检测方法及装置、检测设备和存储介质与流程

技术特征：
1.一种检测方法，其特征在于，包括：获取预设模板中与待检图像对应的第一区域图像；识别所述待检图像的线路区域，以生成第二区域图像；获取所述第一区域图像中与所述第二区域图像对应的第三区域图像；对比所述第二区域图像和所述第三区域图像，以检测所述待检图像的缺陷。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述预设模板包括第一预设模板和第二预设模板，所述第一预设模板为待测件的最小重复单元的图像，所述第二预设模板为所述最小重复单元的电路图像，所述获取预设模板中与待检图像对应的第一区域图像，包括：匹配所述待检图像和所述第一预设模板，以获取目标区域图像；基于所述第一预设模板和所述第二预设模板的映射关系，获取所述第二预设模板中与所述目标区域图像对应的区域图像，以作为所述第一区域图像。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第一预设模板包括呈2*2矩阵排列的4个所述最小重复单元的图像，所述第二预设模板包括呈2*2矩阵排列的4个所述电路图像。4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，还包括：标注所述第一预设模板中的线路的轮廓，以生成所述第二预设模板；或获取预设的线路图，根据所述线路图生成所述第二预设模板。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述识别所述待检图像的线路区域，以生成第二区域图像，包括：将所述待检图像二值化，以生成二值化图像；将所述二值化图像中间距小于预定间距的一个或多个像素识别为同一所述线路区域；及根据所述线路区域生成所述第二区域图像。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述第一区域图像中与所述第二区域图像对应的第三区域图像，包括：扩大所述第二区域图像；获取所述第一区域图像中与扩大后的所述第二区域图像对应的第四图像区域；匹配所述第二区域图像和所述第四区域图像，以获取所述第四区域图像中与所述第二区域图像匹配的所述第三区域图像。7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述匹配所述第二区域图像和所述第四区域图像，以获取所述第四区域图像中与所述第二区域图像匹配的所述第三区域图像，包括：获取所述第四区域图像中与所述第二区域图像的尺寸相同的多个第五区域图像；匹配所述第五区域图像和所述第二区域图像，以获取每个所述第五区域图像和所述第二区域图像的匹配度；获取所述匹配度最高的所述第五区域图像，以作为所述第三区域图像。8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对比所述第二区域图像和所述第三区域图像，以检测所述待检图像的缺陷，包括：对所述第二区域图像和所述第三区域图像进行差分，以生成差值图像；
根据所述差值图像检测所述线路区域图像的缺陷。9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述差值图像检测所述线路区域图像的缺陷，包括：识别所述差值图像中的所述连通域；根据所述连通域的位置和面积，确定所述线路区域图像是否存在缺陷和所述缺陷的位置。10.一种检测装置，其特征在于，包括：第一获取模块，用于获取预设模板中与待检图像对应的第一区域图像；识别模块，用于识别所述待检图像的线路区域，以生成第二区域图像；第二获取模块，用于获取所述第一区域图像中与所述第二区域图像对应的第三区域图像；及对比模块，用于对比所述第二区域图像和所述第三区域图像，以检测所述待检图像的缺陷。11.一种检测设备，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于：获取预设模板中与待检图像对应的第一区域图像；识别所述待检图像的线路区域，以生成第二区域图像；获取所述第一区域图像中与所述第二区域图像对应的第三区域图像；对比所述第二区域图像和所述第三区域图像，以检测所述待检图像的缺陷。12.一种存储有计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至9中任一项所述的检测方法。

技术总结
本申请提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括获取预设模板中与待检图像对应的第一区域图像；识别所述待检图像的线路区域，以生成第二区域图像；获取所述第一区域图像中与所述第二区域图像对应的第三区域图像；对比所述第二区域图像和所述第三区域图像，以检测所述待检图像的缺陷。检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质通过对待检图像整体匹配后、再对待检图像中的每个待测部分精准匹配，可提升待检图像和预设模板的匹配效果，然后对每个待测部分和对应的第三区域图像进行比对，从而确定每个待测部分的缺陷，完成待检图像的缺陷检测，检测效果较好。检测效果较好。检测效果较好。


技术研发人员：陈鲁 肖遥 佟异 张鹏斌 张嵩
受保护的技术使用者：深圳中科飞测科技股份有限公司
技术研发日：2021.05.21
技术公布日：2022/11/22