一种用于大芯径光纤光栅测试系统及方法与流程

技术特征：
1.一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，包括：设于测试光纤（1）一端依次成光路连接的ase宽带光源（15）、光纤环形器（14）、光谱仪（16）和模式匹配器mfa（13），所述ase宽带光源（15）作为光源，以光谱仪（16）作为接收仪器，通过光纤环形器（14）区分反射光与透射光，根据反射谱获取光栅的中心波长和带宽参数并计算得到反射率参数，通过模式匹配器mfa（13）将需要测试的大芯径光纤光栅所在的单模光纤和大模场双包层光纤熔接后，进入被测试的测试光纤（1）；设于所述测试光纤（1）另一端的测试箱体（2），该测试箱体（2）内设有湿度控制装置、温度控制装置和拉力控制装置；以及设于所述测试箱体（2）一侧与其通讯连接的计算机控制系统（17），计算机控制系统（17）用于控制所述温度控制装置、湿度控制装置与拉力控制装置，为测试光纤（1）提供不同的环境参数，光经过光栅后，波长在光栅工作波段内的光被反射沿原光路返回，在经过光纤环形器时被判别为反射光，传输入光谱仪测量输出光谱。2.根据权利要求1所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述温度控制装置包括套设于所述测试光纤（1）上的铜热沉（10）、设于所述铜热沉（10）外侧的tec（8）。3.根据权利要求2所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述温度控制装置包括设于所述铜热沉（10）与tec（8）之间的导热垫（9）。4.根据权利要求3所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述温度控制装置包括设于所述铜热沉（10）内部的热电偶（7）。5.根据权利要求1-4中任一项所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述湿度控制装置包括设于所述测试箱体（2）内壁上的防潮管（5）及加湿器（6）。6.根据权利要求5所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述湿度控制装置包括设于所述测试箱体（2）内壁上的湿度传感器（3）。7.根据权利要求1-4中任一项所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述拉力控制装置包括设于所述测试光纤（1）上的光纤夹具（11）。8.根据权利要求7所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述拉力控制装置包括设于所述光纤夹具（11）内的电位移平台（12）。9.根据权利要求1-4中任一项所述的一种用于大芯径光纤光栅测试系统，其特征在于，所述光纤环形器（14）包括第一光纤环形器端口（141）、第二光纤环形器端口（142）以及第三光纤环形器端口（143）。10.一种用于大芯径光纤光栅测试方法，其特征在于，包括如下步骤：s100：以宽带光源作为光源，以光谱仪作为接收仪器，通过环形器实现反射光与透射光的区分，根据反射谱获取光栅的中心波长和带宽参数，根据透射谱计算得到反射率参数；s200：通过s100操作确定光纤光栅的反射中心波长和带宽后，适时选择谱线在较长的一段波长范围光功率近似相等的ase光源；s300：ase光源发出光，经过光纤激光器判别为输入光后，通过模式匹配器mfa进入被测试的光栅；s400：通过计算机控制系统控制温度控制装置，湿度控制装置与拉力控制装置，为光纤光栅提供不同的环境参数；s500：光经过光栅后，波长在光栅工作波段内的光被反射，沿原光路返回，在经过光纤
环形器时被判别为反射光，传输入光谱仪，光谱仪测量输出光谱。

技术总结
本发明公开了一种用于大芯径光纤光栅测试系统及方法，系统包括设于测试光纤（1）一端依次成光路连接的ASE宽带光源（15）、光纤环形器（14）、光谱仪（16）和模式匹配器MFA（13），设于所述测试光纤（1）另一端的测试箱体（2），该测试箱体（2）内设有湿度控制装置、温度控制装置和拉力控制装置；以及设于所述测试箱体（2）一侧与其通讯连接的计算机控制系统（17）。本发明通过计算机控制系统控制所述温度控制装置、湿度控制装置与拉力控制装置，为测试光纤提供不同的环境参数，光经过光栅后，波长在光栅工作波段内的光被反射沿原光路返回，在经过光纤环形器时被判别为反射光，传输入光谱仪测量输出光谱，实现光栅性能系数的测量。实现光栅性能系数的测量。实现光栅性能系数的测量。


技术研发人员：崔庆哲 石文静 胡阿健 武春风 李强 姜永亮 宋祥 刘厚康 胡金萌
受保护的技术使用者：武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司
技术研发日：2022.11.29
技术公布日：2022/12/30