阵列基板、测试面板及显示装置的制作方法

本公开涉及显示，尤其涉及一种阵列基板、测试面板及显示装置。

背景技术：

1、薄膜晶体管液晶显示器(tft-lcd)因其具有体积小、功耗低、无辐射等特点，在当前平板显示器市场占据了主导地位。薄膜晶体管液晶显示器的关键核心在与阵列基板的晶体管制备以及相关晶体管特性的确保，通过栅极电压大小来控制晶体管的打开和关闭实现数据线电压→像素电压的写入，从而达到不同像素电极需要的显示亮度。

2、在将触控(touch)功能整合到tft-lcd内的内嵌式触控(in-cell touch)方案中，显示功能和触控功能可整合在一颗驱动芯片(ic)中，从而实现一颗驱动芯片既有显示功能又有触控功能(即tddi技术)。相关tddi产品在测试(ct)阶段，由控制线(tx sw)给高电位打开晶体管，公共电压信号(com)由此给入到显示区aa内的触控线(tx)；在模组(mdl)点灯时，控制线给低电位关闭晶体管，触控信号通过驱动芯片给入显示区aa内的触控线。

3、然而，控制线和触控线都是长走线，在工艺制程中容易积累静电而损伤晶体管的有源层(active)，造成晶体管特性异常，影响触控信号的正常输入，出现测试点短接不良(tp short ng)或是方格不良。虽然通过制程的静电管控可以减轻不良的发生，但是无法从根源杜绝不良的发生。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开实施例提供一种阵列基板、测试面板及显示装置，用以解决现有技术中存在的测试点短接不良或是方格不良问题。

2、因此，本公开实施例提供的一种阵列基板、测试面板及显示装置，具体方案如下：

3、一方面，本公开实施例提供了一种阵列基板，包括：

4、衬底基板，所述衬底基板包括显示区、以及位于所述显示区至少一侧的非显示区，所述非显示区设有驱动芯片，所述驱动芯片包括触控端子；

5、触控线，位于所述显示区，所述触控线与所述触控端子电连接；

6、触控测试线，位于所述非显示区，所述触控测试线包括第一主线、以及与所述第一主线相连的分支线，所述分支线与所述触控线电连接，且同一所述分支线在所述第一主线与所述触控线之间间隔设置。

7、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，所述第一主线与所述分支线一体设置。

8、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，所述第一主线与所述分支线异层设置。

9、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，还包括测试端子，所述第一主线的一端或两端与所述测试端子电连接。

10、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，还包括与所述第一主线异层设置的第一连接线，所述第一主线通过所述第一连接线与所述测试端子电连接。

11、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，还包括测试端子，所述触控测试线还包括第二主线，所述第二主线的一端与所述测试端子电连接、另一端与所述第一主线的中间位置电连接。

12、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，所述非显示区包括设有所述驱动芯片的第一非显示区，所述触控测试线设于所述第一非显示区，所述分支线通过所述触控端子与所述触控线电连接。

13、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，所述非显示区包括设有所述驱动芯片的第一非显示区，以及与所述第一非显示区相对而置的第二非显示区；所述触控测试线设于所述第二非显示区，所述分支线与所述触控线远离所述触控端子的一端电连接。

14、在一些实施例中，在本公开实施例提供的上述阵列基板中，还包括位于所述显示区的公共电极，所述第一主线为所述公共电极加载公共电极信号。

15、另一方面，本公开实施例提供了一种显示装置，包括本公开实施例提供的上述阵列基板，以及与所述阵列基板相对而置的对向基板。

16、另一方面，本公开实施例提供了一种测试面板，包括：上述阵列基板，以及位于所述非显示区的第二连接线，间隔设置的同一所述分支线通过所述第二连接线相连，所述触控测试线为所述触控线加载测试信号。

17、本公开有益效果如下：

18、本公开实施例提供的阵列基板、测试面板及显示装置，包括衬底基板，衬底基板包括显示区、以及位于显示区至少一侧的非显示区，非显示区设有驱动芯片，驱动芯片包括触控端子；触控线，位于显示区，触控线与触控端子电连接；触控测试线，位于非显示区，触控测试线包括第一主线、以及与第一主线相连的分支线，分支线与触控线电连接，且同一分支线在第一主线与触控线之间间隔设置。本公开采用了包括第一主线和分支线的触控测试线设计，使得在检测阶段，公共电压信号可依次经第一主线和分支线提供给触控线；检测结束后切断分支线，从而在模组点灯阶段，可由驱动芯片的触控端子向触控线提供触控信号，实现模组的正常点灯。由此可见，本公开去除了晶体管、以及控制晶体管开关的控制线，因此可以从根源上规避测试点短接不良或是方格不良。

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一主线与所述分支线一体设置。

3.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一主线与所述分支线异层设置。

4.如权利要求1～3任一项所述的阵列基板，其特征在于，还包括测试端子，所述第一主线的一端或两端与所述测试端子电连接。

5.如权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，还包括与所述第一主线异层设置的第一连接线，所述第一主线通过所述第一连接线与所述测试端子电连接。

6.如权利要求1～3任一项所述的阵列基板，其特征在于，还包括测试端子，所述触控测试线还包括第二主线，所述第二主线的一端与所述测试端子电连接、另一端与所述第一主线的中间位置电连接。

7.如权利要求1～3、5任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述非显示区包括设有所述驱动芯片的第一非显示区，所述触控测试线设于所述第一非显示区，所述分支线通过所述触控端子与所述触控线电连接。

8.如权利要求1～3、5任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述非显示区包括设有所述驱动芯片的第一非显示区，以及与所述第一非显示区相对而置的第二非显示区；所述触控测试线设于所述第二非显示区，所述分支线与所述触控线远离所述触控端子的一端电连接。

9.如权利要求1～3、5任一项所述的阵列基板，其特征在于，还包括位于所述显示区的公共电极，所述第一主线为所述公共电极加载公共电极信号。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1～9任一项所述的阵列基板，以及与所述阵列基板相对而置的对向基板。

11.一种测试面板，其特征在于，包括：如权利要求1～9任一项所述的阵列基板，以及位于所述非显示区的第二连接线，间隔设置的同一所述分支线通过所述第二连接线相连，所述触控测试线为所述触控线加载测试信号。