烘焙机的测温结构的制作方法
本技术涉及一种烘焙机的测温结构,尤其是一种能够更加准确测量豆温的测温结构。
背景技术:
1、在烘焙咖啡豆时,通常需要时刻监测并控制咖啡豆的加热温度,以防过热或不熟,豆温测量的准确程度决定了烘焙的品质。现有技术中的温度传感器的安装位置是豆温测量准确与否的决定性因素。
2、授权公告号为cn220088515u的中国实用新型专利公开了一种咖啡豆烘焙机的烘豆机构,包括风扇模块、位于该风扇模块上方的发热模块、位于发热模块上方且开口朝上连通该烘焙空间的承装座、外露在承装座中的温度传感器、安装在承装座的搅拌模块,及外露在底座外周侧的控制器。温度传感器用于感测承装座内的温度而对应产生一感测信号,当操作启动控制器烘豆时,控制器会控制搅拌模块搅拌承装内的咖啡豆,并控制该风扇模块开始产生流向发热模块的气流,以及根据被设定的烘焙温度与温度传感器的感测信号,控制该发热模块的发热温度,用于产生所需温度的烘焙气流;其中,搅拌模块位于承装座中心并通过绕该中心轴旋转搅拌咖啡豆,温度传感器位于承装座中心以外的边缘位置,同时,温度传感器位于上述烘焙气流经过的路径上,这将会导致温度传感器所测量的并非实际的豆温,而是烘焙气流的温度,进而导致测温不准。
3、授权公告号为cn216493371u的中国实用新型专利公开了一种可拆式咖啡豆烘焙机,金属烘焙筒底部具有通风孔,下方依次为导风盘、防护罩和发热架,防护罩内具有温控传感器,由于金属烘焙筒的温度通过热辐射的方式传递到防护罩,所以通过测量防护罩的温度的方式来推算金属烘焙筒内的温度。该方案仍然不是直接测量豆温,且由于先后借助金属烘焙筒和防护罩的温度来测量,测量结果已经严重偏离实际豆温。
技术实现思路
1、本实用新型所要解决的技术问题是提供一种直接测量豆温的烘焙机的测温结构,以克服现有技术中的上述缺陷。
2、本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为:烘焙机的测温结构,用于测量烘焙机的豆仓内部待加热物的实时温度,包括测温组件,所述测温组件包括温度传感器和传感器支架,所述温度传感器安装在所述传感器支架上,所述温度传感器的测温端伸入所述豆仓内部,所述测温端与所述豆仓底部的待加热物接触。
3、进一步地,所述传感器支架具有上下贯穿的上通风孔,所述上通风孔引导一部分常温气流在所述测温端周围形成常温风幕。
4、进一步地,所述豆仓下方设置加热组件,所述测温组件位于所述豆仓底部与所述加热组件之间,所述加热组件包括加热空间和非加热空间,所述一部分常温气流经所述非加热空间进入所述上通风孔。
5、进一步地,所述非加热空间位于所述加热组件内部,所述加热空间位于所述非加热空间外部。
6、进一步地,所述加热组件与所述风扇组件之间具有第二连接件,所述第二连接件具有上下贯穿的下通风孔,所述下通风孔、所述非加热空间和所述上通风孔依次连通。
7、进一步地,所述第二连接件具有外周面,所述外周面引导另一部分常温气流进入所述加热空间。
8、进一步地,所述豆仓内设置有搅拌装置,所述搅拌装置避让所述测温端。
9、进一步地,所述测温端位于所述传感器支架的非几何中心,所述搅拌装置的转动轴穿过所述传感器支架的几何中心。
10、进一步地,所述豆仓具有倾斜风道,所述倾斜风道引导所述常温气流进入所述豆仓内部并螺旋上升。
11、进一步地,所述倾斜风道位于所述豆仓的侧壁或者底部。
12、与现有技术相比,本实用新型的优点在于,彻底克服了现有技术只能间接测豆温的缺陷,使测温端直接接触待加热物,从而能够准确地测量豆温;本实用新型的测温结构适用于传统的具有搅拌装置的烘焙机,也适用于新型的不具有搅拌装置的烘焙机,均能够实现准确测量豆温的效果。
1.烘焙机的测温结构,用于测量烘焙机的豆仓内部待加热物的实时温度,其特征在于:包括测温组件,所述测温组件包括温度传感器和传感器支架,所述温度传感器安装在所述传感器支架上,所述温度传感器的测温端伸入所述豆仓内部,所述测温端与所述豆仓底部的待加热物接触。
2.根据权利要求1所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述传感器支架具有上下贯穿的上通风孔,所述上通风孔引导一部分常温气流在所述测温端周围形成常温风幕。
3.根据权利要求2所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述豆仓下方设置加热组件,所述测温组件位于所述豆仓底部与所述加热组件之间,所述加热组件包括加热空间和非加热空间,所述一部分常温气流经所述非加热空间进入所述上通风孔。
4.根据权利要求3所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述非加热空间位于所述加热组件内部,所述加热空间位于所述非加热空间外部。
5.根据权利要求4所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述加热组件与风扇组件之间具有第二连接件,所述第二连接件具有上下贯穿的下通风孔,所述下通风孔、所述非加热空间和所述上通风孔依次连通。
6.根据权利要求5所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述第二连接件具有外周面,所述外周面引导另一部分常温气流进入所述加热空间。
7.根据权利要求2所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述豆仓内设置有搅拌装置,所述搅拌装置避让所述测温端。
8.根据权利要求7所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述测温端位于所述传感器支架的非几何中心,所述搅拌装置的转动轴穿过所述传感器支架的几何中心。
9.根据权利要求2-6任一项所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述豆仓具有倾斜风道,所述倾斜风道引导所述常温气流进入所述豆仓内部并螺旋上升。
10.根据权利要求9所述的烘焙机的测温结构,其特征在于:所述倾斜风道位于所述豆仓的侧壁或者底部。