一种双面检测光源装置的制作方法

技术特征：
1.一种双面检测光源装置，其特征在于，用于对位于检测工位的待检测工件进行缺陷检测，包括：用于发出第一照射光线(24)的第一发光模组(21)；所述第一照射光线(24)的一部分沿第一方向照射于所述待检测工件的第一表面后，由所述待检测工件的第一表面反射，形成第一特征光线；沿所述第一照射光线(24)的光路设置的第一反射件(23)，所述第一反射件(23)设于所述待检测工件远离于所述第一发光模组(21)的一侧；所述第一照射光线(24)的另一部分由所述第一反射件(23)反射，照射于所述待检测工件的第二表面后，由所述待检测工件的第二表面反射，形成第二特征光线。2.根据权利要求1所述的双面检测光源装置，其特征在于，包括外壳体(10)，所述外壳体(10)的顶部设有上盖板(15)，所述上盖板(15)开设有进料口(151)，所述检测工位对应于所述进料口(151)设置。3.根据权利要求2所述的双面检测光源装置，其特征在于，所述外壳体(10)的顶部设有第一灯座(20)，所述第一灯座(20)上设有倾斜面(201)，所述第一发光模组(21)设于所述第一灯座(20)的所述倾斜面(201)上；所述第一方向与所述待检测工件的第一表面之间的夹角为锐角。4.根据权利要求2所述的双面检测光源装置，其特征在于，所述外壳体(10)的侧面开设有拍摄窗口(14)；所述双面检测光源装置还包括第二反射件(16)，所述第二反射件(16)设于所述第一特征光线和所述第二特征光线的光路上，用于将所述第一特征光线和所述第二特征光线反射至所述拍摄窗口(14)外。5.根据权利要求4所述的双面检测光源装置，其特征在于，还包括用于发出第二照射光线(34)的第二发光模组(31)；所述第二照射光线(34)沿第二方向照射于所述待检测工件的第一表面；所述第二方向垂直于所述待检测工件的第一表面。6.根据权利要求5所述的双面检测光源装置，其特征在于，所述第二反射件(16)为分光镜，所述第二反射件(16)位于所述第二照射光线(34)的出射光路上。7.根据权利要求5所述的双面检测光源装置，其特征在于，还包括扩散板(32)，所述扩散板(32)位于所述第二照射光线(34)的出射光路上。8.根据权利要求2所述的双面检测光源装置，其特征在于，所述外壳体(10)内位于所述检测工位的下方设有导料板(11)，所述导料板(11)为向下倾斜，所述导料板(11)的下倾斜端形成出料端；所述外壳体(10)的侧面与所述出料端的衔接处开设有出料口(12)；所述外壳体(10)的外侧面设有集料槽(13)，所述集料槽(13)位于所述出料口(12)的下方；所述导料板(11)为双面均镀有增透膜的高透钢化玻璃。9.根据权利要求1所述的双面检测光源装置，其特征在于，所述第一反射件(23)设有多个，多个所述第一反射件(23)围绕于所述检测工位的中轴线设置；所述第一反射件(23)为全反射棱镜。10.根据权利要求1所述的双面检测光源装置，其特征在于，所述第一发光模组(21)设
有多个，多个所述第一发光模组(21)围绕于所述检测工位的中轴线设置。

技术总结
本实用新型公开一种双面检测光源装置，用于对位于检测工位的待检测工件进行缺陷检测，包括：用于发出第一照射光线的第一发光模组；第一照射光线的一部分沿第一方向照射于待检测工件的第一表面后，由待检测工件的第一表面反射，形成第一特征光线；沿第一照射光线的光路设置的第一反射件，第一反射件设于待检测工件远离于第一发光模组的一侧；第一照射光线的另一部分由第一反射件反射，照射于待检测工件的第二表面后，由待检测工件的第二表面反射，形成第二特征光线。本实用新型在一个检测工位上搭配一套发光模组，即能够同时实现同一工件中两个表面的检测，简化了检测步骤，同时光路结构简单，因此有效地节省了检测成本，并有效提高了检测效率。提高了检测效率。提高了检测效率。


技术研发人员：陈灵铭
受保护的技术使用者：广东奥普特科技股份有限公司
技术研发日：2021.08.31
技术公布日：2022/12/30