一种整流桥单二极管独立测试工装的制作方法

本发明涉及电力电子器件测试，具体为一种整流桥单二极管独立测试工装。

背景技术：

1、整流桥由四颗独立二极管桥式集成封装构成，广泛应用于开关电源、工业整流设备、电力电子终端等领域，其工作可靠性直接决定整机设备运行稳定性。在产品出厂筛选、研发可靠性验证、售后维修检测场景中，需对整流桥内部四颗二极管逐一开展正向压降、反向漏电流、反向耐压等参数独立测试，精准定位单管劣化、漏电、隐性失效、参数离散性超标等问题，实现整流桥品质精准判定。

2、整流桥四颗二极管引脚配对关系交错、测试回路互不通用，行业常规测试模式分为人工表笔对点测试、自动化继电器矩阵测试、多开关分立手动测试三类。人工测试依赖操作人员记忆引脚配对逻辑，频繁切换表笔，极易出现漏测、误测、参数判定偏差；自动化测试设备结构复杂、成本高昂、便携性差，无法适配实验室小样测试、现场维修等轻量化场景；多开关分立手动工装为行业主流改良方案，但存在器件冗余、易误操作、适配性差等固有缺陷，行业长期缺乏一款极简结构、零误测、兼顾专业高精度测试与通用简易测试的便携工装。

3、现有技术主要为四开关独立选通式整流桥测试工装及人工表笔切换测试方式，其存在的技术缺陷具体如下：

4、传统人工测试方式操作繁琐、容错率低。现有技术完全依赖人工记忆引脚配对关系，四次测试需要反复调换表笔，极易出现引脚配对错误、测试顺序错乱、漏测、误判等问题，测试一致性差，不适合批量比对测试与参数一致性筛选。

5、传统四开关分立选通结构器件冗余大、成本高、体积大。现有改进型手动工装普遍采用“一管一开关”的四开关独立选通结构，需要配置四路独立开关器件，器件数量多、接线复杂、装配繁琐、故障率高，工装整体体积大、便携性差。

6、现有开关选通工装存在操作冗余、逻辑复杂、易误操作。四开关结构存在多开关同时误触导通的风险，容易产生无效通路，部分场景存在测试回路紊乱问题，需要额外增加复杂的互锁电路或严格的人工操作规范，系统可靠性低。

7、自动化继电器矩阵设备成本高昂、适用性差。现有自动测试设备依靠单片机、多路继电器阵列、控制电路实现自动选通，结构复杂、成本高、体积大，仅适用于产线大批量量产测试，不适用于实验室研发、小样筛选、维修现场便携测试场景。

8、传统整流桥测试基座适配性差、接触稳定性不足。现有工装多为固定式单间距插孔基座，仅能适配单一封装整流桥；少数可调基座采用滑动夹持结构，长期使用易出现滑动松动、接触电阻漂移、虚接打火等问题，测试数据重复性差，且拆装繁琐、耐用度低。

技术实现思路

1、鉴于现有技术的上述缺点、不足，本发明提供一种整流桥单二极管独立测试工装，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种整流桥单二极管独立测试工装，包括：

3、外壳体；

4、盖体，所述盖体一侧与所述外壳体顶部铰接，另一侧通过螺钉与所述外壳体锁紧扣合，所述盖体与所述外壳体形成盒体结构；

5、整流桥适配插座组件，设置于所述盖体上，用于插接待测整流桥；

6、第一开关和第二开关，均为单刀双掷开关，并排设置于所述盖体上；

7、第一测试端口和第二测试端口，设置于所述盖体上，用于连接外部测试设备；

8、所述第一开关的公共端连接所述第一测试端口，所述第一开关的两组静触点分别用于连接整流桥的两个直流引脚；

9、所述第二开关的公共端连接所述第二测试端口，所述第二开关的两组静触点分别用于连接整流桥的两个交流引脚；

10、所述第一开关与所述第二开关构成2×2行列矩阵选通拓扑，通过两颗开关的四种档位组合分别选通整流桥内部四颗二极管。

11、进一步地，所述第一开关和所述第二开关均为on-on无空档单刀双掷开关，开关在任意时刻其公共端仅与两组静触点中的一组保持导通，无中间悬空或断路状态。

12、进一步地，所述第一开关的第一组静触点连接整流桥的引脚4，所述引脚4为直流输出负极dc-，所述第一开关的第二组静触点连接整流桥的引脚1，所述引脚1为直流输出正极dc+；所述第二开关的第一组静触点连接整流桥的引脚2，所述引脚2为第一交流输入端ac1，所述第二开关的第二组静触点连接整流桥的引脚3，所述引脚3为第二交流输入端ac2。

13、进一步地，所述整流桥适配插座组件包括固定基础基座和可更换的子插座，所述固定基础基座固定设置于所述外壳体内部，所述子插座可拆卸地安装于所述固定基础基座上方。

14、进一步地，所述第一测试端口和所述第二测试端口为无极性通用测试端口。

15、进一步地，所述第一测试端口和所述第二测试端口为标准香蕉插座或bnc插座。

16、进一步地，所述第一开关和所述第二开关为微型拨动开关或钮子开关，额定电流大于或者等于1a，接触电阻小于或等于50mω。

17、进一步地，所述固定基础基座与所述子插座之间的接触簧片为铍铜材料。

18、进一步地，所述外壳体和所述盖体由绝缘材料制成，所述盖体的上表面为操作面板，所述操作面板上对应各开关位置设有标识铭牌或丝印文字。

19、本发明提供了一种整流桥单二极管独立测试工装，具备以下有益效果：

20、1.本发明通过双开关矩阵选通逻辑，操作人员仅需拨动两路开关即可完成四颗二极管的精准选通，无需记忆引脚配对关系，无需频繁切换表笔，规避了人工误触、漏测、错判等人为因素干扰。测试准确率接近100%，测试效率较人工表笔测试提升3倍以上，尤其适用于批量比对测试与参数一致性筛选场景。

21、2.相较于传统“一管一开关”的四开关分立选通结构，本发明开关数量减少50%，内部布线、接线端子大幅精简，装配工序减少60%以上，工装整体体积缩减一半以上，便携性大幅提升，器件故障率降低，批量生产成本大幅下降，轻量化、低成本优势突出。

22、3.本发明独创双开关行列矩阵选通逻辑，两颗开关任意时刻仅单路导通，无悬空、无断路状态，天然形成电气逻辑自锁。所有开关组合均为有效测试状态，无无效档位、无短路风险，无需额外增设互锁电路或机械限位结构，彻底解决了传统多开关工装因同时误触导通导致的回路紊乱问题，系统可靠性高。

23、4.本发明无需单片机、继电器阵列、控制电路等复杂电控结构，兼顾小型化、低成本、高精度的核心优势，完美适配实验室研发验证、小样批量筛选、现场设备维修等多场景。测试端口采用无极性设计，既适配具备极性自动识别功能的专业半导体参数测试设备（可自动完成正向压降、反向漏电流、反向耐压全参数测试），也兼容普通万用表、常规直流源等通用测试设备，弥补了自动化设备笨重昂贵、传统手动工装精度差的行业短板。

24、5.本发明采用固定基础基座搭配可更换子插座的分体式装配结构，摒弃传统滑动可调结构，无活动摩擦部件，接触电阻长期恒定，彻底解决滑动结构松动、电阻漂移、虚接打火等问题，测试数据重复性、一致性大幅提升。通过更换标准化子插座即可适配多种封装规格的整流桥，通用性强、拆装便捷、耐用度高。