硬件检测方法、装置及设备与流程

本技术涉及测试，尤其涉及硬件检测方法、硬件检测装置及待测试电子设备。

背景技术：

1、在智能电子设备的量产制造环节中，出厂前需对智能电子设备的硬件执行全面的功能性检测，以确保交付产品的硬件质量合格。现有检测流程依赖于智能电子设备的中预装的商用操作系统，在该商用操作系统完全启动后，调用运行于其上的检测程序来执行硬件检测项目。

2、然而，不同商用操作系统的启动流程存在显著差异，各自的启动时长不同且总体耗时较长，产线中每台智能电子设备均需等待商用操作系统完全启动方可进入检测工序，该等待时间直接累积为产线单机（即每台智能电子设备）检测周期的固定组成部分，当量产规模达到数万乃至数十万台时，将严重制约产线单位小时产出率。同时，不同商用操作系统的硬件访问接口和应用程序编程接口互不兼容，针对某一商用操作系统开发的检测程序无法移植至其他商用操作系统，导致检测程序需针对不同商用操作系统分别独立开发，显著增加了新产品量产前的筹备工作量与研发投入。

3、上述因素共同导致现有产线上，针对智能电子设备的硬件检测效率低。

技术实现思路

1、本技术的主要目的在于提供一种硬件检测方法、硬件检测装置及待测试电子设备，旨在解决现有针对智能电子设备的硬件检测效率低的技术问题。

2、为实现上述目的，本技术提出一种硬件检测方法，应用于已预装主操作系统的待测试电子设备，所述硬件检测方法包括：

3、在所述待测试电子设备上电启动后，检测模式选择信号；

4、在所述模式选择信号处于第一状态时，启动所述待测试电子设备的测试存储区域中预置的检测操作系统，以进入硬件检测模式，其中，所述测试存储区域为所述待测试电子设备中与所述主操作系统所在的主系统存储区域隔离的存储区域；

5、在所述硬件检测模式下，通过运行所述检测操作系统中的检测程序，执行预设的硬件检测项目，并获取所述待测试电子设备的硬件检测结果。

6、在一实施例中，在所述在所述待测试电子设备上电启动后，检测模式选择信号的步骤之前，包括：

7、在所述待测试电子设备中，划分出与主系统存储区域物理隔离的测试存储区域；

8、将预写的包含所述检测程序的检测操作系统，烧录至所述测试存储区域中。

9、在一实施例中，在所述获取所述待测试电子设备的硬件检测结果的步骤之后，包括：

10、在所述硬件检测结果指示所述硬件检测项目全部通过的情况下，响应于复位指令，对所述测试存储区域执行数据擦除操作，以清空所述测试存储区域中的所述检测操作系统及所述检测程序。

11、在一实施例中，在所述对所述测试存储区域执行数据擦除操作的步骤之后，还包括：

12、配置所述待测试电子设备的引导程序，以禁用所述测试存储区域的启动路径。

13、在一实施例中，在所述在所述待测试电子设备上电启动后，检测模式选择信号的步骤之后，还包括：

14、在未获取到所述模式选择信号或在获取到所述模式选择信号处于第二状态时，启动所述主系统存储区域中的主操作系统。

15、在一实施例中，所述检测操作系统为以预设裁剪方式对基于linux内核的初始操作系统进行裁剪得到的操作系统，其中，所述裁剪方式为仅保留所述初始操作系统的硬件设备驱动及外设控制程序。

16、在一实施例中，在所述启动所述待测试电子设备的测试存储区域中预置的检测操作系统的步骤之前，还包括：

17、计算所述测试存储区域中所述检测操作系统的镜像文件的完整性校验值；

18、在所述完整性校验值与预设校验值相等时，执行所述启动所述待测试电子设备的测试存储区域中预置的检测操作系统的步骤；

19、在所述完整性校验值与所述预设校验值不相等时，输出错误信息，并将新的检测操作系统烧录至所述测试存储区域。

20、在一实施例中，在所述在所述待测试电子设备上电启动后，检测模式选择信号的步骤之后，所述方法还包括：

21、在所述待测试电子设备与产线服务器建立网络连接且所述模式选择信号处于第一状态时，从所述产线服务器上在线下载所述检测操作系统的镜像文件及所述检测程序；

22、通过在所述检测操作系统中运行所述检测程序，执行预设的硬件检测项目，并获取所述待测试电子设备的硬件检测结果，其中，所述待测试电子设备断电后，自动清空下载的检测操作系统的镜像文件及检测程序。

23、此外，为实现上述目的，本技术还提出一种硬件检测装置，应用于已预装主操作系统的待测试电子设备，所述硬件检测装置包括：

24、信号检测模块，用于在所述待测试电子设备上电启动后，检测模式选择信号；

25、启动控制模块，用于在所述模式选择信号处于第一状态时，启动所述待测试电子设备的测试存储区域中预置的检测操作系统，以进入硬件检测模式，其中，所述测试存储区域为所述待测试电子设备中与所述主操作系统所在的主系统存储区域隔离的存储区域；

26、硬件检测模块，用于在所述硬件检测模式下，通过运行所述检测操作系统中的检测程序，执行预设的硬件检测项目，并获取所述待测试电子设备的硬件检测结果。

27、此外，为实现上述目的，本技术还提出一种待测试电子设备，所述待测试电子设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序配置为实现如上文所述的硬件检测方法的步骤。

28、此外，为实现上述目的，本技术还提出一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述的硬件检测方法的步骤。

29、此外，为实现上述目的，本技术还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述的硬件检测方法的步骤。

30、本技术提出的一个或多个技术方案，至少具有以下技术效果：

31、本技术通过在待测试电子设备中设置与主系统存储区域隔离的测试存储区域，并在该测试存储区域中预置独立的检测操作系统，同时引入模式选择信号的检测机制，使得待测试电子设备在上电启动后可根据模式选择信号的状态，优先启动测试存储区域中的检测操作系统以进入硬件检测模式，而非等待主系统存储区域中的预装商用操作系统（即主操作系统）完全启动。由于该检测操作系统独立于主操作系统存在，其启动流程无需加载主操作系统的完整服务与框架，因此能够显著缩短设备进入可检测状态所需的准备时间，从而有效压缩产线单机检测周期中因等待系统就绪而产生的耗时部分，提升产线单位小时产出率。同时，由于检测操作系统独立于待测试电子设备中预装的主操作系统，所有硬件检测项目均通过该检测操作系统中的检测程序来执行，检测程序的运行不依赖于任何特定主操作系统的硬件访问接口或应用程序编程接口，因此同一套检测程序可通用于搭载不同主操作系统的待测试电子设备，无需针对不同主操作系统分别进行独立开发与适配，从而大幅降低新产品量产前的筹备工作量与研发投入。通过上述方案，能够有效提升产线硬件检测流程的效率。