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用于处理图卡的TCON芯片的制作方法

2021-12-14 21:38:00 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种用于处理图卡的时序控制tcon芯片,其特征在于,所述芯片包括自适应二值化模块和特征识别模块,其中:所述自适应二值化模块,用于对图像数据进行二值化得到待检测图像数据;所述特征识别模块,用于将所述待检测图像数据与预设图卡特征进行匹配,若匹配到所述预设图卡特征,则确定检测到所述预设图卡特征对应的图卡。2.根据权利要1所述的芯片,其特征在于,所述特征识别模块包括至少一个特征检测模块和/或至少一个特征统计模块,其中:所述特征检测模块,用于采用所述预设图卡特征中的图卡行向量对所述待检测数据的像素行进行检测,得到各像素行的行向量检测结果,并采用所述预设图卡特征中的行向量排列特征对各像素行的行向量检测结果进行特征检测,得到所述待检测数据中的图卡检测结果;所述特征统计模块,用于采用所述预设图卡特征中的图卡行向量对所述待检测数据的像素行进行检测,得到各像素行的行向量检测结果。3.根据权利要求2所述的芯片,其特征在于,执行所述采用所述预设图卡特征中的图卡行向量对所述待检测数据的像素行进行检测,得到各像素行的行向量检测结果,所述特征检测模块和所述特征统计模块具体用于:针对每个像素行,依序将所述像素行的多个二值化数据与所述图卡行向量进行匹配操作;若连续匹配到n个所述图卡行向量,则记录所述图卡行向量的起始位置和结束位置以及所述图卡行向量的连续数量,其中,n大于或等于第一阈值;若所述像素行匹配到多个图卡行向量,则选择连续数量最多的图卡行向量的标识作为所述像素行的所述行向量检测结果。4.根据权利要求3所述的芯片,其特征在于,所述特征检测模块和所述特征统计模块还用于:各像素行分别作为目标像素行,并针对所述目标像素行比对所述目标像素行和相邻像素行的图卡行向量的起始位置;若所述相邻像素行的图卡行向量的起始位置相同,且所述目标像素行的图卡行向量的起始位置与所述相邻像素行的图卡行向量的起始位置不同,则校正所述目标像素行的图卡行向量的起始位置为所述相邻像素行的图卡行向量的起始位置;其中所述目标像素行的图卡行向量的起始位置为连续数量最多的图卡行向量的起始位置。5.根据权利要求3所述的芯片,其特征在于,执行所述用所述预设图卡特征中的行向量排列特征对各像素行的行向量检测结果进行特征检测,得到所述待检测数据中的图卡检测结果,所述特征检测模块具体用于:依序将所述多个像素行的行向量检测结果与所述行向量排列特征进行匹配操作;若连续匹配到m个所述行向量排列特征,则记录所述行向量排列特征的起始位置和结束位置以及所述行向量排列特征的连续数量,其中,m大于或等于第二阈值;若所述像素行匹配到多种行向量排列特征,则选择连续数量最多的行向量排列特征的标识作为所述图卡检测结果。6.根据权利要求2所述的芯片,其特征在于,若采用所述特征识别模块中的多个特征搜
索模块检测所述预设图卡特征,则各特征搜索模块负责检测所述待检测图像数据的指定图像区域,其中每个所述特征搜索模块为所述特征检测模块或所述特征统计模块。7.根据权利要求2所述的芯片,其特征在于,当所述特征识别模块具有多个特征搜索模块时,所述芯片还包括单帧检测仲裁模块:所述单帧检测仲裁模块,用于根据所述多个模块的检测结果得到决策结果;所述决策结果用于指示是否存在需要校正的图卡,以及需要校正的图卡标识,其中,所述图卡标识用于图卡校正,每个所述特征搜索模块为所述特征检测模块或所述特征统计模块。8.根据权利要求7所述的芯片,其特征在于,所述单帧检测仲裁模块包括多个通道选择模块和单帧决策模块:所述通道选择模块,用于基于预设的选通规则从所述多个特征搜索模块中选择相应特征搜索模块的两个检测结果;并对所述两个检测结果进行逻辑与操作,得到所述通过选择模块的选择结果;所述单帧决策模块,用于对所述多个所述通道选择模块的选择结果进行逻辑或操作,得到所述决策结果。9.根据权利要求7所述的芯片,其特征在于,当待检测图卡的种类超过预先设定的阈值时,所述芯片还包括多帧设定配置模块和多帧检测仲裁模块:所述多帧设定配置模块,用于设置所述特征识别模块检测的图卡种类;所述多帧检测仲裁模块,还用于在多帧检测模式中,获取所述单帧决策模块的决策结果;若所述决策结果指示需要校正图卡时,确定所述特征识别模块检测的图卡种类不变,若所述决策结果指示不存在需要校正的图卡时,则更换所述多帧设定配置模块设置的需要检测的图卡种类。10.根据权利要求2所述的芯片,其特征在于,所述芯片还包括信号校正模块:所述信号校正模块,用于根据检测到的图卡标识匹配出对应的校正方式,并采用所述校正方式对所述图像数据进行校正操作。

技术总结
本申请涉及提供一种用于处理图卡的TCON芯片,用以解决用软件检测图卡对CPU的依赖和要求较高,导致一些低端的TOCN芯片不能检测图卡的问题。本申请使用自适应二值化模块对图像数据进行二值化得到待检测图像数据,特征识别模块将获得的待检测图像数据与预设图卡特征进行匹配,最终检测到预设图卡特征对应的图卡,最终实现通过纯硬件结构完成TCON芯片对图卡的检测和校正,降低对CPU的依赖和要求,并能够适应低端的TOCN芯片。另外本申请还采用大量硬件模块复用和分时复用的检测方式,降低了硬件模块的面积,同时设置软件通道模块供合有CPU的TCON芯片进行操作,大大降低了芯片更新换代的周期,降低了芯片成本。降低了芯片成本。降低了芯片成本。


技术研发人员:刘智君 卫敏 段云鹏
受保护的技术使用者:青岛信芯微电子科技股份有限公司
技术研发日:2021.08.31
技术公布日:2021/12/13
再多了解一些

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