集成电路的后仿真方法和装置与流程

技术特征：
1.一种集成电路的后仿真方法，其特征在于，包括：确定待仿真版图的电路结构；所述电路结构中包括至少一个电路单元；将所述电路结构中不需要验证的所述电路单元列出，生成置空列表；获取需要验证的所述电路单元的寄生网表；根据所述置空列表生成各个不需要验证的所述电路单元的空网表；根据所述寄生网表和所述空网表生成后仿网表；根据所述后仿网表进行后仿真。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取需要验证的所述电路单元的寄生网表的步骤包括：获取所述待仿真版图的寄生网表，在获取过程中根据所述置空列表跳过不需要验证的电路单元。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取待仿真版图的寄生网表的步骤包括：导出所述电路结构的cdl网表；根据所述待仿真版图导出gds文件；抽取所述待仿真版图的寄生参数，在抽取过程中根据所述置空列表跳过不需要验证的电路单元；根据所述置空列表、所述cdl网表、所述gds文件和所述寄生参数获得所述待仿真版图的寄生网表。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获得所述待仿真版图的寄生网表的步骤包括：将所述置空列表、所述cdl网表和所述gds文件输入到eda自动化工具中，以使eda自动化工具输出所述寄生网表。5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所有不需要验证的所述电路单元在所述空网表中的定义为空单元。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据寄生网表和所述空网表生成后仿网表的步骤包括：将获取的寄生网表和生成的空网表包含到后仿网表中。7.一种集成电路的后仿真装置，其特征在于，包括：确定模块，用于确定待仿真版图的电路结构；所述电路结构中包括至少一个电路单元；列表模块，用于将所述电路结构中不需要验证的所述电路单元列出，生成置空列表；获取模块，用于获取需要验证的所述电路单元的寄生网表；第一生成模块，用于根据所述置空列表生成各个不需要验证的所述电路单元的空网表；第二生成模块，用于根据所述寄生网表和所述空网表生成后仿网表；仿真模块，用于根据所述后仿网表进行后仿真。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述获取模块在获取需要验证的所述电路单元的寄生网表时，具体用于：获取所述待仿真版图的寄生网表，在获取过程中根据所述置空列表跳过不需要验证的
电路单元。9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述获取模块在获取待仿真版图的寄生网表时，具体用于：导出所述电路结构的cdl网表；根据所述待仿真版图导出gds文件；抽取所述待仿真版图的寄生参数，在抽取过程中根据所述置空列表跳过不需要验证的电路单元；根据所述置空列表、所述cdl网表、所述gds文件和所述寄生参数获得所述待仿真版图的寄生网表。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述获取模块在获得所述待仿真版图的寄生网表时，具体用于：将所述置空列表、所述cdl网表和所述gds文件输入到eda自动化工具中，以使eda自动化工具输出所述寄生网表。11.根据权利要求7-10任一项所述的装置，其特征在于，所述第一生成模块在生成空网表时，具体用于：将所有不需要验证的所述电路单元在所述空网表中定义为空单元。12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述第二生成模块在生成后仿网表时，具体用于：将获取的寄生网表和生成的空网表包含到后仿网表中。13.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述存储器中的计算机程序，以实现权利要求1至6中任一项所述方法的操作步骤。14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述方法的操作步骤。

技术总结
本申请涉及一种集成电路的后仿真方法和装置；所述方法包括：确定待仿真版图的电路结构；所述电路结构中包括至少一个电路单元；将所述电路结构中不需要验证的所述电路单元列出，生成置空列表；获取需要验证的所述电路单元的寄生网表；根据所述置空列表生成各个不需要验证的所述电路单元的空网表；根据所述寄生网表和所述空网表生成后仿网表；根据所述后仿网表进行后仿真。本申请的方案能够将寄生网表中某些不需要验证的电路单元过滤掉，将这些不需要验证的电路单元的寄生网表用空网表替代；后仿网表中仅包含需要验证的电路单元的寄生网表，这样就能够大大减少寄生参数的数量，从而缩短电路后仿真所需要的时间。而缩短电路后仿真所需要的时间。而缩短电路后仿真所需要的时间。


技术研发人员：尤劭
受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司
技术研发日：2021.08.09
技术公布日：2023/2/17