外观检装置及设备的制作方法

摘要: 本申请涉及产品检测,特别是涉及一种外观检装置及设备。背景技术:1、miniled(次毫米发光二极管)技术凭借其高亮度、精准控光和长寿命等优势,已广泛应用于多个领...
外观检装置及设备的制作方法

本申请涉及产品检测,特别是涉及一种外观检装置及设备。

背景技术:

1、mini led(次毫米发光二极管)技术凭借其高亮度、精准控光和长寿命等优势,已广泛应用于多个领域,并呈现快速渗透趋势,mini led目前主要应用于手机、电脑、电视等交互用显示模组。显示模组在出厂过程中需对其外观缺陷进行检测,以保证显示模组满足预设需求。

2、一般地,显示模组在检测过程中,需频繁调整显示模组的角度与位置,以将显示模组的不同面或边线调整至检测相机的视场范围,通过检测相机依次对显示模组的各面或各边线进行外观缺陷检测。但是,通过检测相机依次检测显示模组的各面或各边线外观缺陷,显示模组的外观缺陷检测效率过低。

技术实现思路

1、基于此,有必要针对现有显示模组外观缺陷检测效率过低的问题,提供一种外观检装置及设备。

2、一种外观检装置,所述外观检装置包括机台及沿待测产品流转方向依次设置于所述机台的对位机构、检测机构与下料机构;

3、所述对位机构用于所述待测产品的对位;

4、所述检测机构包括检测平台与多个检测相机,所述检测平台用于承载所述待测产品,多个所述检测相机均可运动地设置于所述机台,多个所述检测相机用于检测所述待测产品不同面和/或边线的外观缺陷;

5、所述下料机构用于检测完后所述待测产品的下料。

6、在其中一个实施例中,所述检测机构还包括多个点光谱仪,多个所述点光谱仪均可运动地设置于所述机台,用于检测所述待测产品不同面和/或边线的外观缺陷。

7、在其中一个实施例中,多个所述点光谱仪分别为顶面点光谱仪、底面点光谱仪与侧面点光谱仪,所述顶面点光谱仪用于检测所述待测产品的顶面外观缺陷,所述底面点光谱仪用于检测所述待测产品的底面外观缺陷,所述侧面点光谱仪用于检测所述待测产品的侧面外观缺陷。

8、在其中一个实施例中,多个所述检测相机分别为顶面检测相机、底面检测相机、侧面检测相机、上倒角检测相机与下倒角检测相机,所述顶面检测相机用于检测所述待测产品的顶面外观缺陷,所述底面检测相机用于检测所述待测产品的底面外观缺陷,所述侧面检测相机用于检测所述待测产品的侧面外观缺陷,所述上倒角检测相机用于检测所述待测产品的上倒角外观缺陷,所述下倒角检测相机用于检测所述待测产品的下倒角外观缺陷。

9、在其中一个实施例中,所述检测机构还包括第一调整模组、第二调整模组、第三调整模组、第四调整模组与第五调整模组;

10、其中,所述第一调整模组与所述顶面检测相机传动连接,用于调整所述顶面检测相机的xyz向位置,所述第二调整模组与所述底面检测相机传动连接,用于调整所述底面检测相机的xyz向位置,所述第三调整模组与所述侧面检测相机传动连接,用于调整所述侧面检测相机的xyz向位置,所述第四调整模组具有第一弧形槽,所述上倒角检测相机设置于所述第一弧形槽,且可沿所述第一弧形槽的延伸方向滑动,所述第五调整模组具有第二弧形槽,所述下倒角检测相机设置于所述第二弧形槽,且可沿所述第二弧形槽的延伸方向滑动。

11、在其中一个实施例中,所述对位机构包括变距模组及与所述变距模组传动连接的多个对位相机,所述变距模组用于调整相邻两个所述对位相机的位置与角度,所述对位相机用于所述待测产品的对位。

12、在其中一个实施例中,所述检测机构还包括多轴移载模组,所述多轴移载模组设置有所述检测平台,用于调整所述检测平台的三维位姿。

13、在其中一个实施例中,所述下料机构包括ng下料臂与ng储料仓,所述ng下料臂设置于机台,且可在所述检测机构与所述ng储料仓之间运动。

14、在其中一个实施例中,所述下料机构还包括提升模组与ng下料载台,所述ng储料仓包括多层层叠设置的储料板,所述储料板用于所述待测产品的储存,所述ng下料载台设置于所述机台,用于接料所述ng下料臂取料的所述待测产品,所述提升模组与所述ng储料仓传动连接,用于将任一所述储料板提升至与所述ng下料载台对应的位置。

15、一种外观检设备,所述外观检设备包括:

16、如上述技术方案任一项所述的外观检装置。

17、上述外观检装置及设备,首先,待测产品流转至对位机构,通过对位机构对待测产品进行对位操作,以保证待测产品的外观检测面和/或边线处于预设检测位置;然后,对位后的待测产品流转至检测机构并放置于检测平台,多个检测相机检测待测产品不同面和/或边线的外观缺陷;最后,外观缺陷检测完后的待测产品流转至下料机构,下料机构对检测完后的待测产品进行下料操作。本申请提供的外观检装置,多个检测相机同步对待测产品不同面和/或边线进行外观缺陷检测,单次即可实现待测产品的多面和/或多边线外观缺陷检测,提高待测产品的外观缺陷检测效率,且多个检测相机均可运动,能够适应不同规格待测产品,及待测产品不同面和/或边线的外观缺陷检测,拓展外观检装置的适用场景,降低待测产品的外观缺陷检测成本。

1.一种外观检装置,其特征在于,所述外观检装置包括机台及沿待测产品流转方向依次设置于所述机台的对位机构、检测机构与下料机构;

2.根据权利要求1所述的外观检装置,其特征在于,所述检测机构还包括多个点光谱仪,多个所述点光谱仪均可运动地设置于所述机台,用于检测所述待测产品不同面和/或边线的外观缺陷。

3.根据权利要求2所述的外观检装置,其特征在于,多个所述点光谱仪分别为顶面点光谱仪、底面点光谱仪与侧面点光谱仪,所述顶面点光谱仪用于检测所述待测产品的顶面外观缺陷,所述底面点光谱仪用于检测所述待测产品的底面外观缺陷,所述侧面点光谱仪用于检测所述待测产品的侧面外观缺陷。

4.根据权利要求1所述的外观检装置,其特征在于,多个所述检测相机分别为顶面检测相机、底面检测相机、侧面检测相机、上倒角检测相机与下倒角检测相机,所述顶面检测相机用于检测所述待测产品的顶面外观缺陷,所述底面检测相机用于检测所述待测产品的底面外观缺陷,所述侧面检测相机用于检测所述待测产品的侧面外观缺陷,所述上倒角检测相机用于检测所述待测产品的上倒角外观缺陷,所述下倒角检测相机用于检测所述待测产品的下倒角外观缺陷。

5.根据权利要求4所述的外观检装置,其特征在于,所述检测机构还包括第一调整模组、第二调整模组、第三调整模组、第四调整模组与第五调整模组;

6.根据权利要求1所述的外观检装置,其特征在于,所述对位机构包括变距模组及与所述变距模组传动连接的多个对位相机,所述变距模组用于调整相邻两个所述对位相机的位置与角度,所述对位相机用于所述待测产品的对位。

7.根据权利要求1所述的外观检装置,其特征在于,所述检测机构还包括多轴移载模组,所述多轴移载模组设置有所述检测平台,用于调整所述检测平台的三维位姿。

8.根据权利要求1所述的外观检装置,其特征在于,所述下料机构包括ng下料臂与ng储料仓,所述ng下料臂设置于机台,且可在所述检测机构与所述ng储料仓之间运动。

9.根据权利要求8所述的外观检装置,其特征在于,所述下料机构还包括提升模组与ng下料载台,所述ng储料仓包括多层层叠设置的储料板,所述储料板用于所述待测产品的储存,所述ng下料载台设置于所述机台,用于接料所述ng下料臂取料的所述待测产品,所述提升模组与所述ng储料仓传动连接,用于将任一所述储料板提升至与所述ng下料载台对应的位置。

10.一种外观检设备,其特征在于,所述外观检设备包括: