过驱动测试装置、测试方法及计算机设备与流程

本公开涉及移相，具体而言，涉及一种过驱动测试装置、测试方法及计算机设备。

背景技术：

1、随着卫星通信技术发展，相控阵天线得到了广泛应用，同时对于相控阵天线的关键组件(移相器)的响应速度也提出了新的要求。目前移相器主要分为二极管移相器、铁氧体移相器、砷化镓单片移相器、液晶移相器等，其中液晶移相器以其低成本、小型化、可批量的优势快速发展，但是液晶移相器的响应速度比较慢，在毫秒量级。因此，对于应用在射频领域的移相器，如何提高响应速度成为了亟待解决的技术问题。

2、需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

1、本公开的目的在于提供一种过驱动测试装置、测试方法及计算机设备，能够有效确定待测试器件的过驱电压，以提高待测试器件的移相响应速度。

2、根据本公开的一个方面，提供一种过驱动测试装置，包括：

3、射频检测设备，用于出射射频信号，并接收经待测试器件传输的射频信号，以检测所述待测试器件的电压相位参数和多个相位对中每个所述相位对对应的多个时间相位参数，每个所述相位对包括初始相位和目标相位；

4、控制机，与所述射频检测设备连接，且用于获取所述电压相位参数和多个所述时间相位参数，以确定每个相位对的初始相位对应的第一驱动电压和目标相位对应的多个第二驱动电压，以及每个所述相位对的过驱电压；

5、控制器，与所述控制机连接，且用于与待测试器件连接，所述控制器用于获取每个所述相位对对应的第一驱动电压和多个第二驱动电压，并在所述待测试器件上加载所述第一驱动电压和多个所述第二驱动电压。

6、根据本公开任一所述的过驱动测试装置，所述控制器包括主控模块和电压驱动模块，所述主控模块分别与所述控制机、所述电压驱动模块连接；

7、所述主控模块用于获取每个所述相位对对应的第一驱动电压和多个第二驱动电压，所述电压驱动模块用于与所述待测试器件连接，且用于在所述待测试器件上加载所述第一驱动电压和多个所述第二驱动电压。

8、根据本公开任一所述的过驱动测试装置，所述控制器包括主控模块、波控模块和电机驱动模块，所述过驱动测试装置还包括扫描探头和移动机构；

9、所述主控模块分别与所述控制机、所述波控模块、所述电机驱动模块连接，所述电机驱动模块与所述移动机构连接，所述扫描探头固定在所述移动机构上，且与所述射频检测设备的接收端电性连接；

10、所述主控模块用于获取每个所述相位对对应的第一驱动电压和多个第二驱动电压，所述波控模块用于与待测试器件连接，且用于在所述待测试器件上加载所述第一驱动电压和多个所述第二驱动电压，所述电机驱动模块用于驱动所述移动机构，以调整所述扫描探头在所述待测试器件上的对准区域。

11、根据本公开任一所述的过驱动测试装置，所述控制器和所述射频检测设备均包括同步器。

12、根据本公开任一所述的过驱动测试装置，所述过驱动测试装置还包括人机交互模组，所述人机交互模组与所述控制器连接；

13、所述人机交互模组用于获取驱动时长并传输至所述控制器，所述控制器用于控制每个所述第二驱动电压在所述待测试器件上的加载时长均为所述驱动时长。

14、根据本公开任一所述的过驱动测试装置，所述过驱动测试装置还包括温度调控组件；

15、所述温度调控组件包括温度传感器，以及加热机构和/或制冷机构，所述控制器与所述温度传感器、所述加热机构、所述制冷机构连接；

16、所述温度传感器用于检测所述待测试器件的当前温度，所述控制器用于获取所述当前温度，以基于所述当前温度控制所述加热机构或所述制冷机构调控所述待测试器件的温度。

17、根据本公开任一所述的过驱动测试装置，所述射频检测设备的出射端设置有滤波结构。

18、根据本公开的一个方面，提供一种过驱动测试方法，所述方法包括：

19、基于多个参考相位构建多个相位对，每个所述相位对包括初始相位和目标相位，所述初始相位和所述目标相位是所述多个参考相位中任意不同的两个；

20、获取待检测器件的电压相位参数，并基于所述电压相位参数确定每个所述相位对中初始相位对应的第一驱动电压，以及目标相位对应的多个第二驱动电压；

21、获取每个所述相位对在所述第一驱动电压和多个所述第二驱动电压对应的多个时间相位参数，多个所述第二驱动电压和多个所述时间相位参数一一对应；

22、基于多个所述时间相位参数分别确定射频信号由初始相位移相至目标相位的多个过驱时长；

23、对于每个所述相位对，将所述第一驱动电压和多个所述过驱时长中的最小过驱时长对应的第二驱动电压确定为每个所述相位对的过区电压。

24、根据本公开任一所述的方法，所述基于待检测器件的电压相位参数，确定每个所述相位对中初始相位对应的第一驱动电压，以及目标相位对应的多个第二驱动电压，包括：

25、基于所述电压相位参数，确定每个所述相位对中初始相位对应的初始驱动电压、目标相位对应的目标驱动电压；

26、将所述初始驱动电压确定为所述相位对中初始相位对应的第一驱动电压，并基于目标驱动电压确定所述相位对中目标相位对应的多个第二驱动电压。

27、根据本公开任一所述的方法，所述基于目标驱动电压确定所述相位对中目标相位对应的多个第二驱动电压，包括：

28、当所述目标驱动电压大于所述初始驱动电压时，基于第一参考步进值确定大于所述目标驱动电压的多个第二驱动电压；

29、当所述目标驱动电压小于所述初始驱动电压时，基于第二参考步进值确定小于所述目标驱动电压的多个第二驱动电压。

30、根据本公开任一所述的方法，所述对于每个所述相位对，将所述第一驱动电压和多个所述过驱时长中的最小过驱时长对应的第二驱动电压确定为每个所述相位对的过区电压，包括：

31、基于所述电压相位参数，确定每个所述相位对中初始相位对应的初始驱动电压、目标相位对应的目标驱动电压；

32、基于每个所述相位对的初始驱动电压和目标驱动电压确定每个所述相位对对应的响应时长，并确定多个所述响应时长的平均响应时长；

33、基于每个所述相位对的多个过驱时长分别确定每个所述相位对的最小过驱时长，并确定多个所述相位对的最小过驱时长的平均过驱时长；

34、当所述平均过驱时长小于所述平均响应时长时，将每个所述相位对的第一驱动电压和最小过驱时长对应的第二驱动电压确定为每个所述相位对的过区电压。

35、根据本公开的一个方面，提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器用于存放计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器上所存放的计算机程序，以实现上述一方面所述方法的步骤。

36、本公开实施方式至少包括以下技术效果：

37、本公开实施方式中，可将控制器与待测试器件连接，以在待测试器件上加载驱动电压，进而通过射频检测设备出射射频信号，并接收经待测试器件移相后的射频信号，以检测待测试器件对射频信号的移相特性(包括电压相位参数和时间相位参数)，进而基于待测试器件对射频信号的移相特性，确定待测试器件的过驱电压。如此，可在待测试器件上加载过驱电压，使得待测试器件具有较快的响应速度。

38、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。