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用于流场结构检测的CT系统、方法及存储介质

2022-11-16 18:21:36 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种用于流场结构检测的ct系统,其特征在于,包括:至少两组成像组件,所述成像组件包括用于相对设置且用于输出x射线的射线输出结构和接收穿过待测流场的x射线以得到投影数据的探测器;所述至少两组成像组件分布于虚拟多边形的至少两组边上,且每组边相对分布;所述成像组件用于获取设置于所述虚拟多边形内部的待测流场的投影数据;处理器,用于控制所述至少两组成像组件同时对所述待测流场进行x射线扫描以得到至少两组投影数据,对所述至少两组投影图像进行图像重建以得到待测流场的目标图像。2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述虚拟多边形为虚拟正方形。3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,包括:所述虚拟正方形的上下两侧边分别设置有所述射线输出结构和所述探测器。4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,包括:所述射线输出结构为线性射线源阵列,所述探测器为多通道线性探测器阵列;所述处理器还用于基于设定时序控制各所述线性射线源阵列中的射线源依次输出x射线。5.根据权利要求4项所述的系统,其特征在于,所述处理器还用于基于设定时序和设定触发方向控制各所述线性射线源阵列中的射线源依次输出x射线,所述设定触发方向包括从所述线性射线源阵列的左侧到右侧,或从所述线性射线源阵列的右侧到左侧。6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,包括:底座;多边形支架,设置于所述底座上;所述射线输出结构包括设置于所述多边形支架设定边上的条形固定板以及设置于所述条形固定板上呈线型分布的至少两个射线源;所述探测器设置于所述多边形支架中各所述射线输出结构所在边的对边。7.根据权利要求1-6任一项所述的系统,其特征在于,将所述至少两组投影数据或所述至少两组投影数据对应的目标图像输入已训练的图像处理模型,以得到检测结果。8.根据权利要求7项所述的系统,其特征在于,所述检测结果为待测流场的名称标识,或待测流场在成像时间内穿过所述虚拟多边形所在平面的三维流体运动图像。9.一种流场结构确定方法,其特征在于,包括:获取权利要求1-6所述的待测流场的至少两组投影数据;将所述至少两组投影数据输入已训练的图像处理模型中,以得到所述待测流场的检测结果。10.一种包含计算机可执行指令的存储介质,其特征在于,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求9所述的流场结构确定方法。

技术总结
本申请公开了一种流场结构无干扰测量系统。该系统包括:至少两组成像组件,所述成像组件包括用于相对设置且用于输出X射线的射线输出结构和接收穿过待测流场的X射线以得到投影数据的探测器;所述至少两组成像组件分布于虚拟多边形的至少两组边上,且每组边相对分布;所述成像组件用于获取设置于所述虚拟多边形内部的待测流场的投影数据;处理器,用于控制所述至少两组成像组件同时对所述待测流场进行X射线扫描以得到至少两组投影数据,对所述至少两组投影图像进行图像重建以得到待测流场的目标图像。本申请实施例可以减少对被测流场动态成像的干扰,实现对多相流场动态演化结构的瞬时成像。构的瞬时成像。构的瞬时成像。


技术研发人员:孟凡勇
受保护的技术使用者:中国科学院过程工程研究所
技术研发日:2022.08.11
技术公布日:2022/11/15
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