通感算控芯片测试方法、装置、系统、设备和存储介质与流程

本技术涉及自动测试，特别是涉及一种通感算控芯片测试方法、装置、系统、计算机设备和计算机可读存储介质。

背景技术：

1、随着自动测试技术的快速发展，大多通过自动测试设备以及测试程序对芯片进行自动测试，例如，封装后的通感算控芯片已可以在接近实际应用环境的条件下开展批量测试。

2、目前，先依据芯片功能、通信协议以及具体的应用场景确定完整测试任务，将完整测试任务中的输入数据、时序、供电、具体任务顺序以及通信环境配置为标准测试负载，并生成可重复调用的测试负载镜像；然后，检测设备将该测试负载镜像依次加载至各待测试芯片，采集其通信响应，并与预期结果以及判定范围比较，据此输出合格、不合格或待复测等芯片测试结果。

3、然而，现有技术是先生成多个标准测试负载，然后按照既定顺序形成测试负载镜像，在待测试芯片执行其中一个测试任务出现其它不同的响应时，仍继续执行测试负载镜像指示的固定的基准路径，从而导致待测试芯片在实际场景中的真实异常测试路径未被复现，进而导致芯片测试的可靠性降低。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够依据待测试芯片的实际响应确定对应的下一测试任务的通感算控芯片测试方法、装置、系统、计算机设备和计算机可读存储介质。

2、第一方面，本技术提供了一种通感算控芯片测试方法，所述方法包括：

3、基于可执行测试负载镜像，对待测试芯片进行测试；在所述待测试芯片的测试过程中，基于所述待测试芯片执行当前测试任务生成的实际响应，确定下一执行节点，所述下一执行节点包括下一测试任务或测试终止；

4、基于所述待测试芯片的测试执行记录，确定所述待测试芯片的芯片测试结果。

5、在其中一个实施例中，所述基于所述待测试芯片执行当前测试任务生成的实际响应，确定下一执行节点，包括：

6、确定当前测试任务关联的各响应绑定镜像记录；任一所述响应绑定镜像记录用于记录与所述当前测试任务绑定的响应转移条件和下一执行节点标识信息，所述响应转移条件用于指示执行下一执行节点的条件，所述下一执行节点标识信息包括下一测试任务标识信息或指示测试终止的标识信息；

7、基于所述待测试芯片执行所述当前测试任务生成的实际响应，以及各所述响应绑定镜像记录，确定下一执行节点。

8、在其中一个实施例中，任一所述响应绑定镜像记录还用于记录与所述当前测试任务绑定的完整响应判定条件，所述完整响应判定条件用于判断所述实际响应是否形成完整响应；

9、所述基于所述待测试芯片执行所述当前测试任务生成的实际响应，以及各所述响应绑定镜像记录，确定下一执行节点，包括：

10、在目标规定时间段内，所述实际响应满足与所述当前测试任务绑定的完整响应判定条件的情况下，基于所述实际响应，确定所述当前测试任务的实际响应结果，并从各所述响应绑定镜像记录指示的响应转移条件中确定出至少一个以完整可解析响应为判断内容的目标响应转移条件；

11、在目标规定时间段内，所述实际响应未满足与所述当前测试任务绑定的完整响应判定条件的情况下，基于任务已超时的实际超时结果，确定所述当前测试任务的实际响应结果，并从各所述响应绑定镜像记录指示的响应转移条件中确定出至少一个以超时结果为判断内容的目标响应转移条件；

12、基于所述实际响应结果分别与各所述目标响应转移条件的比对结果，以及各所述下一执行节点标识信息，确定下一执行节点；

13、其中，所述目标规定时间段为以所述当前测试任务的已发送数据的发送完成时刻为开始时刻，且以预设响应超时时长为时间间隔的时间段。

14、在其中一个实施例中，任一所述响应绑定镜像记录还用于记录与所述当前测试任务绑定的动态字段引用；

15、在所述基于所述待测试芯片执行所述当前测试任务生成的实际响应，以及各所述响应绑定镜像记录，确定下一执行节点之后，所述方法还包括：

16、在所述下一执行节点为下一测试任务的情况下，基于所述当前测试任务和所述下一测试任务共同关联的响应绑定镜像记录指示的动态字段引用，获取动态字段；所述动态字段为测试过程中动态变化的字段；

17、基于所述动态字段，生成所述下一测试任务的发送数据。

18、在其中一个实施例中，所述实际响应是基于归属于所述当前测试任务的各响应数据生成的；

19、在所述待测试芯片的测试过程中，所述方法还包括：

20、在获取到新响应数据的情况下，分别比对所述新响应数据与未完成任务集合中各未完成任务的响应数据归属条件；

21、在所述新响应数据只与所述未完成任务集合中的一个未完成任务的响应数据归属条件比对成功的情况下，将所述新响应数据归属于比对成功的未完成任务；

22、在所述新响应数据与所述未完成任务集合中的至少两个未完成任务的响应数据归属条件比对成功的情况下，确定所述新响应数据为响应归属冲突数据；

23、在所述新响应数据与所述未完成任务集合中的所有未完成任务的响应数据归属条件均比对失败的情况下，确定所述新响应数据为无法归属数据；

24、其中，任一所述未完成任务为已发送数据和未形成完整响应的任务，且当前时刻未超过所述未完成任务的规定时间段；所述未完成任务的规定时间段为以所述未完成任务的已发送数据的发送完成时刻为开始时刻，且以预设响应超时时长为时间间隔的时间段；任一所述未完成任务的响应数据归属条件用于指示新响应数据归属所述未完成任务的条件。

25、在其中一个实施例中，所述可执行测试负载镜像是基于如下方式生成：

26、基于基准芯片执行预设业务流程的现场通信日志，生成多个镜像任务单元；所述预设业务流程包括多个依次执行的测试任务，所述现场通信日志为与所述基准芯片进行通信的通信日志；

27、基于所述基准芯片执行所述预设业务流程的执行数据，生成各所述测试任务之间的绑定镜像记录；任一所述绑定镜像记录用于记录两测试任务之间的绑定关系；

28、基于所述多个镜像任务单元，以及各所述绑定镜像记录，生成初始测试负载镜像；

29、在对所述初始测试负载镜像检查通过的情况下，将封装测试条件写入所述初始测试负载镜像，生成所述可执行测试负载镜像。

30、第二方面，本技术还提供了一种通感算控芯片测试装置，所述装置包括：

31、芯片测试模块，用于基于可执行测试负载镜像，对待测试芯片进行测试；在所述待测试芯片的测试过程中，基于所述待测试芯片执行当前测试任务生成的实际响应，确定下一执行节点，所述下一执行节点包括下一测试任务或测试终止；

32、结果确定模块，用于基于所述待测试芯片的测试执行记录，确定所述待测试芯片的芯片测试结果。

33、第三方面，本技术还提供了一种通感算控芯片测试系统，所述系统包括：

34、测试负载板，所述测试负载板用于与待测试芯片连接；

35、计算机设备，所述计算机设备用于执行如上任一项所述的方法的步骤；

36、测试机，所述测试机分别与所述测试负载板和所述计算机设备通信连接。

37、第四方面，本技术还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

38、基于可执行测试负载镜像，对待测试芯片进行测试；在所述待测试芯片的测试过程中，基于所述待测试芯片执行当前测试任务生成的实际响应，确定下一执行节点，所述下一执行节点包括下一测试任务或测试终止；

39、基于所述待测试芯片的测试执行记录，确定所述待测试芯片的芯片测试结果。

40、第五方面，本技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

41、基于可执行测试负载镜像，对待测试芯片进行测试；在所述待测试芯片的测试过程中，基于所述待测试芯片执行当前测试任务生成的实际响应，确定下一执行节点，所述下一执行节点包括下一测试任务或测试终止；

42、基于所述待测试芯片的测试执行记录，确定所述待测试芯片的芯片测试结果。

43、上述通感算控芯片测试方法、装置、系统、计算机设备和计算机可读存储介质，基于可执行测试负载镜像，对待测试芯片进行测试，在待测试芯片的测试过程中，基于待测试芯片执行当前测试任务生成的实际响应，确定下一执行节点，从而可以依据待测试芯片的实际响应确定对应的下一测试任务，确保待测试芯片的实际测试路径与待测试芯片的实际响应和当前运行状态一致，即可以实现重试、链路切换或恢复等真实异常测试路径的连续复现，相比现有技术中固定的基准路径，本实施例可以提高芯片测试的可靠性。