表面检查装置、存储介质及表面检查方法与流程

技术特征：
1.一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更。2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器在所述图像内显示表示接受变更前的所述范围的第1标识和表示接受变更后的所述范围的第2标识。3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，所述第1标识在所述范围的变更中也显示。4.根据权利要求2或3所述的表面检查装置，其中，所述第2标识在接受变更所述第1标识的位置的操作后显示。5.根据权利要求4所述的表面检查装置，其中，所述第2标识能够通过曲线描绘。6.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，所述处理器接受变更后的所述范围的面积与变更前相比变小的变更。7.根据权利要求6所述的表面检查装置，其中，所述处理器接受变更后的所述范围的整体包含在变更前的该范围内的变更。8.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在接受所述范围的变更的情况下，所述处理器针对变更后的该范围计算所述数值。9.根据权利要求8所述的表面检查装置，其中，在计算所述数值后接受所述范围的变更的情况下，所述处理器针对变更后的该范围重新计算所述数值。10.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在接受所述范围的变更的情况下，所述处理器使所述数值在与基准的范围不同的条件下计算的情况显示在画面上。11.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在变更后的所述范围的减小超过阈值的情况下，所述处理器警告所计算出的数值的精度下降。12.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，在变更后的所述范围的外缘与所述图像的外缘的距离变得比预先设定的阈值短的情况下，所述处理器警告所计算出的数值的精度下降。13.根据权利要求1所述的表面检查装置，其还具有用于接受所述范围的形状的变更的专用的操作件。14.根据权利要求13所述的表面检查装置，其中，所述操作件与用于指示开始计算所述数值的第2操作件分开设置。15.根据权利要求13或14所述的表面检查装置，其中，所述操作件与用于拍摄所述图像的第3操作件分开设置。16.根据权利要求1至15中任一项所述的表面检查装置，其特征在于，装置主体能够携带。
17.一种存储介质，其存储有用于使处理由摄像器件拍摄的图像并计算表示作为检查对象的物体的表面的品质的数值的计算机实现如下功能的程序：接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更的功能。18.一种表面检查方法，其包括如下步骤：接受由图像内的标识表示的用于计算数值的范围的变更。

技术总结
一种表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，处理由所述摄像器件拍摄的图像，计算表示所述表面的品质的数值，所述处理器接受由所述图像内的标识表示的用于计算所述数值的范围的变更。表示的用于计算所述数值的范围的变更。表示的用于计算所述数值的范围的变更。


技术研发人员：平松崇 田崎海渡 相川清史 宇野美穂 市川裕一 桑田良隆
受保护的技术使用者：富士胶片商业创新有限公司
技术研发日：2021.12.01
技术公布日：2022/12/8