一种对射光电传感器的抗干扰方法、设备及介质与流程

技术特征：
1.一种对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：s100，获取目标光电传感器列表a={a1，
……
，a
i
，
……
，a
m
}，a
i
是指第i个目标光电传感器id，i=1
……
m，m为目光光电传感器的总数量；s200、获取a
i
对应的第一光信号频率k
i1
和第二光信号频率k
i2
；s300、根据k
i1
和k
i2
，获取a
i
对应的目标接收频率k
i
，其中，k
i
符合如下条件：，其中，w
i
是指第二接收端接收到的光信号对应的角频率；s400、获取目标光电传感器对应的预设光信号频率列表k'
i
={k
i1
，
……
，k
ij
，
……
，k
in
}，其中，k
ij
是指目标光电传感器对应的第j个预设光信号频率，j=1
……
n，n为预设光信号频率的总数量；s500、根据k
i
和k
ij
，获取k
i
对应的频率差列表
∆
k
i
={
∆
k
i1
，
……
，
∆
k
ij
，
……
，
∆
k
in
}，
∆
k
ij
是指k
i
与k
ij
之间的频率差；s600、根据k
i
和
∆
k
i
，确定出a
i
对应的时间间隔
∆
t
i
；s700、根据
∆
t
i
，确定a
i
对应的关键光电传感器的启动时间片。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在s100中，所述目标光电传感器为第一组收发端、第二组收发端和折射组件的对射光电传感器。3.根据权利要求2所述的对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，所述第一组收发端包括第一发射端和第一接收端，所述第二组收发端包括第二发射端和第二接收端，其中，所述第一发射端和所述第一接收端相对设置且所述第二发射端和所述第二接收端相对设置。4.根据权利要求2所述的对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，所述折射组件包括第一折射件和/或第二折射件，其中，所述第一折射件和所述第二折射件均为半折射半透射的镜。5.根据权利要求4所述的对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，所述折射组件折射的角度为90
°
。6.根据权利要求1所述的对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，在s300步骤中还通过如下步骤获取w
i
：s301、获取第二接收端接收到的第一光信号和第二光信号；s303、获取第一光信号对应的相位值b
i1
=h
i1
×
f(w
i1
×
t
0i1
ф
i1
)，其中，h
i1
为a
i
对应的第一光信号的振幅，w
i1
为a
i
对应的第一光信号的角频率，t
0i1
为从第一发射端发射至第二接收端接收到第一光信号的时间点，ф
i1
为a
i
对应的第一光信号的正弦量的初相角，f（）为a
i
对应的第一光信号的相位函数；s305、获取第二光信号对应的相位值b
i2
=h
i2
×
f(w
i2
×
t
0i2
ф
i2
)，其中，h
i2
为a
i
对应的第二光信号的振幅，w
i2
为a
i
对应的第二光信号的角频率，t
0i2
为从第二发射端发射至第二接收端接收到第二光信号的时间点，ф
i2
为a
i
对应的第二光信号的正弦量的初相角，f（）为a
i
对应的第二光信号的位函数；s307、根据b
i1
和b
i2
，确定w
i
，其中，w
i
符合如下条件：
，其中，f'（）为f（）的反函数，h
i0
是指第二接收端同时接收到第一光信号和第二光信号时光信号的振幅，t
i0
是指第二接收端同时接收到第一光信号和第二光信号的时间点。7.根据权利要求6所述的对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，h
i0=
h
i1
h
i2
。8.根据权利要求6所述的对射光电传感器的抗干扰方法，其特征在于，w
i2
符合如下条件：。9.一种非瞬时性计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条指令或至少一段程序，所述至少一条指令或所述至少一段程序由处理器加载并执行以实现如权利要求1~8中任意一项的所述的对射光电传感器的抗干扰方法。10.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和权利要求9中的所述非瞬时性计算机可读存储介质。

技术总结
本申请涉及光电传感器抗干扰技术领域，具体涉及涉及一种对射光电传感器的抗干扰方法、设备及介质，所述方法包括步骤：目标光电传感器对应的目标接收频率通过第一发射端发射的光信号的频率与第二发射端发射的光信号频率同时确定，根据目标接收频率，确定出与预设光信号频率对应的时间差，并选出与预设光信号最大的时间差对应的预设光信号频率，作为目标光电传感器相邻光电传感器的接收频率，能够避免光电传感器的发射端频率异常，导致信号频率相互干扰，提高工作准确性和效率。提高工作准确性和效率。提高工作准确性和效率。


技术研发人员：代红林
受保护的技术使用者：宜科（天津）电子有限公司
技术研发日：2022.12.15
技术公布日：2023/1/13