用于磁共振成像设备的测场装置及测场方法与流程

本发明涉及医疗设备领域，特别涉及一种用于磁共振成像设备的测场装置及测场方法。

背景技术：

1、在磁共振成像(mr)技术中，图像质量的提升与多个磁场参数密切相关，尤其是与主磁场(b0)、梯度磁场和射频磁场(b1)的特性密切相关。b0磁场的均匀性对图像的分辨率和对比度具有至关重要的影响。磁场的不均匀性会导致成像的失真，降低图像质量，因此需要对磁场进行测量和补偿。

2、通常采用测场程序来修正磁场中的不均匀性。在进行修正之前，通过测量磁场图来准确了解磁场的状态。现有技术中，磁场图的生成过程一般通过在空间内放置多个测场探头来获得检测信息，然而多个测场探头成本较高，信息的收发也较为复杂。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提出一种结构简单的测场装置及磁共振成像设备的测场方法。

2、为实现上述目的及其他相关目的，本发明的一个实施例提供了一种测场装置，应用于磁共振成像设备，所述测场装置包括：

3、基座；

4、转动部，所述转动部绕平行于第一方向的转动中心转动安装于所述基座；

5、驱动部，所述驱动部被装配为能够驱动所述转动部转动；

6、测场探头，设置于所述转动部，所述测场探头用于获取所在位置的单点磁场信息；

7、其中，所述测场探头与所述转动中心间隔布置。

8、在本发明的一具体实施例中，所述测场探头设置有一个。

9、在本发明的一具体实施例中，所述转动部上设置有第一调节单元，所述第一调节单元被装配为能够调节所述测场探头与所述转动中心之间的间距。

10、在本发明的一具体实施例中，所述转动部为伸缩杆结构。

11、在本发明的一具体实施例中，所述测场探头位于所述转动部远离所述转动中心的一端。

12、在本发明的一具体实施例中，所述驱动部被配置为能够以预设角度驱动所述转动部转动，所述预设角度能够被360°整除。

13、在本发明的一具体实施例中，所述驱动部包括步进电机，所述步进电机设置于所述基座，所述步进电机与所述转动部传动连接。

14、在本发明的一具体实施例中，所述基座包括安装座，所述安装座用于安装在所述磁共振成像设备的床体。

15、在本发明的一具体实施例中，所述基座包括沿第二方向布置的支架，所述支架设置于所述安装座，所述支架远离所述安装座的一端设置有沿第一方向延伸的延伸部，所述第二方向为竖直方向且垂直于所述第一方向，所述转动部设置于所述延伸部的延伸端。

16、在本发明的一具体实施例中，所述支架上设置有第二调节单元，所述第二调节单元被装配为能够调节所述延伸部与所述安装座在第二方向上的间距。

17、本发明一个实施例中还公开了一种磁共振成像设备的测场方法，应用于所述的测场装置，所述测场装置安装于所述磁共振成像设备，以使所述转动中心与所述磁共振成像设备的工作区同轴，所述磁共振成像设备的测场方法包括如下步骤：

18、通过所述测场探头获取所在位置的单点磁场信息；

19、以预设角度转动所述转动部，再次获取所述单点磁场信息，重复此步骤获取360°范围内的各位置的所述单点磁场信息；

20、沿所述磁共振成像设备的工作区的轴向平移所述测场装置至其他位置；

21、获取各所述其他位置360°范围内的各位置所述单点磁场信息；

22、根据所有位置的所述单点磁场信息获取圆柱面磁场信息；

23、根据所述圆柱面磁场信息获取圆柱体磁场信息。

24、本发明提出一种用于磁共振成像设备的测场装置及测场方法，有益效果在于，通过转动设置可以使测场探头覆盖更多的空间位置，使用一个测场探头就能够完成整个空间内各个位置的磁场检测，同时单个测场探头可以无需存储数据，直接将信息通过单次发送传输至中央处理系统。这样一来，整个测场过程不再依赖多个探头的同步工作，从而简化了硬件设计，并减少了因多个探头协调带来的控制逻辑复杂性。

1.一种用于磁共振成像设备的测场装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测场装置，其特征在于，所述测场探头设置有一个。

3.根据权利要求1所述的测场装置，其特征在于，所述转动部上设置有第一调节单元，所述第一调节单元被装配为能够调节所述测场探头与所述转动中心之间的间距。

4.根据权利要求1所述的测场装置，其特征在于，所述测场探头位于所述转动部远离所述转动中心的一端。

5.根据权利要求1所述的测场装置，其特征在于，所述驱动部被配置为能够以预设角度驱动所述转动部转动，所述预设角度能够被360°整除。

6.根据权利要求1所述的测场装置，其特征在于，所述驱动部包括步进电机，所述步进电机设置于所述基座，所述步进电机与所述转动部传动连接。

7.根据权利要求1所述的测场装置，其特征在于，所述基座包括安装座，所述安装座用于安装在所述磁共振成像设备的床体。

8.根据权利要求7所述的测场装置，其特征在于，所述基座包括沿第二方向布置的支架，所述支架设置于所述安装座，所述支架远离所述安装座的一端设置有沿第一方向延伸的延伸部，所述第二方向为竖直方向且垂直于所述第一方向，所述转动部设置于所述延伸部的延伸端。

9.根据权利要求8所述的测场装置，其特征在于，所述支架上设置有第二调节单元，所述第二调节单元被装配为能够调节所述延伸部与所述安装座在第二方向上的间距。

10.一种用于磁共振成像设备的测场方法，其特征在于，应用于权利要求1至9任意一项所述的测场装置，所述测场装置安装于所述磁共振成像设备，以使所述转动中心与所述磁共振成像设备的工作区同轴，所述磁共振成像设备测场方法包括如下步骤：