10.为了达到便于对装置进行移动，使得灵活性更强的效果，作为本实用新型的一种芯片测试设备防辐射装置优选的，所述底板的底部固定连接有万向轮，所述万向轮的数量为四个。
11.为了达到让装置的四面在正常作业的时候都可以有效的隔绝辐射避免对人体伤害的效果，作为本实用新型的一种芯片测试设备防辐射装置优选的，所述前门和防辐射侧板均为铅板材料制成，所述观察窗为高铅光学玻璃材料制成。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
13.该芯片测试设备防辐射装置，通过设置底板，对上方结构进行支撑和安装，立柱对装置的防辐射机构进行安装，在正常使用的时候，将需要检测的芯片放置在测试设备本体的测试位置并且启动测试设备本体对芯片进行测试，测试的过程中向外部产生辐射，而辐射在经过防辐射侧板和前门的时候会被隔绝大部分，避免对周围未穿戴防辐射服的人员和长时间进行测试工作的人员造成辐射伤害，工作人员也可以随时通过观察窗，对测试设备本体内部的情况进行有效的观察，以便于做出调整和决定停止测试的时间，而在不同身高体型的人使用装置的时候，顶板底部的伸缩缸可以将托板以及测试设备本体进行抬起，便于身高较高的工作人员进行操作，让使用的过程更加安全方便。
附图说明
14.图1为本实用新型的芯片测试设备防辐射装置的整体结构图；
15.图2为本实用新型前门打开的结构示意图；
16.图3为本实用新型顶板的内部结构示意图；
17.图4为本实用新型主体结构的主视图；
18.图5为本实用新型图2中a处的局部放大图。
19.图中，1、底板；2、立柱；3、防辐射机构；301、防辐射侧板；302、前门；303、观察窗；4、顶板；5、伸缩缸；6、托板；7、测试设备本体；8、铰接件；9、磁力条； 10、金属条；11、拉把；12、万向轮。
具体实施方式
20.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
21.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
22.请参阅图1-5，本实用新型提供技术方案：一种芯片测试设备防辐射装置，包括底板1，底板1的顶部固定连接有四个立柱2，底板1的顶部设置有防辐射机构3，防辐射机构3的顶部固定连接有顶板4，顶板4的底部固定连接有伸缩缸5，伸缩缸5的底部固定连接有托板6，托板6的顶部活动连接有测试设备本体7；
23.防辐射机构3包括防辐射侧板301、前门302和观察窗303，防辐射侧板 301固定连接在底板1的顶部且与立柱2的表面固定连接，前门302活动连接在前侧两个立柱2相对的一侧，观察窗303固定连接在前门302的前侧。
24.在本实施例中：通过设置底板1，对上方结构进行支撑和安装，立柱2对装置的防辐射机构3进行安装，在正常使用的时候，将需要检测的芯片放置在测试设备本体7的测试位置并且启动测试设备本体7对芯片进行测试，测试的过程中向外部产生辐射，而辐射在经过防辐射侧板301和前门302的时候会被隔绝大部分，避免对周围未穿戴防辐射服的人员和长时间进行测试工作的人员造成辐射伤害，工作人员也可以随时通过观察窗303，对测试设备本体 7内部的情况进行有效的观察，以便于做出调整和决定停止测试的时间，而在不同身高体型的人使用装置的时候，顶板4底部的伸缩缸5可以将托板6以及测试设备本体7进行抬起，便于身高较高的工作人员进行操作，让使用的过程更加安全方便。
25.作为本实用新型的技术优化方案，前门302前侧的右侧固定连接有铰接件8，铰接件8后侧的右侧与立柱2固定连接。
26.在本实施例中：通过设置铰接件8，在需要打开前门302对内部的测试设备本体7进行操作或是更换内部正在测试的芯片，方便让前门302沿着铰接件8在立柱2前侧进行转动。
27.作为本实用新型的技术优化方案，前门302的左侧固定连接有磁力条9，前侧立柱2的右侧固定连接有金属条10，金属条10的表面与磁力条9配合使用。
28.在本实施例中：通过设置磁力条9，和金属条10配合使用，在前门302关闭的时候，磁力条9和金属条10互相吸引，对前门302起到固定的效果，避免在没有外力影响的时候，前门302自行打开导致无法有效隔绝辐射的效果。
29.作为本实用新型的技术优化方案，前门302的前侧固定连接有拉把11，拉把11的表面开设有防滑纹路。
30.在本实施例中：通过设置拉把11，在需要打开前门302或是对前门302 进行关闭的时候，可以通过使用者手部拉住拉把11对前门302进行活动操作，使得对前门302的操作更加方便省力，开设在拉把11表面的防滑纹路可以避免在持握的时候，使用者的手部发生打滑的情况。
31.作为本实用新型的技术优化方案，底板1的底部固定连接有万向轮12，万向轮12的数量为四个。
32.在本实施例中：通过设置万向轮12，在需要对装置和测试设备本体7，进行移动的时候可以通过万向轮12对其进行省力快速的移动，使得装置的位置变更更加的灵活。
33.作为本实用新型的技术优化方案，前门302和防辐射侧板301均为铅板材料制成，观察窗303为高铅光学玻璃材料制成。
34.在本实施例中：通过铅板材料制成的前门302和防辐射侧板301可以有效的起到防辐射的作用，因为铅元素是自然界中原子序数比较高的物质，所以阻挡辐射的能力比较强，使用抗辐射效果较好的高铅光学玻璃材料制成的观察窗303，可以在有效防辐射的同时对设备内部进行有效的观察监视。
35.工作原理：首先，将测试设备本体7安装在底板1的顶部，在正常作业的时候，拉住拉把11并且沿着铰接件8将前门302向前拉开，把需要测试的芯片安装在测试设备本体7的检测位置，之后将前门302关闭对芯片进行检测，前门302关闭的时候前门302的磁力条9和立柱2的金属条10进行粘接，以完成对于前门302位置的固定，在测试设备本体7进行工作的时候会产生辐射，而辐射会被防辐射机构3隔绝大部分，铅板制成的防辐射侧板301和前门302，有效的隔绝辐射避免工作人员受到辐射危害，在正常作业的时候使用者可以通过观察窗303，观察内部测试设备本体7的工作情况以便于进行调整，在设备高度较矮不便于使用者操作的时候，伸缩缸5可以启动，伸缩轴通过托板6托举测试设备本体7上升，以便于使用者进行观察或是操作。
36.以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。