一种电镀件表面膜层的测厚方法与流程

技术特征：
1.一种电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，包括步骤s1，前处理阶段：在待测电镀件a上设置有色边界层后，将其制备成金相试样c；s2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样c中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件a表面膜层的厚度。2.根据权利要求1所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述步骤s1包括：s11，准备待测电镀件a；s12，制备有色颜料工作液；s13，将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件a的表面，干燥至恒重后得到具有有色边界层的待测电镀件b；s14，将所述待测电镀件b进行切割、使所述待测电镀件b表面膜层的横截面裸露出，之后将其进行浇铸和研磨制备成金相试样c。3.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤s12中，采用除黑色以外的有色颜料制备所述有色颜料工作液。4.根据权利要求2或3所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤s12中，采用非透明有色漆制备所述有色颜料工作液。5.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤s13中，采用浸涂或喷涂的方式将所述有色颜料工作液涂覆至所述待测电镀件a的表面。6.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤s13中，将所述有色颜料工作液浸涂或喷涂于所述待测电镀件a的表面后，在80～120℃干燥至恒重，得待测电镀件b。7.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤s14中，垂直于所述待测电镀件b的表面进行切割，使得所述待测电镀件b表面膜层的横截面垂直裸露出。8.根据权利要求2所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，在所述步骤s14中，浇铸成型后的待测电镀件b表面膜层的横截面垂直裸露出。9.根据权利要求1所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述步骤s2包括：s21，将所述金相试样c置于显微镜的载物台上，调整显微镜，直至在低倍放大倍数下看到清晰的金相试样c的边界图像；s22，提高显微镜的倍数，直至在高倍放大倍数下看到清晰的金相试样c中电镀层边界图像；s23，缓慢增加光源亮度，直至看到清晰的所述金相试样c中电镀层和有色边界层之间的待测膜层两侧的边界图像；s24，通过显微图像分析软件测量所述金相试样c中有色边界层与电镀层之间的距离d。10.根据权利要求9所述的电镀件表面膜层的测厚方法，其特征在于，所述显微镜为金相显微镜。

技术总结
本发明提供了一种电镀件表面膜层的测厚方法，包括步骤S1，前处理阶段：在待测电镀件A上设置有色边界层后，将其制备成金相试样C；S2，测量阶段：通过显微镜观察和测量所述金相试样C中有色边界层与电镀层之间的距离d，所述距离d即为所述待测电镀件A表面膜层的厚度，本发明所述的电镀件表面膜层的测厚方法具有操作简单、成本低、适用范围广、检测结果精确、成功率高，同时，还可以显示膜层厚度的分布情况的优点。的优点。的优点。


技术研发人员：姚鑫剑 颜飞 宋玉龙
受保护的技术使用者：临海市伟星化学科技有限公司
技术研发日：2021.07.28
技术公布日：2021/11/24